「processing defect」に関連した英語例文の一覧と使い方(8ページ目) - Weblio英語例文検索

That is, the host device side considers that defect alternation processing was disabled, and responds to select another appropriate place and records miswritten data from there.例文帳に追加

つまり、欠陥交替処理が無効化されたと考え、別の適当な場所を選択してそこから書き損じたデータを記録させるように対応する。 - 特許庁

Among a plurality of ejecting parts, the content of the mask table produced based on the ejecting part with ejection defect is changed by a mask processing part 105.例文帳に追加

複数の吐出部のうち、吐出不良が生じた吐出部に基づいて、生成されたマスクテーブルの内容をマスク処理部１０５で変更する。 - 特許庁

The processing device is manually processed based on the defect prevention measures to improve the factors causing failures prior to production.例文帳に追加

不良発生未然防止策に基づいて加工装置を人為的に処理して不良発生の原因となる要因を改善してから生産をする。 - 特許庁

The parameter calculated in the processing process is set as a threshold for blot defect detection in a threshold setting process.例文帳に追加

閾値設定工程では、画像処理工程にて算出されたパラメータをシミ欠陥検出用閾値として設定する。 - 特許庁

To provide a signal processing circuit capable of correcting a fixed noise, a flaw such as a pixel defect, and a random noise without degrading in the resolution.例文帳に追加

解像度の低下を招くことなく、固定ノイズや画素欠陥のようなキズ並びにランダムノイズを補正できる信号処理回路を提供する。 - 特許庁

To surely detect defect by image processing even if work to be inspected is a flexible product having a considerable change in shape.例文帳に追加

検査対象のワークが、形状の変化が大きい柔軟な製品であっても、画像処理による欠陥検出を確実に行うことができるようにする。 - 特許庁

When the cognitive defect is determined, color inversion processing including luminance inversion is performed (steps S205, S210 and S214).例文帳に追加

認識障害になっていると判断されると、輝度反転を含めて色反転処理を施す（ステップＳ２０５、Ｓ２１０、Ｓ２１４）。 - 特許庁

To reliably detect a defect detection signal changing in short times in a high speed line via a low-cost device by reducing a load on data processing.例文帳に追加

データ処理の負荷を軽減して、安価な装置により、高速ラインで短時間に変化する欠陥検出信号を確実に検出可能とする。 - 特許庁

To provide a plasma etching processing method capable of reducing a work defect in the terminal edge of a large diameter wafer and raising production yield.例文帳に追加

大口径ウエハの最エッジ部での加工不良を低減し、生産歩留まりを向上できるプラズマエッチング処理方法を提供する。 - 特許庁

As a result, in the wafer treatment processing 100, the Si+ ions introduced at the ion implantation processing 120 are bonded to a vacant lattice defects, produced in the ion implantation process 110, thereby crystal defect generation caused by the vacant lattice defect is prevented.例文帳に追加

結果として，ウェハ処理工程１００では，イオン注入工程１２０で導入されたＳｉ＋イオンが，イオン注入工程１１０で生じる空格子欠陥と結合し，空格子欠陥に起因する結晶欠陥の発生が抑制される。 - 特許庁

A device 10 which detects a defect contained in a long-size belt-like sheet 21, discharges a product 1 containing the defect as the defective 1' after cutting a long-size belt-like processing product 100 and generates a shift signal every time the processing product 100 is cut is used.例文帳に追加

長尺帯状シート２１に含まれる欠陥を検出し、該欠陥を含む製品１を、長尺帯状加工品１００の裁断後に不良品１’として排出し、かつ加工品１００を裁断するたびにシフト信号を発生させる装置１０を用いる。 - 特許庁

An analysis processing part 23 of an analyzing device 12 performs analysis processing for specifying a processor that has caused the defect based on the placement position information on the processed body in each processor 13 and defect information detected by the inspecting device 14.例文帳に追加

そして、解析装置１２における解析処理部２３が、各処理装置１３における被処理体の載置位置情報と、検査装置１４によって検出された欠陥情報とに基づいて、欠陥を生じさせた処理装置を特定する解析処理を行う。 - 特許庁

