「processing defect」に関連した英語例文の一覧と使い方(2ページ目) - Weblio英語例文検索

ENGINEERING PROCESSING METHOD OF DEFECT AND ELECTRIC CONDUCTIVITY OF CONDUCTIVE NANOSCALE STRUCTURE例文帳に追加

導電性ナノスケール構造の欠陥及び導電率の工学処理方法 - 特許庁

The defect is eliminated by scanning according to the cutting edge route determined by the AFM processing device.例文帳に追加

AFM加工装置で求めた刃先経路どおりに走査して欠陥を除去する。 - 特許庁

To provide a circuit board and a system for processing a defect in a circuit board.例文帳に追加

本発明は回路基板及び回路基板の不良処理システムに関する。 - 特許庁

METHOD, DEVICE, AND PROGRAM FOR PROCESSING FILE SYSTEM DEFECT, AND MEDIUM例文帳に追加

ファイルシステム欠陥処理方法、装置、プログラム、及び媒体 - 特許庁

APPARATUS, METHOD AND PROCESSING PROGRAM FOR DETECTING DEFECT例文帳に追加

欠陥検出装置、欠陥検出方法、及び欠陥検出処理プログラム - 特許庁

To reduce an amount of processing data in detecting discharge defect.例文帳に追加

吐出不良検出における処理データの量を削減する。 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR PROCESSING RECORDING MEDIUM, AND DEFECT DETECTION METHOD例文帳に追加

記録媒体処理装置及び方法、並びに欠陥検出方法 - 特許庁

The processing element can identify a defect of the complex structure.例文帳に追加

処理要素は複合構造の欠陥を識別することができる。 - 特許庁

WELDED PART PROCESSING DEVICE AND METHOD OF REMOVING DEFECT OF WELDING PART例文帳に追加

溶接部加工装置および溶接部の欠陥箇所除去方法 - 特許庁

METHOD FOR DEFECT DETECTING AND PROCESSING OF OPTICAL DISK AND RECORDING/REPRODUCING APPARATUS例文帳に追加

光ディスクの欠陥検出処理方法及び記録再生装置 - 特許庁

IMAGE FORMING APPARATUS AND METHOD FOR MONITORING IMAGE DEFECT SUPPRESSION PROCESSING例文帳に追加

画像形成装置及び画像欠陥抑制処理監視方法 - 特許庁

DEFECT REPLACING PROCESSING METHOD AND INFORMATION RECORDING AND REPRODUCING DEVICE AND RECORDING MEDIUM例文帳に追加

欠陥代替処理方法及び情報記録再生装置ならびに記録媒体 - 特許庁

DETECTION SIGNAL PROCESSING METHOD FOR PERIODIC DEFECT, AND DEVICE THEREFOR例文帳に追加

周期性欠陥の検出信号処理方法及びその装置 - 特許庁

LEARNING TYPE DEFECT DISCRIMINATION PROCESSING SYSTEM, METHOD, AND PROGRAM例文帳に追加

学習型欠陥弁別処理システム、方法及びプログラム - 特許庁

COMMON DEFECT PROCESSING METHOD IN COLOR-FILTER PATTERN INSPECTION MACHINE例文帳に追加

カラーフィルタパターン検査機における共通欠陥処理方法 - 特許庁

On the basis of the result of a defect examination to be performed each time the layer of a wafer is formed, processing 41 is performed for making correspondent defect coordinates between respective examinations to recognize the defect and further, processing 43 is performed for deciding the size of that defect for each recognized defect to unify the defect sizes different for each examination of the defect.例文帳に追加

ウェーハの層形成毎に行われる欠陥検査の結果を元に、各検査間の欠陥座標を対応付ける処理４１を行って、同一欠陥を認識し、さらに、認識した同一欠陥毎に、その欠陥サイズを判定する処理４３を行って、同一欠陥の検査毎に異なる欠陥サイズを統一する。 - 特許庁

To realize defect inspection data processing by which the TAT reduction of a defect inspection process is possible and the precise defect coordinate data of a defect position can be obtained.例文帳に追加

欠陥検査工程のＴＡＴ短縮が可能で、また欠陥位置の高精度な欠陥座標データを得ることができる欠陥検査データ処理を可能とする。 - 特許庁

Then, in a failure probability calculation processing 13 for each defect, the failure probability of each defect in the defect map data is calculated and the defect map data with the failure probability are prepared.例文帳に追加

次に、欠陥別不良確率算出処理１３で、欠陥マップデータ中の各欠陥の不良確率を算出し、不良確率付き欠陥マップデータを作成する。 - 特許庁

To provide an apparatus and a method for inspecting defect capable of judging the defect detected in duplication when a defect detecting processing is performed by a plurality of defect detecting means for an object to be inspected.例文帳に追加

