「processing defect」に関連した英語例文の一覧と使い方(3ページ目) - Weblio英語例文検索

APPARATUS, METHOD, AND PROGRAM FOR DEFECT PROCESSING ANALYSIS例文帳に追加

不具合処理分析装置、不具合処理分析方法および不具合処理分析プログラム - 特許庁

The defect correction processing portion 42a set corresponding to the luminance processing portion 36 sets the correction level at a middle level and conducts a correction of a pixel defect while maintaining a resolution.例文帳に追加

輝度処理部３６に対応して設けられた欠陥補正処理部４２ａは、補正レベルを中程度に設定され、解像度を維持しつつ画素欠陥の補正を行う。 - 特許庁

PROCESSING METHOD FOR DIGITAL PHOTO IMAGE DATA INCLUDING METHOD OF AUTOMATIC DETECTION OF RED EYE DEFECT例文帳に追加

赤目欠陥の自動識別方法を含むデジタル写真画像データの処理方法 - 特許庁

To prevent a defect due to an ROP processing at high speed with a small amount of memory capacity.例文帳に追加

少ないメモリ容量、かつ高速にＲＯＰ処理による不具合を防止する。 - 特許庁

To provide a disk reading device in which size of data required for defect decision processing (processing which decides existence of defect for each cluster) can be made small as much as possible.例文帳に追加

ディフェクト判定処理（各クラスタについて、ディフェクトの有無を判定する処理）に必要なデータの大きさを極力小さくし得る、ディスク読取装置を提供する。 - 特許庁

In an image processor for processing data picked up using an imaging device, imaging data concerning a defect pixel having a defect level higher than a predetermined level undergoes interpolation correction processing based on the imaging data of other pixel, and imaging data concerning a defect pixel having a defect level lower than a predetermined level undergoes offset correction processing or gain correction processing.例文帳に追加

撮像素子を用いて撮像された撮像データを処理する画像処理装置において、欠陥レベルが所定レベルより高い欠陥画素に係る撮像データは、他の画素の撮像データに基づく補間補正処理を行い、欠陥レベルが所定レベルより低い欠陥画素に係る撮像データは、オフセット補正処理又はゲイン補正処理を行なう。 - 特許庁

An image signal from a receiver board 23 is processed by a data processing board 25, and image data on a defect is sent to a defect-image display device 15.例文帳に追加

レシーバボード２３からの画像信号をデータ処理ボード２５で処理して、欠陥の画像データを欠陥画像表示装置１５に送る。 - 特許庁

If the surface defect inspecting device detects a surface defect of the wafer, sensor data associated with the processing of the wafer are evaluated.例文帳に追加

表面欠陥検査装置によりウェハの表面欠陥が検出された場合には、当該ウェハの処理に関するセンサデータを評価する。 - 特許庁

To enhance the efficiency of a matching processing between a defect image obtained by a defect review device or the like and a layout image based upon design data.例文帳に追加

欠陥レビュー装置などで取得された欠陥画像と設計データに基づくレイアウト画像とのマッチング処理の効率向上を図る。 - 特許庁

The image processing part 20 extracts a defect (crack, peeling) of the object for evaluation from the image data, and computes the size of each defect.例文帳に追加

画像処理部２０は、その画像データから評価対象物の欠陥（ひび割れ、剥離）を抽出して、各欠陥の大きさを算定する。 - 特許庁

DEFECT INPUT DEVICE, REPAIR INPUT DEVICE, DEFECT DISPLAY DEVICE, DEFECTIVE PRODUCT REPORTING SYSTEM, DEFECTIVE PRODUCT PROCESSING SYSTEM, AND PROGRAMS THEREFOR例文帳に追加

不良入力装置、修理入力装置、不良表示装置、製品不良報知システム、製品不良処理システム、及びこれらのプログラム - 特許庁

To provide an apparatus for processing defect of a control system, in which a defect determination can be made proper by preventing the erroneous determination of a communication defect between entities of the control system.例文帳に追加

制御システムの各要素間における通信異常の誤判定を防止して異常判定の適正化を図ることの可能な制御システムの異常処理装置を提供する。 - 特許庁

When the installation defect is detected by the installation defect detection unit 242, a display 110 of a control PC 100 is configured to perform processing for giving an operator notification showing that the installation defect is detected.例文帳に追加

設置不備検出部２４２によって設置不備が検出された場合、制御ＰＣ１００のディスプレイ１１０が、設置不備が検出された旨を操作者に通知する処理を行う。 - 特許庁

Since adjustment of an optical system or fine correction by signal processing becomes possible, positional accuracy of defect inspection and accuracy of defect level (defect size) can be improved.例文帳に追加

