「processing defect」に関連した英語例文の一覧と使い方(13ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a defect correction method of a color filter substrate, which is free from exfoliation of a transparent conductive layer-correcting layer from a base and requires a short time for repair even when defect repair processing for a color layer and a transparent conductive layer of a color filter substrate is performed in the stage where formation of the transparent conductive layer has been finished.例文帳に追加

カラーフィルタ基板の透明導電層の形成が終えた段階で、着色層と透明導電層の欠陥修復処理を施しても、透明導電層修正層の下地からの剥離がなく、修復に要する時間が短いカラーフィルタ基板の修正方法を提供することである。 - 特許庁

The defect inspection device for inspecting the presence of the defect of an object to be inspected using the neural network is equipped with an artificial flaw forming means for forming the artificial defective image of the object to be inspected by image processing and a learning means for learning the neural network on the basis of the artificially formed defective image.例文帳に追加

ニューラルネットワークを用いて被検物の欠陥の有無を検査する欠陥検査装置において、被検物の人工的な欠陥画像を画像処理により作成する人工欠陥作成手段と、人工的に作成された欠陥画像により前記ニューラルネットワークを学習させる学習手段と、を備える。 - 特許庁

The mounting line is provided with a mounting machine specifying means specifying a defective mounting machine processing a mounting defect component from a plurality of the mounting machines 10 when the inspection machine 93 detects the mounting defect component and a mounting machine stopping means stopping the defective mounting machine which the mounting machine specifying means specifies.例文帳に追加

本実装ラインは、検査機９３によって実装不良部品が発見された際に、複数の実装機１０の中から実装不良部品を処理した不良実装機を特定する実装機特定手段と、実装機特定手段によって特定された不良実装機を停止させる実装機停止手段と、を備える。 - 特許庁

An image processing apparatus 100 comprises a histogram creation part 42, a defect candidate region decision part 43, a defective region decision part 44 and a defect correction part 45 for automatically detecting and correcting a defective region which can be included in image data acquired via a film scanner 1 and an image data acquisition part 2.例文帳に追加

画像処理装置１００は、フィルムスキャナ１、画像データ取得部２を介して取得された画像データに含まれる可能性がある欠陥領域を自動的に検出して修正するために、ヒストグラム作成部４２、欠陥候補領域判定部４３、欠陥領域判定部４４および欠陥修正部４５を備えている。 - 特許庁

To provide an inspection apparatus for a phosphor formed on the back plate of a plasma display panel in which even a micro defect, e.g. a point defect, of a phosphor can be detected with high accuracy and highly reliable inspection can be ensured by processing detected information optimally, and a method for manufacturing the back plate of a plasma display panel employing the inspection apparatus.例文帳に追加

蛍光体の点欠点等の微小な欠点まで高精度に検出可能で、検出情報を最適に処理して信頼性の高い検査が可能なプラズマディスプレイパネル背面板に形成された蛍光体の検査装置、およびその検査装置を用いたプラズマディスプレイパネル背面板の製造方法を提供する。 - 特許庁

When a defect 13 is detected by applying various types of image processing to an image of a surface of the sheet like product 1 picked up by an image pickup means 12, a marking means 14 applies marking scratches 15 parallel to a conveying direction 11a on both sides in a width direction of a defect position.例文帳に追加

撮像手段１２が撮像するシート状製品１１の表面の画像に対して各種の画像処理を施すなどによって、欠陥１３が検出されると、マーキング手段１４は、欠陥位置を、幅方向の両側から挟むように、搬送方向１１ａに平行なマーキング用の傷１５をつける。 - 特許庁

To provide an optical film in which there is a little film defect resulting from thermal deterioration at the time of molding processing, and which has outstanding transparency in view of subjects, such as a film defect in a prolonged production, contamination of a mold or a forming roll, deterioration of productivity, and decomposition of a resin in a manufacturing process.例文帳に追加

本発明は、長時間の生産におけるフィルム欠陥、金型や成形ロールの汚染、生産性の低下、製造過程で樹脂の分解等の課題に鑑みてなされたものであって、成型加工時の熱劣化に起因するフィルム欠陥が少なく、優れた透明性を有する光学用フィルムを提供する事を目的とする。 - 特許庁

