「processing defect」に関連した英語例文の一覧と使い方(17ページ目) - Weblio英語例文検索

In this method for determining the presence of a defect in a weld by processing the ultrasonic response signals gathered from a plurality of the measuring places set along the weld, the ultrasonic response signals from the respective measuring places are filtered out to form the response signals filtered with respect to the respective measuring places.例文帳に追加

溶接部に沿った複数の測定箇所より集められた超音波応答信号を処理して溶接部内の欠陥の存在を決定するための方法は、それぞれの測定箇所からの超音波応答信号をフィルタリングして、それぞれの測定箇所に対するフィルタリングされた応答信号を生成することを含み得る。 - 特許庁

In addition, since a processing section 23 of a home gateway 200 transmits address information of an IP terminal 100 to a support terminal 300, a connection can be immediately made from the support terminal 300 to the IP terminal 100 through the home gateway 200, and checking and handling the defect can be immediately performed from the WAN side.例文帳に追加

また、ホームゲートウェイ２００の処理部２３がＩＰ端末１００のアドレス情報をサポート端末３００に送信するので、ホームゲートウェイ２００を介してサポート端末３００からＩＰ端末１００に即時的に接続可能であり、ＷＡＮ側から即時的に検査や不具合を対処することが可能となる。 - 特許庁

At the time of normal operation of the processing system, in the case that any defect about parts other than base mechanisms (an indirect heating means 2, a heat generation means 3, a gas element combustion means 4) is detected, operation of the base mechanism is continued and operation of respective means of its supplementary mechanisms is suspended and terminated.例文帳に追加

加工システムにおける正常運転の際、基幹機構（間接加熱手段２，熱発生手段３，ガス成分燃焼手段４）以外の箇所に関して不具合が検出された場合には、該基幹機構に関しては稼動を継続させ、その補助機構の各手段の稼動を中断し停止させる。 - 特許庁

To provide an image forming apparatus which performs fixation processing, based on the pixel density of a side end of an unfixed image, even if the temperature of the end of a fixing member is not high enough to have no fixation defect at the side end, and also acceletes energy saving by shortening a time of recovery from a preheat mode "waiting time" etc.例文帳に追加

定着部材の端部の温度が十分な温度になくとも、未定着画像の側端部の画素密度に基づいて定着処理を行い、側端部に定着不良がなく、予熱モード等からの復帰時間“待ち時間”を短縮し、省エネルギー化を促進する画像形成装置を提供する。 - 特許庁

To provide a plate making method which can form a clear image with high sensitivity without exerting a defect to an image area in spite of preservation for a long period of time, can exhibit specified performance in spite of dissolution of photosensitive layer components into a development processing solution and can suppress the occurrence of development dregs due to the photosensitive layer components.例文帳に追加

長期保存しても画像部に欠陥を与えることなく、高感度で鮮明な画像を形成し得、且つ感光層成分が現像処理液に溶け込んでも、一定の性能を発揮することができ、前記感光層成分に起因する現像カスの発生を抑えることができる平版印刷版の製版方法を提供する。 - 特許庁

Then, when the defect P is detected by the signal processing device 20, the shutter speed of the image pickup means 12 is adjusted by the drive means 13 so that a value exceeding a specific threshold can be detected at a specific number of same points of horizontal scanning that continue out of a plurality of horizontal scanning of a video signal.例文帳に追加

そして、信号処理装置２０により欠陥Ｐを検出したとき、ビデオ信号の複数の水平走査のうち、所定数連続する水平走査の同一箇所にて所定のしきい値を超える値が検出されされるように、駆動手段１３により、撮像手段１２のシャッタ速度を調整する。 - 特許庁

The image processing inspection part 50 composes a composite image by synthesizing an image of dicing line, which divides a circuit pattern at the surface of the wafer, into an image of rear surface of the wafer imaged by the rear surface imaging device 130 and detects the position of the defect based on the composite image with corresponding to the position of each circuit pattern.例文帳に追加

画像処理検査部５０は、ウエハの表面において回路のパターンを分割するダイシングラインの画像を裏面撮像装置１３０により撮像されたウエハ裏面画像に合成して合成画像を生成し、この合成画像に基づいて欠陥の位置を各回路パターン位置と対応させて検出する。 - 特許庁