本発明により、光学系の調整や信号処理による微細な補正が可能になるため、欠陥検出の位置精度および欠陥強度（欠陥寸法）の精度を向上させることができる。 - 特許庁

To provide a disk drive which is not affected by a reading defect by storing a processing signal in a normal state all the time and by substituting it for the above reading defect when the reading defect of a disk is detected.例文帳に追加

正常時の処理信号を常に格納しておき、ディスクの読取不良（ディフェクト）を検出するとこれを代用することで、ディフェクトの影響を受けないディスク装置を提供。 - 特許庁

To provide an image processing apparatus capable of efficiently executing parallel error diffusion processing by suppressing the generation of defect in executing the parallel error diffusion processing using a plurality of error diffusion processing units.例文帳に追加

複数の誤差拡散処理ユニットを用いて並列誤差拡散処理を行う際に、ディフェクトの発生を抑制し、効率よく並列誤差拡散処理を行う。 - 特許庁

METHOD FOR PRODUCING SEMICONDUCTOR DEVICE AND DEFECT INSPECTING DATA PROCESSING METHOD AND SYSTEM例文帳に追加

半導体装置の製造方法並びに欠陥検査データ処理方法及びその装置 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR PROCESSING VIDEO SIGNAL AIMED AT COMPENSATING FOR DEFECT OF DISPLAY DEVICE例文帳に追加

表示装置の欠陥を補償するビデオ信号を処理するための方法及び装置 - 特許庁

A main control part 3 performs processing for determining existence of a defect by using each image.例文帳に追加

また、主制御部３では各画像を用いて欠陥の有無を判定する処理を行なう。 - 特許庁

To perform reprint processing quickly and easily when a defect exists in a print image.例文帳に追加

印刷画像にディフェクトが存在した場合に迅速かつ容易に再印刷処理を行う。 - 特許庁

To provide a recording medium storing linking-type information and a defect area processing method.例文帳に追加

リンキングタイプ情報を貯蔵する記録媒体と欠陥領域処理方法を提供する。 - 特許庁

A defect detection device includes: an irradiation device 1; an imaging device 2; and a processing device 3.例文帳に追加

欠陥検出装置は、照射装置１と、撮像装置２と、処理装置３とを備える。 - 特許庁

To provide a recording medium storing linking type information and a defect area processing method.例文帳に追加

リンキングタイプ情報を貯蔵する記録媒体と欠陥領域処理方法を提供する。 - 特許庁

DEFECT MANAGEMENT INFORMATION PROCESSING METHOD FOR INFORMATION RECORDING MEDIUM AND INFORMATION RECORDING AND REPRODUCING APPARATUS例文帳に追加

情報記録媒体の欠陥管理情報処理方法及び情報記録再生装置 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR REPAIR-PROCESSING CASTING DEFECT IN ALUMINUM ALLOY CASTING例文帳に追加

アルミニウム合金鋳物における鋳物欠陥の補修処理方法および補修処理装置 - 特許庁

To realize excellent tracking control and focus control by performing stable defect processing.例文帳に追加

安定したディフェクト処理を行い良好なトラッキング制御とフォーカス制御を実現する。 - 特許庁

When format processing request is received from a host computer, a defect management region is initialized.例文帳に追加

ホストコンピュータからフォーマット処理要求を受けると、欠陥管理領域を初期化する。 - 特許庁

WAFER PROCESSING HARDWARE FOR EPITAXIAL DEPOSITION WITH WHICH AUTO-DOPING AND BACK SURFACE DEFECT ARE DECREASED例文帳に追加

オートドープおよび裏面欠陥が減少したエピタキシャル堆積用のウェーハ処理ハードウェア - 特許庁

To provide an apparatus and a method for inspecting defect capable of judging the defect detected in duplication when a defect detecting processing is performed by a plurality of defect detecting means for an object to be inspected.例文帳に追加

検査対象物について、複数の欠陥検出手段によって欠陥検出処理を行った場合に、重複して検出された欠陥を判定することができる欠陥検査装置及び欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a packing material assembly that reduces damage to a processing device resulting from transport and defect in processing accuracy.例文帳に追加

輸送による加工装置の損傷や加工精度の不良を低減可能な梱包剤アセンブリを提供することである。 - 特許庁

The size of the foreign substance or defect is calculated based on the result of the addition processing with weight or the equalization processing with weight.例文帳に追加

また、その重み付き加算処理又は重み付き平均化処理の結果から異物や欠陥の大きさを算出する。 - 特許庁

Thereby processing efficiency can be improved and specification of a defective level which cannot be relieved is made possible by performing defect analysis and defect relieving discrimination processing independenlty of the tester and a defect analyzing device.例文帳に追加

このように、不良解析及び不良救済判定処理をテスタ及び不良解析装置から独立して行うことで、処理効率を向上させることができ、また不良救済不可となった不良レベルの特定が可能である。 - 特許庁

