「semiconductor parameter」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

METHOD OF MANUFACTURING SEMICONDUCTOR DEVICE, AND PROGRAM FOR FORMING EXPOSURE PARAMETER例文帳に追加

半導体装置製造方法および露光パラメータ作成プログラム - 特許庁

PARAMETER ADJUSTING METHOD, SEMICONDUCTOR DEVICE MANUFACTURING METHOD AND PROGRAM例文帳に追加

パラメータ調整方法、半導体装置製造方法およびプログラム - 特許庁

VERIFYING METHOD OF DESIGN PARAMETER OF SEMICONDUCTOR AND MANUFACTURING METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体装置の設計パラメータの検証方法及び半導体装置の製造方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR MANUFACTURING DEVICE AND MANAGING METHOD FOR OPERATION CONDITION PARAMETER THEREOF例文帳に追加

半導体製造装置及びその動作条件パラメータの管理方法 - 特許庁

PARAMETER EXTRACTION PROGRAM AND METHOD FOR MANUFACTURING SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

パラメータ抽出プログラムおよび半導体集積回路の製造方法 - 特許庁

Loss of the semiconductor element is calculated (S9) from the parameter data of the equivalent circuit of semiconductor element, the parasitic parameter data of the circuit and the basic parameters of the circuit.例文帳に追加

半導体素子等価回路パラメータデータと回路寄生パラメータデータと回路基本パラメータから，半導体素子損失を算出する。 - 特許庁

Firstly, diffusion parameter values of a semiconductor device are obtained on the way of manufacturing the semiconductor device.例文帳に追加

まず、半導体装置の製造途中で、半導体装置の拡散パラメータの値が取得される。 - 特許庁

METHOD FOR EXTRACTING PARAMETER OF SEMICONDUCTOR DEVICE AND METHOD FOR MANUFACTURING SEMICONDUCTOR DEVICE AND PROGRAM例文帳に追加

半導体装置のパラメータ抽出方法及び半導体装置の製造方法並びにプログラム - 特許庁

(a) The position-dependent measuring of a parameter characterizing a semiconductor wafer 5 is performed to determine a position-dependent value of the parameter over an entire surface of the semiconductor wafer 5.例文帳に追加

ａ）半導体ウェハ５の特性を表すパラメータを位置に依存して測定し、ウェハ５の面全体で位置に依存するパラメータ値を求める。 - 特許庁

Various kinds of parameter values collected from a semiconductor manufacturing device 4 are stored in a parameter history database 24.例文帳に追加

半導体製造装置４から収集される各種パラメータ値はパラメータ履歴データベース２４に蓄積される。 - 特許庁

To provide an optimization method for extracting a model parameter in a semiconductor circuit.例文帳に追加

半導体回路のモデルパラメータの最適化抽出方法を提供する。 - 特許庁

METHOD OF MEASURING PROCESS PARAMETER OF SEMICONDUCTOR FABRICATION PROCESS USING OPTICAL MEASUREMENT例文帳に追加

光計測を用いた半導体製造プロセスのプロセスパラメータの測定方法 - 特許庁

METHOD OF DETERMINING PROCESS PARAMETER FOR SEMICONDUCTOR DEVICE AND METHOD OF MANUFACTURING SEMICONDUCTOR DEVICE USING THE SAME例文帳に追加

半導体装置のプロセスパラメータの決定方法およびそれを用いた半導体装置の製造方法 - 特許庁

METHOD TO CHANGE SEMICONDUCTOR DEVICE TO PROVIDE ELECTRICAL PARAMETER MONITORING FUNCTION AND SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

電気パラメータ監視機能を提供するように半導体デバイスを変更する方法、並びに、半導体デバイス - 特許庁

METHOD OF EVALUATING CHARACTERISTICS OF SEMICONDUCTOR STORAGE ELEMENT AND METHOD OF EXTRACTING MODEL PARAMETER例文帳に追加

半導体記憶素子の特性評価方法及びモデルパラメータ抽出方法 - 特許庁

A semiconductor memory device comprises plural memory chips, plural parameter store units, an error correction encoding unit, and a parameter processing unit.例文帳に追加

半導体記憶装置は、複数のメモリチップと、複数のパラメータ記憶部と、誤り訂正符号化部と、パラメータ処理部とを備える。 - 特許庁

SETTING METHOD, SETTING PROGRAM AND SETTING DEVICE FOR PARAMETER CONTROL VALUE IN SEMICONDUCTOR MANUFACTURING PROCESS例文帳に追加

半導体製造工程のパラメータ管理値設定方法及びプログラム並びに装置 - 特許庁

METHOD FOR EXTRACTING CIRCUIT PARAMETER, AND METHOD AND DEVICE FOR DESIGNING SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

回路パラメータ抽出方法、半導体集積回路の設計方法および装置 - 特許庁

METHOD AND SYSTEM TO CREATE PROCESS PARAMETER, AND MANUFACTURING METHOD OF SEMICONDUCTOR例文帳に追加

プロセスパラメータの作成方法、プロセスパラメータの作成システム及び半導体装置の製造方法 - 特許庁

In the method for designing a power converter, specifications of the power converter is determined, and its circuit parameter values, semiconductor elements used, and the equivalent circuit of the semiconductor element are determined, and the parameter values of the equivalent circuit of semiconductor element are extracted (S7).例文帳に追加

