| 意味 | 例文 |
processing defectの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 846件
IMAGE PROCESSING DEVICE AND METHOD FOR SUPPORTING PARAMETER CONCERNING DETECTION OF DEFECT ON IMAGE例文帳に追加
画像処理装置および画像上の欠陥検出に係るパラメータの設定を支援する方法 - 特許庁
To provide a server device for preventing start processing from being affected by the defect of a service program.例文帳に追加
サービスプログラムの不具合が起動処理に影響を与えないようにしたサーバ装置を提供する。 - 特許庁
DISK ARRAY CONTROL DEVICE, PROCESSING METHOD APPLIED TO THIS DEVICE UPON DETECTION OF DATA DEFECT, AND PROGRAM例文帳に追加
ディスクアレイ制御装置、同装置に適用されるデータ欠損検出時の処理方法及びプログラム - 特許庁
IMAGE PROCESSING METHOD FOR COVERING DEFECT OF LIQUID CRYSTAL PANEL AND IMAGE DISPLAYING DEVICE WITH THE SAME例文帳に追加
液晶パネルの欠点を目立たなくする画像処理方法、及びこれを用いた画像表示装置 - 特許庁
After that, the value is compared with a reference value to determine a defect in the plasma processing system.例文帳に追加
次いで、値は、プラズマ処理システムにおける欠陥を決定するために基準値と比較される。 - 特許庁
To execute efficient processing for detecting a defect position according to the type of a used power source.例文帳に追加
使用する電源の種類に応じた効率的な欠陥位置の検出処理を実行する。 - 特許庁
To enable a post-processing causing no defect even when different types of sheets of paper are post-processed together.例文帳に追加
種類の異なる用紙をともに後処理する場合でも、不具合のない後処理を可能とする。 - 特許庁
The kind of a defect is detected, and signal processing is performed according to this defect, by providing an information processor with an envelope detection part 11 for detecting an envelope of a reproduction RF signal, and a defect detection device 1 comprising a three-block configuration for classifying the defects into a micro defect, a degenerated defect, and a difference defect.例文帳に追加
再生RF信号のエンベロープを検出するエンベロープ検出部11と、ディフェクトをマイクロディフェクト、縮退ディフェクト、及び差分ディフェクトの3種類に分類するための3つのブロック構成とを備えたディフェクト検出装置1を情報処理装置に設けることにより、ディフェクトの種類を検出し、このディフェクトに応じた信号処理を実行する。 - 特許庁
To provide a two-dimensional color solid-state imaging element capable of easily carrying out complement processing even on the occurrence of a longitudinal line defect or a lateral line defect.例文帳に追加
縦線欠陥や横線欠陥が発生した場合であっても、補完処理を容易に行うことができる二次元カラー固体撮像素子を得る。 - 特許庁
Thereby, defect of a power source current at the time of the data processing section 3 never be hidden by the defect of power source current at the standby time of the memory array 122.例文帳に追加
これにより、データ処理部3の待機時電源電流不良がメモリアレイ122の待機時電源電流不良に隠れてしまうことがなくなる。 - 特許庁
In the defect detecting method, the defect is detected by processing an image on a display surface of an LCD panel 1 or the like where bright spots 2 are regularly arranged on the display surface.例文帳に追加
表示面に輝点2が規則的に並んだLCDパネル1等の表示面の画像を処理して欠陥を検出する欠陥検出方法である。 - 特許庁
The AV manager performs defect processing in which when data corresponding to the Defect RUB section is reproduced, the picture to be reproduced is frozen or a voice is muted.例文帳に追加
AVマネージャは、DefectRUB区間に対応するデータを再生する場合には、その対象となる画像をフリーズ、または音声をミュートするディフェクト処理を行う。 - 特許庁
To provide a print defect checking device which dispenses with a costly device to perform sophisticated image processing when a simple print defect checking is performed.例文帳に追加
簡易な印刷不良の検査を行う場合に、高度な画像処理を実行する高価な装置が不要となる印刷不良検査装置を提供する。 - 特許庁
If a defect is not generated under a state where both correction processing A and correction processing B are performed, content of the original image is simply approached even if any one of the correction processing A or correction processing B is reset and the possibility of generating a defect is low.例文帳に追加