In the case where the image processing apparatus is a digital compound machine provided with a facsimile application and a printer application in addition to a copy application, or any defect exists in the network environment, image data and bibliographic information stored in a mass storage are selectively transmitted to an external device depending on each application and network environment.例文帳に追加

画像処理装置がコピーアプリケーションに加えて、ファクシミリアプリケーションやプリンタアプリケーション等を搭載したデジタル複合機である場合やネットワーク環境に不具合がある場合、各アプリケーションやネットワーク環境に応じ、大容量記憶装置に記憶されている画像データと書誌情報を外部機器に対して選択的に伝送する。 - 特許庁

This visual inspection device includes a linear light source 2 for obliquely illuminating the surface of an inspecting object 5 sent in a fixed direction, a line sensor type camera 1 for capturing reflected light on the surface of the inspecting object of the light from the light source, and an image processing circuit 3 for detecting a defect from the contrast of an output image from the camera.例文帳に追加

一定方向に送られる被検査物５の表面に斜光照明を行うライン状光源２と、該光源からの光の被検査物表面での反射光を捕らえるラインセンサ型カメラ１と、上記カメラの出力画像の明暗から欠陥を検出する画像処理回路３とからなる。 - 特許庁

To cope with faster processing linear velocity, to achieve fast warming up and to hardly propagate heat generated from a heating means to an image forming means while keeping low power consumption to prevent the occurrence of such a defect that toner is melted and stuck in the image forming means.例文帳に追加

より高速なプロセス線速に対応できるとともに、高速なウォームアップを実現でき、しかも消費電力を少なく保ちながら、加熱手段から発生した熱が画像形成手段に伝播しにくく、画像形成手段でトナーが溶融して固着するといった不具合が発生することを防止する。 - 特許庁

To provide a manufacturing method of a semiconductor device in which ARL is used for processing a silicon oxide film in the upper layer of a local interconnection tungsten film and subsequently even if passing through a high temperature film forming process, a defect due to the exfoliation of a boundary face between the local interconnection tungsten film and the silicon oxide film is prevented from occur.例文帳に追加

ローカル配線タングステン膜の上層のシリコン酸化膜の加工にＡＲＬを使用し、その後に高温の成膜プロセスを経ても、ローカル配線タングステン膜とシリコン酸化膜界面の膜剥がれによる欠陥の発生を抑制できる半導体装置の製造方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

To inexpensively provide a wire grid polarizing plate with stable quality which has a low defect in terms of optical performance and high quality, can be made into a lightweight and large area wire grid polarizing plate because of having excellent flexibility, has excellent processability and reliability, and can also be subjected to a secondary processing including deformation due to heating.例文帳に追加

光学性能の点でも、低欠陥で高品位な点でも良好であって、屈曲性に優れるために薄くて軽量で大面積のものも製造可能で、加工性や信頼性にも優れ、加熱による変形を含む２次加工をすることも可能なワイヤグリッド偏光板を、安定した品質で安価に提供する。 - 特許庁

To provide a polyolefin film having antistatic properties, exerting stable antistatic properties even in low humidity conditions, causing no deterioration of antistatic properties after wiping with water or an organic solvent, settling the problems such as smoking and stain of a roll in processing, excellent in transparency and having no defect in appearance.例文帳に追加

低湿度下においても安定した帯電防止性を発揮し、かつ、水、有機溶剤による払拭後も帯電防止性の劣化も見られず、また加工時の発煙やロール汚れ等の加工上の問題を解消すると共に、透明性に優れ、外観上の欠陥のない帯電防止性を有するポリオレフィンフィルムを提供する。 - 特許庁

In order to detect a defect of the image formed on the recording medium efficiently, an image setting mode and post processing mode are decided from received information together with the image data, an inspection area needing inspection is decided in accordance with the decided mode, and a time for inspection is reduced by inspecting the inspection area only.例文帳に追加

記録媒体上に形成された画像の欠陥を効率的に検出するために、画像データとともに受信した情報から画像設定モードおよび後処理モードを判別し、判別したモードに応じて検査を必要とする検査領域を決定し、その検査領域だけを検査することで検査時間を短縮する。 - 特許庁

The image-processing device 12 is provided with a means for discriminating the defect of the film 2 based on the density of the detected image, or the amount of density and the density change, and a means for discriminating the detect of the film, based on an integration value obtained by integrating a plurality of images being detected for each small move of the film.例文帳に追加

