step-down testとは 意味・読み方・使い方

When a bender test mode conducting a voltage acceleration test is entered, a test signal TM1 at a low level is input to step-down power circuits 15, 16 from a bender test circuit, a transistor 19 is turned on, and operation as an operational amplifier is stopped.例文帳に追加

電圧加速テストを行うベンダテストモードがエントリされるとベンダテスト回路から降圧電源回路１５，１６にローレベルのテスト信号ＴＭ１が入力され、トランジスタ１９がＯＮし、演算増幅器としての動作が停止となる。 - 特許庁

In the short circuit test circuit for supplying the current from power sources 11-13 to the supply test breaker through step-down transformers 31-33 current control reactors 41-43 are connected to the only secondary side of the transformers 31-33.例文帳に追加

電源１１〜１３から降圧変圧器３１〜３３を介して供試遮断器に電流を供給する短絡試験回路で、電流調整用のリアクトル４１〜４３を変圧器３１〜３３の二次側にのみ接続する。 - 特許庁

The process for producing, in a test specimen, selective immune down regulation to infectious bacterial materials comprises a step capable of producing the selective immune down regulation and introducing the infectious material component, an agent containing the fragment thereof or a combination of the agents to the test specimen.例文帳に追加

被験体において感染性細菌性物質に対する選択的免疫ダウンレギュレーションを生成するためのプロセスであって、選択的免疫ダウンレギュレーションを生成し得、かつ該感染性物質の成分またはそのフラグメントを含む試薬または試薬の組合せを該被験体に導入する工程を包含する、プロセス。 - 特許庁

To provide a semiconductor device, in which an increase of a chip area is restricted, failure of a depression type MOS transistor for output of a step-down circuit is prevented, and is capable of realizing an operation lower limit test of an internal circuit that operates by voltage lower than operating voltage of an external interface circuit, and a method of testing thereof.例文帳に追加

チップ面積の増加を抑え、また降圧回路の出力用デプレッション型ＭＯＳトランジスタの破壊を防ぎ、外部インタフェース回路の動作電圧より低い電圧で動作する内部回路の動作下限テストを実現することができる半導体装置、およびそのテスト方法を提供する。 - 特許庁