本発明は、電力変換装置の仕様を決定し，この回路パラメータ値，使用する半導体素子，及び半導体素子の等価回路を決定し，半導体素子等価回路のパラメータ値を抽出する。 - 特許庁

To provide a method to change a semiconductor device so that an electrical parameter monitoring function is provided, and a semiconductor device.例文帳に追加

電気パラメータ監視機能を提供するように半導体デバイスを変更する方法、並びに、半導体デバイスを提供する。 - 特許庁

To provide a power semiconductor device, having a control electrode which influences a semiconductor parameter, and especially a power diode.例文帳に追加

半導体パラメータに影響を与えることができる制御電極を有するパワー半導体デバイス、特にパワーダイオードを提供する。 - 特許庁

METHOD FOR SIMULATING SEMICONDUCTOR DEVICE, METHOD FOR CALCULATING DETERIORATION DEGREE, METHOD FOR CALCULATING DETERIORATION PARAMETER AND METHOD FOR DESIGNING SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体装置のシミュレーション方法、劣化度の計算方法、劣化パラメータの計算方法、ならびに半導体装置の設計方法 - 特許庁

In the thermal processing apparatus of the semiconductor device, the parameter of the thermal processing apparatus is monitored (S502).例文帳に追加

半導体装置の熱処理装置において、熱処理装置のパラメータをモニタリングする（Ｓ５０２）。 - 特許庁

RECORDING MEDIUM, PARAMETER, EXTRACTING PROGRAM, SIMULATOR, METHOD FOR MANUFACTURING SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND DEVICE MODEL例文帳に追加

記録媒体、パラメータ抽出プログラム、シミュレータ、半導体集積回路の製造方法、及びデバイスモデル - 特許庁

To provide a circuit parameter extraction apparatus and a circuit parameter extraction method with and by which characteristics of a semiconductor device can be simulated with a high degree of accuracy.例文帳に追加

半導体デバイスの特性シミュレーションを高精度で行なうことが可能な回路パラメータ抽出装置および回路パラメータ抽出方法を提供する。 - 特許庁

An internal parameter control signal generating unit generates internal parameter control signals R <0> to R <k> to adjust internal parameters of a semiconductor storage device.例文帳に追加

内部パラメータ制御信号生成ユニットは、半導体記憶装置の内部パラメータを調整するための内部パラメータ制御信号Ｒ＜０＞〜Ｒ＜ｋ＞を生成する。 - 特許庁

A design support device executes exposure simulation of a designed pattern relating to a semiconductor layer in accordance with a parameter obtained by changing a selected parameter out of a plurality of exposure parameters relating to the semiconductor layer by a designated amount and exposure parameters other than the selected parameter.例文帳に追加

設計支援装置が、半導体層に関する複数の露光パラメータのうちの選択パラメータを指定量分変化させた変化後の選択パラメータと、選択パラメータを除く残余のパラメータと、による半導体層に関する設計パターンの露光シミュレーションを実行する。 - 特許庁

SEMICONDUCTOR PROCESS PARAMETER DETERMINATION METHOD, SYSTEM, AND PROGRAM THEREOF例文帳に追加

半導体プロセスパラメータ決定方法、半導体プロセスパラメータ決定システム、及び半導体プロセスパラメータ決定プログラム - 特許庁

A semiconductor device is configured of an external terminal; a control parameter determination circuit; and a register updating circuit.例文帳に追加

半導体装置は、外部端子、制御パラメータ決定回路、レジスタ更新回路を備えて構成される。 - 特許庁

To provide a method of measuring a process parameter of a semiconductor fabrication process using an optical measurement.例文帳に追加

半導体製造プロセスのプロセスパラメータの測定を光計測を用いて行う方法を提供する。 - 特許庁

When a semiconductor wafer is loaded in a spinner 110, a first controller 120 sets an optimum process parameter according to the inputted information on the semiconductor wafer, and controls the spinner 110 according to the set process parameter.例文帳に追加

第１コントローラ１２０が、半導体ウェーハがスピンナ１１０内にローディングされれば、入力される半導体ウェーハ情報に従って最適な工程パラメータを設定して、工程パラメータに従ってスピンナ１１０を制御する。 - 特許庁

To promptly find abnormality of an actual value of a device parameter, in a device for manufacturing a semiconductor, a method of controlling the same and a method of manufacturing a semiconductor device.例文帳に追加

半導体製造装置とその制御方法、及び半導体装置の製造方法において、装置パラメータの実値の異常を早期に発見すること。 - 特許庁

PARAMETER-CONTROL DEVICE, PROJECTION ALIGNER, DEVICE MANUFACTURING METHOD, SEMICONDUCTOR MANUFACTURING FACTORY, AND MAINTENANCE METHOD OF THE PROJECTION ALIGNER例文帳に追加