To provide a recording body conveyance defect predicting method of predicting a conveyance defect such as paper jamming of a recording body in an image forming apparatus and enabling necessary processing such as maintenance before the conveyance defect occurs, a fixing device which predicts jamming in fixation and enables previous processing such as maintenance, and an image forming apparatus using those.例文帳に追加

画像形成装置における記録体の紙詰まりなどの搬送不良を発生する前に予測し、搬送不良が発生する前にメンテナンスなどの必要な処理を行うことができる記録体搬送不良予測方法、また定着時におけるジャムの発生を予測し、あらかじめメンテナンスなどの処理を行うことができる定着装置及びこれらを用いる画像形成装置を提供する。 - 特許庁

The unevenness defect detecting method has an unevenness component emphasizing processing process for applying an unevenness component emphasizing filter to each of the pixels of a photographed image to emphasizing unevenness components and an unevenness defect detecting process for detecting the uneven defect on the basis of the unevenness components emphasized value of each of the pixels obtained in the unevenness component emphasizing processing process.例文帳に追加

ムラ欠陥検出方法は、撮像した画像の各画素に対してムラ成分強調フィルタをかけてムラ成分を強調するムラ成分強調処理工程と、前記ムラ成分強調処理工程で得られた各画素のムラ成分強調値に基づいてムラ欠陥を検出するムラ欠陥検出工程とを有する。 - 特許庁

The image processing means generates added image data including information of wavelengths and signal intensity by additionally processing the signals of respective wavelengths correspondingly to the incident positions on the detection surface, determines whether or not a defect exists on the pattern to be inspected based on the added image data, and when determining the existence of a defect, detects the position of the defect in a direction vertical to the substrate.例文帳に追加

前記画像処理手段は、前記波長毎の信号を前記検出面の入射位置に対応付けて加算処理して波長および信号強度の情報を含む加算画像データを生成し、該加算画像データに基づいて検査対象のパターンにおける欠陥の有無を判定し、欠陥が有ると判定した場合に前記基体に垂直な方向における前記欠陥の位置を検出する。 - 特許庁

In an image processing device 4, two-dimensional fast Fourier transformation processing is executed by a two-dimensional fast Fourier transformation processing part 10, relative to an original image imaged by the image input device 3, and existence of a defect of the rolled film is discriminated by a defect discrimination part 15, based on the processing result of the two-dimensional fast Fourier transformation processing part 10.例文帳に追加

そして、画像処理装置４が、その２次元高速フーリエ変換処理部１０によって画像入力装置３により撮像された原画像に対して２次元高速フーリエ変換処理を行ない、欠陥判別部１５によって２次元高速フーリエ変換処理部１０の処理結果に基づいてロール状フィルムの欠陥の有無を判別する。 - 特許庁

To provide a photographic processing chemical package that particularly functions on a conventional processing device without further mounting other devices, has no defect in stability of one-component preparation, and brings about better reproducibility of a processing.例文帳に追加

特に、更なる取り付けを伴なわずに従来の処理装置上で機能し、１成分調製物の保恒性の欠点をもたず、そして処理のより良い再現性をもたらす、写真処理化学薬品のパッケージを提供すること。 - 特許庁

To reduce a processing cost by holding a result (PASS/FAIL) for each check item inside and shortening a processing time when defect check is performed and classification processing of defective category is performed in a test of an integrated circuit.例文帳に追加

集積回路のテストに際して、不良チェックを行って不良カテゴリの分類処理を行う場合、チェック項目毎に結果（PASS／FAIL）を内部に保持させ、処理時間を短縮し、処理コストを低減する。 - 特許庁

An image processing part 30 for processing an electric signal output from an imaging element is composed of a plurality of processing blocks (1) to N such as defect pixel correction, optical black and white balance.例文帳に追加

撮像素子から出力される電気信号を処理するための画像処理部３０は、欠陥画素補正、オプティカルブラック、ホワイトバランスなど複数の処理ブロック 〜Ｎから構成される。 - 特許庁

To provide an electric wire processing device capable of preventing defect from occurring in processing performed after cutting a coated electric wire by detecting bending in an end portion of an electric wire before performing the processing.例文帳に追加

