「processing defect」に関連した英語例文の一覧と使い方(12ページ目) - Weblio英語例文検索

A defect 13 can be detected by conducting various image processing for an image of the surface of the sheet-like product 1 image by an image pickup means 12.例文帳に追加

撮像手段１２が撮像するシート状製品１１の表面の画像に対して各種の画像処理を施すことなどによって、欠陥１３として検出することができる。 - 特許庁

To provide an image processing method, apparatus, and program capable of automatically repairing a defect region caused by attachment of a very small substance onto a medium from a digital signal obtained by reading an image formed on the medium.例文帳に追加

媒体上に形成された画像を読み取って得たデジタル画像から、媒体上に微小物質が付着されたことに起因する欠陥領域の修復を自動的に行う。 - 特許庁

(B) Then, the concentration in the processing area AD is gradation-corrected with the ratio (150/100) of the most frequent value and the maximum value, the influence of shape variation is removed, and then a defect is inspected.例文帳に追加

（Ｂ）：そして、最頻値と最大値との比（１５０／１００）で処理エリアＡＤ内の濃度を階調補正し、形状変化の影響を除去した上で欠陥検査を行う。 - 特許庁

To provide a lead frame processing device which detects and removes foreign materials on a lower die per every stroke and prevents quality defect of products, damages on dies and tools and system lockup.例文帳に追加

毎ストローク毎に下型上の異物の検出、除去を可能とし、製品の品質不良、金型、工具の破損、装置の停止を防ぐことができるリードフレーム加工装置を提供する。 - 特許庁

To provide a pixel defect correction device capable of accurately correcting a defective pixel in exactly real time or a small number of processing times even when there is the defective pixel among eight peripheral adjacent pixels.例文帳に追加

周囲の隣接する８画素中に欠陥画素がある場合でも、正確にリアルタイムに、若しくは、少ない処理回数で補正が可能な画素欠陥補正装置を提供する。 - 特許庁

To provide an image processing apparatus and a method which appropriately correct the position error of a feature point or the defect of image data even if the object has a large fluctuation.例文帳に追加

対象物体が大きな変動を有する場合であっても特徴点の位置の誤りや画像データの欠損を適切に補正する画像処理装置及び方法を提供する。 - 特許庁

An image segmentation section 17 segments an entire image of a document from an image memory 14 and a defect retrieval processing section 21 retrieves a defective part at peripherals of the image.例文帳に追加

イメージ切出部１７によってイメージメモリ１４から帳票全体のイメージ切り出され、欠損検索処理部２１によってそのイメージの周辺部分の欠損箇所が検索される。 - 特許庁

To provide a substrate processing apparatus and a semiconductor device manufacturing method, which can form a high quality film with less defect of a semiconductor device at high productivity and inhibit decrease in yield.例文帳に追加

生産性よく、半導体装置の不良の少ない高品質な膜を形成でき、歩留りの低下を防止できる基板処理装置及び半導体製造装置の製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a silver halide photographic sensitive material having good processing stability, giving clear thin lines, capable of forming a defect-free image, and adaptable to finer resolution being a practice in recent years.例文帳に追加

処理安定性がよく細線が鮮明で、欠陥がない画像を形成することができ、近年の高精細化に十分に対応しうるハロゲン化銀写真感光材料を提供すること。 - 特許庁

To provide a magneto-optical recording medium which makes it possible to perform defect management processing suitable to the magneto-optical recording medium of a magnetic domain magnification reproduction system and its recording and reproducing device.例文帳に追加

磁区拡大再生方式の光磁気記録媒体に適したディフェクトマネージメント処理を可能とする光磁気記録媒体及びその記録再生装置を提供することである。 - 特許庁

A pixel defect inspecting apparatus 3 comprises a light source 6, an optical lens 7, a timing generator 8, a signal processing part 9, a system controller 10, an arithmetic circuit 11, a memory 12, and an interface part 13.例文帳に追加

画素欠陥検査装置３は、光源６、光学レンズ７、タイミングジェネレータ８、信号処理部９、システムコントローラ１０、演算回路１１、メモリ１２、インターフェース部１３を備える。 - 特許庁

