「processing defect」に関連した英語例文の一覧と使い方(16ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a laminated polyester film capable of suppressing both of the defect of bright spots due to the surface precipitation of an oligomer at the time of heating processing and a rise in haze, more detailed, a laminated polyester film usable even in an optical use.例文帳に追加

加熱加工時のオリゴマーの表面析出による輝点欠点とヘイズ上昇の両方を抑制する事のできる積層ポリエステルフィルムを提供することが課題であり、更に詳しくは、光学用途にも使用可能な積層ポリエステルフィルムを提供する事が課題である。 - 特許庁

To provide a two-dimensional image reader and a drive control method capable of salvaging a photosensor where the defect of reset operation characteristics is generated and excellently reading two-dimensional images while suppressing increase of the entire operation processing time and the rise of the product cost.例文帳に追加

全体の動作処理時間の増大や製品コストの上昇を抑制しつつ、リセット動作特性の不良が生じたフォトセンサを救済して、２次元画像を良好に読み取ることができる２次元画像読取装置及びその駆動制御方法を提供する。 - 特許庁

Thus, the unacceptable internal pressure can be detected by the reduction of the liquid surface even in a case of a plastic container such as the PET bottle 2 for which the hot pack filling or the retort processing has been performed, and the internal pressure defect can be detected from the outside of the case even for a container for which the tapping inspection cannot be applied such as a plastic container.例文帳に追加

これにより、ホットパック充填やレトルトされたＰＥＴボトル２などのプラスチック容器でも、液面の低下から内圧不良であることを検出することができ、打検法が適用できないプラスチック容器などの容器でもケースの外部から内圧不良を検出することができる。 - 特許庁

In the output selection unit 109, any one of outputs from the A/D conversion circuit 104, the subtraction unit 107 and the reference signal operation unit 108 is selected and outputted to a signal processing circuit 110 of the post-stage based on position information of the defective pixel stored in a defect position memory 105.例文帳に追加

出力選択部１０９では欠陥位置メモリ１０５に記憶された欠陥画素の位置情報に基づいて、Ａ／Ｄ変換回路１０４、減算部１０７、参照信号演算部１０８の何れかの出力を選択して後段の信号処理回路１１０に出力する。 - 特許庁

To provide a method and device for visual inspection of electronic components which can securely surely decide only a real defect, without being affected by unevenness, sealed characters, etc., included in a photographed image of the package of electronic components and the recording medium, where the program for enabling a computer to actualize the visual inspection processing is recorded.例文帳に追加

電子部品のパッケージの撮影画像に含まれるむらや捺印文字等の影響を受けず、真の欠陥のみを確実に判別できる、電子部品の外観検査方法、外観検査装置及び外観検査処理をコンピュータに実現させるためのプログラムを記録した記録媒体を提供する。 - 特許庁

To provide an electrophotographic photoreceptor having excellent electrophotographic characteristics such that an image defect is hardly generated, potential variation is small, and potential stability can be maintained for a long period of time, a method for manufacturing the electrophotographic photoreceptor, a processing cartridge having the electrophotographic photoreceptor, and an electrophotographic apparatus.例文帳に追加

画像欠陥が殆ど発生せず、電位変動が少なく、電位安定性を長期にわたり維持できる良好な電子写真特性を有する電子写真感光体、該電子写真感光体の製造方法、該電子写真感光体を有するプロセスカートリッジ及び電子写真装置を提供することにある。 - 特許庁

To provide an electrophotographic apparatus of high image quality in which prevention of electrifying stripes and prevention of a rainy cleaning defect image are made compatible with each other without the occurrence of a slip even if a photoreceptor having a high cleaning performance and an electrifying member having high electrifying uniformity are simultaneously used, and to provide a processing cartridge.例文帳に追加

高いクリーニング性能の感光体と帯電均一性の高い帯電部材を同時に用いてもスリップを起こすこと無く、帯電スジの防止と雨降り状のクリーニング不良画像の防止を両立して、高画質な電子写真装置及びプロセスカートリッジを提供すること。 - 特許庁

To provide an original paper for thermal stencil printing and the manufacturing method of the same, permitting highly precise stencil processing as well as the acquisition of a high-grade printing image without generating any defect, such as dimming or the like, improved in resistance to printing and in durability, facilitated in the manufacture of the same and inexpensive in the manufacturing cost thereof.例文帳に追加

