「processing defect」に関連した英語例文の一覧と使い方(7ページ目) - Weblio英語例文検索

When the cognitive defect is determined, color inversion processing including luminance inversion is performed (steps S205, S210 and S214).例文帳に追加

認識障害になっていると判断されると、輝度反転を含めて色反転処理を施す（ステップＳ２０５、Ｓ２１０、Ｓ２１４）。 - 特許庁

To provide an image processing apparatus capable of enhancing the operability by decreasing a required time attended with pre-scanning processing and improving the convenience by carrying out required minimum recovery processing on the occurrence of a defect at the pre-scanning processing.例文帳に追加

プリスキャン処理に伴う所要時間を短縮することで操作性を向上させ、またプリスキャン処理時に不具合が生じた際に必要最小限のリカバリ処理行うことで利便性を高めることができる画像処理装置を提供する。 - 特許庁

To provide a shaft thickening processing machine and a processing method thereof by which the shortening of the processing time needed to the formation of an enlarging diameter part can be obtained without bringing about defect such as crack in a blank for a workpiece composed of a metallic bar material.例文帳に追加

金属棒材からなるワークに素材割れ等の不具合を招くことなく、拡径部の成形に要する加工時間の短縮を図ることができる軸肥大加工機及びその加工方法を提供することにある。 - 特許庁

In addition to an examining processing part 5 for pattern for examining the propriety by applying mask processing at the position of through hole or photo via/laser via, an examining processing part 6 for via is provided for recognizing a defect peculiar for the position of photo via/laser via.例文帳に追加

スルホールやフォトビア・レーザビアの位置にマスク処理を施して良否検査を行うパターン用検査処理部５に加えて，フォトビア・レーザビアの位置に特有な欠陥を認識するためのビア用検査処理部６を設けた。 - 特許庁

A market defect analyzing part 223 extracts a specific keyword from a data extracting part (not shown in drawing) on the basis of defect causes or processing contents of all of defect records of a radio device X stored in the market defect database 21, when analyzing conditions are designated, and the number of the keywords are counted by a data counting part (not shown in drawing).例文帳に追加

市場不良解析部２２３は、解析条件が指定されると、市場不良データベース２１に記憶されている無線装置Ｘの全ての不良カルテの不良原因又は処置内容を参照し、その中から特定のキーワードをデータ抽出部（不図示）により抽出し、そのキーワードの数をデータ集計部（不図示）により集計する。 - 特許庁

To provide a mobile object position detection system which eliminates a defect (defect in mobile object position detection system by GPS) that processing by radio equipment becomes complicated and the defect (defect in mobile object position detection system by a beacon) that a beacon device and a beacon receiver have to be installed apart from the radio equipment.例文帳に追加

無線装置の処理が複雑になるという欠点（ＧＰＳによる移動体位置検出方式での欠点）、ビーコン装置及びビーコン受信装置を無線装置とは別に設置しなければならないという欠点（ビーコンによる移動体位置検出方式での欠点）を除去した移動体位置検出方式を提供することを目的とする。 - 特許庁

To facilitate defect detection when a defect is present in a peripheral portion having a large luminance difference in an electronic display image quality inspection device detecting the display defect by picking up an image of the display defect in a display device such as a plasma display by a camera or the like, and binarizing an image obtained by differentiating the picked-up image by spatial differentiation processing or the like.例文帳に追加

プラズマディスプレイ等の表示装置における表示欠陥をカメラ等により撮像し、撮像画像を空間微分処理等により微分した画像を２値化することにより、表示欠陥を検出する電子ディスプレイ画質検査装置において、輝度差の大きい周辺部分に欠陥が有る場合の欠陥検出を容易にすることに有る。 - 特許庁

A device 10 which detects a defect contained in a long-size belt-like sheet 21, discharges a product 1 containing the defect as the defective 1' after cutting a long-size belt-like processing product 100 and generates a shift signal every time the processing product 100 is cut is used.例文帳に追加

長尺帯状シート２１に含まれる欠陥を検出し、該欠陥を含む製品１を、長尺帯状加工品１００の裁断後に不良品１’として排出し、かつ加工品１００を裁断するたびにシフト信号を発生させる装置１０を用いる。 - 特許庁

An analysis processing part 23 of an analyzing device 12 performs analysis processing for specifying a processor that has caused the defect based on the placement position information on the processed body in each processor 13 and defect information detected by the inspecting device 14.例文帳に追加