検査対象物について、複数の欠陥検出手段によって欠陥検出処理を行った場合に、重複して検出された欠陥を判定することができる欠陥検査装置及び欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide an information recording and reproducing device and a processing method for defect management system format for a disk which realize shortening of a defect control format processing time when defect management format processing request is performed for a disk for which defect management format processing is not performed and a disk for which defect management format processing is already performed.例文帳に追加

欠陥管理フォーマット処理が実施されていないディスクおよび既に欠陥管理フォーマット処理が実施されているディスクに対して、欠陥管理フォーマット処理要求があった場合に、欠陥管理フォーマット処理の時間を短縮する情報記録再生装置およびディスクに対する欠陥管理システムフォーマット処理方法を提供する。 - 特許庁

To provide a substrate processing method capable of performing exposure processing with few defect and high resolution.例文帳に追加

欠陥が少なく、解像性能の高い露光処理を可能とする基板処理方法を提供する。 - 特許庁

To suppress generation of processing defect at the time of supplying processing liquid onto a developed substrate.例文帳に追加

現像処理後の基板上に処理液を供給する際に、処理欠陥の発生を抑制すること。 - 特許庁

A data processing part 10 performs a defect analytical processing operation based on the two data.例文帳に追加

データ処理部１０はこれら２つのデータに基づく不良解析処理を行う。 - 特許庁

The processing means includes functions to extract the defect information on the identical defect imaged by different camera devices from the position information and output the clipped images (defect images) as to the extracted defect simultaneously to an identical display screen (defect time series display screen shown in the figure).例文帳に追加

処理手段は、位置情報に基づき異なるカメラ装置で撮像された同一の欠陥についての欠陥情報を抽出し、その抽出した欠陥について切り出した画像（欠陥画像）を同一の表示画面（図に示す欠陥時系列表示画面）に同時に出力する機能を備えた。 - 特許庁

The presence or absence of a defect in a wiring pattern is confirmed by visual observation, image processing, or the like; defect information on the position, coordinates, size, or the like is confirmed, and the type of the defect is determined; when the defect is detected; and a machining method and machining conditions are set according to the type and state of the defect (step S1).例文帳に追加

目視又は画像処理等により配線パターンの欠陥の有無を確認し、欠陥を検出した場合は、その位置、座標及び大きさ等の欠陥情報を確認すると共に欠陥の種類を判定し、欠陥の種類及び状態に応じて加工方法及び加工条件を設定する（ステップＳ１）。 - 特許庁

To provide a processing system for defect information and a processing method for defect information which are capable of analyzing defect information of products on a production line and quickly notifying an operator of the analyzed result.例文帳に追加

製造ラインにおける製品の不具合情報を解析し、解析結果を作業者に速やかに伝達することができる不具合情報の処理システム及び不具合情報の処理方法を提供する。 - 特許庁

Thereby processing efficiency can be improved and specification of a defective level which cannot be relieved is made possible by performing defect analysis and defect relieving discrimination processing independenlty of the tester and a defect analyzing device.例文帳に追加

このように、不良解析及び不良救済判定処理をテスタ及び不良解析装置から独立して行うことで、処理効率を向上させることができ、また不良救済不可となった不良レベルの特定が可能である。 - 特許庁

The halo component in a corrected part of a white defect, re-deposition near a black defect or deposition near a white defect is removed by an electron beam processing device without damages in the corrected part of the white defect or black defect by a mask defect correcting device using ion beams or by a mask defect correcting device using electron beams.例文帳に追加

イオンビームを用いたマスク欠陥修正装置や電子ビームを用いたマスク欠陥修正装置による白欠陥もしくは黒欠陥の修正個所に対して、ダメージのない電子ビーム加工装置で白欠陥修正個所のハロー成分や黒欠陥周辺の再付着もしくは白欠陥周辺の付着を除去する。 - 特許庁

In fatal defect automatic extracting processing, X line relief discrimination processing and Y line relief discrimination processing are continuously performed, X line relief discrimination processing is performed considering defect in the direction of Y line, Y line relief discrimination processing is performed considering defect in the direction of X line.例文帳に追加

致命不良自動抽出処理は、Ｘライン救済判定処理及びＹライン救済判定処理を連続して行い、Ｘライン救済判定処理はＹライン方向の不良を考慮して行い、Ｙライン救済判定処理はＸライン方向の不良を考慮して行われる。 - 特許庁

When a defect occurs in a certain lot, I want to narrow in on the other lots that possibly have a defect from that processing history. 例文帳に追加