高精細な穿孔製版が可能であり、高品位な印刷画像を得ることができ、白抜け等の欠点が発生することがなく、耐刷性および耐久性が向上し、しかも製造が容易であり、製造コストも低廉な感熱孔版印刷用原紙とその製法を提供すること。 - 特許庁

This visual inspection device includes a linear light source 2 for obliquely illuminating the surface of an inspecting object 5 sent in a fixed direction, a line sensor type camera 1 for capturing reflected light on the surface of the inspecting object of the light from the light source, and an image processing circuit 3 for detecting a defect from the contrast of an output image from the camera.例文帳に追加

一定方向に送られる被検査物５の表面に斜光照明を行うライン状光源２と、該光源からの光の被検査物表面での反射光を捕らえるラインセンサ型カメラ１と、上記カメラの出力画像の明暗から欠陥を検出する画像処理回路３とからなる。 - 特許庁

To provide an image recorder where the faulty transport of sheet type recording material and the defect of the length of the recording material is prevented in advance so as to stably transport the recording material by monitoring the staining of a pair of transport rollers and appropriately providing processing information on the staining of the rollers.例文帳に追加

搬送ローラ対のローラ汚れを監視し、ローラ汚れに対する処理情報を適切に提供することでシート状の記録材料の搬送不良や記録材料長の不良の発生を未然に防ぎ、記録材料を安定して搬送できる画像記録装置を提供する。 - 特許庁

To provide a magnetic resonance imaging apparatus with which a position of a tomogram can be shifted by a BO shift and an influence of a fat suppression defect or the like can be reduced without a major modification of a hardware such as an iron shim or the like, and a magnetic resonance imaging data processing method.例文帳に追加

鉄シム等のハードウェアを大幅に改修することなく、Ｂ０シフトによる断層画像位置のシフトや脂肪抑制不良等の影響を低減させることが可能な磁気共鳴イメージング装置および磁気共鳴イメージングデータ処理方法である。 - 特許庁

Furthermore, an image judger/controller 22 judges that a defect is in the tape carrier when the processing results by the image measuring parts 20 agree with one of the specified combinations, based on the inspection logic consisting of the combination of predetermined processings.例文帳に追加

さらに、画像判断／制御部２２は、予め定められた処理の組み合わせからなる検査論理に基づき、画像計測部２０による処理結果が、所定の組み合わせの一つに合致したときに、テープキャリアに欠陥が生じていると判断する。 - 特許庁

To provide a polarizing plate having a polarizer using a liotropic liquid-crystalline compound, wherein the polarizing plate is free of a defect such as a light leak when used for a liquid crystal display device, can be made thin, and eliminates the need for alignment processing for aligning a liquid crystal material.例文帳に追加

リオトロピック液晶性化合物を用いた偏光子を備える偏光板について、液晶表示装置に用いて光漏れ等の不具合がなく、薄形化が可能であり、しかも、液晶材料の配向のための配向処理を必要としない偏光板を提供すること。 - 特許庁

To provide an inspection device for flat display panels capable of properly detecting even a slight defect such as being different from a surrounding brightness, adjusting the detection to the property of the human eye, and capable of performing processing at extremely high speed.例文帳に追加

平面表示パネルを、人間の目の特性に合わせた周囲輝度との違いといった僅かな欠陥についても適切に検知することができると共に、極めて高速に処理することができる平面表示パネルの検査装置を提供する。 - 特許庁

An ROP pattern detecting part 10 monitors a plotting object which is inputted to a plotting data input part 2, and detects ROP patterns in the single plotting object where the defect occurs by the ROP processing, or the plurality of continuous plotting objects.例文帳に追加

ＲＯＰパターン検知部１０にて、描画データ入力部２に入力された描画オブジェクトを監視し、ＲＯＰ処理により不具合が生じる単独の描画オブジェクト、または複数の連続する描画オブジェクトのＲＯＰパターンを検知する。 - 特許庁

To provide a communication system and a control method thereof capable of preventing a defect of executing improper processing by allowing an electronic controller at a data receiver side to be capable of deciding the reliability of data themselves with high accuracy even when the data are communicated through a high speed communication bus at a high communication rate.例文帳に追加

通信速度が高い高速通信バスでのデータ通信を行う場合であっても、データ受信側の電子制御装置がデータ自体の信頼性を精度良く判定できるようにして、不適切な処理を実行してしまう不都合を未然に防止できるようにする。 - 特許庁