電線処理装置における被覆電線の切断後に行われる処理の不良を未然に防止するため、当該処理を行う前に電線端部の曲がりを検知する。 - 特許庁

Then, noise removal processing by means of moving average is given to the generated detection signal by using an LPF to perform signal emphasis on a defect signal by giving integration difference processing and cross-correlation processing to the processed signal.例文帳に追加

次いで、生成された検出信号に対し、移動平均によるＬＰＦを用いてノイズ除去処理を施し、その処理信号に積算差分処理及び相互相関処理を施して欠陥信号の信号強調を行う。 - 特許庁

To provide a semiconductor processing apparatus which eliminates a defect caused from a reaction product produced in a reaction pipe, and controls deterioration of processing performance; and to provide a semiconductor processing method.例文帳に追加

処理性能の低下を抑制しつつ、反応管内に生じた反応生成物による不具合を解消する半導体処理装置および半導体処理方法を提供する。 - 特許庁

To provide an image processing apparatus, an image processing method, an image processing program, and a defect detection apparatus capable of detecting a circular part with high accuracy from a captured image of an inspection target.例文帳に追加

被検査物の撮像画像から円形状の部分を高精度に検出できる画像処理装置、画像処理方法、画像処理プログラム、及び欠陥検出装置を提供すること。 - 特許庁

The defective recording nozzle judgment part 9 selects and carries out one of a plurality of kinds of defective recording detection processing to detect a defect of recording processing from a recording medium after the recording processing, according to the result of the judgment.例文帳に追加

そして、記録不良ノズル判定部９は、記録処理後の記録媒体から当該記録処理の不良を検出する複数種類の記録不良検出処理のうちのひとつを、この判定の結果に応じて選択して実行する。 - 特許庁

To provide a battery driven type information processing terminal capable of preventing in advance the occurrence of a defect in prescribed information processing caused by a power failure by surely inhibiting particular information processing when a residual capacity of a battery is decreased to a warning level.例文帳に追加

バッテリの残量が警告レベルまで低下した際には特定の情報処理を確実に禁止して、電断による特定の情報処理で不具合が発生するのを未然に防止する。 - 特許庁

To provide a shaft thickening processing machine and a processing method thereof by which the shortening of the processing time needed to the formation of an enlarging diameter part can be obtained without bringing about defect such as crack in a blank for a workpiece composed of a metallic bar material.例文帳に追加

金属棒材からなるワークに素材割れ等の不具合を招くことなく、拡径部の成形に要する加工時間の短縮を図ることができる軸肥大加工機及びその加工方法を提供することにある。 - 特許庁

To provide a rinse processing method whereby the condition for reducing the developing defect of an objective wafer is so grasped rapidly regardless of the objective wafer as to be able to perform its rinse processing after subjecting it to a developing processing.例文帳に追加

対象基板によらず現像欠陥の少なくなる条件を迅速に把握して現像処理後のリンス処理を行うことができるリンス処理方法を提供すること。 - 特許庁

To provide an image processing device and an image processing method that are used to determine a weld defect, that can accurately recognize the shape of a bead, and that can reduce an image processing load.例文帳に追加

溶接欠陥の判別に用いられ、ビードの形状を正確に認識可能であり、画像処理負荷を低減可能とする画像処理装置及び画像処理方法を提供する。 - 特許庁

In step S1, a defect detection processing for extracting the ordinates of a new defect and a detection size by a prescribed process is performed, after a prescribed process by using an area reducing function of an inspection device, and in step S3, existence of a new defect is determined in chip unit by a discrimination condition validating all detected new defects.例文帳に追加

ステップＳ１で、検査装置の面積縮小機能を用いて所定の工程後に所定の工程による新規欠陥の座標及び検出サイズを抽出する欠陥検出処理を行い、ステップＳ３で、検出されたすべての新規欠陥を有効とする識別条件で新規欠陥の有無をチップ単位に判定する。 - 特許庁

Thus, since the class of the defect is discriminated by clustering processing based on the feature value calculated from the information of the differential, in comparison with a case where an operator discriminates a defect class by individually and qualitatively inspecting the output image, for example, discrimination accuracy is not affected by operator's superior/inferior capability of estimating the defect class.例文帳に追加