To provide image processing equipment and ultrasonic diagnostic equipment which extract the contours of an object, corresponding to a local defect or indistinctness in a tomographic image or the like.例文帳に追加

断層画像等における局所的な欠損や不明瞭さに対応した対象物の輪郭抽出を可能とする画像処理装置及び超音波診断装置を提供する。 - 特許庁

To provide a digital broadcast receiver capable of reducing a defect imposed on display of a plurality of kinds of information items even when a processing load is increased in the case that the display of the information items is effective.例文帳に追加

ディジタル放送受信装置における複数種類の情報の表示を有効としている場合で処理負荷が増大しても当該表示にかかる不都合を軽減する。 - 特許庁

This defect inspection device 100 includes a stage 3 for supporting the semiconductor substrate 2, an electron beam irradiation part 7, a CL detector 14, an X-ray detector 19 and a data processing part 22.例文帳に追加

欠陥検査装置１００は、半導体基板２を支持するステージ３と、電子線照射部７と、ＣＬ検出器１４と、Ｘ線検出器１９と、データ処理部２２とを備える。 - 特許庁

To shorten a test time by parallel processing of a plurality of chips when defect check of a bit line or a sense amplifier is performed in a wafer test of a NAND type flash-memory.例文帳に追加

NAND型フラッシュメモリのウェハテストに際してビット線またはセンスアンプの不良チェックを行う場合に、テスト時間を短縮し、複数チップの並列処理によりテスト時間を大幅に縮める。 - 特許庁

Fluctuation of a rotating torque of the tapered shaft 3 is detected by a torque sensor 5, and a signal detected by the torque sensor 5 is subjected to signal processing, to thereby detect a defect on the rolling contact surface or on the roller.例文帳に追加

このテーパ軸３の回転トルクの変動をトルクセンサ５で検出し、トルクセンサ５で検出された信号を信号処理することで前記転走面またはころの欠陥を検出する。 - 特許庁

To easily calculate a value as the scale of a damage or defect probability (lifetime consumption rate) by operating digitization and weighting processing in performing an RBM method.例文帳に追加

ＲＢＭ手法を行うに際して、被害の大きさや損傷確率（寿命消費率）といった値を数値化処理して重み付けを行って簡単に割り出すことができるようにする。 - 特許庁

A defect evaluation part 20 performs arithmetic processing of periodic magnetic field information extracted by the periodic information extraction means 15 and evaluates defects of the specimen such as scars and cracks.例文帳に追加

欠陥評価部２０は、周期情報抽出手段１５によって抽出された周期的な磁場情報を演算処理し、被検体のきず及びや割れなどの欠陥を評価する。 - 特許庁

To provide a radio frequency integrated circuit (RFIC) device in which adjustment processing or the like can be speedily and accurately performed, and an error or a defect can be easily detected.例文帳に追加

迅速かつ正確に精算処理等を行うことが可能であり，エラーまたは不良を容易に検出することが可能な無線周波数集積回路（ＲＦＩＣ）装置を提供する。 - 特許庁

Thereafter, a defect correction circuit 208 reads the stored addresses of the defective pixels according to the reading method at photographing and applies prescribed correction processing to the defective pixels.例文帳に追加

その後、撮影時に、欠陥補正回路２０８は、記憶された欠陥画素のアドレスを、その読み出し方法に応じて読み取り、その欠陥画素に対して所定の補正処理を施す。 - 特許庁

To provide an imaging apparatus that executes a defect correction processing in response to a photographing condition so as to reduce an arithmetic time performed in photographing and the power consumption.例文帳に追加

撮影条件に対応して欠陥補正の処理を実行することにより、撮影時に行う演算時間を短縮し、消費電力を低減可能とした撮像装置を提供する。 - 特許庁

The tool defect inspection device includes a display 30 for displaying an image picked up by the camera 26, and an image processor 28 for image-processing an inspection image of the work 12 picked up by the camera 26.例文帳に追加

カメラ２６により撮像された画像を表示する表示装置３０と、カメラ２６により撮像されたワーク１２の検査像を画像処理する画像処理装置２８を備える。 - 特許庁

To provide an optical disk drive achieving reliable alternative processing by writing the defect management information only in the area high in recording quality having a predetermined level or higher.例文帳に追加

