single-crystal sampleとは 意味・読み方・使い方

To provide an X-ray diffraction apparatus, capable of easily adjusting the crystal azimuth of a single-crystal sample with high accuracy.例文帳に追加

単結晶試料の結晶方位を容易かつ高精度に調整可能なＸ線回折装置を提供する。 - 特許庁

PHOTOGRAPHING METHOD OF CRYSTAL DEFECT HAVING IN-PLANE ORIENTED DISLOCATION LINE IN SINGLE CRYSTAL SAMPLE BY X-RAY TOPOGRAPH例文帳に追加

単結晶試料における面内配向した転位線を有する結晶欠陥のＸ線トポグラフによる撮影方法 - 特許庁

A single-crystal substrate 10 is fixed on a sample fixing stand 1 by using an inclination correcting device 20.例文帳に追加

単結晶基板１０を傾斜補正治具２０を用いて試料固定台１に固定する。 - 特許庁

A single crystal sample 20 whose crystal lattice interval is known is mounted on a sample mounting section 16, and a crystal lattice image is acquired by a STEM detector 17 and an image analysis section 18.例文帳に追加

試料搭載部１６の上に結晶格子間隔が既知の単結晶試料２０を搭載し、ＳＴＥＭ検出器１７及び画像解析部１８により結晶格子像を取得する。 - 特許庁

The quality of the single crystal is evaluated by using the mirror-polished sample for estimating the quality, and it is determined that the single crystal mass is suited to manufacture the silicon single crystal wafers satisfying the quality standard or not, according to the results of the quality evaluation of the silicon single crystal mass.例文帳に追加

この鏡面研磨された品質評価測定試料を用いて品質測定を行い、それによるシリコン単結晶塊の品質評価結果に基づいて、該シリコン単結晶塊を、品質規格を充足したシリコン単結晶ウェーハの製造に使用できるか否かを判定する。 - 特許庁

SILICON SINGLE CRYSTAL, EPITAXIAL WAFER, METHOD OF MEASURING AMOUNT OF NITROGEN IN SILICON SINGLE CRYSTAL, SAMPLE TUBE UNIT USED IN ESR METHOD AND METHOD OF MEASURING ESR SPECTRA例文帳に追加

シリコン単結晶、エピタキシャルウェ−ハ、シリコン単結晶中の窒素量の測定方法、ＥＳＲ法に使用される試料管ユニット及びＥＳＲスペクトルの測定方法 - 特許庁

During growing a silicon single crystal by the Czochralski method, a sample 12 used for evaluation is used as a source material for growing a silicon single crystal or a source material for growing a purification source material.例文帳に追加

チョクラルスキー法によるシリコン単結晶の育成時に、評価使用済みサンプル１２を前記シリコン単結晶育成用の原料または精製原料育成用の原料として使用する。 - 特許庁

In the method for measuring nitrogen concentration in a silicon single crystal reared by Czochralski method, a reference of the silicon single crystal not containing a nitrogen and a thermal donor of a nitrogen-containing sample of an object to be measured are erased by using the sample containing the nitrogen and the reference of the silicon single crystal, and the nitrogen concentration is measured.例文帳に追加

チョクラルスキー法育成のシリコン単結晶中の窒素濃度の測定方法において、窒素を含有する試料と、窒素を含まないチョクラルスキー法育成のシリコン単結晶のレファレンスを用い、このレファレンスと測定対象である窒素含有試料のサーマルドナーを消去して、窒素濃度を測定する。 - 特許庁