「processing defect」に関連した英語例文の一覧と使い方(6ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide an image processing LSI in which the indication on a display is not troubled even when there is a defect in one part of a RAM.例文帳に追加

ＲＡＭの一部に不良が有っても、ディスプレイの表示は不都合とならない画像処理ＬＳＩを提供する。 - 特許庁

To provide a load object processing apparatus capable of reprocessing a load object (packaged object) efficiently at the occurrence of a defect.例文帳に追加

欠陥発生時に効率良く積載物（包装物）を再処理することが可能な積載物処理装置を提供する。 - 特許庁

To provide an optical film that is easy in molding, hardly causes a film defect during processing, and has favorable transparency.例文帳に追加

成形加工が容易で、加工時のフィルム欠陥が少なく、優れた透明性を有する光学用フィルムを提供する。 - 特許庁

To provide a lithography apparatus which can make a pattern more difficult to be drawn at a defect point by more efficient processing.例文帳に追加

より効率的な処理により、欠陥箇所にパターンが描画されにくくすることが可能な描画装置を提供する。 - 特許庁

To provide a substrate processing system which allows to easily confirm a place and a cause of occurrence of data transfer defect.例文帳に追加

データ転送異常の発生箇所や発生原因を容易に確認することができる基板処理システムを提供する。 - 特許庁

To exactly prevent defect caused by collision of refresh operation and data access operation without reducing processing speed.例文帳に追加

処理速度の低下を招くことなく、リフレッシュ動作及びデータアクセス動作の衝突による不具合を確実に防止する。 - 特許庁

To provide an optical film with less film defect due to thermal deterioration in molding processing and having excellent transparency.例文帳に追加

成形加工時の熱劣化に起因するフィルム欠陥が少なく、優れた透明性を有する光学用フィルムを提供する。 - 特許庁

The processing device is automatically controlled based on the defect prevention measures to improve the factors prior to production.例文帳に追加

不良発生未然防止策に基づいて加工装置を自動的に制御して要因を改善してから生産をする。 - 特許庁

If any defective part is found out, a defect correction processing section 22 corrects the defective part to have a background color of the document.例文帳に追加

もし欠損箇所があれば、その欠損箇所は欠損補正処理部２２によって帳票の地色に補正される。 - 特許庁

To provide a defect detector for preventing defects on a substrate from being missed while performing image processing at high speed.例文帳に追加

画像処理を高速に行いつつ、基板上の欠陥の見逃しを抑制する欠陥検出装置を提供する。 - 特許庁

After that, magnetization inversion in a potential defect part is promoted by performing heating processing S20 for the medium.例文帳に追加

さらにその後、加熱処理Ｓ２０を媒体に施すことで、潜在的な欠陥部分における磁化反転を促進させる。 - 特許庁

The unevenness defect detecting method has an unevenness component emphasizing processing process for applying an unevenness component emphasizing filter to each of the pixels of a photographed image to emphasizing unevenness components and an unevenness defect detecting process for detecting the uneven defect on the basis of the unevenness components emphasized value of each of the pixels obtained in the unevenness component emphasizing processing process.例文帳に追加

ムラ欠陥検出方法は、撮像した画像の各画素に対してムラ成分強調フィルタをかけてムラ成分を強調するムラ成分強調処理工程と、前記ムラ成分強調処理工程で得られた各画素のムラ成分強調値に基づいてムラ欠陥を検出するムラ欠陥検出工程とを有する。 - 特許庁

To provide a device and method for detecting a defect of a solid-state image pickup element and a storage medium storing the program of a defect detecting method of the element, which are capable of precisely detecting a desired defect without receiving influence of a linear defect at a high output level at the time of defect detecting processing of the solid-state image pickup element.例文帳に追加

固体撮像素子の欠陥検出処理に際し、出力レベルの高い線状欠陥の影響を受けることなく、正確に所望の欠陥を検出することができる固体撮像素子の欠陥検出装置及び固体撮像素子の欠陥検出方法並びに固体撮像素子の欠陥検出方法のプログラムを格納した記憶媒体を提供する。 - 特許庁

