「processing defect」に関連した英語例文の一覧と使い方(4ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a server device for preventing start processing from being affected by the defect of a service program.例文帳に追加

サービスプログラムの不具合が起動処理に影響を与えないようにしたサーバ装置を提供する。 - 特許庁

To prevent deterioration of performance of the processing resulting from a defect of a column.例文帳に追加

カラムの欠陥に起因する処理のパフォーマンスの低下を防止できるようにする。 - 特許庁

A defect correcting means 36 and an image processing means 40 correct the determined defective pixel.例文帳に追加

そして、判別した欠陥画素を欠陥補正手段３６及び画像処理手段４０にて補正する。 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE PROVIDED WITH FUNCTION OF INSTANTLY DETECTING SELF-ALIGNMENT CONTACT HOLE DEFECT AND PROCESSING METHOD THEREFOR例文帳に追加

自己整合コンタクトホール欠陥即時検出機能付き半導体装置及びその製造方法 - 特許庁

To provide a recording medium storing linking-type information and a defect area processing method.例文帳に追加

リンキングタイプ情報を貯蔵する記録媒体と欠陥領域処理方法を提供する。 - 特許庁

To prevent a defect due to an ROP processing at high speed with a small amount of memory capacity.例文帳に追加

少ないメモリ容量、かつ高速にＲＯＰ処理による不具合を防止する。 - 特許庁

To perform reprint processing quickly and easily when a defect exists in a print image.例文帳に追加

印刷画像にディフェクトが存在した場合に迅速かつ容易に再印刷処理を行う。 - 特許庁

IMAGE PROCESSING DEVICE AND METHOD FOR SUPPORTING PARAMETER CONCERNING DETECTION OF DEFECT ON IMAGE例文帳に追加

画像処理装置および画像上の欠陥検出に係るパラメータの設定を支援する方法 - 特許庁

After that, the value is compared with a reference value to determine a defect in the plasma processing system.例文帳に追加

次いで、値は、プラズマ処理システムにおける欠陥を決定するために基準値と比較される。 - 特許庁

To enable a post-processing causing no defect even when different types of sheets of paper are post-processed together.例文帳に追加

種類の異なる用紙をともに後処理する場合でも、不具合のない後処理を可能とする。 - 特許庁

To provide a recording medium storing linking type information and a defect area processing method.例文帳に追加

リンキングタイプ情報を貯蔵する記録媒体と欠陥領域処理方法を提供する。 - 特許庁

The wall surface image is picked up by the image pickup device 6 and a defect determining process is carried out by the image processing device 7.例文帳に追加

この壁面像を撮像装置６で撮像して画像処理装置７で欠陥判定処理を行う。 - 特許庁

To execute efficient processing for detecting a defect position according to the type of a used power source.例文帳に追加

使用する電源の種類に応じた効率的な欠陥位置の検出処理を実行する。 - 特許庁

To provide an image processing apparatus capable of obtaining a high-quality image by appropriate defect correction.例文帳に追加

適切なキズ補正により高品質な画像を得ることを可能とする画像処理装置を提供すること。 - 特許庁

To improve the efficiency of defect discrimination processing of a semiconductor memory and to specify a defective part.例文帳に追加

半導体記憶装置の不良判定処理の効率向上、及び不良箇所の特定を可能とする。 - 特許庁

DEFECT MANAGEMENT INFORMATION PROCESSING METHOD FOR INFORMATION RECORDING MEDIUM AND INFORMATION RECORDING AND REPRODUCING APPARATUS例文帳に追加

情報記録媒体の欠陥管理情報処理方法及び情報記録再生装置 - 特許庁

To detect abnormality of coating development processing equipment through surface defect inspection more accurately and speedily.例文帳に追加

表面欠陥検査に基づく塗布現像処理装置の異常検出をより正確により迅速に行う。 - 特許庁

A defect of the fluorescent screen is inspected by processing the photographed image data by an image processor 15.例文帳に追加

撮像された画像データを画像処理装置１５で処理して蛍光面の欠陥を検査する。 - 特許庁

In an image processor for processing data picked up using an imaging device, imaging data concerning a defect pixel having a defect level higher than a predetermined level undergoes interpolation correction processing based on the imaging data of other pixel, and imaging data concerning a defect pixel having a defect level lower than a predetermined level undergoes offset correction processing or gain correction processing.例文帳に追加

撮像素子を用いて撮像された撮像データを処理する画像処理装置において、欠陥レベルが所定レベルより高い欠陥画素に係る撮像データは、他の画素の撮像データに基づく補間補正処理を行い、欠陥レベルが所定レベルより低い欠陥画素に係る撮像データは、オフセット補正処理又はゲイン補正処理を行なう。 - 特許庁