そして、解析装置１２における解析処理部２３が、各処理装置１３における被処理体の載置位置情報と、検査装置１４によって検出された欠陥情報とに基づいて、欠陥を生じさせた処理装置を特定する解析処理を行う。 - 特許庁

A controller (20) performs processing (20-2) in which an off-track occurrence point is detected when off-track is caused and defect determination processing (20-1) in which continuous off-track in the same point is detected and it is determined as defect (dust, scratch), in read operation, detection conditions of off-track detection processing (22-1) are relaxed.例文帳に追加

コントローラ（２０）が、オフトラック発生時に、オフトラック発生箇所を検出する処理（２０−２）と、同一箇所でオフトラックが連続したことを検出し、欠陥（ごみ、傷）と判断する欠陥判断処理（２０−１）を実行し、リード動作の場合は、オフトラック検出処理（２２−１）の検出条件を緩和する。 - 特許庁

This optical recording medium can record and reproduce data by means of a laser beam and has a defect management prevent flag that is previously recorded in the prescribed area of a read-in area to show whether a defect management or the alternation processing is needed or not.例文帳に追加

レーザ光を用いてデータの記録、再生を行なえる光学的記録媒体たる光ディスクであって、予めリードイン領域の所定の領域に、ディフェクトマネージメント若しくは交替処理が必要であるか否かを示すディフェクマネージメントプリベントフラグ（Defect Management Prevent Flag）が記録されてなる光ディスク。 - 特許庁

Receiving means 21, 21 of the receiving apparatus 2 receive the two defect compensation data superimposed on the respective carrier waves, a collection means 22 collects the received defect compensation data, and a decoding means 23 applies decode processing to the collected defect compensation data to restore the transmission data.例文帳に追加

受信装置２は、受信手段２１，２１にて夫々の搬送波に重畳された二の欠損補償データを受信し、受信した欠損補償データを収集手段２２にて収集し、収集した欠損補償データに対し、復号手段２３の復号処理にて送信データを復元する。 - 特許庁

A defect inspection method for inspecting the defect of the surface of a sample, includes the step of detecting the defect by addition processing of a detecting signal in which the amount of the misalignment of a pixel of detection signals calculated by comparing the distribution of Haze signal and predetermined light quantity distribution is corrected.例文帳に追加

試料の表面の欠陥を検査する欠陥検査方法であって、Ｈａｚｅ信号の分布と予め定めた光量分布とを比較して算出した検出信号の画素ずれ量を補正した検出信号を加算処理して欠陥を検出する工程を有する欠陥検査方法。 - 特許庁

This system is provided with a gap correcting means 103 for correcting a gap portion of a displayed image in the STN liquid crystal display by minimum filter processing, and a defect detecting means 104 for detecting the point defect portion in the STN liquid crystal display to be area-emphasis- processed in the detected point defect portion.例文帳に追加

ミニマムフィルタ処理によってＳＴＮ液晶ディスプレイの表示画像のギャップ部分を補正するギャップ補正手段１０３と、ＳＴＮ液晶ディスプレイの点欠陥部分を検出し、検出された点欠陥部分に面積強調処理を施す欠陥検出手段１０４とを設ける。 - 特許庁

This defect detection apparatus is provided with an image processor 8 that detects a defect by processing an image photographed by the surveillance camera 7, and a marking device 10 that marks the width end of the base paper sheet 2 on the downstream side of a position where the coating liquid is applied, according to a marking command signal from a controller 11 based on a defect detecting signal.例文帳に追加

監視カメラ７で撮影した画像を処理して欠陥を検出する画像処理装置８と、欠陥検出信号に基づく制御器１１からのマーキング指令信号により塗工液塗布位置の下流で原紙２の幅端部にマーキングを行うマーキング装置１０を備える。 - 特許庁

To provide an image processing method and an image processor for automatically correcting color defective areas in an image, a color-defect in particular.例文帳に追加

画像の色調不良領域、特に赤目欠陥を自動的に補正する画像処理方法および画像処理装置を提供すること。 - 特許庁

Then, data after the median filter processing are summed by each pixel and the defect of the solid-state image pickup element is decided on the basis of the sum data.例文帳に追加

