「processing defect」に関連した英語例文の一覧と使い方(2ページ目) - Weblio英語例文検索

DEVICE AND METHOD FOR PROCESSING RECORDING MEDIUM, AND DEFECT DETECTION METHOD例文帳に追加

記録媒体処理装置及び方法、並びに欠陥検出方法 - 特許庁

WELDED PART PROCESSING DEVICE AND METHOD OF REMOVING DEFECT OF WELDING PART例文帳に追加

溶接部加工装置および溶接部の欠陥箇所除去方法 - 特許庁

METHOD FOR DEFECT DETECTING AND PROCESSING OF OPTICAL DISK AND RECORDING/REPRODUCING APPARATUS例文帳に追加

光ディスクの欠陥検出処理方法及び記録再生装置 - 特許庁

Defect map data are read in a defect map data read processing 11 and failure probability data are read in a failure probability data read processing 12.例文帳に追加

欠陥マップデータを欠陥マップデータ読出し処理１１で読み出し、不良確率データを不良確率データ読出し処理１２で読み出す。 - 特許庁

To provide a substrate processing apparatus and a substrate processing method which can prevent a defect in processing on a substrate.例文帳に追加

基板の処理不良を防止することができる基板処理装置および基板処理方法を提供する。 - 特許庁

After first defect inspection processing (step S11) for inspecting whether there is a defect on a wafer or not is performed, a defective chip is determined by the defect detected by the first defect inspection processing (steps S12, S13).例文帳に追加

ウェハ上に欠陥があるか否かを検査する第１の欠陥検査処理（ステップＳ１１）を実行した後、その第１の欠陥検査処理にて検出された欠陥により、不良チップを判定する（ステップＳ１２，Ｓ１３）。 - 特許庁

To provide an information recording and reproducing device and a processing method for defect management system format for a disk which realize shortening of a defect control format processing time when defect management format processing request is performed for a disk for which defect management format processing is not performed and a disk for which defect management format processing is already performed.例文帳に追加

欠陥管理フォーマット処理が実施されていないディスクおよび既に欠陥管理フォーマット処理が実施されているディスクに対して、欠陥管理フォーマット処理要求があった場合に、欠陥管理フォーマット処理の時間を短縮する情報記録再生装置およびディスクに対する欠陥管理システムフォーマット処理方法を提供する。 - 特許庁

The signal processing circuit 4 applies processing such as clamp processing, color signal processing, luminance signal processing, contour correction, defect compensation, and white balance correction.例文帳に追加

信号処理回路４では、画像信号に対してクランプ処理、色信号処理、輝度信号処理、輪郭補正、欠陥補償、ホワイトバランス補正などの処理が施される。 - 特許庁

To provide an image processing apparatus and an image processing method that can realize magnification processing with high image quality for suppressing occurrence of image quality defect such as blur and jaggy at a high-speed with a small processing load.例文帳に追加

ボケやジャギーなどの画質欠陥を抑制した高画質な拡大処理を、処理負荷が小さく高速に実現する。 - 特許庁

When the defect is not regenerated, compilation is performed as it is in the step including the defect like conventional processing.例文帳に追加

不良が再現しない場合は従来処理の不良箇所を含むステップにてそのままコンパイルを進める。 - 特許庁

To detect a processing defect which causes the deterioration of high-density multicolor reproduction, and to perform correction in accordance with the defect.例文帳に追加

高濃度の多重色の色再現の劣化を招くプロセス不良を検出し、それに応じた補正を行う。 - 特許庁

Next, processing 45 is performed for excluding fine defects to narrow down defect data as a target of defect analysis.例文帳に追加

次に、微小欠陥を除外する処理４５を行い、欠陥解析の対象とする欠陥データを絞り込む。 - 特許庁

To provide a substrate processing method capable of performing exposure processing with few defect and high resolution.例文帳に追加

欠陥が少なく、解像性能の高い露光処理を可能とする基板処理方法を提供する。 - 特許庁

To provide an image processing apparatus that reduces image quality defect due to image formation, and reduces image quality defect due to screen processing.例文帳に追加

画像形成に起因する画質欠陥を軽減するとともにスクリーン処理に起因する画質欠陥を軽減する画像処理装置を提供する。 - 特許庁

APPARATUS, METHOD AND PROCESSING PROGRAM FOR DETECTING DEFECT例文帳に追加

欠陥検出装置、欠陥検出方法、及び欠陥検出処理プログラム - 特許庁

The defect correction processing portion 42b set corresponding to the color processing portion 40 sets the correction level at a high level and eliminates the pixel defect properly.例文帳に追加

