「processing defect」に関連した英語例文の一覧と使い方(8ページ目) - Weblio英語例文検索

A flat panel inspection system 100 as the defect detection apparatus is provided with an image processing section 104 for identifying a defect region in the flat panel 200, based on image data obtained by imaging the flat panel 200.例文帳に追加

欠陥検出装置としてのフラットパネル検査システム１００は、フラットパネル２００を撮像して得られた画像データに基づいてフラットパネル２００の欠陥領域を特定する画像処理部１０４を備えている。 - 特許庁

Thus, the image signal processor performs processing of making an address of the defect information in matching with the image signal without changing the data sequence of the image signal read from the CMOS image sensor 200 so as to smoothly correct the defect.例文帳に追加

これにより、ＣＭＯＳイメージセンサ２００から読み出された画像信号のデータ順を変えることなく、画像信号と欠陥情報とのアドレスを一致させるような処理を行い、円滑な欠陥補正を行う。 - 特許庁

To provide a method for detecting a defect capable of simply processing an image with less information and detecting a defect easily and quickly, and a device therefor, and a device and a device for manufacturing a film using the same.例文帳に追加

少ない情報量で単純に画像処理することができ、簡易かつ迅速に欠陥を検出する欠陥検出方法、欠陥検出装置、これらを用いたフィルムの製造方法及び装置を提供する。 - 特許庁

Sudden off-track directly after seek can be discriminated from off-track by defect, even if sudden off-track is continued, movement to an adjacent track is prohibited, also off-track relief processing being appropriate for defect can be performed.例文帳に追加

シーク直後の突発的なオフトラックと、欠陥によるオフトラックを判別でき、突発的なオフトラックが連続しても、隣接トラックへの移動を防止し、且つ欠陥に対し適切なオフトラック救済処理を実現できる。 - 特許庁

METHOD FOR MANUFACTURING SEPARATOR OF SOLID POLYMER ELECTROLYTE TYPE OF FUEL CELL, METHOD FOR INVESTIGATING DEFECT OF THE SEPARATOR, METHOD FOR HEATING AND PROCESSING SEPARATOR, SURFACE COATING METHOD OF THE SEPARATOR, AND METHOD FOR INVESTIGATING SURFACE COATING DEFECT OF THE SEPARATOR例文帳に追加

固体高分子電解質型燃料電池のセパレータの製造方法、そのセパレータの欠陥検査方法、そのセパレータの加熱処理方法、そのセパレータの表面被覆方法、そのセパレータの表面被覆欠陥検査方法 - 特許庁

The peripheral equipment 1 collects states of respective parts and generates logs when the defect is detected during processing execution, transmits the logs to a DB server 4, and inquires whether or not there is any firmware whose defect can be resolved.例文帳に追加

周辺機器１は、処理実行中に不具合が検出された場合に各部の状態を収集しログを生成し、ログをＤＢサーバ４へ送信し不具合を解決可能なファームウェアの有無を問い合わせる。 - 特許庁

An image processing section 15 determines an inspection area based on the image for area thus picked up and detects a visual defect in the inspection area based on the inspection area thus determined and the image for defect thus picked up.例文帳に追加

画像処理部１５は、撮像された領域用画像に基づいて検査領域を決定し、決定した検査領域と撮像された欠陥用画像とに基づいて検査領域内の外観欠陥を検出する。 - 特許庁

Thereafter, the similar processing is performed with plural recording/reproducing devices 106, 107, 108, and when the error occurs, the recording work is continued while judging whether the recording medium is defect or the recording/reproducing device is defect.例文帳に追加

以降、複数の記録再生装置１０６、１０７、１０８で同様な処理を行い、エラーが発生した場合は記録媒体が不良か記録再生装置が不良かを判断しつつ、書き込み作業を続行する。 - 特許庁

On the other hand, as for the processing mark M_4, a direction line m_4" points to a defect part section A_0 so as to show that the section A_0 of the defect part A exists in the left direction (y-direction), viewing from the mark M_4.例文帳に追加

一方、加工用マークＭ_４は、そのマークＭ_４から見て左方向（ｙ方向）に欠陥部分Ａの断面Ａ_０があることが分かるように、方向線ｍ_４”は欠陥部分断面Ａ_０の方を指している。 - 特許庁

Then, noise removal processing by means of moving average is given to the generated detection signal by using an LPF to perform signal emphasis on a defect signal by giving integration difference processing and cross-correlation processing to the processed signal.例文帳に追加

