「processing defect」に関連した英語例文の一覧と使い方(11ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a device for processing data correction which corrects a defect of defective data from a defective photoelectric converting element at high speed and whose circuit scale can be made small.例文帳に追加

欠陥のある光電変換素子からの欠陥画素データの欠陥補正を高速に行い且つ回路規模を小さくすることが可能なデータ補正処理装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method for manufacturing an optical fiber coupler which can reduce a return loss defect of an unnecessary port by efficiently performing termination processing of the unnecessary port.例文帳に追加

不要ポートの終端加工を効率的に行うことによって、不要ポートの反射減衰量不良を低減することができる光ファイバカプラの製造方法を提供する。 - 特許庁

When slit processing is performed, the collected thickness and defect data are allocated to slit-processed product in accordance with the positions of the slits to decide quality (S107).例文帳に追加

スリット加工が行なわれると、そのスリットの部位に応じて収集された厚みおよび欠点データがスリット後の製品に割付けられ、品質の判定が行なわれる（Ｓ１０７）。 - 特許庁

To surely prevent a defect of precision of a form at a corner due to a delay in follow-up of a plasma arc processing machine and a delay of cutting of a lower part of a cutting surface without generating a waste of material.例文帳に追加

材料の無駄を生じずに、加工機の追従遅れや切断面下部の切断遅れに起因するコーナ部での形状精度不良を確実に防止する。 - 特許庁

Consequently, in-plane unevenness is suppressed in all density regions and image quality defect (e.g. false contour line) caused by in-plane unevenness correction processing can be prevented from being actualized.例文帳に追加

これにより、全ての濃度領域における面内むらを抑制し、かつ、面内むら補正処理に起因する画質欠陥（擬似輪郭など）の顕在化を防止することができる。 - 特許庁

The reticle pattern is replaced as coordinate data by a certain means and the pattern defect is extracted by differential processing of this coordinate data and CAD coordinate data.例文帳に追加

レチクル検査装置では、レチクルパターンを何らかの手段で座標データとして置き換え、その座標データとＣＡＤ座標データとの差分処理よりパターン欠陥を抽出する。 - 特許庁

In the method for repairing the electrically semiconductive belt containing electrically conductive substances in a resin, the part having formal defect in the electrically semiconductive belt is flattened by heating processing.例文帳に追加

樹脂中に導電性物質を含有する半導電性ベルトの形状的な欠陥部分を加熱処理して平坦化させる半導電性ベルトの修正方法。 - 特許庁

To provide an element which prevents a crystal defect due to damage generated during etching processing from propagating to an active layer by a current conducting operation and has a long operation lifetime.例文帳に追加

エッチング加工時に生じた損傷による結晶欠陥が、通電動作によって活性層に伝播することを防ぎ、動作寿命の長い素子を提供する。 - 特許庁

To provide an image processor for quickly processing image data with a large capacity to be able to detect the defect of a work without using any exclusive hardware.例文帳に追加

専用のハードウエアを用いることなく、しかも高速かつ大容量で画像データを処理してワークの欠陥の検出を行なうことが可能な画像処理装置を提供する。 - 特許庁

To prevent occurrence of an image defect by suppressing deformation of a screen pattern when an image processing is applied to compensate misalignment for an image which is already screen processed.例文帳に追加

スクリーン処理済みの画像に対してレジずれを補正するための画像処理を施した場合におけるスクリーンパターンの変形を抑制し、画質欠陥の発生を防止する。 - 特許庁

In the defect inspection method, the surface of a wafer 7 is photographed by a differential interference microscope, and the number of defects observed on the surface is counted by image processing.例文帳に追加

ウェーハ７の表面を微分干渉顕微鏡で撮影し、画像処理によって表面に観察される欠陥の個数を計数する欠陥検査方法である。 - 特許庁

To provide a system and a method which efficiently investigates the cause of a defect occurred in continuously processing a plurality of products, using a cheap apparatus.例文帳に追加

複数の製品を連続して加工する際に発生する不具合の発生原因を安価な装置を用いて効率的に究明可能とするシステム、及び方法を提供する。 - 特許庁

Only a defect image part is extracted by a difference processing of an absorption current image of inspection wiring and a reference wiring pattern image, and it is overlapped with an SEM image.例文帳に追加