色処理部４０に対応して設けられた欠陥補正処理部４２ｂは、補正レベルを高く設定され、画素欠陥を好適に除去する。 - 特許庁

To provide an optical disk apparatus and a defect processing method for an optical disk by which a defect of a disk can be detected without delay and the defect can be removed.例文帳に追加

遅延なくディスクの欠陥を検出してその欠陥を除去することができる光ディスク装置及び光ディスクの欠陥処理方法を提供すること。 - 特許庁

A primary defect detection part 36 executes primary defect detection processing for detecting existence of a large defect larger than the prescribed size on an inspection object.例文帳に追加

１次欠陥検出部３６は、検査対象物上の所定サイズ以上の大欠陥の有無を検出する１次欠陥検出処理を実行する。 - 特許庁

An image processing section 24 determines whether a defect exists, whose size allows to make a defect decision by visual inspection, based on information representing the size of the defect.例文帳に追加

画像処理部２４は、欠陥の大きさを示す情報に基づいて、目視によって欠陥の判断が可能な大きさの欠陥があるかどうかを判断する。 - 特許庁

A secondary defect detection part 37 executes secondary defect detection processing for detecting a defect on the inspection object by using image data of the inspection object.例文帳に追加

２次欠陥検出部３７は、検査対象物の画像データを用いて検査対象物上の欠陥を検出する２次欠陥検出処理を実行する。 - 特許庁

To provide a defect inspection device capable of detecting a defect independently, and calculating a characteristic quantity of the detected defect, and an image processing device therefor.例文帳に追加

単独で欠陥を検出し検出した欠陥の特徴量を算出することができる欠陥検査装置及びその画像処理装置を提供する。 - 特許庁

Among defect correction processing portions 42a to 42c set in each of noise elimination processing portions 30a to 30c, the defect correction processing portion 42c set corresponding to the outline processing portion 38 sets a defect correction level at a low level and maintains an outline information.例文帳に追加

ノイズ除去処理部３０ａ〜３０ｃそれぞれに設ける欠陥補正処理部４２ａ〜４２ｃのうち、輪郭処理部３８に対応して設けられた欠陥補正処理部４２ｃは、欠陥補正レベルを低く設定され、輪郭情報を維持する。 - 特許庁

The signal processing section 34 identifies a position of a defect caused at an exposure start position of the received image data by using a defect correction pulse 186a and applies defect correction processing to the pixel data at this position to output a normal image without a defect.例文帳に追加

信号処理部34では、供給される画像データの露出開始位置に生じる傷の位置を欠陥補正パルス186aで特定してこの位置の画素データに欠陥補正処理を施して欠陥のない正常な画像を出力する。 - 特許庁

To provide a defect observation device which inputs a training defect and ideal output that is based on image processing of the training defect, and which can readily and rapidly set image processing parameters required for the classification of the defect type.例文帳に追加

教示欠陥および教示欠陥の画像処理による理想出力を入力し、欠陥種の分類に必要な画像処理パラメタの設定作業を容易かつ高速に行うことができる欠陥観察装置を提供する。 - 特許庁

In fatal defect automatic extracting processing, X line relief discrimination processing and Y line relief discrimination processing are continuously performed, X line relief discrimination processing is performed considering defect in the direction of Y line, Y line relief discrimination processing is performed considering defect in the direction of X line.例文帳に追加

致命不良自動抽出処理は、Ｘライン救済判定処理及びＹライン救済判定処理を連続して行い、Ｘライン救済判定処理はＹライン方向の不良を考慮して行い、Ｙライン救済判定処理はＸライン方向の不良を考慮して行われる。 - 特許庁

DEFECT PROCESSING METHOD OF MAGNETIC DISK DRIVE, RECORDING MEDIUM AND MAGNETIC DISK DRIVE例文帳に追加

磁気ディスク装置のディフェクト処理方法，記録媒体及び磁気ディスク装置 - 特許庁

To provide a circuit board and a system for processing a defect in a circuit board.例文帳に追加

本発明は回路基板及び回路基板の不良処理システムに関する。 - 特許庁

ENGINEERING PROCESSING METHOD OF DEFECT AND ELECTRIC CONDUCTIVITY OF CONDUCTIVE NANOSCALE STRUCTURE例文帳に追加

導電性ナノスケール構造の欠陥及び導電率の工学処理方法 - 特許庁

PHOTOMASK DEFECT CORRECTION METHOD USING ATOMIC FORCE MICROSCOPE PROCESSING DEVICE例文帳に追加

原子間力顕微鏡加工装置を用いたフォトマスク欠陥修正方法 - 特許庁

To prevent a defect in data normality confirmation processing in a server.例文帳に追加

サーバにおけるデータ正常性確認処理で生ずる不具合を防止する。 - 特許庁

The halo component in a corrected part of a white defect, re-deposition near a black defect or deposition near a white defect is removed by an electron beam processing device without damages in the corrected part of the white defect or black defect by a mask defect correcting device using ion beams or by a mask defect correcting device using electron beams.例文帳に追加