この構成によれば、差分の情報から算出した特徴値に基づいてクラスタリング処理により欠陥種別を判定するため、例えば、オペレータが個別的かつ定性的に出力画像を検査して欠陥種別を判別する場合と比べて、判別精度がオペレータの欠陥種別を推測する能力の優劣に影響を受けることがない。 - 特許庁

To provide an outside development information practical use method of a steel strip and a collection/display program of defect data on the steel strip, when an operator inputs an outside inspection result of a defect in a one's own process onto an outside development displayed on a screen of a defect recording device and records it when processing the steel strip in a plurality of processes.例文帳に追加

鋼帯を複数の工程で処理するに際し、オペレータが自工程での欠陥の外観検査結果を、欠陥記録装置の画面上に表示された外観展開図上に入力して記録を行う際の鋼帯の外観展開図情報活用方法および鋼帯の欠陥データの収集・表示プログラムに関する。 - 特許庁

The defect inspection device for processing image information imaging an inspection object having a prescribed area to be inspected by a plurality of area sensors and discriminating a defect based on a characteristic amount calculated from brightness change in the area includes correction means between characteristic amount imaging systems for correcting the difference between the characteristic amounts to the same defect between the plurality of the area sensors in each area sensor.例文帳に追加

所定の被検査エリアを有する検査対象を、複数のエリアセンサにより撮像した画像情報を処理し、前記エリア内の輝度変化から計算した特徴量に基づいて欠陥を識別する欠陥検査装置において、 前記複数のエリアセンサ間の同一欠陥に対する特徴量の差を補正する、特徴量撮像系間補正手段を前記エリアセンサ毎に備える。 - 特許庁

Also in the event of cell comparison, difference images are first processed by the second threshold to find defect candidates, and further, the difference images are processed also by the first threshold to detect, as a defect, at least one difference image outputting a signal more than the first threshold out of two peaks, among difference images taken as defect candidates in the processing performed by using the above second threshold.例文帳に追加

セル比較の場合にも、差画像を、まず第二の閾値で処理して欠陥候補を求め、さらに、差画像を第一の閾値でも処理し、先の第二の閾値による処理で欠陥候補となったもののうち、２つのピークのうち少なくとも一方で第一の閾値以上の信号がでているものを欠陥として検出する。 - 特許庁

When a defect sector is detected in an area where the predetermined system information is written, the MPU 18 executes sector slip processing to allocate address information sequentially from a next sector of the defect sector without allocating any address information to the defective sector.例文帳に追加

また、ＭＰＵ１８が、上記所定のシステム情報が書き込まれる領域において欠陥セクタが検出された場合に、欠陥セクタへのアドレス情報の割り当てをせずに、欠陥セクタの次のセクタから順次アドレス情報を割り当てるセクタスリップ処理を実行する。 - 特許庁

To observe a defect efficiently in a short time without lowering a detection rate by improving a processing procedure of detect detection or the like so that a reutilization rate of a recorded reference image is raised, when inspecting in detail by enlarging a defect portion or the like.例文帳に追加

欠陥部分を拡大するなどして詳細に検査するときに、記録した参照画像の再利用率があがるように欠陥検出の処理手順などを改良することで、検出率を下げずに短時間に効率よく欠陥を観察することができるようにする。 - 特許庁

To provide a defective pixel detection method and an image processing apparatus, which can accurately detect a position, in which image correction is required, to accurately perform image correction even in the case where normal pixels adjacent to a line defect generate abnormal output signals due to an influence of the line defect.例文帳に追加

線欠陥の影響により、隣接する正常な画素が異常な出力信号を発生する場合でも、画像補正が必要な箇所を正確に検出し、正確に画像補正することができる欠陥画素検出方法および画像処理装置を提供する。 - 特許庁

To solve the problem, wherein it is difficult to detect a plurality of defect kinds at the same time under a single integrated condition, and when a plurality of defects are detected by handling the defect as multidimensional feature quantity, the calculation cost required in signal processing increases together with the increase in the number of detectors.例文帳に追加

単一の統合条件においては複数の欠陥種を同時に検出することは困難であり、また、多次元の特徴量として扱って複数の欠陥を検出すると、信号処理にかかる計算コストが検出器の増加とともに増大するという問題が発生する。 - 特許庁

