「processing defect」に関連した英語例文の一覧と使い方(15ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a biaxially oriented polyester film, which exhibits low rough rate of its surface, excellent optical property (appropriate transparency), excellent characteristic features in production/processing, does not have large projection on the film surface and forms no surface defect in coating.例文帳に追加

表面粗度が低く、優れた光学的性質（適度な透明性）を有し、製造・加工特性に優れ、フィルム表面に大きな突起が無く、塗布を行った際に表面欠陥が生じない二軸延伸ポリエステルフィルムを提供する。 - 特許庁

A defect correcting circuit 222 of an image processing circuit 20 collates single defective pixel address information on a memory 30 and if it is discriminated that data of an address corresponding to a defective pixel are outputted from an A/D converter 16, processing is performed for replacing these output data with a previous pixel output in the same color.例文帳に追加

画像処理回路２０の欠陥補正回路２２２は、メモリ３０上の単独欠陥画素アドレス情報を照合し、欠陥画素に該当するアドレスのデータがＡ/Ｄ変換機１６より出力されたことを判別した場合には、この出力データに替えて直前の同色画素出力に置き換える処理を行う。 - 特許庁

To provide a signal processing apparatus of an optical signal output device which can check reliability under influence of defect and the like on scale, while maintaining resolution and stability of position detection at a high level over a large displacement detection range, and an optical displacement detecting device including such a signal processing apparatus.例文帳に追加

位置検出の分解能及び安定性を広い変位検出範囲に渡って高いレベルで維持しつつ且つスケール上の欠陥等の影響による信頼度をもチェックできる光学式信号出力装置の信号処理装置及びそのような信号処理装置を備えた光学式変位検出装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a device in which a probe can be used both for observation and correction and which can perform desired processing without injuring a normal portion, even if a next generation photomask having a ultrafine structure is used as an object, in a step of acquiring information about the position and feature of a defect, or without damaging the probe during processing.例文帳に追加

観察用と修正用とでプローブを兼用でき、次世代の超微細構造のフォトマスクを対象としても欠陥部の位置と形状の情報を取得する過程において正常部分を損傷してしまうようなことがなく、また、加工時にもプローブを傷めることなく所望の加工ができる装置を提供する。 - 特許庁

To provide a diagnostic information and accident processing information system for vehicle, with which the safety operation of a vehicle is enabled and damage caused by the occurrence of an accident can be suppressed to a minimum by diagnosing the defect of the vehicle under operating or information of the occurrence of accident of the vehicle from a distant place and speedily providing accident processing services corresponding to the diagnosed result.例文帳に追加

運行中にある車輌の欠陥または事故の発生情報を遠隔地から診断し、診断の結果によって事故処理サービスを速やかに提供し、車輌の安全運行及び事故発生による被害を最小限にすることが出来る車輌の診断情報及び事故処理情報システムを提供する。 - 特許庁

To solve a problem that a spare area is densely arranged to suppress increase of response delay time after a reassignment processing, however, on the other hand, use efficiency of a disk is lowered when the spare area is densely arranged, with respect to a disk device to perform the reassignment processing when an unrecoverable defect is generated on a recording surface of the disk.例文帳に追加

ディスクの記録面上に回復不可能な欠陥が発生した場合にリアサイン処理を行うディスク装置において、リアサイン処理後の応答遅延時間の増加を抑えるためにはスペア領域を密に配置する必要があるが、一方、スペア領域を密に配置するとディスクの利用効率が低下してしまう。 - 特許庁

In this case, since the EEPROM stores defective data of the defective pixels sequentially in the order of addresses of defective pixels with a greater defective level, when defective pixels exist adjacently to each other, that is, when a plurality of defects, where defective pixel addressed of compensation objects are adjacent to each other, exist, the defect compensation processing is carried out for defective pixels having a greater defect level with priority.例文帳に追加

この場合、ＥＥＰＲＯＭには欠陥レベルの大きい欠陥画素画素アドレスから順に記憶されているので、欠陥画素が互いに近接して存在する場合、つまり補償対象の欠陥画素アドレスが互いに隣接する複数の欠陥に関しては、欠陥レベルの大きい欠陥画素に関する欠陥補償処理が優先して実行されることになる。 - 特許庁