欠陥管理情報を記録品位が所定値以上の高品位な候補領域にのみ書き込むことで信頼性の高い代替処理を可能とする光ディスク装置を提供する。 - 特許庁

To provide a photosensitive material processor which easily copes with a defect in conveyance, etc., that a photosensitive material encounters while speedily processing the photosensitive material and saving the space.例文帳に追加

感光材料の迅速処理及び省スペース化を図りつつ、感光材料が搬送不良等を生じた際の対処を容易に行える感光材料処理装置を提供すること。 - 特許庁

The rules say that the rate of defects occurring during the additional processing by the main customer will be calculated and that no returns will be made within the scope of that defect rate.例文帳に追加

ルールの内容は、主要販売先の追加加工等の工程で発生する不良率を算定してもらい、その不良率の範囲内では返品を行わないというものである。 - 経済産業省

Relief processing parts 21, 22 performing relief processing of redundant memories 11, 12 are provided with a plurality of defect relieving parts 211 to 21y, 221 to 22x having respectively shift register circuits Ln1 to Lny, L11 to L1x being a relief information storing part.例文帳に追加

冗長メモリ１１，１２の救済処理を行う救済処理部２１，２２は、救済情報格納部となるシフトレジスタ回路Ｌｎ１〜Ｌｎｙ，Ｌ１１〜Ｌ１ｘをそれぞれ有する複数の不良救済部２１１〜２１ｙ，２２１〜２２ｘを備えている。 - 特許庁

An inspection device 1 gets a reference image obtained by picking up an image of a model having no defect prior to inspection, executes extension processing and reduction processing and stores obtained extended and reduced images in an image memory 3 built in the device 1.例文帳に追加

検査装置１は、検査に先立ち、欠陥のないモデルを撮像して得られた基準画像を取り込み、膨張処理および収縮処理を行い、得られた膨張画像および収縮画像を装置内の画像メモリ３内に保存する。 - 特許庁

The assembly line includes a number of readers and processing stations 104 to determine and confirm the identity of vehicles passing proximate to the readers and processing stations, and the build instructions, status, position, condition, defect and repair history, etc., of a vehicle.例文帳に追加

この組立ラインは、いくつかのリーダと処理ステーション１０４を組込んで、リーダと処理ステーションのすぐ近くを通過する車両のＩＤ、および車両のビルド・インストラクション、ステータス、位置、条件、欠陥と修理の履歴などを決定し、確認する。 - 特許庁

By this anneal processing, erasing temp. width narrowed by a change with the elapse of time is restored to be increased and the generation of erasing inferiority can be perfectly eliminated even by printing erasing processing due to an erase bar 4a having a defect hard to impart constant heat energy.例文帳に追加

このアニール処理により経時変化で狭くなった消去温度幅を復元して広くし、一定の熱エネルギーを付与し難い欠陥をもつイレーズバー４ａによる印字消去処理でも消去不良の発生が絶滅可能となる。 - 特許庁

To provide a semiconductor processing apparatus and a diagnostic method for the semiconductor processing apparatus capable of diagnosing a defect of reassembling of a process chamber after wet cleaning or a state of the process chamber such as deposition of reaction products and shaved components.例文帳に追加

ウエットクリーニング後の処理室再組み立ての不都合、あるいは反応生成物の堆積、部品の削れ等の処理室の状況を診断することのできる半導体処理装置及び半導体処理装置の診断方法を提供する。 - 特許庁

A pixel detection circuit 113 has a function of discriminating pixel signals configuring the image signal and performs the detection processing of the defective pixel and detection processing of the optional pixel replaced by the defect correction circuit 114 similarly to prior arts.例文帳に追加

画素検出回路１１３は、画像信号を構成する個々の画素信号を判定する機能を有し、従来と同様の欠陥画素の検出処理と、欠陥補正回路１１４によって置換された任意の画素の検出処理とを行う。 - 特許庁

The defect inspection device 21 is equipped with a lighting system 22 equipped with the first light source and the second light source, a camera 23 capable of imaging light transmitted through the tablet, and an image processing device 24 for processing an image signal outputted from the camera 23.例文帳に追加