画像処理装置１２は、検出された画像を濃度、または濃度ならびに濃度変化量に基いてフィルム２の欠陥を判別する手段、およびフィルムの微少移動毎に検出された複数の画像を積算して積算値に基いてフィルムの欠陥を判別する手段を備えている。 - 特許庁

The method for detecting and classifying pixel defects of the TFT array substrate includes a signal acquiring step for acquiring a detection signal from a plurality of detection signal acquiring points in one pixel and a signal processing step for dividing one pixel into a plurality of regions and performing defect judgement in the pixel using the divided region as one unit by using the detection signal in the detection signal acquiring point existing in each divided division processing region.例文帳に追加

ＴＦＴアレイ基板のピクセル欠陥を検出し分類する方法であり、１ピクセル内の複数の検出信号取得点から検出信号を取得する信号取得工程と、１ピクセルを複数の領域に分割し、分割した各分割処理領域内に存在する検出信号取得点の検出信号を用いて、分割領域を単位としてピクセル内の欠陥判定を行う信号処理工程とを備える。 - 特許庁

To provide a method of manufacturing a semiconductor device by which even when a crystal defect included in a polysilicon film is electrically and substantially inactivated, processing temperature is not limited in subsequent processes, and an excellent interface can be formed between an active layer and a gate insulating layer, and to provide a semiconductor device and an electrooptical device.例文帳に追加

、ポリシリコン膜に含まれる結晶欠陥を電気的に略不活性化させた場合でも、その後の工程での処理温度が限定されることがなく、かつ、能動層とゲート絶縁層との間に良好な界面を形成することができる半導体装置の製造方法、半導体装置および電気光学装置を提供すること。 - 特許庁

The processing device 3 provides a first inspection domain in the direct irradiation area on the picked-up image picked up by the imaging device 2, and sets a second inspection domain in the diffused light irradiation area, and detects a defect related to irregularities on the inspection surface B by using brightness information of at least either of the first inspection domain and the second inspection domain.例文帳に追加

処理装置３は、撮像装置２で撮像された撮像画像において直接照射エリアに第１の検査領域を設けるとともに拡散光照射エリアに第２の検査領域を設定し、第１の検査領域および第２の検査領域の少なくとも一方の輝度情報を用いて、被検査面Ｂの凹凸に関する欠陥を検出する。 - 特許庁

To significantly improve convenience of data processing by storing all of image data in a primary storage device, namely, a memory that allows direct access to any part of the image data, in a device that collects a large amount of image data in a defect inspection device or the like for semiconductor photomasks and allows a computer to detect defects on photomasks on the basis of the image data.例文帳に追加

半導体用フォトマスクの欠陥検査装置等の大量の画像データを収集し、その画像データに基づいてコンピュータがフォトマスク上の欠陥を検出する装置などでは、画像データの任意の部分に直接アクセスできる一次記憶装置、即ちメモリ上にその全てを収納できるならばデータ処理の利便性が飛躍的に向上する。 - 特許庁

After the detection of the joint defective pixel, the defect determination of the joint pixel adjacent to the downstream side of a read-out direction of a data bas line of the detected joint defective pixel is performed preferentially by the joint defective pixel detection part 23 to thereby monitor properly the joint defective pixel which is the defective pixel after joint processing.例文帳に追加

そのビニング欠損画素の検出後に、検出されたビニング欠損画素のデータバスラインの読み出し方向の下流側に隣接するビニング画素の欠損判断を優先的にビニング欠損画素検出部２３は行うことで、ビニング処理後（結合後）の欠損画素であるビニング欠損画素（結合欠損画素）を適正に監視することができる。 - 特許庁

This image processing part 13 is provided with an addition circuit part for adding the data of differential images, which are processed similarly while changing lighting line sequentially, and a discrimination circuit part for discriminating whether or not the added data of the differential images continuously exceed a threshold, and when it is higher than a specified value, to detect it as a defect.例文帳に追加

同時にこの画像処理部１３では点灯ラインを順次変えて同様に処理された微分画像のデータを加算する加算回路部１３Ｃを備え、加算した微分画像のデータが連続してしきい値以上となるか否かを判別する判別回路部１３Ｄを設け、所定値以上である場合に欠陥として検出する（Ｓ１９）。 - 特許庁