To reduce a processing cost by holding a result (PASS/FAIL) for each check item inside and shortening a processing time when defect check is performed and classification processing of defective category is performed in a test of an integrated circuit.例文帳に追加

集積回路のテストに際して、不良チェックを行って不良カテゴリの分類処理を行う場合、チェック項目毎に結果（PASS／FAIL）を内部に保持させ、処理時間を短縮し、処理コストを低減する。 - 特許庁

To provide a battery driven type information processing terminal capable of preventing in advance the occurrence of a defect in prescribed information processing caused by a power failure by surely inhibiting particular information processing when a residual capacity of a battery is decreased to a warning level.例文帳に追加

バッテリの残量が警告レベルまで低下した際には特定の情報処理を確実に禁止して、電断による特定の情報処理で不具合が発生するのを未然に防止する。 - 特許庁

This device is provided independently with a detection signal processing circuit for forming a large current high-speed image for detecting the existence of the defect, and a detection signal processing circuit for forming an image of a specified narrow portion detected by the defect detecting inspection hereinbefore.例文帳に追加

欠陥の存在を検出する為の大電流高速画像形成用の検出信号処理回路と、この欠陥検出検査により検出された特定の狭い部位の画像形成用の検出信号処理回路とを独立に設ける。 - 特許庁

As a result, in the wafer treatment processing 100, the Si+ ions introduced at the ion implantation processing 120 are bonded to a vacant lattice defects, produced in the ion implantation process 110, thereby crystal defect generation caused by the vacant lattice defect is prevented.例文帳に追加

結果として，ウェハ処理工程１００では，イオン注入工程１２０で導入されたＳｉ＋イオンが，イオン注入工程１１０で生じる空格子欠陥と結合し，空格子欠陥に起因する結晶欠陥の発生が抑制される。 - 特許庁

The circuit pattern inspection device independently has a detection signal processing circuit for forming a large current high-speed image for detecting the presence of the defect, and a detection signal processing circuit for forming an image in a specific narrow part detected by this defect detecting inspection.例文帳に追加

欠陥の存在を検出する為の大電流高速画像形成用の検出信号処理回路と、この欠陥検出検査により検出された特定の狭い部位の画像形成用の検出信号処理回路とを独立に設ける。 - 特許庁

Consequently, it is simply required to confirm the fact that a defect is not generated in the nominal image under a state where both correction processing A and correction processing B are performed.例文帳に追加

よって、補正処理Ａと補正処理Ｂの双方を実施した状態のノミナル画像にディフェクトが発生していないことだけを事前に確認しておけば良い。 - 特許庁

To provide a visual inspection device equipped with an image processing device capable of performing defect detection processing highly accurately, even when the image width of an input image is changed.例文帳に追加

入力画像の画像幅が変化しても、高い精度にて欠陥検出処理を行うことができる画像処理装置を備えた外観検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a packaged body processing device capable of quickly specifying a unit when a defect is generated on the unit for holding a packaged body and processing the same.例文帳に追加

包装体を保持し加工を施すユニットに不具合が発生したときに、このユニットを迅速に特定できる包装体処理装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

To estimate a responsible process with sufficient precision by simple processing to present an improvement scheme when a quality defect occurs in a product to be produced through processing in a plurality of processes.例文帳に追加

複数工程での処理を経て生産される製品に品質欠陥が発生したときに、簡潔な処理で精度良く原因工程を推定し、改善案を提示する。 - 特許庁

To provide an image processing apparatus that obtains high-quality images which have been subjected to proper defect-correction and scaling processing, and achieves reduction in circuit scale and low power consumption.例文帳に追加

適切なキズ補正及びスケーリング処理を経た高品質な画像が得られ、回路規模の削減及び低消費電力化を可能とする画像処理装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a signal processing circuit capable of easily detecting both a single defect and consecutive defects, and to provide an imaging device with the signal processing circuit.例文帳に追加