検査配線の吸収電流像と、基準配線パターン像との差分処理で欠陥像部分のみを抽出し、さらにこれをＳＥＭ像に重畳する。 - 特許庁

A shape to be generated by the processing according to the cutter location simulation is predicted by using cutting simulation, transfer simulation is conducted for the predicted shape after processing, and fulfillment of a required transmittance value on a processed position is confirmed, and then the defect is eliminated by processing according to the cutter location simulation.例文帳に追加

カッターロケーションシミュレーションどおり加工したときの形状を切削シミュレーションで予測し、予測した加工後の形状に対して転写シミュレーションを行い加工個所の透過率が必要とされる値を満たすことを確認してからカッターロケーションシミュレーションどおりに加工して欠陥を除去する。 - 特許庁

When there is a defect in any of the equipment side and terminal connection side after terminal connection processing, the flexible wiring board 1 after peel processing is cut off along the cut off space 6, and part of the board side connection terminal 5 is isolated from the flexible wiring board 1 after peel processing.例文帳に追加

端子接続処理後の機器側および端子接続側のいずれかに不良がある場合に、剥離処理後のフレキシブル配線基板１を切断スペース６に沿って切断して、剥離処理後のフレキシブル配線基板１から基板側接続端子５の部分を切り離す。 - 特許庁

To provide a shielded electric wire braid processing device and a braid processing method that can surely remove cutting wastes after cutting the braid of a shielded electric wire and that can prevent the occurrence of failures including a cutting defect arising from cutting wastes remaining in the braid processing device.例文帳に追加

シールド電線の編組を切断した後の切断屑を確実に除去することができ、編組処理装置に残留した切断屑に起因する切断不良等の不具合の発生を防止することができるシールド電線の編組処理装置及び編組処理方法を提供すること。 - 特許庁

A weighted operation means 404 performs operation processing by applying optional weighting respectively to the projection data of the defect inspection object of this time which is obtained in the means 403 and shading correction data used for correction processing to the preceding processing object.例文帳に追加

重み付け演算手段４０４は、射影取得手段４０３にて得られた今回の欠陥検査対象物の射影データと、前回の処理対象物に対する補正処理に用いたシェーディング補正データとのそれぞれに対して任意の重み付けを行なっての演算処理を行なう。 - 特許庁

Therein, a part of a defect or the like contained in the polarizing film is cut and removed in the cutting process and, moreover, a time delayed by the processing is reduced by adjusting the processing speed of at least the cutting mechanism side among respective processing mechanisms disposed in the cutting process and the attachment process.例文帳に追加

このとき、偏光フィルムに含まれる欠損などの部分を切断工程で切断除去しつつも、この処理により遅延する時間を切断工程と貼合せ工程に備わった各処理機構のうち、少なくとも切断機構側の処理機構の処理速度を調節して短縮する。 - 特許庁

To provide an image processing unit that can set a size of received image data and a size of an area for the processing in the unit of pixels and can apply prescribed processing to a set area without the need for a defect of pixels and addition of undesired pixels required substantially even in the occasion.例文帳に追加

入力される画像データのサイズおよび処理を行う領域のサイズを画素単位で設定可能であり、その場合でも本来必要な画素の欠落や不要な画素の付加が発生することなく、設定された領域に対して所定の処理が可能な画像処理装置を提供する。 - 特許庁

At retry time, prescribed improvement processing is executed in periods GS to GE in such a manner that the periods HS to HE (or a period (y)) of defect signals included in an RF signal are included based on the position information of the data having an error in retrying and that the defect processing signal G is generated only in the periods GS to GE prior to the start of the period.例文帳に追加

本発明では、リトライ時に、誤りのあるデータの位置情報に基づき、ＲＦ信号に含まれる欠陥信号の期間ＨＳ〜ＨＥ（あるいは期間ｙ）を含むように、かつ、その期間が開始される前に欠陥処理信号Ｇが期間ＧＳ〜ＧＥだけ生成され、そのＧＳ〜ＧＥの期間所定の改善処理が実行される。 - 特許庁