そして、このフィルタ処理後のデータを各画素毎に加算し、この加算データに基づいて固体撮像素子の欠陥の判定を行う。 - 特許庁

To improve usability for a user and prevent an occurrence of a processing defect in a non-contact type IC medium processor.例文帳に追加

非接触型ＩＣ媒体処理装置において、利用者の使い勝手を向上させるとともに処理不良の発生を防止する。 - 特許庁

To reduce processing manhours due to crosstalk occurrence, to suppress area increase and power consumption increase and to reduce a product defect incidence rate.例文帳に追加

クロストーク発生による処理工数を削減し、面積増大・消費電力増大を抑制し、また、製品不良発生率を低減する。 - 特許庁

To improve safety of data recorded on a magnetic disk by conducting an alternation processing from the sector having large defect in an automatic alternation process.例文帳に追加

自動交代処理において欠陥の大きいセクタから交代処理し、磁気ディスクに記録されているデータの安全性を向上する。 - 特許庁

To provide an imaging assembly and an imaging method for processing a photosensitive medium and overcoming a conventional defect.例文帳に追加

本発明は、従来の欠点を克服する、感光媒体を処理するイメージング組立体及び方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

To rapidly detect a solid form of a solid defect on plane of a paid-out workpiece by an image processing technique.例文帳に追加

繰り出されるワークの平面上の立体的な欠陥の立体形状を画像処理技術により高速で検出できるようにする。 - 特許庁

To provide an information processing system that can prevent a defect when a bus tying a target and an initiator is reset while the target processes a command received from the initiator.例文帳に追加

ターゲットがイニシエータから受けたコマンドの処理をしている際に両者を結ぶバスがリセットされた場合の不具合を防止する。 - 特許庁

With regards to the other regions, the presence or absence of the defect is disregarded, by which a yield is improved and the processing time is shortened.例文帳に追加

その他の領域については欠陥の有無を無視することにより、歩留まりを向上させると共に処理時間を短縮する。 - 特許庁

To provide an image processing apparatus and a program, detecting defect of a blade regardless of kinds of defects, with a simple method.例文帳に追加

簡易な方法で、欠陥の種類によらずブレードの欠陥を検出することができる画像処理装置およびプログラムを提供する。 - 特許庁

To reduce light leakage accompanying laser beam processing when performing correction of a luminescent spot defect pixel of a liquid crystal display by using a laser beam.例文帳に追加

レーザ光を用いて液晶表示装置の輝点欠陥画素の修正を行うにあたり、レーザ加工に伴う光漏れを少なくする。 - 特許庁

The inorganic coating film provided through the undercoat coating film exhibits no defect such as cracking and exfoliation and is excellent in coating film adhesiveness after processing.例文帳に追加

該下塗り塗膜を介して設けられた無機系塗膜は、亀裂，剥離等の欠陥がなく、加工後にも塗膜密着性に優れている。 - 特許庁

Before a CMP processing process, a substrate defect present on a surface of an SiC substrate 1 is exposed by executing a heat treatment process.例文帳に追加

ＣＭＰ加工工程に先立ち、熱処理工程を行うことでＳｉＣ基板１の表面に存在する基板欠陥を顕在化させる。 - 特許庁

To provide a processing apparatus in which the defect of equipment known is removed, mechanical structure is simple, and operates with high reliability.例文帳に追加

知られている装置の欠点を取り除き、機械的に簡単に構成され、かつ高信頼性で作動する処理装置を提供する。 - 特許庁

An image processing device 15 inspects for a defect such as a blur or flaw of the transparent film 11 on the basis of an image of the transparent film 11.例文帳に追加

画像処理装置１５は、透明フィルム１１の画像に基づいて、透明フィルム１１の色むらや傷等の欠陥を検査する。 - 特許庁

The light reflected on the steel sheet 1 surface is received by a light receiver 5, defect detection is done by a data processing unit 6.例文帳に追加

薄鋼板１表面で反射された光は、受光器５で受光され、データ処理装置６によって欠陥の検出が行われる。 - 特許庁

To provide a synchronizing circuit for an optical disk, capable of performing an accurate synchronizing operation, and performing desired defect dealing processing.例文帳に追加

正確な同期動作を実行することができ、所望のディフェクト対応処理が可能な光ディスク装置用同期回路を提供する。 - 特許庁

Similarly, defect correction processing units 31G and 31B correct defects of image signals DGa and DBa to generate image signals DGb and DBb.例文帳に追加