単独欠陥の検出であっても連続欠陥の検出であっても容易に検出することができる信号処理回路及びそれを備えた撮像装置を提供すること。 - 特許庁

To provide an inspecting device for a shape defect, etc., which can detect a defect of a printed board surface as to many items and a defect on the mounted board such as component absence, polarity inversion, a wrong article name, and fitting abnormality more speedily and automatically through optical processing.例文帳に追加

多項目のプリント基板表面の欠陥、また、実装基板上での部品欠落、極性反転、品名相違、取付異状、などの欠陥を、光学的処理により迅速、かつ、自動的に検出することができる形状欠陥等の検査装置を提供する。 - 特許庁

A crystal defect formed in the drift region 4 includes a crystal defect of a trap level generated by performing termination processing to the crystal defect formed in a region of <0.2 eV in an energy difference from the center of a band gap.例文帳に追加

ドリフト領域４内に形成されている結晶欠陥には、バンドギャップの中心からのエネルギー差が０．２ｅＶ未満の領域内に形成されている結晶欠陥を終端処理することにより生じるトラップ準位の結晶欠陥が含まれている。 - 特許庁

If resetting is done during defect information update, the processing is immediately ended without reading the medium information recorded on the control track and the defect information recorded in the DMA.例文帳に追加

また、欠陥情報更新中にリセットがかけられた場合は、コントロールトラックに記録された媒体情報及びＤＭＡに記録された欠陥情報の読み出しを行わないで、直ちに処理を終了する。 - 特許庁

The defect is preferably detected by employing one or more of an image processing method, a leakage flux method, and an operational abnormality and defect detecting method as a detection means.例文帳に追加

前記欠陥検出手段としては、画像処理法、漏洩磁束法及び連続鋳造中の操業異常欠陥検知法の１以上の手段により欠陥を検出することが好ましい。 - 特許庁

The 1st defect judging means in a signal processing circuit board 21 judges the presence of defect based on electric signal information transmitted from lightreceiving elements 19, 20 consisting of a one-dimensional sensor.例文帳に追加

信号処理回路基板２１内の第１の欠点有無判定手段は、一次元センサである受光素子１９，２０から得られる電気信号情報に基づいて欠点有無の判定を行なう。 - 特許庁

A part 9 for inspecting recording defect inspects the recording defect in recording processing to the back surface of the recording medium on the basis of the reference image data, the first inspection image data and the second inspection image data.例文帳に追加

記録不良検査部９は、基準画像データ、第一の検査画像データ、及び第二の検査画像データに基づいて、当該記録媒体の裏面に対する記録処理での記録不良を検査する。 - 特許庁

When the surface defect inspecting device detects the surface defect of the wafer and it is decided through the evaluation of the sensor data that the sensor data are abnormal, it is decided that the coating development processing equipment is abnormal.例文帳に追加

そして、表面欠陥検査装置によりウェハの表面欠陥が検出され、なおかつセンサデータの評価によりセンサデータが異常と判定された場合に、塗布現像処理装置を異常と判定する。 - 特許庁

To provide a device and a method for inspecting a surface, capable of inspecting a defect on the surface of a substrate under the most suitable condition for a device to extract the defect by picture processing.例文帳に追加

画像処理により欠陥を抽出する装置にとって最適な装置条件の下で、基板の表面の欠陥検査を行える表面検査装置、および表面検査方法を提供する。 - 特許庁

A signal processing circuit 105 refers to the pixel defect information from the FROM 112 and corrects the pixel defect in accordance with a driving mode by which the drive circuit 113 drives the CCD image pickup element 101.例文帳に追加