Each TFT identifier 101 is imparted to a mother TFT substrate 3 before casting of a mother TFT substrate manufacturing step 610 to perform processing and defect inspection 611 and each CF identifier 102 is imparted to a mother CF (color filter) substrate 4 before casting of a mother CF substrate manufacturing step 620 to perform processing and defect inspection 621.例文帳に追加

ＴＦＴ識別子１０１をマザーＴＦＴ基板製造工程６１０の投入前のマザーＴＦＴ基板３に付与して各処理及び欠陥検査６１１を行い、ＣＦ識別子１０２をマザーＣＦ（カラーフィルター）基板製造工程６２０の投入前のマザーＣＦ基板４に付与して各処理及び欠陥検査６２１を行う。 - 特許庁

This defect inspection device is provided with a camera 12 picking up an image of a transparent sheet film 1 and an image processing device 14 detecting foreign matter 19 of the transparent film 1 by processing the pick-up image.例文帳に追加

透明シート状の透明フィルム１の画像を撮像するカメラ１２と、撮像された画像を画像処理を行うことにより透明フィルム１の異物１９を検出する画像処理装置１４とを有する欠陥検査装置である。 - 特許庁

To provide a slot type optical cable capable of facilitating terminal processing work, and reducing a defect of scratching a coated optical fiber during terminal processing work.例文帳に追加

端末処理作業を容易に行うことができ作業性を向上させることができるとともに、端末処理作業時に光ファイバテープ心線を傷つけるという不具合を低減させることができるスロット型光ケーブルを提供する。 - 特許庁

To provide: a dicing operation device that suppresses a defect occurrence rate in an LSI mounting step and enhances processing precision in manufacture; a semiconductor device component constituting method; and a method for recognizing a level difference formed with an object of dicing processing.例文帳に追加

ＬＳＩ実装工程における不具合発生率の抑止と製造時の加工精度を高めたダイシング作業装置と半導体装置部品構成方法、並びにダイシング処理対象物との段差認識方法を提供する。 - 特許庁

To provide a technique for preventing a problem such as deterioration due to a defect of an image or the like due to truncation with a simple circuit even when encoding processing incapable of truncation is used for compression processing of gradation data.例文帳に追加

階調データの圧縮処理に、打ち切りのできない符号化処理を用いた場合であっても、簡単な回路にて、打ち切りによる画像の欠損等による劣化などの問題を防止する為の技術を提供すること。 - 特許庁

To detect error of excessive defect number of a disk-type recording medium at the earliest stage of format processing, when the recording medium cannot be used by the error of excessive number of defects for performing format processing.例文帳に追加

ディスク型記録媒体のフォーマット処理を行う際に、その記録媒体が欠陥個数オーバーエラーによって使用不可である場合は、フォーマット処理のできるだけ早い段階で欠陥個数オーバーエラーが検出されるようにする。 - 特許庁

The part having been unable to be acquired can efficiently be acquired because decode processing is applied to only the part unable to be acquired by applying again scan processing to the part unable to be decoded due to a temporary operation defect or the like of a scanner.例文帳に追加

スキャナ装置の一時的な動作不良などによって復号化できなかった部分について再度スキャン処理を行うことによって取得できない部分だけを復号化処理するので効率良く取得することができる。 - 特許庁

The defect correcting device correcting or removing a protrusion defect 53 is equipped with: a stage 14 holding a workpiece 13; a polishing unit carrying out polishing processing; and a moving means moving the polishing unit in a direction orthogonal to a traveling direction of a polishing tape 42 in regard to the workpiece 13 on the stage 14.例文帳に追加

突起欠陥５３を修正又は除去する欠陥修正装置であり、ワーク１３を保持するステージ１４と、研磨処理を行う研磨ユニットと、研磨ユニットを、ステージ１４のワーク１３に対して、研磨テープ４２の走行方向と直交する方向に移動させる移動手段とを具える。 - 特許庁

To provide a defective pixel detection method and an image processing apparatus, which can accurately detect a position, in which image correction is required, to accurately perform image correction even in the case where normal pixels adjacent to a line defect generate abnormal output signals due to an influence of the line defect.例文帳に追加