次いで、生成された検出信号に対し、移動平均によるＬＰＦを用いてノイズ除去処理を施し、その処理信号に積算差分処理及び相互相関処理を施して欠陥信号の信号強調を行う。 - 特許庁

The defective recording nozzle judgment part 9 selects and carries out one of a plurality of kinds of defective recording detection processing to detect a defect of recording processing from a recording medium after the recording processing, according to the result of the judgment.例文帳に追加

そして、記録不良ノズル判定部９は、記録処理後の記録媒体から当該記録処理の不良を検出する複数種類の記録不良検出処理のうちのひとつを、この判定の結果に応じて選択して実行する。 - 特許庁

To provide a photographic processing chemical package that particularly functions on a conventional processing device without further mounting other devices, has no defect in stability of one-component preparation, and brings about better reproducibility of a processing.例文帳に追加

特に、更なる取り付けを伴なわずに従来の処理装置上で機能し、１成分調製物の保恒性の欠点をもたず、そして処理のより良い再現性をもたらす、写真処理化学薬品のパッケージを提供すること。 - 特許庁

To suppress a defect such as bleeding or burr at a silver wire edge part of a conductive material by local runaway of developing after developing processing.例文帳に追加

現像処理後に、現像の局部暴走により導電性材料の銀線エッジ部ににじみ、ギザギザ等の欠陥が発生することを抑制する。 - 特許庁

To provide an image processor which can perform pixel defect correction processing while avoiding picture deterioration as much as possible, and to provide a control method and a program.例文帳に追加

画質劣化を可及的に回避しつつ画素欠陥補正処理を行ない得る画像処理装置、制御方法、及びプログラムを提供する。 - 特許庁

To provide a high speed and optimum defect processing device for converting a specified logic sector address into the sector address of an actual optical disk.例文帳に追加

指定された論理セクタアドレスを実際の光ディスクのセクタアドレスに変換する際の高速なかつ最適な欠陥処理装置を提供する。 - 特許庁

To provide a defect-free method for the both-side emboss processing of a sheet based on partial acetalized polyvinyl alcohol.例文帳に追加

部分アセタール化ポリビニルアルコールを基礎とするシートの両側エンボス加工のための方法であって、前記の欠点を有さない方法を提供する。 - 特許庁

To solve a defect such as the labor hour of input or an input mistake accompanied by article management processing, and to improve the preciseness of article management.例文帳に追加

物品管理処理に伴う入力の手間や入力ミス等の欠点を解消するとともに、物品管理の正確性を向上させる。 - 特許庁

To provide an imaging device that can eliminate an inter-line step difference without causing a defect in signal processing for a short arithmetic operation time.例文帳に追加

短い演算時間で、信号処理における不具合を生じること無くライン間段差を解消することができる撮像装置を提供する。 - 特許庁

To provide an image processing system capable of readily setting the parameters concerning detection of a defect, and to provide a method for supporting setting of the parameters.例文帳に追加

欠陥検出に係るパラメータを容易に設定できる画像処理システムおよび当該パラメータの設定を支援する方法を提供する。 - 特許庁

To obtain fail pattern data in a spare area on a must repair line without spending much time in the process of the defect relief and analysis processing of a memory.例文帳に追加

メモリの不良救済解析処理の過程において、マストリペアライン上のスペア領域のフェイルパターンデータを時間を掛けることなく取得する。 - 特許庁

This processing is implemented for the entire captured image plane of the inspected object, repeated patterns are removed, and only the defect region is extracted with sensitivity.例文帳に追加

この処理を被検査対象物を撮像画像の全面に施し、繰り返しパターンを除去し欠陥部分のみを感度良く抽出する。 - 特許庁

When a defect is detected, whether the inspected result is to be deleted as security processing corresponding to secret level information or not is judged (S38).例文帳に追加

一方、欠陥が検出された場合には、機密レベル情報に応じたセキュリティ処理として削除処理をするか否かを判定する（Ｓ３８）。 - 特許庁

After correcting the inspected image on the basis of the detected skew angle, pattern matching processing is performed to detect a printing defect (S205, S206).例文帳に追加

検出されたスキュー角度に基づき検査画像を補正してから、パターンマッチング処理を行い、印刷欠陥を検出する（Ｓ２０５，Ｓ２０６）。 - 特許庁

To provide a polyoxymethylene molding composition which is stable during processing, and has negligible formaldehyde release, negligible surface defect, and high color fastness.例文帳に追加