IMAGE PROCESSING TO MASK LOW DROP VOLUME PRINT DEFECT IN INKJET PRINTER例文帳に追加

インクジェットプリンターにおける少液滴量による異常をマスキングする画像処理 - 特許庁

A known standard defect 9 is provided in a sample 2, the defect appearing on a surface of the sample 2 is detected, and prescribed processing recipe evaluation information that varies in response to difference in a processing recipe used in the prescribed production process is acquired, based on a detection result of the standard defect 9.例文帳に追加

試料２に既知の標準欠陥９を設けて、試料２の表面に現れる欠陥を検出し、所定の製造プロセスで使用された処理レシピの相違に応じて変化する所定の処理レシピ評価情報を、標準欠陥９の検出結果に基づいて取得する。 - 特許庁

To provide a device and method for detecting a defect of a solid-state image pickup element and a storage medium storing the program of a defect detecting method of the element, which are capable of precisely detecting a desired defect without receiving influence of a linear defect at a high output level at the time of defect detecting processing of the solid-state image pickup element.例文帳に追加

固体撮像素子の欠陥検出処理に際し、出力レベルの高い線状欠陥の影響を受けることなく、正確に所望の欠陥を検出することができる固体撮像素子の欠陥検出装置及び固体撮像素子の欠陥検出方法並びに固体撮像素子の欠陥検出方法のプログラムを格納した記憶媒体を提供する。 - 特許庁

The defect correction processing portion 42a set corresponding to the luminance processing portion 36 sets the correction level at a middle level and conducts a correction of a pixel defect while maintaining a resolution.例文帳に追加

輝度処理部３６に対応して設けられた欠陥補正処理部４２ａは、補正レベルを中程度に設定され、解像度を維持しつつ画素欠陥の補正を行う。 - 特許庁

The image processing device 1 detects defect pixels by performing image processing on image data, and performs quality determination on the inspection target based on a first inspection condition C1 set based on either the number or positions of defect pixels.例文帳に追加

画像処理装置１は、画像データを画像処理することで欠陥画素を検出し、欠陥画素数または位置の何れか一方に基づいて設定された第１の検査条件Ｃ１によって、検査対象物の良否判定を行う。 - 特許庁

To easily determine whether a defect left on a mask substrate after cleaning processing is carried out on the mask substrate is caused by the cleaning processing process or an internal defect of the mask substrate itself.例文帳に追加

マスク基板に対して洗浄加工を行なった場合の洗浄加工後にマスク基板に残る欠陥が洗浄加工プロセスによるものなのか、マスク基板自体の内部欠陥によるものなかを容易に判定する。 - 特許庁

Based upon a result thereof, it can easily be determined whether a defect which cannot be removed through the cleaning processing is the defect in the substrate or caused owing to a problem of the cleaning processing process.例文帳に追加

その結果に基づいて洗浄加工によって除去できなかった欠陥が基板内部の欠陥であるのか、洗浄加工プロセスの問題によるものかを容易に判定することができるようになる。 - 特許庁

Namely, when a predetermined number of defects are not removed from the substrate through the cleaning processing on the substrate, the possibility that a defect is present in the mask substrate is high, so detection processing for the defect in the substrate is carried out.例文帳に追加

すなわち、基板の洗浄加工処理によって基板から所定数の欠陥が除去されなかった場合には、マスク基板の内部に欠陥が存在する可能性が高いので、基板内部の欠陥の検出処理行い。 - 特許庁

This device is provided independently with a detection signal processing circuit for forming a large current high-speed image for detecting the existence of the defect, and a detection signal processing circuit for forming an image of a specified narrow portion detected by the defect detecting inspection hereinbefore.例文帳に追加

欠陥の存在を検出する為の大電流高速画像形成用の検出信号処理回路と、この欠陥検出検査により検出された特定の狭い部位の画像形成用の検出信号処理回路とを独立に設ける。 - 特許庁

To provide a disk reading device in which size of data required for defect decision processing (processing which decides existence of defect for each cluster) can be made small as much as possible.例文帳に追加

ディフェクト判定処理（各クラスタについて、ディフェクトの有無を判定する処理）に必要なデータの大きさを極力小さくし得る、ディスク読取装置を提供する。 - 特許庁

To provide an image processing apparatus, method, and program for accurately correcting a deviation between the effect of a defect on visible data and the effect of a defect on invisible data and reducing a computation processing amount for the correction.例文帳に追加

可視データが欠陥により受ける影響と非可視データが欠陥により受ける影響とのずれを正確に補正するするとともに、当該補正のための演算処理量を軽減する。 - 特許庁

The circuit pattern inspection device independently has a detection signal processing circuit for forming a large current high-speed image for detecting the presence of the defect, and a detection signal processing circuit for forming an image in a specific narrow part detected by this defect detecting inspection.例文帳に追加

欠陥の存在を検出する為の大電流高速画像形成用の検出信号処理回路と、この欠陥検出検査により検出された特定の狭い部位の画像形成用の検出信号処理回路とを独立に設ける。 - 特許庁

The size of the foreign substance or defect is calculated based on the result of the addition processing with weight or the equalization processing with weight.例文帳に追加