This signal processing means 2 detects, as an echo signal, a flaw detection signal having a height of a predetermined threshold or higher, among flaw detection signals output from the ultrasonic probe 1, and, determines the existence of the defect when continuously detecting the echo signal in the axial direction of the pipe P at a specific position of the circumferential direction of the pipe P.例文帳に追加

信号処理手段２は、超音波探触子１から出力される探傷信号の内、所定のしきい値以上の高さを有する探傷信号をエコー信号として検出し、該エコー信号を管Ｐの周方向の特定位置において管Ｐの軸方向に連続的に検出したときに、欠陥が存在すると判定する。 - 特許庁

To provide an electrophotographic photoreceptor which can completely prevent the occurrence of an image defect, can inexpensively and surely be manufactured, and is made excellent in photoelectric characteristic even in the case of using conductive base substance to which centerless grinding is performed as it is without performing post-processing, and to provide an image forming device using the electrophotographic photoreceptor.例文帳に追加

センタレス研削が施された導電性基体を後処理を施さずにそのまま用いた場合であっても、画像欠陥の発生を十分に防止することができ、安価に且つ確実に製造可能でありしかも光電特性に優れた電子写真感光体、並びにその電子写真感光体を用いた画像形成装置を提供すること。 - 特許庁

The processing apparatus compares the image imaged by the one imaging device 13 with an image of the gauge as the reference of the dimension of the plate-like body 12 previously stored in the storage device to inspect the dimension of the plate-like body 12, and determines a shadow in the image imaged by the one imaging device 13 as a defect of the plate-like body 12.例文帳に追加

処理装置は、１つの撮像装置１３が撮像した画像と、記憶装置に予め記憶しておいた板状体１２の寸法の基準となるゲージの画像とを比較して板状体１２の寸法を検査するとともに、１つの撮像装置１３が撮像した画像中の影を板状体１２の欠陥として判定する。 - 特許庁

The surface defect evaluation device evaluates surface defects of a measurement object, on the basis of measurement point data and reference point data, after aligning the measurement point and the reference point, on the basis of the sequential convergence processing for the sequential convergence of the distance between the measurement point of the measurement object and the reference point, corresponding to a reference surface shape of the measurement object.例文帳に追加

測定対象物の測定点と測定対象物の基準表面形状に対応する基準点との間の距離を逐次収束させる逐次収束処理に基づいて前記測定点と前記基準点とを位置合わせした後の測定点データと基準点データとに基づいて測定対象物の表面欠陥を評価する。 - 特許庁

To provide a method for manufacturing a cavity-containing resin molded article with a coating film, by which a luminescent spot defect caused by precipitation of an oligomer during a heat processing or an additive in a trace amount for improving the melt viscosity can be suppressed as well as adhesiveness can be improved, and to provide a cavity-containing resin molded article with a coating film manufactured by the above method.例文帳に追加

加熱加工時のオリゴマー又は溶融粘性改良のための微量添加剤の析出による輝点欠点を抑制することができると共に、接着性を向上することができる塗膜付き空洞含有樹脂成形体の製造方法、及び該製造方法により製造された塗膜付き空洞含有樹脂成形体を提供する。 - 特許庁

When the number of pixels each brightness value of which is over a specified separation threshold is smaller than a specified determination number, relative to pixels in an inspection domain by using the striped bright domain Db in a density image acquired by the imaging apparatus 3 as the inspection domain, an image processing device 4 determines to be a void defect wherein a void amount occupied in the inspection object is excessive.例文帳に追加

画像処理装置４は、撮像装置３により得られた濃淡画像のうち縞状明領域Ｄｂを検査領域とし検査領域内の画素について、輝度値が規定の分離閾値以上である画素の個数が規定した判定個数以下のときに、検査対象に占めるボイドの量が過剰であるボイド不良と判定する。 - 特許庁

To provide a defect inspection device and its method capable of executing inspection by discriminating an adhering foreign matter from scratches having various shapes generated on the surface when abrading or grinding such as CMP or the like is applied to a processing object (for example, an insulating film on a semiconductor substrate) in semiconductor manufacture or magnetic head manufacture.例文帳に追加

半導体製造や磁気ヘッド製造において、被加工対象物（例えば、半導体基板上の絶縁膜）に対してＣＭＰなどの研磨または研削加工を施した際、その表面に生じる様々な形状を有するスクラッチと付着する異物とを弁別して検査することができるようにした欠陥検査装置およびその方法を提供することにある。 - 特許庁