補正処理Aと補正処理Bの双方を実施した状態でディフェクトが発生していなければ、補正処理Aと補正処理Bのいずれかを元に戻したとしても、それは原画像の内容に近づくだけであり、ディフェクトが発生する可能性は低い。 - 特許庁
Hereby, since defect detection processing of the circumferential flaw or the island defect can be performed stepwise separately from other defects, even if the number of defects to be detected is increased, a processing load of a data processing device can be reduced.例文帳に追加
これにより円周疵あるいは島状欠陥を他の欠陥と分離して欠陥検出処理を段階的に行うことができるので、検出される欠陥数が増加してもデータ処理装置の処理ロードを低減することができる。 - 特許庁
This defect processing method of a magnetic disk drive is a suitable method when the position of a defect is known in advance on a disk and comprises a stage for assigning a data zone to a track including the defect (step S1006) and a stage for processing the data zone as a defect (step S1008).例文帳に追加
本発明にかかる磁気ディスク装置のディフェクト処理方法は,ディスク上で欠陥の位置が事前に分っている場合に適した方法であって,欠陥を含むトラックに対してデータゾーンを割当てる段階(ステップS1006)と,データゾーンをディフェクトとして処理する段階(ステップS1008)とを含むことを特徴とする。 - 特許庁
To provide an image processing apparatus, method, and program for accurately correcting a deviation between the effect of a defect on visible data and the effect of a defect on invisible data and reducing a computation processing amount for the correction.例文帳に追加
可視データが欠陥により受ける影響と非可視データが欠陥により受ける影響とのずれを正確に補正するするとともに、当該補正のための演算処理量を軽減する。 - 特許庁
Based upon a result thereof, it can easily be determined whether a defect which cannot be removed through the cleaning processing is the defect in the substrate or caused owing to a problem of the cleaning processing process.例文帳に追加
その結果に基づいて洗浄加工によって除去できなかった欠陥が基板内部の欠陥であるのか、洗浄加工プロセスの問題によるものかを容易に判定することができるようになる。 - 特許庁
The presence or absence of a defect in a wiring pattern is confirmed by visual observation, image processing, or the like; defect information on the position, coordinates, size, or the like is confirmed, and the type of the defect is determined; when the defect is detected; and a machining method and machining conditions are set according to the type and state of the defect (step S1).例文帳に追加
目視又は画像処理等により配線パターンの欠陥の有無を確認し、欠陥を検出した場合は、その位置、座標及び大きさ等の欠陥情報を確認すると共に欠陥の種類を判定し、欠陥の種類及び状態に応じて加工方法及び加工条件を設定する(ステップS1)。 - 特許庁
To perform data embedding processing without creating an influence in appearance, and to extract data embedded from a printed matter of the data embedding processing with few data defect.例文帳に追加
見た目に影響のないデータ埋め込み加工処理と、その印刷物から埋め込んだデータを、データ欠損を少なく抽出すること。 - 特許庁
To provide an image forming apparatus capable of preventing the occurrence of a defect attendant on revision of forward order processing/reverse order processing during printing.例文帳に追加
プリント動作中の正順処理/逆順処理の変更に伴う不具合の発生を防止できる画像形成装置を提供する。 - 特許庁
In this process, a defect is detected by comparing a basic inspection image obtained from the basic pattern formed in the basic pattern region of the mask for inspection of pattern defect detection sensitivity with a defect reference image produced by image processing based on the design data of the defect pattern.例文帳に追加
この際、パターン欠陥検出感度検査用マスクの基本パターン領域に形成された基本パターンから取得した基本検査画像と、欠陥パターンの設計データを基に画像処理により生成した欠陥参照画像とを、比較して欠陥を検出する。 - 特許庁