線欠陥の影響により、隣接する正常な画素が異常な出力信号を発生する場合でも、画像補正が必要な箇所を正確に検出し、正確に画像補正することができる欠陥画素検出方法および画像処理装置を提供する。 - 特許庁

To solve the problem, wherein it is difficult to detect a plurality of defect kinds at the same time under a single integrated condition, and when a plurality of defects are detected by handling the defect as multidimensional feature quantity, the calculation cost required in signal processing increases together with the increase in the number of detectors.例文帳に追加

単一の統合条件においては複数の欠陥種を同時に検出することは困難であり、また、多次元の特徴量として扱って複数の欠陥を検出すると、信号処理にかかる計算コストが検出器の増加とともに増大するという問題が発生する。 - 特許庁

To provide a method and device for converting pattern data never causing the unexpected increase in data capacity even in the conversion of CAD data for a drawing machine to pattern data for a defect inspecting machine or the reduction in processing speed of the defect inspecting machine by an unnecessary region division.例文帳に追加

描画機用のＣＡＤデータを欠陥検査機用の図形データに変換してもデータ容量が不用意に増大したり不要な領域分割によって欠陥検査機の処理速度が低下したりすることのない図形データ変換方法およびデータ変換装置を提供すること。 - 特許庁

To observe a defect efficiently in a short time without lowering a detection rate by improving a processing procedure of detect detection or the like so that a reutilization rate of a recorded reference image is raised, when inspecting in detail by enlarging a defect portion or the like.例文帳に追加

欠陥部分を拡大するなどして詳細に検査するときに、記録した参照画像の再利用率があがるように欠陥検出の処理手順などを改良することで、検出率を下げずに短時間に効率よく欠陥を観察することができるようにする。 - 特許庁

The method and device inspect the defect generated in the outward appearance of the object to be inspected through the image processing and the defect is detected by comparing image data at respective inspection points of the object to be inspected with a specific mean value.例文帳に追加

検査対象物の外観に生じている欠陥を画像処理により検査する欠陥検出方法及び欠陥検出装置であって、検査対象物の各検査ポイントにおける画像データを、所定の平均値と比較することにより欠陥を検出するものである。 - 特許庁

The information recording device includes an initialization processing section 1072 which, during the physical reformatting of the information recording medium, while maintaining at least the defect location information among the defect management information, rewrites the defective status information with attributes indicating that the said defective area has been physically reformatted.例文帳に追加

情報記録装置は、情報記録媒体の物理再フォーマット時に、欠陥管理情報のうち少なくとも欠陥位置情報を維持する一方、欠陥状態情報を、当該欠陥領域に対して物理再フォーマットを行った旨を示す属性に書き換える初期化処理部１０７２を備える。 - 特許庁

The TFT array inspection device 1 for inspecting a TFT array based on two-dimensional measured data obtained by driving each pixel of a TFT substrate 2, comprises a data processing means 5 determining a defect point of line defect from the two-dimensional measured data of the TFT substrate 2.例文帳に追加

ＴＦＴアレイ検査装置１は、ＴＦＴ基板２の各画素を駆動して得られる二次元の測定データに基づいてＴＦＴアレイを検査するＴＦＴアレイ検査装置において、ＴＦＴ基板２の二次元の測定データから線欠陥の欠陥点を求めるデータ処理手段５を備える。 - 特許庁

To provide a method for determining a correlation value of an object to be inspected, which determines the correlation value unlimitedly close to the measured value of the object to be inspected, namely the optimum threshold in the binarization on the side of image processing, and to provide a defect inspection method using the same and a defect inspection apparatus therefor.例文帳に追加

被検査対象の実測値に限りなく近い相関値、即ち、画像処理側での２値化における最適な閾値を決定する被検査対象相関値決定方法、及びこの方法を用いた欠陥検査方法とその欠陥検査装置を提供するものである。 - 特許庁

The reflected light 12 is received by the first detection means 6 independently of the light receiving element 4, and thereby the tilt angle of the irregularity defect 8 is measured by an image processing device 17, and the height or the depth of the irregularity defect 8 is measured by triangulation from the measurement result.例文帳に追加