In the disk reading device reading information from a disk having a plurality of clusters for recording dividedly information and having also substitute clusters in which the information is recorded instead of the cluster in which defect exists, the disk reading device has such constitution that first processing in which bit map data where existence of defect for each cluster on the disk is displayed with a bit map form is generated is performed.例文帳に追加

情報が分割記録されるための複数のクラスタを有する一方、ディフェクトのあるクラスタに代わって前記情報が記録される代替クラスタをも有するディスクから、前記情報を読み取るディスク読取装置において、前記ディスク上の各クラスタについてのディフェクトの有無をビットマップ形式で表す、ビットマップデータを生成する、第１処理を実行する構成のディスク読取装置とする。 - 特許庁

To provide a developer quantity control blade making an excellent image obtainable, and preventing the image defect from occurring even after a printing endurance, even when the image formation processing in the image forming device of an electrophotographic system or an electrostatic recording is made speeding up.例文帳に追加

電子写真方式や静電記録の画像形成装置における画像形成処理が高速化しても、良好な画像を得ることができ、かつ印刷耐久後にも画像不良を起こさない現像剤量規制ブレードを提供すること。 - 特許庁

The server device 3, receiving the vehicle information and the dialogue information, performs driving diagnosis processing by excluding the vehicle information detected while a defect is detected in the vehicle, on the basis of the vehicle information and the dialogue information.例文帳に追加

そして、車両情報およびダイアグ情報を受信したサーバ装置３は、車両情報およびダイアグ情報をもとに、車両の不具合が検出されているときに検出された車両情報を除外して運転診断処理を行う。 - 特許庁

To obtain a polyester film that has no unevenness and no defect, provides a high-quality image realizing a high brightness and has excellent processing characteristics and optical performance when used as members for LCD, PDP, organic EL, projection display etc.例文帳に追加

ＬＣＤ、ＰＤＰ、有機ＥＬ、プロジェクションディスプレイなどの部材として使用した際に、ムラや欠陥がなく、高度な輝度を実現した高品質な画像を与えることができ、かつ、加工特性に優れた光学的性能の良好なポリエステルフィルムを提供する。 - 特許庁

To provide a pattern forming method, a substrate processing method, a replication method of a mold structure, which can duplicate the mold structure with high precision by single imprint, is low in defect generation and can form a micropattern efficiently, and the mold structure.例文帳に追加

モールド構造体の複製を１回のインプリントで高精度に行え、欠陥の発生が少なく、微細パターンを効率よく形成することができるパターン形成方法、基板加工方法、モールド構造体の複製方法、及びモールド構造体の提供。 - 特許庁

Since the number of detected pixels is restricted to 32, generation of deterioration of image quality due to increase of the number of detected pixels as many as the number of pixels to be compensated becomes equal to or more than the number of pixels allowed by the defect compensation processing is prevented.例文帳に追加

検出画素数を３２個に制限しているので、補完対象の画素数が欠陥補償処理の許容する画素数以上になるという検出画素数の増えすぎによる画質破綻が生じることを防止することができる。 - 特許庁

To make easily and quickly detectable a critical magnetic defect without destroying information after transfer processing in the case of the testing of a magnetic disk having a magnetic information containing track information recorded beforehand by a magnetic transfer system.例文帳に追加

トラック情報を含む磁気的情報が磁気転写方式により予め記録される磁気ディスクを試験するに当たり、転写処理後の情報を破壊することなく、重大な磁気的欠陥を簡単かつ迅速に検出し得るようにする。 - 特許庁

A frequency component determined by the calculated number of bladder grooves is removed from the frequency components subjected to the Fourier expansion, inverse Fourier expansion of the residual frequency components is performed, and defect detection processing is performed on the basis of the image subjected to the inverse Fourier expansion.例文帳に追加

フーリエ展開された周波数成分から、算出されたブラダーグルーブの本数で決まる周波数成分を除去し、残余の周波数成分を逆フーリエ展開し、逆フーリエ展開された画像に基づいて欠陥検出処理を行う。 - 特許庁