欠陥補正処理部３１G,３１Bも同様に、画像信号ＤGa，ＤBaに対して欠陥補正を行い画像信号ＤGb，ＤBbを生成する。 - 特許庁

To provide a plasma etching processing method capable of reducing a work defect in the terminal edge of a large diameter wafer and raising production yield.例文帳に追加

大口径ウエハの最エッジ部での加工不良を低減し、生産歩留まりを向上できるプラズマエッチング処理方法を提供する。 - 特許庁

To provide a substrate processing device capable of excellently preventing defect caused by a process liquid dropping from a nozzle, when the nozzle is moved between a processing position and a stand-by position.例文帳に追加

ノズルが処理位置と待機位置との間を移動する際にノズルから落下する処理液によって生じる不具合を良好に防止することができる基板処理装置を提供する。 - 特許庁

Coating/developing equipment 1 provided with a development processing unit for subjecting development processing to a wafer W is provided with an inspection device 48 for detecting a defect generated in the wafer W.例文帳に追加

ウエハＷに対して現像処理を施す現像処理ユニットを具備した塗布現像処理装置１に，ウエハＷに生じた欠陥を検出する検査装置４８を備える。 - 特許庁

To provide a line concentrator capable of eliminating a defect such as concentration of jobs on a particular information processing apparatus and quickly carrying out data transfer processing.例文帳に追加

特定の情報処理装置にジョブが集中するなどの不具合を解消することができるとともに、データの転送処理を迅速に行うことができる集線装置を提供する。 - 特許庁

To provide an image processing apparatus that can avoid increase of the circuit scale and suppress the reduction of using efficiency and the reduction of processing speed when a defect of a point and line of a display panel is detected.例文帳に追加

表示パネルの点・線欠陥を検出する場合に、回路規模の増大を回避し、利用効率の低下及び処理速度の低下を抑制し得る画像処理装置を提供する。 - 特許庁

Even when a part of the processing means fails, the position where the surface defect is generated can be partly specified from information obtained by not failing processing means.例文帳に追加

これにより、一部の処理手段に故障が生じても、故障が生じていない処理手段から得られる情報から、表面欠陥の生じた位置を部分的に特定することが可能となる。 - 特許庁

To avoid the lowering of reading speed for the data in which the lowering causes a problem by a linear alternate processing of an alternate sector processing for the secondary defect sector of an optical disk.例文帳に追加

光ディスクの２次欠陥セクタの交代セクタ処理であるリニア交代処理により、読み込み速度の低下が問題となるようなデータに対し、読み込み速度の低下を回避する。 - 特許庁

To provide an on-board waterproofing antenna device structured such that waterproofing processing is facilitated and trouble such as an operation defect of a circuit board in the waterproofing processing is not caused.例文帳に追加

本発明は、車載用防水型アンテナ装置において、防水処理を簡素化するとともに、防水加工での回路基板の作動不良等の不具合を発生させない構造にすること。 - 特許庁

The crimping defect determination data forming method for determining acceptability of crimping treatment has non-defective product processing data and defective product generated processing data, stored beforehand in a terminal crimping device 21.例文帳に追加

圧着処理の良否を判定するための圧着不良判定データ作成方法は、端子圧着装置２１に良品用加工データと不良品発生用加工データが予め記憶される。 - 特許庁

To avoid the lowering of reading speed for the data in which the lowering of reading speed causes a problem by a linear alternate processing of an alternate sector processing for the secondary defect sector of an optical disk.例文帳に追加

光ディスクの２次欠陥セクタの交代セクタ処理であるリニア交代処理により、読み込み速度の低下が問題となるようなデータに対し、読み込み速度の低下を回避する。 - 特許庁

To suppress the occurrence of an image quality defect accompanied by an output of an image signal caused by edge emphasis processing, and to suppress the deterioration of productivity caused by the edge emphasis processing.例文帳に追加

エッジ強調処理による過剰な画像信号の出力に伴う画質不良の発生を抑制し、且つ、エッジ強調処理に起因する生産性の低下を抑制する。 - 特許庁

To provide an image processing method and image processing apparatus detecting a defect in an image with high accuracy when the image is printed on a recording medium or on an intermediate transfer body.例文帳に追加

記録媒体あるいは中間転写体に印刷された状態での画像における欠陥を精度良く検出することができる画像処理方法および画像処理装置を提供する。 - 特許庁