The illumination means irradiates a light of 420-530 nm wavelength range to an inspection surface of the wood to be inspected, and the processing means extracts a defect part based on the luminance in the photographed image.例文帳に追加

上記照明手段は検査木材の検査面に４２０ｎｍ〜５３０ｎｍの波長域の光を照射し、上記処理手段は撮像された画像における輝度を基に欠陥部を抽出する。 - 特許庁

To obtain a processed product of a hot dip plated steel sheet, which has a sound hot dip plated layer free from a processing defect, such as a crack or peeling, by enhancing the ductility of the hot dip plated layer to a value nearly equal to the ductility of a ground steel.例文帳に追加

溶融めっき層の延性を増加させて下地鋼に近づけ、クラック，剥離等の加工欠陥のない健全な溶融めっき層を有する溶融めっき鋼板の加工製品を得る。 - 特許庁

On the other hand, when a processing to all combinations is finished before acquiring the determination result wherein the concentration difference is within the tolerance, it is determined that the attention pixel 20 is a pixel showing the a defect.例文帳に追加

他方、濃度差が許容範囲に入るという判定結果を得る前に全ての組み合わせに対する処理が終了した場合には、注目画素２０を欠陥を表す画素であると判定する。 - 特許庁

An image processing part 109 captures pick-up images acquired by the imaging of an imaging part 106 via the relatively moved optical system 104 to acquire second positional information indicating the position of the defect.例文帳に追加

画像処理部１０９は、相対的に移動された光学系１０４を介して撮像部１０６が撮像した撮像画像を取り込み、欠陥の位置を表す第２の位置情報を取得する。 - 特許庁

A data processing part 10 regards a part where a defect in data writing is occurring among for storage parts A, B, C, and D as a faulty device and performs control so that no sales data is written to the device.例文帳に追加

データ処理部１０は、４つの記憶部Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄのうちデータ書き込み不良が生じているものを故障装置と見なし、その装置には売上データを書き込む制御を行わない。 - 特許庁

Information on the defect generated in the component supplied to the market is received and stored as temporary registration data, and formal registration is made with a registration data base after specified processing is performed.例文帳に追加

市場に供給した部品に発生した不具合に関する情報を受信し、前記情報を仮登録データとして格納し、所定の処理を実行した後に本登録データベースに本登録を行う。 - 特許庁

To provide a radiation image processing unit that applies pixel defect correction of a linear prediction type to a radiation image including grid pattern information so as to suppress artifacts due to a defective pixel when an image pickup element includes the defective pixel.例文帳に追加

撮像素子に欠陥画素が含まれるとき、グリッド縞情報を含む放射線画像に対して線形予測型の画素欠陥補正を施し、上記欠陥画素によるアーチファクトを抑える。 - 特許庁

The intensity of the scattered light Lb2 is detected by a detector 6 in the set sampling frequency, processed as prescribed by a signal processing part 10, and then input to the defect detecting part 11.例文帳に追加

散乱光Ｌｂ２の強度は、上記設定されたサンプリング周波数で検出器６によって検出され、信号処理部１０で所定の処理が行われた後、欠陥判定部１１に入力される。 - 特許庁

In other words, only for a signal used for PLL processing performed to generate a channel clock or phase control information by an ITR system, the reproducing information signal having the defect signal component removed is used.例文帳に追加

つまりチャネルクロック生成やＩＴＲ方式での位相制御情報生成のためのＰＬＬ処理に用いる信号のみに、ディフェクト信号成分が除去された再生情報信号を用いる。 - 特許庁

An image processing section 12 produces the defective feature information showing the feature of the defect from the image information, and decides the radiating condition in the case of radiating a laser beam based on the defective feature information.例文帳に追加

画像処理部１２は、画像情報から、欠陥の特徴を示す欠陥特徴情報を生成し、欠陥特徴情報に基づいて、レーザ光を照射する際の照射条件を決定する。 - 特許庁

To provide a method for processing an ultrasonic response signal collected from a plurality of measurement points positioned along a weld zone of a test sample, and determining the existence of a defect in the weld zone.例文帳に追加