Then, the single crystal silicon thin film 106 is patterned to form an island-like silicon layer 108, and is subjected to thermal oxidation processing in an oxidation atmosphere containing halogen element, thereby obtaining the island-like silicon layer 109 in which trap level and defect are removed.例文帳に追加

次に単結晶シリコン薄膜１０６をパターニングして島状シリコン層１０８とした後、ハロゲン元素を含む酸化性雰囲気中で熱酸化処理を行うことで、トラップ準位や欠陥の除去された島状シリコン層１０９を得る。 - 特許庁

To provide a polyester film that has no unevenness and no defect, provides a high-quality image realizing a high brightness and has excellent processing characteristics and optical performance when used as members for LCD, PDP, organic EL, projection display etc.例文帳に追加

ＬＣＤ、ＰＤＰ、有機ＥＬ、プロジェクションディスプレイなどの部材として使用した際に、ムラや欠陥がなく、高度な輝度を実現した高品質な画像を与えることができ、かつ、加工特性に優れた光学的性能の良好なポリエステルフィルムを提供する。 - 特許庁

To provide a concave portion forming method, capable of restraining generation of defect portions by quickly spotting the processing quality, and to provide a production step of a concave-convex product, a production step of a light-emitting element, and a production step of an optical element.例文帳に追加

本発明は、加工品質を迅速に見極めることで不良部位の発生を抑えることができる凹部形成方法、凹凸製品の製造方法、発光素子の製造方法および光学素子の製造方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

The inspection process time can be reduced, because an image processing part 120 including a defective pixel determination part 127 and a back foreign matter determination part 128 is required only discrimination a defect portion corresponding to some of the back foreign matter, the inside foreign matter and the defective pixel.例文帳に追加

不良画素判定部１２７と裏面異物判定部１２８とを含む画像処理部１２０は、裏面異物、内部異物、または、不良画素のうちの何れかに対応する欠陥部位を識別すればよいので、検査タクトが少なくてすむ。 - 特許庁

The wafer appearance inspection device 201 includes: a measuring stage 205; a monitor camera 203 for imaging a surface shape of a wafer 204 placed on the stage; and a control computer 202 for executing detection processing of surface shape defect of the wafer 204.例文帳に追加

ウェーハ外観検査装置２０１は、測定ステージ２０５と、その上に載置されたウェーハ２０４の表面形状を撮像するモニタカメラ２０３と、ウェーハ２０４の表面形状欠陥の検出処理を実行する制御用コンピュータ２０２を備える。 - 特許庁

To provide a lighting device for inspection which is capable of irradiating a long-sized object to be inspected like a cable with uniform illuminance so that a defect of appearance can be stably detected by an image processing system, when inspecting the appearance of the object to be inspected.例文帳に追加

ケーブルのような長尺物の被検査物の外観検査を行うに当たって、画像処理システムで安定して外観の欠陥を検出できるよう、一様な照度で被検査物を照射することができる検査用照明装置を提供する。 - 特許庁

Then, the kind of a defect is discriminated within the image photographed by the imaging device 1, under the condition where the inspected object is lighted by the oblique light source 4, based on a form of density change in the area of the defective portion, in the image processing part 7.例文帳に追加

その後、画像処理部７は、斜方光源４により検査対象を照明した状態で撮像装置１に撮像された画像内において不良部分を含む領域の濃度変化の形により不良の種類を識別する。 - 特許庁

An image processing unit 1 includes a range-updating means 10 for adding a captured image of an object 4 to be inspected to an image memory 14 for setting as an image for setting, when a defect determining means 13 determines that the object is a conforming article.例文帳に追加

画像処理装置１は、欠陥判定手段１３で良品と判定された場合に、当該検査対象物４の撮像画像を設定用画像として設定用画像メモリ１４に追加する範囲更新手段１０を有している。 - 特許庁

To provide an inspection device for flat display panels capable of properly detecting even a slight defect such as being different from a surrounding brightness, adjusting the detection to the property of the human eye, and capable of performing processing at extremely high speed.例文帳に追加

平面表示パネルを、人間の目の特性に合わせた周囲輝度との違いといった僅かな欠陥についても適切に検知することができると共に、極めて高速に処理することができる平面表示パネルの検査装置を提供する。 - 特許庁