第１の検出手段６によって受光素子４とは別に反射光１２を受光することで、画像処理装置１７によって、凹凸欠陥８の傾斜角度を計測したうえで、その計測結果から三角測量によって凹凸欠陥８の高さあるいは深さを計測する。 - 特許庁

A correction similar to the correction of irradiated region with respect to the pattern matching processing from the usual secondary ion image or secondary electron image of the ion beam defect correcting device is performed and a defect region 3b which is extracted by the AFM and is subjected to fine adjustment by the conformation of the pattern for alignment is corrected by ion beams 8.例文帳に追加

イオンビーム欠陥修正装置の通常の二次イオン像もしくは二次電子像からのパターンマッチング加工に対する照射領域の補正と同様な補正を行い、AFMで抽出し、位置合わせ用のパターンの合わせ込みで微調整された欠陥領域3bをイオンビーム8で修正する。 - 特許庁

The defect inspection device for processing image information imaging an inspection object having a prescribed area to be inspected by a plurality of area sensors and discriminating a defect based on a characteristic amount calculated from brightness change in the area includes correction means between characteristic amount imaging systems for correcting the difference between the characteristic amounts to the same defect between the plurality of the area sensors in each area sensor.例文帳に追加

所定の被検査エリアを有する検査対象を、複数のエリアセンサにより撮像した画像情報を処理し、前記エリア内の輝度変化から計算した特徴量に基づいて欠陥を識別する欠陥検査装置において、 前記複数のエリアセンサ間の同一欠陥に対する特徴量の差を補正する、特徴量撮像系間補正手段を前記エリアセンサ毎に備える。 - 特許庁

A detect detection device 3 includes a detection unit 30B for processing blue image data D_B from the camera C1, a detection unit 30R for processing red image data D_R from the camera C1, and a detection unit 30BL for processing monochrome image data D_BL from the camera C2 as a detection unit for performing processing for defect detection.例文帳に追加

欠陥検出装置３には欠陥検出のための処理を行う検出部として、カメラＣ１からの青色画像データＤ_Ｂを処理する検出部３０Ｂと、カメラＣ１からの赤色画像データＤ_Ｒを処理する検出部３０Ｒと、カメラＣ２からのモノクロ画像データＤ_ＢＬを処理する検出部３０ＢＬとが設けられる。 - 特許庁

To prevent a sheet carrying defect accompanied by forgetting to remove the remains like fragments of sheets by effectively avoiding the situation that the remains remain in a drawer unit due to a failure of jam processing procedures.例文帳に追加

ジャム処理手順ミスにより、ドロワユニット内にシートの切れ片等の残骸が残存する事態を有効に回避し、もって、残骸除去忘れに伴うシートの搬送不良を防止する。 - 特許庁

To reduce test time when defect check of a bit line or a sense amplifier is performed in a wafer test of a NAND flash memory, and furthermore extremely reduce the test time through parallel processing of a plurality of chips.例文帳に追加

NAND型フラッシュメモリのウェハテストに際してビット線またはセンスアンプの不良チェックを行う場合に、テスト時間を短縮し、複数チップの並列処理によりテスト時間を大幅に縮める。 - 特許庁

To provide an image signal processing apparatus to process an image signal from an imaging element which eliminates noise of the defect correction or the like and conducts both a resolution maintenance and an outline correction properly.例文帳に追加

撮像素子からの画像信号を処理する画像信号処理装置において、欠陥補正等のノイズ除去と、解像度維持や輪郭補正との両方を好適に行うことが難しい。 - 特許庁

An image processing means 15 processes an image of a transparent object 3 imaged by an image pick-up means 14, and detects a defect of the transparent object 3 containing a dotlike printing portion in its one portion.例文帳に追加

画像処理手段１５は、撮像手段１４によって撮像された透明体３の画像を処理し、ドット状プリント部分を一部に含む透明体３の欠点を検出する。 - 特許庁

A range detected as the defect by image processing is defined by a marking pattern M by the projected image in the area RP among a surface of the workpiece W0 with regard to the projection.例文帳に追加

この投影により、ワークＷ０の表面のうち、画像処理により欠陥として検出された範囲が、領域ＲＰの投影像によるマーキングパターンＭにより明示される。 - 特許庁