不良検査装置２１は、第１光源及び第２光源を具備する照明装置２２と、錠剤を透過してくる光を撮像可能なカメラ２３と、カメラ２３から出力される画像信号を処理する画像処理装置２４とを備える。 - 特許庁

To provide a substrate processing method capable of preventing the occurrence of a pattern defect by suppressing deformation of a resist pattern due to substitution of a solvent atmosphere in a chamber, in reflow processing for dissolving the resist pattern in the chamber to form a desired resist pattern.例文帳に追加

チャンバ内でフォトレジストパターンを溶解し所望のレジストパターンを形成するリフロー処理において、チャンバ内の溶剤雰囲気置換に伴うレジストパターンの変形を抑制し、パターン不良の発生を防止することのできる基板処理方法を提供する。 - 特許庁

After performing crystal defect repair processing or crystal defect removal processing of the single crystal silicon layer, using stock gas at least containing silicon based gas, the stock gas is activated by plasma under the atmospheric pressure or near the atmospheric pressure to cause single crystal silicon layer epitaxial growth and a second impurity silicon layer is formed on the epitaxial grown surface side.例文帳に追加

単結晶シリコン層の結晶欠陥修復処理又は結晶欠陥除去処理を行った後、シラン系ガスを少なくとも含む原料ガスを用い、大気圧或いは大気圧近傍下で生成したプラズマにより原料ガスを活性化させ、単結晶シリコン層をエピタキシャル成長させ、該エピタキシャル成長させた表面側に第２不純物シリコン層を形成する。 - 特許庁

This device is provided with an optical means 40 having at least one cameras 42, 42', and connected to an image collection processing system 48 capable of a geometric defect existing in each of the fuel rods 2 to be inspected, and is provided further with a roughness measuring instrument 50 controlled to measure a depth of the each geometric defect detected by the image collection processing system 48.例文帳に追加

この装置は、少なくとも１つのカメラ４２、４２’を有し、検査すべき各燃料棒２上に存在する幾何的欠陥を検出することができる画像収集処理システム４８に連結されている光学手段４０を備え、画像収集処理システム４８によって検出された各幾何的欠陥の深さを測定するように制御される粗さ測定器５０をさらに備える。 - 特許庁

This method fetches an image about a check object having a regularly linear pattern by an image pickup device, applies differential processing to the fetched gradation image to detect a defective candidate, cuts out the original image of the defective candidate part, performs labeling processing of the cut out image, performs redecision according to the characteristic of the pattern and classifies and detects the defect and the type of the defect with high accuracy.例文帳に追加

規則的な直線状パターンを持つ検査対象についてその画像を撮像素子にて取り込み、取り込んだ濃淡画像に対して差分処理を行って欠陥候補を検出し、欠陥候補部分の原画像を切り出し、切り出した画像のラベリング処理を行い、そのパターンの特徴によって再判定を行い、欠陥を精度良くかつ欠陥の種類を分別して検出する。 - 特許庁

Where the machining allowance S is greater than that to prevent defect from happening on the workpieces to be worked upon processing them at a providable average machining current value with a second-cut operation, the machining allowance is made smaller by dividing the second-cut operations into a plurality of steps and processing the workpieces at a providable average machining current value corresponding to such smaller machining allowance to prevent defect from happening on them.例文帳に追加

取り代Ｓがセカンドカットにおける与えられ得る平均加工電流値で加工するときに被加工物に欠損が発生しない取り代よりも大きいときは、セカンドカットを複数の加工工程に分割して取り代を小さくするとともにその取り代に対応する被加工物に欠損が発生しない与えられ得る平均加工電流値にして加工する。 - 特許庁

A surface defect inspection device includes a differential interference image acquisition part 2 containing a differential interference optical system for forming a differential interference optical image of the workpiece 1 and a photographing part for acquiring a differential interference image by photographing the differential interference optical image, and a processing part 3 for processing the differential interference image and detecting the defect on the surface of the workpiece.例文帳に追加