Furthermore, an image judger/controller 22 judges that a defect is in the tape carrier when the processing results by the image measuring parts 20 agree with one of the specified combinations, based on the inspection logic consisting of the combination of predetermined processings.例文帳に追加

さらに、画像判断／制御部２２は、予め定められた処理の組み合わせからなる検査論理に基づき、画像計測部２０による処理結果が、所定の組み合わせの一つに合致したときに、テープキャリアに欠陥が生じていると判断する。 - 特許庁

An ROP pattern detecting part 10 monitors a plotting object which is inputted to a plotting data input part 2, and detects ROP patterns in the single plotting object where the defect occurs by the ROP processing, or the plurality of continuous plotting objects.例文帳に追加

ＲＯＰパターン検知部１０にて、描画データ入力部２に入力された描画オブジェクトを監視し、ＲＯＰ処理により不具合が生じる単独の描画オブジェクト、または複数の連続する描画オブジェクトのＲＯＰパターンを検知する。 - 特許庁

A microcomputer 240 is operated by a defective pixel selecting program stored in a program ROM 250 to execute processing of the defect detection circuit 211 several times while varying the detection level and narrows down detected pixels so that the number of detected pixels may be within the range of the preliminarily prepared maximum value of the number of pixels which can be subjected to correction processing.例文帳に追加

マイクロコンピュータ２４０では、プログラムＲＯＭ２５０内に格納された欠陥画素の選択プログラムによって動作し、検出レベルを変えながら欠陥検出回路２１１の処理を何度か実行させ、検出画素数が予め用意された処理可能補正画素数の最大値の範囲内に入るように検出画素の絞り込みを行う。 - 特許庁

This radio frequency ripple signal compensation device is constituted of a radio frequency ripple signal processing circuit 801, a radio frequency signal processing circuit 802, a radio frequency signal peak detector 803, a first analog/digital converter 804, a second analog/digital converter 805, a defect detector 807, and a fingerprint detector 808.例文帳に追加

無線周波数リップル信号処理回路８０１と、無線周波数信号処理回路８０２と、無線周波数信号ピーク検出器８０３と、第１のアナログ・デジタル変換器８０４と、第２のアナログ・デジタル変換器８０５と、欠陥検出器８０７と、指紋検出器８０８と、から無線周波数リップル信号補償装置を構成する。 - 特許庁

This device is equipped with a surface light source 10 for performing light irradiation flatly onto an inspection object painted surface, an avalanche multiplication type imaging camera 21 as the image sensor entered by the regularly reflected light from the inspection object painted surface, and an image processing device 20 for inspecting existence of a defect on the painted surface by image processing for detecting a level change of the image signal.例文帳に追加

検査対象塗面を面状に光照射する面光源１０と、検査対象塗面での正反射光を入射させるイメージセンサとしてのアバランシェ増倍型撮像カメラ２１と、その画像信号のレベル変化を検出する画像処理により、塗面の欠陥の有無を検査する画像処理装置２０とを備える。 - 特許庁

A defect correction device includes: a stage for placing a substrate; and a local exhaust ventilation system that comprises a local ventilation region that serves as a processing part for processing the substrate, a gas supply part for jetting gas toward the stage so that the system rises from the stage, and an exhaust part for exhausting gas jetted toward the stage and gas supplied from the local ventilation region to the stage side.例文帳に追加

基板を載置するステージと、基板を加工する加工部となる局所排気領域と、ステージに向けてガスを噴射することにより該ステージから浮上するためのガス供給部と、ステージに向けて噴射したガス及び局所排気領域から該ステージ側に供給されたガスを排気する排気部とを備えた局所排気装置を有する。 - 特許庁

In the surface defect inspecting apparatus 1 which emits light to a web (a), receives transmitted light or reflecting light of the light and also inspects a surface of the web (a) by an output signal from a light-receiving part, the processing means for detecting and processing positions and generation times of surface defects generated to the web (a) are formed by independent modules.例文帳に追加

ウェブａに光を投光し、この透過光や反射光を受光するとともに、この受光部からの出力信号によって、ウェブａの表面の検査を行う表面欠陥検査装置１において、ウェブａに生じた表面欠陥の位置や発生時刻を検知して処理するための処理手段をそれぞれ独立したモジュールで形成しておく。 - 特許庁