信号処理回路１０５は、駆動回路１１３がＣＣＤ撮像素子１０１を駆動する駆動モードに応じてＦＲＯＭ１１２より画素欠陥情報を参照して画素欠陥の補正を行う。 - 特許庁

When the comparison circuit 43 judges the weaving stop state of the loom, the output circuit 39 cancels the judgement of the presence of defect made by a defect judging means included in the signal processing circuit board 21.例文帳に追加

比較回路４３が製織停止状態と判定したときには出力回路３９は、信号処理回路基板２１に含まれる欠点有無判定手段の欠点有りの判定を無効化する。 - 特許庁

An image processing device 5 sets a defect candidate slice level, based on an image example of a reference sample including defects with respect to the differential interference images and selects defect candidates from among the differential interference images.例文帳に追加

画像処理装置５では、この微分干渉画像に対して欠陥を含むレファレンスサンプルの画像例に基づく欠陥候補スライスレベルを設定し、微分干渉画像から欠陥候補を選定する。 - 特許庁

As for the observation mark M_3, a direction line m_3" points to a defect part section A_0 so as to show that the section A_0 (sample processing part) of a defect part A exists in the right direction, viewing from the mark M_3.例文帳に追加

観察用マークＭ_３は、そのマークＭ_３から見て右方向に欠陥部分Ａの断面Ａ_０（試料加工部）があることが分かるように、方向線ｍ_３”は欠陥部分断面Ａ_０の方を指している。 - 特許庁

Since the sign of the luminance information of the image is inverted by the sum-of-squares processing, a bright ring-like image part is formed along the periphery of the edge of the defect, and the image of the defect free from directivity is picked up.例文帳に追加

２乗和処理により、画像の輝度情報の符号が反転するので、欠陥のエッジの周囲にそって明のリング状の画像部分が形成され、方向性の無い欠陥像が撮像される。 - 特許庁

To provide substrate processing method capable of suppressing the generation of device defect, in a device manufacturing method comprising a liquid immersion exposure process.例文帳に追加

液浸露光工程を含むデバイス製造工程において、デバイス欠陥の発生を抑制できる基板処理方法を提供する。 - 特許庁

To provide a photosensitive material processing apparatus that does not cause a coating defect and is used while the developability is stable for a long time.例文帳に追加

塗布欠陥が無く、長期間現像性が安定して使用可能な感光材料処理装置を提供することにある。 - 特許庁

The image signal associated with the white pixel defect is corrected through subtraction processing using an added value added to the image signal by a defective pixel.例文帳に追加

欠陥画素により画像信号に上乗せされた上乗値の減算処理により白傷に係る画像信号を補正する。 - 特許庁

To reduce the processing load while diagnosing the defect of a storage device provided in a device that controls an electric power steering device.例文帳に追加

電動パワーステアリング装置を制御する装置が有する記憶装置の不具合を診断する際の処理負荷を低減すること。 - 特許庁

To suppress deterioration of productivity in an image forming apparatus, while preventing a defect to occur in performing post-processing.例文帳に追加

後処理を行う際に生じ得る不具合を防止しつつ、画像形成装置の生産性の低下を抑制できるようにする。 - 特許庁

To provide a disk drive capable of processing even a disk in which a defect exists without degrading the reliability thereof.例文帳に追加

欠陥が存在するディスクであっても信頼性を低下させることなく処理することが可能なディスク装置を提供すること。 - 特許庁

APPARATUS FOR TESTING DEFECT OF SHEET-SHAPED PRODUCT HAVING OPTICAL FILM, APPARATUS FOR PROCESSING TEST DATA THEREOF, APPARATUS FOR CUTTING SAME, AND PRODUCTION SYSTEM THEREOF例文帳に追加

光学フィルムを有するシート状製品の欠点検査装置、その検査データ処理装置、その切断装置及びその製造システム - 特許庁

Image data obtained by imaging the reproduced model defect by an imaging means of the inspection device are acquired in an image processing process.例文帳に追加

撮像工程において、再現されたモデル欠陥を検査装置の撮像手段によって撮像した撮像データを取得する。 - 特許庁