To provide a polyester film that has no unevenness and no defect, provides a high-quality image realizing a high brightness and has excellent processing characteristics and optical performance when used as members for LCD, PDP, organic EL, projection display etc.例文帳に追加

ＬＣＤ、ＰＤＰ、有機ＥＬ、プロジェクションディスプレイなどの部材として使用した際に、ムラや欠陥がなく、高度な輝度を実現した高品質な画像を与えることができ、かつ、加工特性に優れた光学的性能の良好なポリエステルフィルムを提供する。 - 特許庁

To eliminate such a defect that a resin constituting a decorative sheet is crystallized by high temperature applied when the decorative sheet and a metal panel are laminated and a conventional decorative metal panel using a polyolefinic resin is whitened at a time of bending processing and generates fine cracks.例文帳に追加

従来のポリオレフィン系樹脂を使用した化粧金属板が、化粧シートと金属板との積層の際に加えられる高温のために、化粧シートを構成する樹脂の結晶化により、折り曲げ加工の際に白化したり、微細なひび割れが生じる等の欠点を有していた点を解消する。 - 特許庁

To suppress an image density variation due to the deviation of recording positions between dots recorded by different passes and to reduce an image defect due to a stripe while reducing the load of data processing when a recording element group is recorded by M (M is integer of 3 or more) times of relative movement.例文帳に追加

記録素子群をＭ（Ｍは３以上の整数）回の相対移動により記録を行う場合、データ処理の負荷を低減しつつも、異なるパスで記録されるドット同士の記録位置ズレによる濃度変動を抑制し、スジによる画像弊害を軽減する。 - 特許庁

The information recording device includes an initialization processing section 1072 which, during the physical reformatting of the information recording medium, while maintaining at least the defect location information among the defective management information, rewrites the defective status information with attribute indicating that the defective area has been physically reformatted.例文帳に追加

情報記録装置は、情報記録媒体の物理再フォーマット時に、欠陥管理情報のうち少なくとも欠陥位置情報を維持する一方、欠陥状態情報を、当該欠陥領域に対して物理再フォーマットを行った旨を示す属性に書き換える初期化処理部１０７２を備える。 - 特許庁

The server device 3, receiving the vehicle information and the dialogue information, performs driving diagnosis processing by excluding the vehicle information detected while a defect is detected in the vehicle, on the basis of the vehicle information and the dialogue information.例文帳に追加

そして、車両情報およびダイアグ情報を受信したサーバ装置３は、車両情報およびダイアグ情報をもとに、車両の不具合が検出されているときに検出された車両情報を除外して運転診断処理を行う。 - 特許庁

To provide an image processing method and an image processor which accurately detect the number of defective pixels existing in an imaging device, not only the total number of the defective pixels but also the number of the defective pixels for each range of a signal level, and which minimize adverse effects of the defective pixel on picture quality and provide a suitable pixel defect correction signal.例文帳に追加

撮像素子に存在する欠陥画素の個数をその総数のみならず信号レベルの範囲毎に正確に検出し、画質に与える悪影響を最小限に抑え良好な画素欠陥補正信号を得る画像処理方法及び装置を提供する。 - 特許庁

To obtain a resin plate which does not increase an apparatus cost even when the large-size resin plate is produced, does not need a long time for processing, and has a flat surface without a surface defect by preventing air from remaining between a raw material plate and a press mold transfer surface.例文帳に追加

大寸法の樹脂板を製造する場合においても、装置コストを上昇させることなく、加工に長時間を要することなく、素材板とプレス型転写面との間の空気残留を防止して表面欠陥のない平坦面を持つ樹脂板を得る。 - 特許庁

The image processing apparatus 201 records a value of an average density for photographing at an optimum exposure in a photographing point where the camera apparatus 101 is set up so as to obtain the image with a few out-of-focus and a few exposure defect, and achieves an iris control to the camera apparatus 101 referring to the value.例文帳に追加

また、画像処理装置２０１は、ピンぼけや露出不良の少ない画像を得るため、カメラ装置１０１が設置される撮影ポイントにおいて最適露出で撮影するための平均濃度の値を記録し、この値を参照してカメラ装置１０１に対しアイリス制御を行う構成とした。 - 特許庁