試験サンプルの溶接部に沿う複数の測定箇所から収集された超音波応答信号を処理し、上記溶接部における欠陥の存在を決定する方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a video processing apparatus capable of preventing the occurrence of a display defect when detecting the input of video signals and then displaying video images corresponding to the video signals.例文帳に追加

映像信号の入力を検知した後に映像信号に応じた映像を表示させる際に、表示不良が発生することを防止することができる映像処理装置を提供すること。 - 特許庁

To provide an image processing apparatus capable of preventing the lowering of the speed of readout from an HDD due to a rereading operation even in case of a defect in access to the HDD due to vibration or deterioration with time.例文帳に追加

振動や経時変化によりＨＤＤへのアクセス不良が発生しても、再読み込み動作によるＨＤＤからの読み出し速度の低下を抑えることができる画像処理装置を提供する。 - 特許庁

METHOD FOR CONNECTING WIRING ELECTRODES, MANUFACTURING METHOD AND DEFECT CORRECTING METHOD FOR LIQUID CRYSTAL DISPLAY DEVICE SUBSTRATE, AND METHOD FOR MANUFACTURING LIQUID CRYSTAL DISPLAY DEVICE, AND PROCESSING DEVICE USED THEREFOR例文帳に追加

配線電極の接続方法、液晶表示装置用基板の製造方法と液晶表示装置用基板の欠陥修正方法、および液晶表示装置の製造方法、並びにそれに用いる加工装置 - 特許庁

This reticle repair method has a pattern transfer section comprising an electron beam scattering body and is a method of correction processing of the pattern defect of the reticle 13 used in exposure by electron beams.例文帳に追加

本発明に係るレチクルリペア方法は、電子線散乱体から構成されたパターン転写部を有し、電子線で露光する時に用いるレチクル１３のパターン欠陥を修正加工する方法である。 - 特許庁

To provide an antenna coil with which warpage of a resin-made coil case is suppressed in mounting it on a substrate by reflow processing, and as a result, solder defect rate on a terminal of a coil side is reduced.例文帳に追加

リフロー処理によって基板上に実装する際に、樹脂製のコイルケースの反りを抑制することができ、ひいてはコイル側端子部の半田付け不良発生率を低減できるアンテナコイルを提供する。 - 特許庁

As the result, even when substrates, such as color filters, to be processed are large-sized, time required for processing one substrate is shortened and through-put is improved since a moving range of the defect correcting head is small.例文帳に追加

この結果、カラーフィルタ等の処理すべき基板が大型化しても、欠陥修正ヘッドの移動範囲は小さくなるので、１個の基板を処理するのに要する時間は短縮され、スループットが改善される。 - 特許庁

To provide a correction acceptance processing system of an instrument output data which is operationally efficient, which can quickly see output data of a system at a management department, and which promptly directs to correct a defect if it were.例文帳に追加

システムの出力データを管理部門で即座に見ることができ、問題があれば迅速に修正を指示できる、作業効率の高い、計器出力データ校正承認処理システムなどを提供すること。 - 特許庁

In the event of dye comparison, difference images between an image of an inspection chip and images of left and right chips are threshold-determined by threshold processing parts 52a and 52b, respectively, by using the second threshold to find a defect candidate on the inspection chip.例文帳に追加

ダイ比較の場合には、閾値処理部５２ａ，５２ｂにおいて、検査チップの画像と左右のチップの画像との差画像をそれぞれ第二の閾値で閾値判定し、検査チップの欠陥候補を求める。 - 特許庁

To provide a wireless base station apparatus and a resource assignment control method for solving a problem of a defect of prior arts that setup is disabled in spite of presence of idle resources resulting from wasteful assignment of resources by a CH card of a call processing control section of a wireless base station apparatus.例文帳に追加

無線基地局装置の呼処理制御部でのＣＨカードにおいてリソースの割り当て方に無駄ができ、空きがあるにも拘わらず呼設定不可となってしまう不都合を回避する。 - 特許庁

To detect contact failure between a probe pin of a prober frame and an electrode of a liquid crystal glass substrate through a software by processing measurement signals in a liquid crystal array inspection apparatus, and to detect contact failure in the stage of measurement signals prior to defect analysis.例文帳に追加