Then the arithmetic processing unit compares mask pattern inspection data to the mask pattern image data so as to specify a defective portion of the mask pattern, generates positional information of the defective portion, and identifies a tendency of occurrence of the defect on the photomask, based on the positional information and the density information for the respective plurality of small regions.例文帳に追加

そして、前記演算処理部（２５）は、前記マスク検査用データ（１３）と前記マスクパターン画像データとを比較して前記マスクパターンの欠陥部分（Ｅ１〜Ｅ４）とし、前記欠陥部分（Ｅ１〜Ｅ４）の位置情報を生成し、前記位置情報と前記複数の小領域ごとの密度情報（［Ａ］〜［Ｃ］）とに基づいて、前記フォトマスクに発生する欠陥の発生傾向を特定する。 - 特許庁

The method of manufacturing a photomask determines a drawing position of a transfer pattern so that, in a drawing step, at least a part of the defects existing in a thin film of the photomask blank and/or a surface of a resist film is within an area of the transfer pattern and the defects of the part disappear after etching processing on the basis of defect information of the photomask blank grasped beforehand.例文帳に追加

描画工程において、予め把握したフォトマスクブランクの欠陥情報に基づき、フォトマスクブランクの薄膜及び／又はレジスト膜表面に存在する欠陥の少なくとも一部分が、転写パターンの領域内にあって、かつエッチング加工後には該一部分の欠陥が消滅するように、転写パターンの描画位置を決定するフォトマスクの製造方法である。 - 特許庁

In the defect-inspecting apparatus for inspecting the defects to be inspected by applying image processing, which uses a captured signal outputted from a capturing section for capturing an inspection target, the capturing section has at least two cameras having different resolutions, defects are detected by the high-resolution camera, and the color of the defects is detected by a low-resolution camera.例文帳に追加

検査対象を撮像する撮像部から出力された撮像信号を用いて画像処理を行い前記検査対象の欠陥検査を行う欠陥検査装置において、 前記撮像部は、解像度の異なる少なくとも２台のカメラを有し、 高解像度のカメラで欠陥を検出し、低解像度のカメラで前記欠陥の色の検出を行うように構成する。 - 特許庁

To provide a method for jointing a ceramic powder molded product which does not need the high accuracy processing of the jointing surface of the molded product, has high jointing strength possible to process similarly to the molded product, and, before and after baking, can make the molded product having a jointing part of characteristics equivalent to a matrix material without a defect, density nonuniformity, etc.例文帳に追加

本発明は、成形体の接合面の高精度の加工が不要であり、成形体と同様の加工が可能な高強度の接合強度を有すると共に、焼成前及び焼成後において、欠陥や密度の不均一等が無い母材と同等の特性の接合部を有する成形体とすることのできるセラミックス粉末成形体の接合方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a shift guiding device which definitely overcomes the defect of a conventionally known shift guiding device for transferring a container from the transfer star-shaped member to a top-like rotor of a container processing machine.例文帳に追加

本発明は、カラーリングを有する容器を処理するための充填機械、すすぎ洗い機、または閉鎖機のような容器処理機械のための移行案内装置であって、この移行案内装置が、その独楽状回転体に処理スペースがこれら容器のために設けられている循環する独楽状回転体、および、少なくとも１つの供給用星形部材を有する様式の上記移行案内装置に関する。 - 特許庁

The control means transmits the failure information through the base station to the server in particular when the mobile station is reactivated or position registration processing is performed, and when the server is not accessed due to a connection defect with the base station, stores the failure information until another base station is connected and transmits the failure information through another base station to the server after the communication with another base station is restored.例文帳に追加

制御手段は特に、移動局の再起動時、あるいは位置登録処理に際し、不具合情報を基地局経由でサーバに送信し、基地局との接続不良により前記サーバにアクセスできない場合には他の基地局と接続できるまで不具合情報を記憶し他の基地局との通信復旧後に不具合情報を他の基地局経由でサーバに送信する。 - 特許庁

Then, in image output processing, whether the pixel number of an image pickup pixel read sequentially is stored in the memory space block 10 is judged, and in the case that it is stored in the memory space block 10, the pixel signal of the defective pixel is corrected by using the defect level, the pixel signal before correction is replaced with the pixel signal after the correction, which is then outputted.例文帳に追加