パラメータ管理装置、露光装置、デバイス製造方法、半導体製造工場および露光装置の保守方法 - 特許庁

To provide a debug support system for a semiconductor integrated circuit test program with a parameter change point as a break point.例文帳に追加

パラメータの変更点をブレークポイントとする半導体集積回路試験プログラムのデバッグ支援装置を提供する。 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR EXTRACTING HIGH-FREQUENCY SEMICONDUCTOR DEVICE MODEL PARAMETER, AND RECORDING MEDIUM例文帳に追加

高周波半導体デバイスモデルパラメータ抽出方法、高周波半導体デバイスモデルパラメータ抽出装置及び記録媒体 - 特許庁

In an SPICE parameter used for circuit simulation for semiconductor integrated circuits, the SPICE parameter has an SPICE parameter set divided into a means to use an SPICE parameter expressing the whole range of a power supply voltage range and a means to use an SPICE parameter expressing the low range of voltage Vgs between gate sources.例文帳に追加

半導体集積回路の回路シミュレーションに使用するＳＰＩＣＥパラメータにおいて、ＳＰＩＣＥパラメータは、電源電圧領域の全範囲を表現するＳＰＩＣＥパラメータを用いる手段と、ゲートソース間電圧であるＶｇｓの低い領域を表現するＳＰＩＣＥパラメータを用いる手段、とに分割されたＳＰＩＣＥパラメータのセットを有する。 - 特許庁

PARAMETER EXTRACTING DEVICE AND PARAMETER EXTRACTING METHOD IN SIMULATION, MASK PATTERN DATA CREATED BY THE METHOD, PHOTOMASK CREATED FROM THE MASK PATTERN DATA, AND SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

シミュレーションにおけるパラメータ抽出装置及びパラメータ抽出方法と、この方法により作成したマスクパターンデータ及びこのマスクパターンデータにより作成したフォトマスクと半導体装置 - 特許庁

In an etching process, an optimum formation condition of a via-hole is obtained from a combination of selection of a semiconductor material and an etchant parameter.例文帳に追加

エッチングプロセスは、半導体材料の選択とエッチャントパラメータとの組み合わせから、ビアホールの最適な形成を得る。 - 特許庁

To provide a monitoring system for a semiconductor manufacturing apparatus in which accuracy in monitoring a control parameter can be improved.例文帳に追加

制御パラメータに対するモニタリングの精度向上を図り得る半導体製造装置のモニタリングシステムを提供する。 - 特許庁

To provide an optimization method of a semiconductor integrated circuit which can perform optimization of a prescribed parameter of a semiconductor integrated circuit (for example, delay optimization) in a short time.例文帳に追加

半導体集積回路の所定パラメータの最適化（例えば、遅延最適化）を短時間で行うことができる半導体集積回路の最適化方法を提供する。 - 特許庁

A complimentary metal oxide semiconductor (CMOS) device 100 includes a PMOS transistor having at least two first gate electrodes each having a first parameter, and an NMOS transistor having at least two second gate electrodes each having a second parameter, wherein the second parameter is different from the first parameter.例文帳に追加

相補型金属酸化膜半導体（ＣＭＯＳ）デバイス１００は、第１のパラメータを有する少なくとも２つの第１のゲート電極を備えたＰＭＯＳトランジスタと、上記第１のパラメータとは異なる第２のパラメータを有する少なくとも２つの第２のゲート電極を備えたＮＭＯＳトランジスタと、を有している。 - 特許庁

Because a pure DC parameter and a pure capacity parameter wherein the parasitic component of semiconductor element for extracting model parameter is eliminated can be extracted with high accuracy by extracting a model parameter by use of each piece of the characteristic measurement data of a DC and capacity, and the net list with parasitic components extracted with high accuracy, the model parameter for the high-accuracy circuit simulation can be provided.例文帳に追加

高精度に抽出された寄生成分付きネットリストとＤＣおよび容量の各特性測定データを用いてモデルパラメータを抽出することでモデルパラメータ抽出用の半導体素子の寄生成分を削除した純粋なＤＣパラメータと純粋な容量パラメータを高精度に抽出することができるため、高精度な回路シミュレーション用モデルパラメータを提供することができる。 - 特許庁

OPTIMAL VALUE SEARCHING DEVICE, OPTIMAL VALUE SEARCHING METHOD, OPTIMAL VALUE SEARCHING PROGRAM, PARAMETER FITTING METHOD, AND MANUFACTURING METHOD FOR SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

最適値探索装置、最適値探索方法、最適値探索プログラム、パラメータ・フィッティング方法及び半導体装置の製造方法 - 特許庁

OPTIMUM PARAMETER EXTRACTION DEVICE AND EXTRACTION METHOD, AND MASK DATA, MASK AND PRODUCTION METHOD FOR SEMICONDUCTOR DEVICE USING THE METHOD例文帳に追加

最適パラメータ抽出装置及び抽出方法、並びに本方法を用いるマスクデータ、マスク及び半導体装置の製造方法 - 特許庁