To provide an image processing and inspecting method and an image processing and inspecting device capable of extracting the whole shape of a defect quickly and precisely even if a defective image includes many gray-white- flecked noises caused by the surface characteristic of a rubber material and is intermittent, e.g. a defective image existing on the surface of the rubber material.例文帳に追加

たとえば、ゴム材料の表面に存在する欠陥の画像のように、画像中にゴム材料の表面特性に起因したゴマ塩ノイズが多く含まれ、欠陥画像が途切れがちな画像であっても、欠陥の全体的な形状を迅速かつ精度良く抽出することができる画像処理検査方法および画像処理検査装置を提供する。 - 特許庁

Thus, an actual CAD model which is more faithful to the shape of the prototype can be created by positioning the actually measured CAD model with the reference CAD model 32 by using a positioning processing part 22 and compensating a defect part of the actually measured CAD model by the shape information of a corresponding part of the reference CAD model 32 by using a model correction processing part 24.例文帳に追加

そこで、位置合わせ処理部２２で実測ＣＡＤモデルと基準ＣＡＤモデル３２とを位置合わせし、モデル修正処理部２４にて実測ＣＡＤモデルの欠落部分を基準ＣＡＤモデル３２の対応部分の形状情報で補完することにより、試作品の形状により忠実な実物ＣＡＤモデルを作成することができる。 - 特許庁

A defect inspection device 1 includes a light source 2 for irradiating an inspection target surface 10 of a box B with a plurality of beans of slit light L; a camera 3 for photographing the slit light L emitted from the light source 2; and an image processing part 4 for determining the quality of the box B by processing an image G photographed by the camera 3.例文帳に追加

不良検査装置１は、箱Ｂの検査対象とする面１０に対して複数本のスリット光Ｌを照射する光源部２と、光源部２により照射されたスリット光Ｌを撮像するカメラ部３と、カメラ部３によって撮像された画像Ｇを処理して箱Ｂの良・不良を判定する画像処理部４と、を備えている。 - 特許庁

The evaluating method for the crystal defect of the semiconductor single-crystal substrate is performed at least by detecting the crystal defect obviously developed on the surface of the thermally processed semiconductor single-crystal substrate after thermally processing it under a hydrogen atmosphere at 800 to 1,100°C.例文帳に追加

半導体単結晶基板の結晶欠陥評価方法であって、少なくとも、前記半導体単結晶基板を水素雰囲気下８００〜１１００℃で熱処理した後、該熱処理した半導体単結晶基板の表面に顕在化した結晶欠陥の検出を行うことによって、前記半導体単結晶基板の結晶欠陥の評価を行うことを特徴とする半導体単結晶基板の結晶欠陥評価方法。 - 特許庁

The optical film is disclosed in which light-shielding processing is applied to an optical defect causing light leakage, the optical defect appearing when a thermoplastic resin film such as a thermoplastic saturated norbornene resin, a polycarbonate resin, a polysulfonic resin, a polyether sulfonic resin, and a polymethyl methacrylate resin is located between polarizers arranged at crossed Nicols, and the polarizing plate is disclosed on which the optical film and the polarizers are layered.例文帳に追加

クロスニコルに配置された偏光子間に、熱可塑性飽和ノルボルネン系樹脂、ポリカーボネート系樹脂、ポリスルホン系樹脂、ポリエーテルサルホン系樹脂、ポリメタクリル酸メチル系樹脂等の熱可塑性樹脂フィルムを配置した際に、光漏れが生じる、熱可塑性樹脂フィルムの光学欠点が遮光処理されていることを特徴とする光学フィルム及びこの光学フィルムと偏光子が積層されていることを特徴とする偏光板。 - 特許庁

To suppress an image density variation due to the deviation of recording positions between dots recorded by different passes and to reduce an image defect due to a stripe while reducing the load of data processing when a recording element group is recorded by M (M is integer of 3 or more) times of relative movement.例文帳に追加