次に、画像出力処理においては、順番に読み出される撮像画素の画素番号がメモリ空間ブロック１０に格納されているか否かを判定していき、メモリ空間ブロック１０に格納されている場合には、その欠陥レベルを用いて欠陥画素の画素信号の補正を行い、補正前の画素信号を補正後の画素信号で置き換えて出力する。 - 特許庁

The defect inspection apparatus includes a probe image processing means for displaying the plurality of probes on a display means; a means for selecting a probe to be operated among the plurality of probes displayed on the display means; and a means for simultaneously displaying the means for selecting the probe the selected probe as being an operable probe and a probe in an unselected state.例文帳に追加

不良検査装置は、複数のプローブを前記表示手段に表示するプローブ画像処理手段を有し、前記表示手段に表示した前記複数のプローブの内、操作のなされるプローブを選択する手段を有し、該プローブを選択する手段、選択されたプローブが操作可能なプローブであることおよび非選択状態のプローブであることを同時に表示する手段を有する。 - 特許庁

A lipped-mold type fluorescent lamp 100 uses a coloring agent of either black or dark color as a base component for improving image recognition when a mounting defect of pins 112 to a base 110 is detected by carrying out an image processing of an image of the base 110 with pins 112 mounted around a projected part.例文帳に追加

この発明に係る片口金形蛍光ランプ１００は、突出部分の周囲にピン１１２が取り付けられた口金１１０の画像を画像処理して口金１１０に対するピン１１２の取り付け不良を検出する場合の画像認識性向上のための口金組成物として黒色と暗色とのいずれかの着色剤を使用することを特徴とする。 - 特許庁

To provide an eddy current flaw detecting method and its device capable of stably detecting solely harmful defects by establishing an optimal frequency range and filtering defective signals caused by a harmful defect and noise signals caused by a defective shape which does not pose a problem for processing as for a differential signal output from an eddy current flaw detection sensor.例文帳に追加

渦流探傷センサから出力される差動信号について、有害な欠陥の存在に起因する欠陥信号と、処理上問題とならない形状不良に起因するノイズ信号とを最適な周波数帯域を設けてフィルタリングすることで、有害な欠陥のみを安定して検出することが可能な渦流探傷方法及び渦流探傷装置を提供する。 - 特許庁

To provide a processing apparatus for a CTP printing plate that gives no adverse influence on an automatic platemaking machine caused by an elution defect portion on an end face of a photosensitive material due to pressure fog upon developing, even in a CTP printing plate requiring a chamfering process, and that can carry out stable development for a long period of time without depositing dirt on the surface of a conveyer roll.例文帳に追加

面取り処理を必要とするＣＴＰ印刷版においても現像時に圧力カブリによる感光材料端面部の溶出不良部に起因する自動製版機への悪影響が無く、また搬送ロールの表面に汚れが固着することなく長期に渡って安定な現像処理を行うことが可能なＣＴＰ印刷版の処理装置を提供する事。 - 特許庁

The method of processing the substrate where the substrate is processed by dividing the same in a depth direction includes the steps of injecting protons from a main surface of the substrate S11; and irradiating to the substrate a light, having a wavelength substantially equal to the absorption wavelength of the defect level formed in the substrate by the proton injection so as to divide the substrate S12.例文帳に追加

基板加工方法は、基板を深さ方向において分断することによって加工する基板加工方法であって、基板の一主面側からプロトン注入を行うプロトン注入工程Ｓ１１と、プロトン注入によって基板中に形成された欠陥準位の吸収波長と略等しい波長をもつ光を基板に照射することにより基板を分断する照射工程Ｓ１２と、を具備する。 - 特許庁

Defects imaged in the respective selected inspection images are correlated, and processing is carried out to compose one two-dimensional composition image 100 from the respective selected inspection images, based on defect position information input as information indicating positions of the defects imaged in the respective selected inspection images, when receiving an instruction to select at least two out of the two or more of inspection images, and the composition image 100 is displayed.例文帳に追加

また、そのうち少なくとも２枚を選択する指示が受け付けられると、選択された各検査画像に写っている欠陥の位置を示す情報として入力される欠陥位置情報に基づいて、選択された各検査画像に写っている欠陥同士を関連付けて、選択された各検査画像から１枚の２次元合成画像１００を合成する処理が行われ、合成画像１００が表示される。 - 特許庁