加工中に安定で、無視できるホルムアルデヒド放出、表面欠陥、及び高い色堅牢度を有するポリオキシメチレン成形用組成物を提供する。 - 特許庁

To provide a photomask making a large processing precision tolerance margin for a correction part of defects in HT mask defect correction.例文帳に追加

ＨＴマスクの欠陥修正において、欠陥の修正部分の加工精度許容マージンを大きくすることができるフォトマスク等を提供する。 - 特許庁

To provide an image signal processing method for significantly increasing the compression rate, without causing a defect to the image quality, when producing a compressed image.例文帳に追加

圧縮画像を作成する際、画質障害を起こすことなく、圧縮率を大幅に上げる画像信号処理方法を提供すること。 - 特許庁

Therefore, composite processing device 4 compositely processes the binarization data, and can detect a defect on the surface of the inspecting object by light-dark detection.例文帳に追加

このため、複合処理装置４は、前記２値化データを複合処理し、明暗検出により、前記被検査物の表面の欠陥を検出できる。 - 特許庁

To deal with the problem of a defect caused by enlargement of area or an increment of faults in processing steps in a large-scale integrated circuit.例文帳に追加

大規模集積回路構成の、面積を大きくすることによる欠陥や製造過程で生じる不良個所の増大に対応すること - 特許庁

Among a plurality of ejecting parts, the content of the mask table produced based on the ejecting part with ejection defect is changed by a mask processing part 105.例文帳に追加

複数の吐出部のうち、吐出不良が生じた吐出部に基づいて、生成されたマスクテーブルの内容をマスク処理部１０５で変更する。 - 特許庁

The processing device is manually processed based on the defect prevention measures to improve the factors causing failures prior to production.例文帳に追加

不良発生未然防止策に基づいて加工装置を人為的に処理して不良発生の原因となる要因を改善してから生産をする。 - 特許庁

To reliably detect a defect detection signal changing in short times in a high speed line via a low-cost device by reducing a load on data processing.例文帳に追加

データ処理の負荷を軽減して、安価な装置により、高速ラインで短時間に変化する欠陥検出信号を確実に検出可能とする。 - 特許庁

To provide a signal processing circuit capable of correcting a fixed noise, a flaw such as a pixel defect, and a random noise without degrading in the resolution.例文帳に追加

解像度の低下を招くことなく、固定ノイズや画素欠陥のようなキズ並びにランダムノイズを補正できる信号処理回路を提供する。 - 特許庁

To provide a recording body conveyance defect predicting method of predicting a conveyance defect such as paper jamming of a recording body in an image forming apparatus and enabling necessary processing such as maintenance before the conveyance defect occurs, a fixing device which predicts jamming in fixation and enables previous processing such as maintenance, and an image forming apparatus using those.例文帳に追加

画像形成装置における記録体の紙詰まりなどの搬送不良を発生する前に予測し、搬送不良が発生する前にメンテナンスなどの必要な処理を行うことができる記録体搬送不良予測方法、また定着時におけるジャムの発生を予測し、あらかじめメンテナンスなどの処理を行うことができる定着装置及びこれらを用いる画像形成装置を提供する。 - 特許庁

The device for inspecting the image defects is configured so that defect detecting processing S3 detecting the defects appearing in the sensed image on the sample surfaces, and reinspection processing S6 conducting reinspection or deciding truth or falsehood at a place of detection in the sensed image regarding the defects detected by the defect detecting processing are carried out by the same processor element.例文帳に追加

試料の表面の撮像画像に現れる欠陥を検出する欠陥検出処理Ｓ３と、この欠陥検出処理欠陥により検出された欠陥に関して撮像画像中の検出箇所を再検査する又は真偽を判定する再検査処理Ｓ６とが、同一のプロセッサエレメントによって実行されるように画像欠陥検査装置を構成する。 - 特許庁

The detection rack part calculates the incidence of defect and operates in a restriction mode which suppresses (does not pass to the data processing part 23) an output of the defect information consisting of the image information, if the calculated incidence is higher than a determination value.例文帳に追加

検出ラック部は、欠陥の発生頻度を求め、その求めた発生頻度が、判定値より大きい場合には、画像情報からなる欠陥情報の出力を抑制する（データ処理部２３に渡さない）制限モードで動作する。 - 特許庁

A signal pattern is discriminated from a center of gravity pixel and surrounding pixels in real-time processing, during photographing of video and a pixel having an extremely large or small level, as compared with surrounding pixels, is regarded as a defect, and pixel defect correction is performed.例文帳に追加