An infrared signal is input and analyzed in the infrared image signal processing part 22 to find a temperature distribution of the inspection object 20, and the presence of the defect in the inspection object 20 and a size thereof are detected based on the temperature distribution.例文帳に追加

さらにこの赤外線映像信号処理部２２において赤外線の信号を入力して解析することにより検査対象物２０の温度分布を求め、この温度分布に基づいて検査対象物２０の欠陥の有無並びに大きさを検出するように構成される。 - 特許庁

A cantilever 5 used in the present invention is made of a silicon material having 400 to 500 μm length and 30 to 50 μm thickness so that during observation, the probe 4 can be in contact with the mask under 1 nN contact pressure, and in processing, defect correction can be performed by allowing the probe to be in contact with the mask under 10 nN to 1mN contact pressure.例文帳に追加

本発明に使用するカンチレバー５は、長さが400〜500μｍ、厚みが30〜50μｍとしたシリコン素材で形成し、探針４が観察時には0.1ｎＮオの接触力でマスクと接し、加工時には１０ｎＮから１ｍＮまでの接触力でマスクと接して欠陥修正を実施できるようにした。 - 特許庁

To provide a drum beam used as a horizontal member for a structure of a wooden building capable of solving such a defect that it has a twist and a big ratio of expansion and contraction or the like, it can not be machined by a general precut processing machine because of various sizes and shapes and that it can not be used because of the great inferiority in workability.例文帳に追加

木造建築の構造用横架材として用いる太鼓梁は、ねじれや伸縮率が大きいなどの欠点があり、寸法、形状も様々で、一般的なプレカット加工機で加工することができず、施工性も著しく劣るため利用が図られていない。 - 特許庁

The image-processing device 12 is provided with a means for discriminating the defect of the film 2 based on the density of the detected image, or the amount of density and the density change, and a means for discriminating the detect of the film, based on an integration value obtained by integrating a plurality of images being detected for each small move of the film.例文帳に追加

画像処理装置１２は、検出された画像を濃度、または濃度ならびに濃度変化量に基いてフィルム２の欠陥を判別する手段、およびフィルムの微少移動毎に検出された複数の画像を積算して積算値に基いてフィルムの欠陥を判別する手段を備えている。 - 特許庁

To provide a welding defect automatically detecting method in radiographic inspection capable of automatically and precisely separating and identifying and detecting various kinds of defects by a picture processing technique from a welding part which is irradiated with radiation by a radiographic device and capable of quantitatively evaluating the grades of them.例文帳に追加

放射線透過装置によって放射線が照射された溶接部から、画像処理技術により各種欠陥を自動的に精度良く分離・識別して検出すると共に、それらのグレードを定量的に評価できる放射線透過検査における溶接欠陥自動検出法を提供する。 - 特許庁

To provide a signal processing apparatus of an optical signal output device which can check reliability under influence of defect and the like on scale, while maintaining resolution and stability of position detection at a high level over a large displacement detection range, and an optical displacement detecting device including such a signal processing apparatus.例文帳に追加

位置検出の分解能及び安定性を広い変位検出範囲に渡って高いレベルで維持しつつ且つスケール上の欠陥等の影響による信頼度をもチェックできる光学式信号出力装置の信号処理装置及びそのような信号処理装置を備えた光学式変位検出装置を提供すること。 - 特許庁

An edge intensity image and edge angle image are generated by differential processing applied to an original image of the inspecting object, an angle change intensity image is generated by applying differential processing to the edge angle image, and a defect of the inspecting object is detected based on a feature common to the edge intensity image and angle change intensity image.例文帳に追加

検査対象物の原画像に対して適用する微分処理により、エッジ強度画像とエッジ角度画像を生成し、前記エッジ角度画像に対して、さらに微分処理を適用することにより、角度変化強度画像を生成し、前記エッジ強度画像と前記角度変化強度画像に共通する特徴に基づいて前記検査対象物の欠陥を検出する。 - 特許庁

To provide a processing liquid for forming a pattern due to a chemically amplified resist composition superior in in-plane uniformity (CDU) and defect performance of a resist pattern and in addition, for forming the resist pattern reducing an amount of use of the processing liquid in order to stably form a highly precise fine pattern for manufacturing highly integrated and highly precise electronic device, and to provide a method for forming the pattern using it.例文帳に追加