液晶アレイ検査装置において、プローバフレームのプローブピンと液晶ガラス基板の電極との接触不良を、測定信号を信号処理することでソフトウエアによって検出する。 - 特許庁

To provide a resist composition which can prevent production of a defect in a substrate even when the resist film is made thinner in forming a fine pattern of a semiconductor substrate or the like and by which high accuracy processing of a substrate is performed.例文帳に追加

半導体基板等の微細パタン形成において、レジスト膜の薄膜化を一層進めても、基板の欠陥形成を防止でき、高精度に基板加工できるレジスト組成物を提供する。 - 特許庁

To improve the reliability of defect detection sensitivity and an inspection result by removing the noise of a high frequency component resulting from detailed unevenness produced in the case of processing a semiconductor device circuit pattern.例文帳に追加

半導体装置回路パターンを加工する際に生ずる微細な凹凸に起因した高周波成分のノイズを除去することにより、欠陥検出感度・検査結果の信頼性を向上する。 - 特許庁

To prevent a defect of a processing object by scattering of ion species after depositing on the inside surface or the like of a through-hole of a member for shaping the beam shape of an ion beam.例文帳に追加

イオンビームのビーム形状を成形する部材の貫通孔の内面などにイオン種が堆積して飛散することによる処理対象の不良を防止できるイオン注入装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method for detecting the flaw of a metal strip, and eliminating the defective section of a non-metal inclusion, by processing a flaw detection signal by detecting the defect of non-metal inclusion inhering in the metal strip.例文帳に追加

本発明は、金属帯を探傷し、該金属帯に内在する非金属介在物欠陥を検出してなる探傷信号を処理して非金属介在物欠陥部分を除去する方法に関する。 - 特許庁

To reduce processing time on an image correction method, an image correction device, and an image correction program which detect and correct a prescribed defect about eyes in an image based on image data indicating the image.例文帳に追加

画像を表す画像データに基づいて、画像中の目に関する特定の不具合を検出して修正する画像補正方法、画像補正装置、および画像補正プログラムにおいて処理時間を低減する。 - 特許庁

To provide a method and a device for processing inspection data, allowing the accurate selection of a critical defect on the basis of the inspection data detected by an appearance inspecting device.例文帳に追加

外観検査装置から検出される検査データを基に、致命性のある欠陥を精度よく、正確に選択できるようにした検査データ処理方法およびその装置を提供することにある。 - 特許庁

To provide a defect analyzing method of a memory by which must- repair of a memory can be retrieved at high speed and simulation processing relieving can be performed at high speed at the time of detection of must-repair.例文帳に追加

メモリのマストリペアを高速で検索すると共に、マストリペアが検出された時点でマストリペアを救済するシミュレーション処理を高速に行うことができるメモリの不良解析方法を提案する。 - 特許庁

To realize a speech interactive information retrieval method which specifies an attribute value to settle objective information without making a user feel a time required for speech recognition processing and retrieval neither making an unnatural conversation with the user due to a defect of speech recognition processing or the like.例文帳に追加

ユーザに対して音声認識処理及び検索に要する時間を感じさせることなく、かつユーザとの間に音声認識処理の欠陥などによる不自然な対話を生じさせることなく、属性値を特定して目的情報の確定を行う音声対話型情報検索を実現すること。 - 特許庁

To provide an image processing device, an image processing method and a computer program which are capable of detecting even an existence of a defect or of a difference in colors nearby a contour line in high accuracy by selecting an appropriate featured value, allowing a firm determination of a non-defective product.例文帳に追加

輪郭線近傍の欠陥や色の相違についても、適切な特徴量を選択することにより、高い精度で存在を検出することができ、良品判定を確実に行うことができる画像処理装置、画像処理方法、及びコンピュータプログラムを提供する。 - 特許庁

To provide an image processing apparatus which can acquire information from an image display apparatus and inform a user, even when the power supply section or the display section of the image display apparatus is unable to operate due to some kind of defect, and to provide a control method for the image processing apparatus.例文帳に追加