The processing means includes functions to extract the defect information on the identical defect imaged by different camera devices from the position information and output the clipped images (defect images) as to the extracted defect simultaneously to an identical display screen (defect time series display screen shown in the figure).例文帳に追加

処理手段は、位置情報に基づき異なるカメラ装置で撮像された同一の欠陥についての欠陥情報を抽出し、その抽出した欠陥について切り出した画像（欠陥画像）を同一の表示画面（図に示す欠陥時系列表示画面）に同時に出力する機能を備えた。 - 特許庁

To provide an imaging device, a defect correction apparatus, a defect correction method, and a program, which perform correction processing of image data with high accuracy.例文帳に追加

画像データの補正処理を高精度で行うことができる撮像装置、欠陥補正装置、欠陥補正方法及びプログラムを提供すること。 - 特許庁

To achieve an inspection correction device for efficiently performing various processing even when defect inspection or a defect correction object substrate is large-sized.例文帳に追加

欠陥検査又は欠陥修正される基板が大型化しても、各種処理を効率よく行うことができる検査修正装置を実現する。 - 特許庁

To provide a method and a device for defect detection which inspect a defect of the outward appearance of an object to be inspected through image processing.例文帳に追加

画像処理により検査対象物の外観の欠陥を検査する欠陥検出方法及び欠陥検出装置を提供するにある。 - 特許庁

A camera signal processing circuit 200 has a defect detection circuit 211 for discriminating defect levels of defective pixels by setting a detection level.例文帳に追加

カメラ信号処理回路２００は、検出レベルの設定によって欠陥画素の欠陥レベルを判定する欠陥検出回路２１１を有する。 - 特許庁

A defect classification processing section 222 classifies the defects, by what a position of the defect is included in which region of the defined regions with regard to defect data 133 (233) sampled from the defects obtained at a defect-reviewing device 10.例文帳に追加

欠陥分類処理部２２２は、欠陥レビュー装置１０で取得された欠陥からサンプリングしたサンプリング欠陥データ１３３（２３３）について、その欠陥の位置が前記定義された領域のどの領域に含まれるかによって、欠陥を分類する。 - 特許庁

According to the present invention, dry etching is performed on the condition that the etching rate of Si is higher than that of SiO_2, a crystal defect is actualized as a protrusion (convex defect), and a defect caused by processing is actualized as a pit (concave defect).例文帳に追加

本発明によれば、ＳｉＯ_２よりもＳｉのエッチング速度が大きい条件でドライエッチングを施していることから、結晶欠陥については突起（凸型の欠陥）として顕在化し、加工起因欠陥についてはピット（凹型の欠陥）として顕在化する。 - 特許庁

The CPU (central processing unit) refers to the defect pixel information stored in the memory to set the light-receiving element group having many OB defect pixels to lower sensitivity and the light-receiving element group having a few OB defect pixels to higher sensitivity.例文帳に追加

ＣＰＵは、メモリに記憶された欠陥画素情報を参照して、ＯＢ欠陥画素の多い受光素子群を低感度、ＯＢ欠陥画素の少ない受光素子群を高感度に設定する。 - 特許庁

An image processing section 12 creates defect feature information showing the feature of the feature of a defect from the image information and decides an irradiation condition when emitting a laser beam according to the defect feature information.例文帳に追加

画像処理部１２は、画像情報から、欠陥の特徴を示す欠陥特徴情報を生成し、欠陥特徴情報に基づいて、レーザ光を照射する際の照射条件を決定する。 - 特許庁

After the principal surface is subjected to precision processing and to defect inspection, to specify a defect on the principal surface, the polishing process is carried out on the specified defect.例文帳に追加

上記主表面の研磨加工は、当該主表面を精密加工した後欠陥検査を行って当該主表面上の欠陥を特定し、この特定された欠陥に対して実施するものである。 - 特許庁

When the defect of the track such as the scratch is formed in the optical disk 10, the defect is detected with a defect detecting part 16a in an RF amplifier 16, and a detection signal is supplied to a servo signal processing part 18.例文帳に追加

光ディスク１０に傷などのトラック欠陥が生じた場合、ＲＦアンプ１６内のディフェクト検出部１６ａで検出し、検出信号をサーボ信号処理部１８に供給する。 - 特許庁

A defect of the fluorescent screen is inspected by processing the photographed image data by an image processor 15.例文帳に追加

撮像された画像データを画像処理装置１５で処理して蛍光面の欠陥を検査する。 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE PROVIDED WITH FUNCTION OF INSTANTLY DETECTING SELF-ALIGNMENT CONTACT HOLE DEFECT AND PROCESSING METHOD THEREFOR例文帳に追加

自己整合コンタクトホール欠陥即時検出機能付き半導体装置及びその製造方法 - 特許庁