高集積かつ高精度な電子デバイスを製造するための高精度な微細パターンを安定的に形成するために、レジストパターンの面内均一性（ＣＤＵ）及び欠陥性能に優れ、また処理液の使用量を低減できるレジストパターンを形成し得る化学増幅型レジスト組成物によるパターン形成用の処理液及びそれを用いたパターン形成方法を提供する。 - 特許庁

To solve a problem that a spare area is densely arranged to suppress increase of response delay time after a reassignment processing, however, on the other hand, use efficiency of a disk is lowered when the spare area is densely arranged, with respect to a disk device to perform the reassignment processing when an unrecoverable defect is generated on a recording surface of the disk.例文帳に追加

ディスクの記録面上に回復不可能な欠陥が発生した場合にリアサイン処理を行うディスク装置において、リアサイン処理後の応答遅延時間の増加を抑えるためにはスペア領域を密に配置する必要があるが、一方、スペア領域を密に配置するとディスクの利用効率が低下してしまう。 - 特許庁

A defect is determined by an image processing unit 232 (image processing unit 332) in the macro inspection camera part 230 (micro inspection camera part 330), the radio communication information frame 600 is transmitted together with a substrate image data of a substrate 30 only when required, a data of the radio-transmitted radio communication information frame 600 is reduced thereby to prevent convergence of a communication band and to attain smooth communication.例文帳に追加

マクロ検査カメラ部２３０（ミクロ検査カメラ部３３０）では、画像処理ユニット２３２（画像処理ユニット３３２）で欠陥を判別し、必要な場合にのみ、無線通信情報フレーム６００に基板３０の基板画像データを乗せて送信することで、無線通信される無線通信情報フレーム６００のデータを減らして、通信帯域の輻輳を防止し、円滑な通信を実現する。 - 特許庁

To provide a device in which a probe can be used both for observation and correction and which can perform desired processing without injuring a normal portion, even if a next generation photomask having a ultrafine structure is used as an object, in a step of acquiring information about the position and feature of a defect, or without damaging the probe during processing.例文帳に追加

観察用と修正用とでプローブを兼用でき、次世代の超微細構造のフォトマスクを対象としても欠陥部の位置と形状の情報を取得する過程において正常部分を損傷してしまうようなことがなく、また、加工時にもプローブを傷めることなく所望の加工ができる装置を提供する。 - 特許庁

This device is equipped with a surface light source 10 for performing light irradiation flatly onto an inspection object painted surface, an avalanche multiplication type imaging camera 21 as the image sensor entered by the regularly reflected light from the inspection object painted surface, and an image processing device 20 for inspecting existence of a defect on the painted surface by image processing for detecting a level change of the image signal.例文帳に追加

検査対象塗面を面状に光照射する面光源１０と、検査対象塗面での正反射光を入射させるイメージセンサとしてのアバランシェ増倍型撮像カメラ２１と、その画像信号のレベル変化を検出する画像処理により、塗面の欠陥の有無を検査する画像処理装置２０とを備える。 - 特許庁

To provide a diagnostic information and accident processing information system for vehicle, with which the safety operation of a vehicle is enabled and damage caused by the occurrence of an accident can be suppressed to a minimum by diagnosing the defect of the vehicle under operating or information of the occurrence of accident of the vehicle from a distant place and speedily providing accident processing services corresponding to the diagnosed result.例文帳に追加

運行中にある車輌の欠陥または事故の発生情報を遠隔地から診断し、診断の結果によって事故処理サービスを速やかに提供し、車輌の安全運行及び事故発生による被害を最小限にすることが出来る車輌の診断情報及び事故処理情報システムを提供する。 - 特許庁

A defect correction device includes: a stage for placing a substrate; and a local exhaust ventilation system that comprises a local ventilation region that serves as a processing part for processing the substrate, a gas supply part for jetting gas toward the stage so that the system rises from the stage, and an exhaust part for exhausting gas jetted toward the stage and gas supplied from the local ventilation region to the stage side.例文帳に追加

基板を載置するステージと、基板を加工する加工部となる局所排気領域と、ステージに向けてガスを噴射することにより該ステージから浮上するためのガス供給部と、ステージに向けて噴射したガス及び局所排気領域から該ステージ側に供給されたガスを排気する排気部とを備えた局所排気装置を有する。 - 特許庁

To provide an image processing and inspecting method and an image processing and inspecting device capable of extracting the whole shape of a defect quickly and precisely even if a defective image includes many gray-white- flecked noises caused by the surface characteristic of a rubber material and is intermittent, e.g. a defective image existing on the surface of the rubber material.例文帳に追加