記録素子群をＭ（Ｍは３以上の整数）回の相対移動により記録を行う場合、データ処理の負荷を低減しつつも、異なるパスで記録されるドット同士の記録位置ズレによる濃度変動を抑制し、スジによる画像弊害を軽減する。 - 特許庁

A workpiece inspection apparatus synchronizes imaging timing with a tooth part W1 of a workpiece W based on a reference pulse PA, performs image processing for obtaining a difference between a captured k-th image (k is an integer) and a (k+1)-th image, and detects a defect based on the difference data.例文帳に追加

基準パルスＰＡに基づいてワークＷの歯部Ｗ１と撮像タイミングとを同期させ、撮像したｋ（ｋは整数）番目の画像と（ｋ＋１）番目の画像との差分を得る画像処理を行い、差分のデータに基づいて欠陥を検出するようにした。 - 特許庁

To provide a thermal transfer image accepting sheet which shows a high transfer density particularly in a high-speed processing, scarcely causes an image failure due to heat fusion with ink and a defect in passing properties, brings about no transfer irregularity of a protective layer and enables attainment of an excellent image, and a manufacturing method thereof.例文帳に追加

特に高速処理において転写濃度が高く、インクとの熱融着に起因する画像故障、および通過性の不良が少なく、かつ保護層の転写ムラがない良好な画像が得られる感熱転写受像シートおよびその製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a digital device that calculates in real time a set point signal particularly intended for use in a unit for generating magnetic field gradient, receives the set point signal as an input, and then sends as an output the set point signal modified such that a defect and a bad influence encountered in processing and/or applying the set point signal are compensated.例文帳に追加

デバイスは、設定点信号を、入力で受信し、その後前記設定点信号の処理および／または適用中に遭遇する欠陥、悪い影響などを補償するように修正される設定点信号を、出力で送出する。 - 特許庁

A plurality of thresholds determined by a pixel value of each pixel of the region image data or one of a plurality of defect determination processing methods is used to compare the optical image data within the region indicated by the region image data with the reference image data and determine defects for each pixel.例文帳に追加

領域画像データの各画素の画素値によって定まる複数の閾値または複数の欠陥判定処理方法の１つを用いて、領域画像データが示す領域内の光学画像データと参照画像データとを比較して画素毎に欠陥判定する。 - 特許庁

To form a deposited film with uniform thickness and quality and few defect on a substrate with a large area at a high processing speed in a process for fabricating a semiconductor device wherein the deposited film is formed on the substrate by plasmanizing a raw material gas by high-frequency power.例文帳に追加

高周波電力によって原料ガスをプラズマ化し、基体上に堆積膜を形成する、半導体装置の製造方法において、高速な処理速度で大面積の基体上に、膜厚、膜質共に均一で欠陥の少ない堆積膜を形成する。 - 特許庁

To provide a method, a device and a program for checking and processing index compatibility of a database to enable compatibility check of a database even when problems such as destruction and a defect are generated in the index itself and to specify/detect a destructed place of data structure.例文帳に追加

インデクス自体に破壊や欠損などの問題が生じている場合であってもデータベースの整合性チェックを可能とし、データ構造の破壊個所を特定・検出するデータベースのインデクス整合性チェック処理方法および装置およびプログラムを提供することにある。 - 特許庁

To provide a two-dimensional image reader and a drive control method capable of salvaging a photosensor where the defect of reset operation characteristics is generated and excellently reading two-dimensional images while suppressing increase of the entire operation processing time and the rise of the product cost.例文帳に追加

全体の動作処理時間の増大や製品コストの上昇を抑制しつつ、リセット動作特性の不良が生じたフォトセンサを救済して、２次元画像を良好に読み取ることができる２次元画像読取装置及びその駆動制御方法を提供する。 - 特許庁

To realize optimum smoothing correction by decreasing a defect of abnormality emphasized image edge by referencing pixel density data of an original image in the case of generating smoothing processing data in an image processor that applies smoothing correction to the edge part of multi- valued image data.例文帳に追加

多値画像データのエッジ部分をスムージング補正する画像処理装置において、スムージング処理データを生成する際に、原画像の画素濃度データも参照することにより、画像エッジが異常に強調される不具合を低減し、最適なスムージング補正を実現すること。 - 特許庁