あるロットで不良が発生した際に、そのロットの加工履歴から不良の可能性のある他のロットを絞り込みたい。 - Weblio Email例文集

Next, processing 45 is performed for excluding fine defects to narrow down defect data as a target of defect analysis.例文帳に追加

次に、微小欠陥を除外する処理４５を行い、欠陥解析の対象とする欠陥データを絞り込む。 - 特許庁

A camera signal processing circuit 200 has a defect detection circuit 211 for discriminating defect levels of defective pixels by setting a detection level.例文帳に追加

カメラ信号処理回路２００は、検出レベルの設定によって欠陥画素の欠陥レベルを判定する欠陥検出回路２１１を有する。 - 特許庁

DEFECT INPUT DEVICE, REPAIR INPUT DEVICE, DEFECT DISPLAY DEVICE, DEFECTIVE PRODUCT REPORTING SYSTEM, DEFECTIVE PRODUCT PROCESSING SYSTEM, AND PROGRAMS THEREFOR例文帳に追加

不良入力装置、修理入力装置、不良表示装置、製品不良報知システム、製品不良処理システム、及びこれらのプログラム - 特許庁

To provide a print defect checking device which dispenses with a costly device to perform sophisticated image processing when a simple print defect checking is performed.例文帳に追加

簡易な印刷不良の検査を行う場合に、高度な画像処理を実行する高価な装置が不要となる印刷不良検査装置を提供する。 - 特許庁

Quality determination between a micro defect and a macro defect is performed relative to the data by a data processing device 12, to thereby perform substrate quality determination.例文帳に追加

このデータをデータ処理装置１２により、ミクロ欠陥及びマクロ欠陥の良否判定を行い、基板良否判定を行う。 - 特許庁

To achieve an inspection correction device for efficiently performing various processing even when defect inspection or a defect correction object substrate is large-sized.例文帳に追加

欠陥検査又は欠陥修正される基板が大型化しても、各種処理を効率よく行うことができる検査修正装置を実現する。 - 特許庁

To enhance the efficiency of a matching processing between a defect image obtained by a defect review device or the like and a layout image based upon design data.例文帳に追加

欠陥レビュー装置などで取得された欠陥画像と設計データに基づくレイアウト画像とのマッチング処理の効率向上を図る。 - 特許庁

The image processing part 20 extracts a defect (crack, peeling) of the object for evaluation from the image data, and computes the size of each defect.例文帳に追加

画像処理部２０は、その画像データから評価対象物の欠陥（ひび割れ、剥離）を抽出して、各欠陥の大きさを算定する。 - 特許庁

If the surface defect inspecting device detects a surface defect of the wafer, sensor data associated with the processing of the wafer are evaluated.例文帳に追加

表面欠陥検査装置によりウェハの表面欠陥が検出された場合には、当該ウェハの処理に関するセンサデータを評価する。 - 特許庁

To provide an imaging device, a defect correction apparatus, a defect correction method, and a program, which perform correction processing of image data with high accuracy.例文帳に追加

画像データの補正処理を高精度で行うことができる撮像装置、欠陥補正装置、欠陥補正方法及びプログラムを提供すること。 - 特許庁

To provide a two-dimensional color solid-state imaging element capable of easily carrying out complement processing even on the occurrence of a longitudinal line defect or a lateral line defect.例文帳に追加

縦線欠陥や横線欠陥が発生した場合であっても、補完処理を容易に行うことができる二次元カラー固体撮像素子を得る。 - 特許庁

With the defect detecting part detecting a defect and outputting its signal to the control discriminating part 19, an interruption processing is performed.例文帳に追加

パワー設定記憶部１４の第１から第１６のメモリ領域にレーザーダイオード１１のパワー設定値Ｓ１〜Ｓ１６を記憶する。 - 特許庁

To provide a method and a device for defect detection which inspect a defect of the outward appearance of an object to be inspected through image processing.例文帳に追加

画像処理により検査対象物の外観の欠陥を検査する欠陥検出方法及び欠陥検出装置を提供するにある。 - 特許庁

An image signal from a receiver board 23 is processed by a data processing board 25, and image data on a defect is sent to a defect-image display device 15.例文帳に追加

レシーバボード２３からの画像信号をデータ処理ボード２５で処理して、欠陥の画像データを欠陥画像表示装置１５に送る。 - 特許庁

To detect a processing defect which causes the deterioration of high-density multicolor reproduction, and to perform correction in accordance with the defect.例文帳に追加

高濃度の多重色の色再現の劣化を招くプロセス不良を検出し、それに応じた補正を行う。 - 特許庁