In a processing section 2, a defect D in a workpiece W0 is detected, by using the image generated by the CCD 10 to generate a projection image 50, by setting an image data brighter than an ambience to an area RP corresponding to an area R, including the defect, provided to the projecting section 11, and projected.例文帳に追加

処理部２では、ＣＣＤ１０により生成された画像を用いてワークＷ０の欠陥Ｄを検出し、その欠陥を含む領域Ｒに対応する領域ＲＰに周囲より明るい画像データが設定された投影用画像５０を生成し、これを投影部１１に与えて投影させる。 - 特許庁

The defect correcting device correcting or removing a protrusion defect 53 is equipped with: a stage 14 holding a workpiece 13; a polishing unit carrying out polishing processing; and a moving means moving the polishing unit in a direction orthogonal to a traveling direction of a polishing tape 42 in regard to the workpiece 13 on the stage 14.例文帳に追加

突起欠陥５３を修正又は除去する欠陥修正装置であり、ワーク１３を保持するステージ１４と、研磨処理を行う研磨ユニットと、研磨ユニットを、ステージ１４のワーク１３に対して、研磨テープ４２の走行方向と直交する方向に移動させる移動手段とを具える。 - 特許庁

To provide an inspection method for shape defect or the like by which the defect of a printed wiring board or the like, especially a light transmission type electronic substrate, can be detected accurately, quickly and automatically through optical processing without paying attention to the deviation of a substrate, and to provide an inspection device.例文帳に追加

プリント配線基板等、特に光透過型電子基板の欠陥を、基板のずれを気にせずに光学的処理により高精度、迅速、かつ、自動的に検出することができる形状欠陥等の検査方法および検査装置を提供する。 - 特許庁

The reflected light 12 is received by the first detection means 6 independently of the light receiving element 4, and thereby the tilt angle of the irregularity defect 8 is measured by an image processing device 17, and the height or the depth of the irregularity defect 8 is measured by triangulation from the measurement result.例文帳に追加

第１の検出手段６によって受光素子４とは別に反射光１２を受光することで、画像処理装置１７によって、凹凸欠陥８の傾斜角度を計測したうえで、その計測結果から三角測量によって凹凸欠陥８の高さあるいは深さを計測する。 - 特許庁

To extract a defect information of raw material, such as the positions, the number or the like of defects, and to transfer the defect information from a preceding process to a subsequent process, in case where defective parts exist in roll-shaped web-like raw material unrolled for printing, processing or the like.例文帳に追加

印刷又は加工などのために巻き出されるロール状のウエブ状素材に不良部分が存在した場合に不良位置、個数など素材の不良情報を抽出したり、その不良情報を前工程から次工程に伝達する。 - 特許庁

To provide an automatic inspection device for display panel which automatically inspects testing items such as point defect or line defect, while achieving an enhancement of precision in detection and judgment of display unevenness without requiring any difficult display unevenness detection/determination processing.例文帳に追加

自動的に点欠陥や線欠陥などの検査項目を検査するとともに、困難な表示ムラ検出・判定処理を必要とせずに表示ムラの検出・判定の精度を向上可能なディスプレイパネル自動検査装置を提供する。 - 特許庁

The TFT array inspection device 1 for inspecting a TFT array based on two-dimensional measured data obtained by driving each pixel of a TFT substrate 2, comprises a data processing means 5 determining a defect point of line defect from the two-dimensional measured data of the TFT substrate 2.例文帳に追加

ＴＦＴアレイ検査装置１は、ＴＦＴ基板２の各画素を駆動して得られる二次元の測定データに基づいてＴＦＴアレイを検査するＴＦＴアレイ検査装置において、ＴＦＴ基板２の二次元の測定データから線欠陥の欠陥点を求めるデータ処理手段５を備える。 - 特許庁

To provide a method for determining a correlation value of an object to be inspected, which determines the correlation value unlimitedly close to the measured value of the object to be inspected, namely the optimum threshold in the binarization on the side of image processing, and to provide a defect inspection method using the same and a defect inspection apparatus therefor.例文帳に追加

被検査対象の実測値に限りなく近い相関値、即ち、画像処理側での２値化における最適な閾値を決定する被検査対象相関値決定方法、及びこの方法を用いた欠陥検査方法とその欠陥検査装置を提供するものである。 - 特許庁