イオンビームを用いたマスク欠陥修正装置や電子ビームを用いたマスク欠陥修正装置による白欠陥もしくは黒欠陥の修正個所に対して、ダメージのない電子ビーム加工装置で白欠陥修正個所のハロー成分や黒欠陥周辺の再付着もしくは白欠陥周辺の付着を除去する。 - 特許庁

To provide a processing system for defect information and a processing method for defect information which are capable of analyzing defect information of products on a production line and quickly notifying an operator of the analyzed result.例文帳に追加

製造ラインにおける製品の不具合情報を解析し、解析結果を作業者に速やかに伝達することができる不具合情報の処理システム及び不具合情報の処理方法を提供する。 - 特許庁

To suppress generation of processing defect at the time of supplying processing liquid onto a developed substrate.例文帳に追加

現像処理後の基板上に処理液を供給する際に、処理欠陥の発生を抑制すること。 - 特許庁

A parameter for detecting a blot defect is calculated by image-processing the image data by an image processing means in an image processing process.例文帳に追加

画像処理工程では、撮像データを画像処理手段で画像処理してシミ欠陥を検出するパラメータを算出する。 - 特許庁

To achieve high speed processing by reducing defect decision time of an object, comprising extraction time of a feature point in an image processing part and the defect decision time by a data processing part.例文帳に追加

画像処理部での特徴点の抽出時間とデータ処理部による欠陥判定時間の総和から成る対象物の欠陥判定時間を減少させて高速処理を実現する。 - 特許庁

A defect area computing means conducts labeling processing for defect position information stored in a defect position-storing means 16 to compute the number and respective areas of respective defects.例文帳に追加

欠陥面積演算手段１８は欠陥位置記憶手段１６に記憶した欠陥位置情報をラベリング処理を行い、欠陥の数と個々の欠陥の面積を演算する。 - 特許庁

To prevent deterioration of performance of the processing resulting from a defect of a column.例文帳に追加

カラムの欠陥に起因する処理のパフォーマンスの低下を防止できるようにする。 - 特許庁

The defect is eliminated by scanning according to the cutting edge route determined by the AFM processing device.例文帳に追加

AFM加工装置で求めた刃先経路どおりに走査して欠陥を除去する。 - 特許庁

DEFECT REPLACING PROCESSING METHOD AND INFORMATION RECORDING AND REPRODUCING DEVICE AND RECORDING MEDIUM例文帳に追加

欠陥代替処理方法及び情報記録再生装置ならびに記録媒体 - 特許庁

IMAGE PROCESSING TO MASK LOW DROP VOLUME PRINT DEFECT IN INKJET PRINTER例文帳に追加

インクジェットプリンターにおける少液滴量による異常をマスキングする画像処理 - 特許庁

With the defect detecting part detecting a defect and outputting its signal to the control discriminating part 19, an interruption processing is performed.例文帳に追加

パワー設定記憶部１４の第１から第１６のメモリ領域にレーザーダイオード１１のパワー設定値Ｓ１〜Ｓ１６を記憶する。 - 特許庁

When a defect occurs in a certain lot, I want to narrow in on the other lots that possibly have a defect from that processing history. 例文帳に追加

あるロットで不良が発生した際に、そのロットの加工履歴から不良の可能性のある他のロットを絞り込みたい。 - Weblio Email例文集

DEFECT-INSPECTING APPARATUS, DEFECT INSPECTION METHOD, IMAGE PROCESSING APPARATUS, PROGRAM, AND COMPUTER-READABLE RECORDING MEDIUM WITH THE PROGRAM STORED例文帳に追加

欠陥検査装置、欠陥検査方法、画像処理装置、プログラム、及び該プログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体 - 特許庁

Quality determination between a micro defect and a macro defect is performed relative to the data by a data processing device 12, to thereby perform substrate quality determination.例文帳に追加

このデータをデータ処理装置１２により、ミクロ欠陥及びマクロ欠陥の良否判定を行い、基板良否判定を行う。 - 特許庁

Accordingly, image quality defect due to image formation is reduced and image quality defect due to screen processing is also reduced.例文帳に追加

これにより、画像形成に起因する画質欠陥が軽減されるとともにスクリーン処理に起因する画質欠陥が軽減される。 - 特許庁