また、その重み付き加算処理又は重み付き平均化処理の結果から異物や欠陥の大きさを算出する。 - 特許庁

To perform data embedding processing without creating an influence in appearance, and to extract data embedded from a printed matter of the data embedding processing with few data defect.例文帳に追加

見た目に影響のないデータ埋め込み加工処理と、その印刷物から埋め込んだデータを、データ欠損を少なく抽出すること。 - 特許庁

To provide a reticle repair method which can exactly and easily detect the end point of repair processing in repair processing of the pattern defect of a reticle.例文帳に追加

レチクルのパターン欠陥を修正加工する際に的確且つ容易に修正加工の終点を検出できるレチクルリペア方法を提供する。 - 特許庁

To provide a repair-processing technique for casting defect in an aluminum alloy casting with which the processing time is shortened and this productivity is remarkably improved.例文帳に追加

処理時間を短縮してその生産性を大幅に改善したアルミニウム合金鋳物における鋳物欠陥の補修処理技術を提供する。 - 特許庁

To provide a packing material assembly that reduces damage to a processing device resulting from transport and defect in processing accuracy.例文帳に追加

輸送による加工装置の損傷や加工精度の不良を低減可能な梱包剤アセンブリを提供することである。 - 特許庁

To provide a video signal processing apparatus capable of obtaining excellent image quality without causing a defect to a video image even when the video signal processing apparatus continuously receives one-side fields such as a non-standard signal.例文帳に追加

非標準信号のような片側フィールドが連続して送られてきた場合でも映像破綻を来すことなく良好な画質を得る。 - 特許庁

To solve the problem of failures in search processing due to foreign matters sticking on a sample or a pattern defect in a template matching processing.例文帳に追加

テンプレートマッチング処理において、試料に付着した異物やパターン欠陥によってサーチ処理を失敗する。 - 特許庁

The image acquired by the image pickup device 5 is subjected to an image processing step carried out by an image processing device 6, thereby detecting the defect.例文帳に追加

画像処理装置６は、撮像素子５で取り込んだ画像の画像処理を行って、欠陥を検出する。 - 特許庁

To provide an image forming apparatus capable of preventing the occurrence of a defect attendant on revision of forward order processing/reverse order processing during printing.例文帳に追加

プリント動作中の正順処理／逆順処理の変更に伴う不具合の発生を防止できる画像形成装置を提供する。 - 特許庁

If a defect is not generated under a state where both correction processing A and correction processing B are performed, content of the original image is simply approached even if any one of the correction processing A or correction processing B is reset and the possibility of generating a defect is low.例文帳に追加

補正処理Ａと補正処理Ｂの双方を実施した状態でディフェクトが発生していなければ、補正処理Ａと補正処理Ｂのいずれかを元に戻したとしても、それは原画像の内容に近づくだけであり、ディフェクトが発生する可能性は低い。 - 特許庁

This defect processing method of a magnetic disk drive is a suitable method when the position of a defect is known in advance on a disk and comprises a stage for assigning a data zone to a track including the defect (step S1006) and a stage for processing the data zone as a defect (step S1008).例文帳に追加

本発明にかかる磁気ディスク装置のディフェクト処理方法は，ディスク上で欠陥の位置が事前に分っている場合に適した方法であって，欠陥を含むトラックに対してデータゾーンを割当てる段階（ステップＳ１００６）と，データゾーンをディフェクトとして処理する段階（ステップＳ１００８）とを含むことを特徴とする。 - 特許庁

In each arithmetic processing part 41-43, the photographic data are image-processed for 100 lines to perform specifying a detection range, elicitation by binarization of the image data with a defect threshold, bleb processing for taking, the elicited defect images, when they are vertically and laterally continued, as a mass of bleb, and defect determination and defect kind determination based on the area of bleb.例文帳に追加

各演算処理部４１〜４３で１００ライン毎に画像処理して、検出範囲の特定、欠陥しきい値による画像データの２値化による顕在化、顕在化された欠陥画像が上下左右で連続しているときにこれを１かたまりのブレブとするブレブ処理、ブレブの面積に基づく欠陥判別及び欠陥種別判別を行う。 - 特許庁

The signal processing circuit 4 applies processing such as clamp processing, color signal processing, luminance signal processing, contour correction, defect compensation, and white balance correction.例文帳に追加

信号処理回路４では、画像信号に対してクランプ処理、色信号処理、輝度信号処理、輪郭補正、欠陥補償、ホワイトバランス補正などの処理が施される。 - 特許庁

The defect inspection device includes a signal processing device for imaging an image of a photomask in various illumination conditions, detecting a defect of the photomask by using an output signal from an A/D converter, and outputting a color image of the photomask including the detected defect.例文帳に追加

フォトマスクの画像を種々の照明条件のもとで撮像し、Ａ／Ｄ変換器からの出力信号を用いてフォトマスクの欠陥を検出し、検出された欠陥を含むフォトマスクのカラー画像を出力する信号処理装置とを具える。 - 特許庁