たとえば、ゴム材料の表面に存在する欠陥の画像のように、画像中にゴム材料の表面特性に起因したゴマ塩ノイズが多く含まれ、欠陥画像が途切れがちな画像であっても、欠陥の全体的な形状を迅速かつ精度良く抽出することができる画像処理検査方法および画像処理検査装置を提供する。 - 特許庁

Thus, an actual CAD model which is more faithful to the shape of the prototype can be created by positioning the actually measured CAD model with the reference CAD model 32 by using a positioning processing part 22 and compensating a defect part of the actually measured CAD model by the shape information of a corresponding part of the reference CAD model 32 by using a model correction processing part 24.例文帳に追加

そこで、位置合わせ処理部２２で実測ＣＡＤモデルと基準ＣＡＤモデル３２とを位置合わせし、モデル修正処理部２４にて実測ＣＡＤモデルの欠落部分を基準ＣＡＤモデル３２の対応部分の形状情報で補完することにより、試作品の形状により忠実な実物ＣＡＤモデルを作成することができる。 - 特許庁

In the surface defect inspecting apparatus 1 which emits light to a web (a), receives transmitted light or reflecting light of the light and also inspects a surface of the web (a) by an output signal from a light-receiving part, the processing means for detecting and processing positions and generation times of surface defects generated to the web (a) are formed by independent modules.例文帳に追加

ウェブａに光を投光し、この透過光や反射光を受光するとともに、この受光部からの出力信号によって、ウェブａの表面の検査を行う表面欠陥検査装置１において、ウェブａに生じた表面欠陥の位置や発生時刻を検知して処理するための処理手段をそれぞれ独立したモジュールで形成しておく。 - 特許庁

A defect correcting circuit 222 of an image processing circuit 20 collates single defective pixel address information on a memory 30 and if it is discriminated that data of an address corresponding to a defective pixel are outputted from an A/D converter 16, processing is performed for replacing these output data with a previous pixel output in the same color.例文帳に追加

画像処理回路２０の欠陥補正回路２２２は、メモリ３０上の単独欠陥画素アドレス情報を照合し、欠陥画素に該当するアドレスのデータがＡ/Ｄ変換機１６より出力されたことを判別した場合には、この出力データに替えて直前の同色画素出力に置き換える処理を行う。 - 特許庁

A microcomputer 240 is operated by a defective pixel selecting program stored in a program ROM 250 to execute processing of the defect detection circuit 211 several times while varying the detection level and narrows down detected pixels so that the number of detected pixels may be within the range of the preliminarily prepared maximum value of the number of pixels which can be subjected to correction processing.例文帳に追加

マイクロコンピュータ２４０では、プログラムＲＯＭ２５０内に格納された欠陥画素の選択プログラムによって動作し、検出レベルを変えながら欠陥検出回路２１１の処理を何度か実行させ、検出画素数が予め用意された処理可能補正画素数の最大値の範囲内に入るように検出画素の絞り込みを行う。 - 特許庁

This radio frequency ripple signal compensation device is constituted of a radio frequency ripple signal processing circuit 801, a radio frequency signal processing circuit 802, a radio frequency signal peak detector 803, a first analog/digital converter 804, a second analog/digital converter 805, a defect detector 807, and a fingerprint detector 808.例文帳に追加

無線周波数リップル信号処理回路８０１と、無線周波数信号処理回路８０２と、無線周波数信号ピーク検出器８０３と、第１のアナログ・デジタル変換器８０４と、第２のアナログ・デジタル変換器８０５と、欠陥検出器８０７と、指紋検出器８０８と、から無線周波数リップル信号補償装置を構成する。 - 特許庁

A defect inspection device 1 includes a light source 2 for irradiating an inspection target surface 10 of a box B with a plurality of beans of slit light L; a camera 3 for photographing the slit light L emitted from the light source 2; and an image processing part 4 for determining the quality of the box B by processing an image G photographed by the camera 3.例文帳に追加

不良検査装置１は、箱Ｂの検査対象とする面１０に対して複数本のスリット光Ｌを照射する光源部２と、光源部２により照射されたスリット光Ｌを撮像するカメラ部３と、カメラ部３によって撮像された画像Ｇを処理して箱Ｂの良・不良を判定する画像処理部４と、を備えている。 - 特許庁