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systematic methodとは 意味・読み方・使い方
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「systematic method」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 93件
lacking systematic arrangement or method or organization発音を聞く 例文帳に追加
組織的取り配列、方法または組織化が欠如しているさま - 日本語WordNet
METHOD AND APPARATUS FOR DETERMINING SYSTEMATIC DEFECT例文帳に追加
システマティック欠陥判定方法およびその装置 - 特許庁
METHOD FOR IDENTIFYING SERUM TYPE OF HUMAN ADENOVIRUS BY SYSTEMATIC ANALYSIS例文帳に追加
ヒトアデノウイルスの血清型の系統解析による同定法 - 特許庁
SYSTEMATIC EVALUATION METHOD FOR SAME KIND OF WORKING MEDICAL TECHNICAL INSTRUMENTS例文帳に追加
作動中の同種の医学技術的装置の体系的な品質評価方法 - 特許庁
a systematic method of diagnosing a disorder (e.g., headache) that lacks unique symptoms or signs発音を聞く 例文帳に追加
特有の症状や兆候のない疾患（例えば、頭痛）を診断する系統的方法 - 日本語WordNet
The RNA aptamer having binding ability to peroxiredoxin 6 (Prx6) protein is obtained by using a SELEX (systematic evolution of ligands by exponential enrichment) method.例文帳に追加
ペルオキシレドキシン6（Prx6）タンパク質に結合能を有するRNAアプタマーをSELEX法を用いて得る。 - 特許庁
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「systematic method」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 93件
MEMORY DEVICE ADOPTING DUAL CLOCKING METHOD FOR GENERATING SYSTEMATIC CODE例文帳に追加
システマチックコードの発生のためのデュアルクロッキング方法を採用したメモリ装置 - 特許庁
To provide detection method of a systematic trouble conditions, in an intelligent electronic device.例文帳に追加
インテリジェント電子デバイスの系統的故障状態の検出方法を提供する。 - 特許庁
METHOD FOR MEASURING SYSTEMATIC ERROR UNIQUE TO SHAPE MEASURING APPARATUS AND UPRIGHT SHAPE MEASURING APPARATUS例文帳に追加
形状測定装置固有の系統誤差を測定する方法と縦型形状測定装置。 - 特許庁
The RNA has a binding activity for the MTG8 TAF domain obtained by an SELEX (systematic evolution of ligands by exponential enrichment) method.例文帳に追加
SELEX法によって得られたMTG8 TAFドメインに対して結合活性を有するRNA。 - 特許庁
METHOD AND DEVICE FOR REDUCING SYSTEMATIC MEASURING ERROR DURING MICROSCOPIC EXAMINATION OF OBJECT例文帳に追加
対象物の顕微鏡検査時の系統的測定誤差を低減するための方法及び装置 - 特許庁
The substance is an RNA obtained by SELEX(systematic evolution of ligands by exponential enrichment) method and having the activity of binding to TGFβ-receptor III type.例文帳に追加
SELEX法によって得られ、腫瘍成長因子β受容体III型に対して結合活性を有するRNA。 - 特許庁
To provide a method of reducing systematic measuring errors during the examination of an object, particularly a semiconductor structure.例文帳に追加
対象物、特に半導体構造の検査時の系統的測定誤差を低減する方法の提供。 - 特許庁
METHOD OF AUTONOMOUSLY DECIDING SYSTEMATIC ERROR OF SURFACE FORM MEASURING SYSTEM, AND SURFACE FORM MEASURING APPARATUS例文帳に追加
表面形状測定系の系統誤差の自律的決定方法および表面形状測定装置 - 特許庁
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