表面欠陥検査装置は、被検査物１の微分干渉光学像を形成する微分干渉光学系と前記微分干渉光学像を撮像して微分干渉画像を得る撮像部とを有する微分干渉画像取得部２と、前記微分干渉画像を処理して、被検査物１の表面における欠陥を検出する処理部３と、を備える。 - 特許庁

To provide polishing cloth processing a base board for a recording disk with excellent productivity, by checking sticking of a titanium compound represented by titanium dioxide to a disk surface, by realizing uniform processing by restraining a scratch being a defect of the disk, in texture processing of a magnetic disk requiring highly accurate finishing.例文帳に追加

高精度の仕上げを要求される磁気ディスクのテクスチャー加工において、ディスクの欠点となるスクラッチを抑制して均一な加工を実現するとともに、ディスク表面への二酸化チタンに代表されるチタン化合物の付着を阻止することで、記録ディスク用基板を生産性よく加工できる研磨布を提供する。 - 特許庁

The method may be used in a processing level, for example, the presence of the defect in the coating layer formed on the semiconductor substrate is determined in manufacture of the electronic device to decide the capability of further processing for the device, or the necessity of removal from the processing.例文帳に追加

本方法は、処理レベルにおいて使用してもよく、例えば、電子装置の製造において半導体基板上に形成された被覆層が欠陥を有するか否かを判断することができ、従って、その装置をさらに処理可能であるのか、処理から除外しなければならないのかを決定することができる。 - 特許庁

To provide a catalytic chemical processing method and apparatus using magnetic fine particles capable of processing a difficult-to-process workpiece, especially SiC, GaN, etc. with high processing efficiency and with high precision based on a processing principle utilizing a catalytic action enabling the chemical reaction introducing no lattice defect into the surface of the workpiece, and capable of obtaining a crystallographically excellent processed surface.例文帳に追加

本発明は、被加工物表面に格子欠陥が導入されない化学的な反応が可能な触媒作用を利用した加工原理に基づき、難加工物、特にＳｉＣやＧａＮ等を、加工効率が高く且つ高精度に加工することができ、結晶学的に優れた加工面が得られる磁性微粒子を用いた触媒化学加工方法及び装置を提案する。 - 特許庁

To provide a semiconductor substrate processing device that prevents a processing defect of a semiconductor device by speedily grasping abnormality of an operation state of a lift pin and is surely improved in yield of products by greatly reducing manufacture loss of the semiconductor device.例文帳に追加

リフトピンの動作状況の異常を迅速に把握して半導体装置の加工不良を未然に防ぐことができ、半導体装置の製造ロスを大幅に軽減して製品の歩留まりを確実に向上することができる半導体基板処理装置を提供する。 - 特許庁

In a sizing process, deformation processing is applied to a steel pipe electro-resistance-welded having a circular section in a direction wherein a fine defect in the weld is enlarged by sizing rolls for the deformation processing, and ultrasonic flaw inspection of the weld is performed in this state.例文帳に追加

サイジング工程の中で、電縫溶接された断面が円形の鋼管を、変形加工用のサイジングロールにより溶接部の微少な欠陥が拡大する方向に変形加工を施し、この状態で溶接部の超音波探傷検査を行うようにした。 - 特許庁

To bring a yarn based on expanded graphite to be highly flexible without generating protrusions of expanded graphite in a conventional bending processing to prevent partial defect of the expanded graphite in twist processing or knit assembling for preparing grand packings.例文帳に追加

グランドパッキンを作成すべくひねり加工又は編組する際の部分的な膨張黒鉛の欠落が生じないように、膨張黒鉛を基材とするヤーンを、通常の曲げ加工における膨張黒鉛のはみ出しが生じない柔軟性に富む改善されたものとする。 - 特許庁

To provide an apparatus for processing an image which can correct a defect accurately by interpolating process reflecting them even if a complicated boundary or a pattern exists in the defective part and which can accelerate a processing speed by suppressing an amount of calculations.例文帳に追加

欠陥部内に複雑な境界や模様が存在する場合であってもそれらを反映した補間処理によって正確に欠陥を修正することが可能であるとともに、演算量を抑えて処理速度を高めることが可能な画像処理装置を提供する。 - 特許庁