The synthetic quartz glass before hydrogen impregnation processing has the suppressed defect corresponding to the fluorescence peak in 280 nm band and the suppressed defect corresponding to the fluorescence peak in 390 nm band, and after the hydrogen impregnation processing, has the suppressed defect corresponding to the fluorescence peak in 280 nm band, the suppressed defect corresponding to the fluorescence peak in 390 nm band and the suppressed defect corresponding to the fluorescence peak in 650 nm.例文帳に追加
水素含浸処理前の合成石英ガラスは、280nm帯の蛍光ピークに相当する欠陥、及び390nm帯の蛍光ピークに相当する欠陥が抑圧されており、水素含浸処理により、280nm帯の蛍光ピークに相当する欠陥、及び390nm帯の蛍光ピークに相当する欠陥、650nm帯の蛍光ピークに相当する欠陥が抑圧されている。 - 特許庁
To provide an electric wire processing device capable of preventing defect from occurring in processing performed after cutting a coated electric wire by detecting bending in an end portion of an electric wire before performing the processing.例文帳に追加
電線処理装置における被覆電線の切断後に行われる処理の不良を未然に防止するため、当該処理を行う前に電線端部の曲がりを検知する。 - 特許庁
In an image processing part 12 of this radiation image photographing apparatus 10, a defect detection part 24 detects a black defect of a radiation image, and makes a storage part 28 store a position of the black defect satisfying a prescribed condition.例文帳に追加
放射線画像撮影装置10の画像処理部12では、欠陥検出部24が放射線画像の黒欠陥を検出し、所定の条件を満たした黒欠陥の位置を記憶部28に記憶させる。 - 特許庁
In an image signal processing device, a defect detection circuit 12 compares the image signal of a target pixel with the image signal of surrounding pixels thereof to detect a pixel defect candidate, and stores the address information of the pixel defect candidate in a position memory circuit 13.例文帳に追加
欠陥検出回路12で目標画素の画像信号を周辺画素の画像信号と対比して画素欠陥候補を検出し、画素欠陥候補のアドレス情報を位置メモリ回路13に記憶する。 - 特許庁
When a defect, matching a criterion exists, the image processing section 24 generates display image data for displaying the defect matching the criterion, by using the image data of the defect, and outputs them to a display section 25.例文帳に追加
条件に合致する欠陥が存在した場合、画像処理部24は、欠陥の画像データを用いて、条件に合致した欠陥を表示するための表示画像データを生成し、表示部25へ出力する。 - 特許庁
INFORMATION RECORDING AND REPRODUCING DEVICE AND PROCESSING METHOD FOR DEFECT MANAGEMENT SYSTEM FORMAT FOR INFORMATION RECORDING MEDIUM例文帳に追加
情報記録再生装置および情報記録媒体に対する欠陥管理システムフォーマット処理方法 - 特許庁
A defect correcting means 36 and an image processing means 40 correct the determined defective pixel.例文帳に追加
そして、判別した欠陥画素を欠陥補正手段36及び画像処理手段40にて補正する。 - 特許庁
A control system 58 includes a control section 71 having a high-voltage power source defect processing means 100.例文帳に追加
制御システム58は、高圧電源異常時処理実行手段100を有する制御部71を備える。 - 特許庁
To eliminate a defect in the form where a post processing device is positioned on an upper part of an image forming device.例文帳に追加
後処理装置を画像形成装置の上部に位置させた形態における不具合を解消する。 - 特許庁
To provide a flaw correction method (means) for carrying out optimum defect correction processing within one image frame.例文帳に追加
一つの画像フレーム内で、最適な欠陥補正処理を施す様な傷補正方法(手段)を提供する。 - 特許庁
These image data sets RD, TD are input to an image processing unit IPU, and a defect detection is carried out.例文帳に追加
このイメージデータRD、TDが、イメージ処理ユニットIPUに入力され、欠陥検出が行われる。 - 特許庁
Then, a surface detect inspecting device inspects a defect on a surface of a wafer after wafer processing.例文帳に追加
その後ウェハ処理が終了したウェハの表面の欠陥を表面欠陥検査装置により検査する。 - 特許庁
DEFECT CONTROL METHOD FOR INFORMATION STORAGE MEDIUM, DISK DRIVE DEVICE, INFORMATION STORAGE MEDIUM AND INFORMATION PROCESSING SYSTEM例文帳に追加
情報記憶媒体の欠陥管理方法、ディスクドライブ装置、情報記憶媒体および情報処理システム - 特許庁
To achieve defect pixel correction processing with high precision in a CMOS type image sensor.例文帳に追加
