semiconductor parameterとは 意味・読み方・使い方

VERIFYING METHOD OF DESIGN PARAMETER OF SEMICONDUCTOR AND MANUFACTURING METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体装置の設計パラメータの検証方法及び半導体装置の製造方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR MANUFACTURING DEVICE AND MANAGING METHOD FOR OPERATION CONDITION PARAMETER THEREOF例文帳に追加

半導体製造装置及びその動作条件パラメータの管理方法 - 特許庁

PARAMETER EXTRACTION PROGRAM AND METHOD FOR MANUFACTURING SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

パラメータ抽出プログラムおよび半導体集積回路の製造方法 - 特許庁

Loss of the semiconductor element is calculated (S9) from the parameter data of the equivalent circuit of semiconductor element, the parasitic parameter data of the circuit and the basic parameters of the circuit.例文帳に追加

半導体素子等価回路パラメータデータと回路寄生パラメータデータと回路基本パラメータから，半導体素子損失を算出する。 - 特許庁

Firstly, diffusion parameter values of a semiconductor device are obtained on the way of manufacturing the semiconductor device.例文帳に追加

まず、半導体装置の製造途中で、半導体装置の拡散パラメータの値が取得される。 - 特許庁

METHOD FOR EXTRACTING PARAMETER OF SEMICONDUCTOR DEVICE AND METHOD FOR MANUFACTURING SEMICONDUCTOR DEVICE AND PROGRAM例文帳に追加

半導体装置のパラメータ抽出方法及び半導体装置の製造方法並びにプログラム - 特許庁

(a) The position-dependent measuring of a parameter characterizing a semiconductor wafer 5 is performed to determine a position-dependent value of the parameter over an entire surface of the semiconductor wafer 5.例文帳に追加

ａ）半導体ウェハ５の特性を表すパラメータを位置に依存して測定し、ウェハ５の面全体で位置に依存するパラメータ値を求める。 - 特許庁

Various kinds of parameter values collected from a semiconductor manufacturing device 4 are stored in a parameter history database 24.例文帳に追加

半導体製造装置４から収集される各種パラメータ値はパラメータ履歴データベース２４に蓄積される。 - 特許庁