映像表示装置の電源部や表示部が、何らかの異常により作動が不可能となった場合であっても、映像表示装置から情報を取得して使用者に知らせることができる映像処理装置、映像処理装置の制御方法を提供する。 - 特許庁

To provide a video signal processing apparatus capable of controlling luminance based on an inputted video signal and achieving prevention of a display defect by a voltage drop due to resistance of a common electrode and reduction of power consumption, a video signal processing method, a program, and a display device.例文帳に追加

入力される映像信号に基づいて輝度を制御し、共通電極の抵抗に起因する電圧降下による表示不良の防止と消費電力の低減とを図ることが可能な映像信号処理装置、映像信号処理方法、プログラム、および表示装置を提供する。 - 特許庁

Defect discrimination circuits 11R, 11G, 11B for each color discriminate whether or not processing target pixels R11, G11, B11 are defective on the basis of pixel values of the processing target pixels R11, G11, B11 for each color and pixel values of the surrounding pixels and generate discrimination signals SR, SG, SB.例文帳に追加

各色の欠陥判定回路１１Ｒ，１１Ｇ，１１Ｂは、各色の処理対象画素Ｒ１１，Ｇ１１，Ｂ１１の画素値及び周辺画素の画素値に基づいて処理対象画素Ｒ１１，Ｇ１１，Ｂ１１に欠陥があるか否かを判定し、判定信号ＳＲ，ＳＧ，ＳＢを生成する。 - 特許庁

A relief processing part 21 is shared by the redundant memories 11 and 12, and has a plurality of defect relief sections 211-21x which have relief information storage sections L11-L1X constituted storable of relief information S3 respectively, and performs relief processing of the redundant memories 11 and 12.例文帳に追加

救済処理部２１は、冗長メモリ１１，１２に共有されており、かつ、救済情報Ｓ３を格納可能に構成された救済情報格納部Ｌ１１〜Ｌ１Ｘをそれぞれ有する複数の不良救済部２１１〜２１ｘを有し、冗長メモリ１１，１２の救済処理を行う。 - 特許庁

To provide a manufacture inspection analyzing system capable of appropriately specifying a processor or a processor group as the cause of occurrence of a defect during manufacturing of a processed body, without performing processing such as attaching information on a processor having performed processing to the processed body.例文帳に追加

被処理体に対して処理した処理装置の情報を付与するなどの処理を行うことなく、被処理体の製造途中において、的確に欠陥の発生要因となる処理装置または処理装置群を特定することを可能とする製造検査解析システムを提供する。 - 特許庁

By using the dark image data captured by the dark data capturing processing and conducting correction arithmetic processing, the photographed image data can be corrected with respect to image quality deterioration such as a dark current noise generated from an image pickup element and a pixel defect due to a flaw specific to the image pickup element.例文帳に追加

このダーク取り込み処理で取り込んだダーク画像データを用いて補正演算処理を行うことにより、撮像素子の発生する暗電流ノイズや撮像素子固有のキズによる画素欠損等の画質劣化に関して、撮影した画像データを補正することができる。 - 特許庁

To evade the possibility of occurrence of an image defect due to printing in a direction different from an image processing direction supposed by a host by instructing a printing direction to an image forming apparatus when image processing depending on a printing direction is performed on the host side in a host-based image forming system.例文帳に追加

ホストベースの画像形成システムにおいて、印字方向に依存した画像処理をホスト側で行う場合、画像形成装置に対して印字方向を指示し、ホストが想定して画像処理を施した方向とは異なる方向で印字されて画像不良が発生する可能性を回避する。 - 特許庁

To provide a data communication adaptor that gives data to other information processing unit on the basis of the data from one information processing unit, reduces a data transmission time and a communication charge when the other information processing unit transmits the data through electric communication and improves a defect caused by a cable extended from the adaptor.例文帳に追加

一方の情報処理装置からのデータに基づいて他方の情報処理装置にデータを入力させるデータ通信用アダプタにおいて、他方の情報処理装置により電気通信によりデータを送信するときのデータ送信時間および通信料金を低減し、またアダプタから延出するケーブルに起因した不具合を改善する。 - 特許庁