本発明は、CMOS型イメージセンサにおいて、高精度の欠陥画素補正処理を実現できるようにする。 - 特許庁
To enable the execution of high-accuracy scan processing by surely obstructing the occurrence of a scanning defect by static electricity.例文帳に追加
静電気による走査不良の発生を確実に阻止し、高精度な走査処理を遂行可能にする。 - 特許庁
DATA PROCESSOR, SYSTEM AND METHOD FOR DATA PROCESSING, DEVICE AND METHOD FOR DETECTING DEFECT AND STORAGE MEDIUM例文帳に追加
データ処理装置、欠陥検査装置、データ処理システム、データ処理方法、欠陥検査方法、及び記憶媒体 - 特許庁
To detect abnormality of coating development processing equipment through surface defect inspection more accurately and speedily.例文帳に追加
表面欠陥検査に基づく塗布現像処理装置の異常検出をより正確により迅速に行う。 - 特許庁
To provide an image processing apparatus capable of obtaining a high-quality image by appropriate defect correction.例文帳に追加
適切なキズ補正により高品質な画像を得ることを可能とする画像処理装置を提供すること。 - 特許庁
To improve the efficiency of defect discrimination processing of a semiconductor memory and to specify a defective part.例文帳に追加
半導体記憶装置の不良判定処理の効率向上、及び不良箇所の特定を可能とする。 - 特許庁
To provide an image processing apparatus whereby a user can detect occurrence of defective settings of a processing object area set by each image processing by having only to view output paper (image output) and particularize in which processing the defect takes place.例文帳に追加
出力用紙(画像出力)を目視するのみで画像処理毎に設定された処理対象領域の設定不具合の発生を検出し、かつどの処理で異常が発生しているか特定する。 - 特許庁
To provide an image processing apparatus capable of detecting a white-dot defect and a black-dot defect of pixels of an image sensor without any error while individual nonvolatile memories are not provided.例文帳に追加
個別の不揮発性メモリをもたないが、イメージセンサにおける画素の白点不良及び黒点不良を誤りなく検出することができる画像処理装置を提供する。 - 特許庁
A defect detection processing part 110 detects the defect of the working surface by signals outputted from the sensor 80 after positioning is performed by the controller 100.例文帳に追加
欠陥検出処理部110が、制御装置100により位置決めした後にセンサ80から出力される信号により加工表面の欠陥を検出する。 - 特許庁
To provide a device and method for defect inspection, capable of ensuring the size of an image block processable by a PE (Processor Element) used in image processing in defect inspection.例文帳に追加
欠陥検査の画像処理に用いるPEの処理可能な画像ブロックのサイズを確保することができる欠陥検査装置および欠陥検査方法を提供する。 - 特許庁
This prism defect detecting device detects the defect of the tested prism 3 by making light from a light source 1 enter the tested prism 3 and processing the light emitted from the tested prism 3.例文帳に追加
光源1からの光を被検プリズム3に入射させ、被検プリズム3から出射された光を処理することにより、被検プリズム3の不良を検出する。 - 特許庁
To enable defect repair of a mask with high accuracy and at a high grade by making it possible to perform processing meeting the three-dimensional shapes of defects with an ion beam defect repair system.例文帳に追加
イオンビーム欠陥修正装置で欠陥の3次元的形状に応じた加工が行えるようにし、高精度かつ高品位なマスクの欠陥修正を可能にする。 - 特許庁
Thus, even when a defect takes place in the pattern parts 1b, 1d, since the error accompanied with the defect is decreased, the processing accuracy can be enhanced.例文帳に追加
このようにすると、パターン部1b、1dに欠陥が発生している場合であっても、欠陥に伴う誤差が小さくなるので加工精度を向上させることができる。 - 特許庁
To provide an apparatus for detecting defect in which the image processing load for identifying a defect can be lessened without complicating the arrangement of the apparatus.例文帳に追加
装置の構成が複雑化することなく、しかも欠陥を識別するための画像処理上の負荷を軽減することのできる欠陥検査装置を提供すること。 - 特許庁
| 意味 | 例文 |
| Copyright © Japan Patent office. All Rights Reserved. |
|
ログイン |
Weblio会員(無料)になると
|
|
ログイン |
Weblio会員(無料)になると
|