映像撮影中にリアルタイムの処理で重心画素とその周囲の画素から信号のパターンを判別し、周囲と比較して1画素だけ極端の大きいレベルや小さいレベルの画素を欠陥とみなし画素欠陥補正を行なう。 - 特許庁

This device 1 for inspecting defect is a device equipped with an image processing means 12 for inspecting a defect by imaging an inspection signal acquired from an inspected object S and applying a spatial filter to such an inspection image.例文帳に追加

本発明に係る欠陥検査装置１は、被検査物Ｓから得られた検査信号を画像化し、当該検査画像に空間フィルタを適用することによって欠陥を検査する画像処理手段１２を備えた装置である。 - 特許庁

The crystal defect of the trap level generated by performing termination processing to the crystal defect formed in the region of <0.2 eV in the energy difference from the center of the band gap is small in dependency with respect to a leak current.例文帳に追加

バンドギャップの中心からのエネルギー差が０．２ｅＶ未満の領域内に形成されている結晶欠陥を終端処理することにより生じるトラップ準位の結晶欠陥は、リーク電流に対する依存性が弱い。 - 特許庁

To provide an automatic inspection device for display panel which automatically inspects testing items such as point defect or line defect, while achieving an enhancement of precision in detection and judgment of display unevenness without requiring any difficult display unevenness detection/determination processing.例文帳に追加

自動的に点欠陥や線欠陥などの検査項目を検査するとともに、困難な表示ムラ検出・判定処理を必要とせずに表示ムラの検出・判定の精度を向上可能なディスプレイパネル自動検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide an apparatus and a method for inspecting defects capable of determining overlapping defects in the case that defect detection processing is performed on an object to be inspected by a plurality of defect detection means.例文帳に追加

検査対象物について、複数の欠陥検出手段によって欠陥検出処理を行った場合に、重複して検出された欠陥を判定することができる欠陥検査装置及び欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁

This surface defect inspection device is equipped with an imaging part 2 for imaging a surface 1a of an inspected object 1 and a processing part 4 for detecting a defect in the surface 1a of the inspected object 1, based on an image acquired by the imaging part 2.例文帳に追加

表面欠陥検査装置は、被検査物１の表面１ａを撮像する撮像部２と、撮像部２により得られた画像に基づいて被検査物１の表面１ａの欠陥を検出する処理部４と、を備える。 - 特許庁

To provide a defect inspection device capable of suppressing complication of processing in inspection, and improving inspection accuracy, while preventing a smear phenomenon, in defect inspection in a manufacturing process of a PTP sheet, and a PTP packaging machine.例文帳に追加

ＰＴＰシートの製造過程における不良検査に際し、スミア現象を防止しつつ、検査に際しての処理の複雑化を抑制し、検査精度の向上を図ることのできる不良検査装置、及び、ＰＴＰ包装機を提供する。 - 特許庁

To provide a defect relieving device and its method for a recording medium in a library system which can perform reading and writing information including defect substitution processing for all recording media in each library device at high speed.例文帳に追加

各ライブラリ装置内の全ての記録媒体に対する欠陥代替処理を含む情報の読み書きを高速に実行可能とするライブラリシステムにおける記録媒体の欠陥救済装置及びその方法を提供すること。 - 特許庁

A defect count determination part 306 determines whether a defect count in the blocks ζkl is smaller than a threshold or not, and an interpolation processing part 308 interpolates defects in the blocks ζkl with the function f(i, j) computed by the approximation function computation part 304.例文帳に追加

欠陥数判定部３０６は、ブロックζｋｌの欠陥数が閾値より少ないか否かを判定し、補間処理部３０８は、ブロックζｋｌの欠陥を、近似関数算出部３０４が算出した関数ｆ（ｉ，ｊ）により補間する。 - 特許庁

To provide an outside development information practical use method of a steel strip and a collection/display program of defect data on the steel strip, when an operator inputs an outside inspection result of a defect in a one's own process onto an outside development displayed on a screen of a defect recording device and records it when processing the steel strip in a plurality of processes.例文帳に追加

鋼帯を複数の工程で処理するに際し、オペレータが自工程での欠陥の外観検査結果を、欠陥記録装置の画面上に表示された外観展開図上に入力して記録を行う際の鋼帯の外観展開図情報活用方法および鋼帯の欠陥データの収集・表示プログラムに関する。 - 特許庁