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Weblio専門用語対訳辞書での「test devices」の意味

test devices

Weblio専門用語対訳辞書はプログラムで機械的に意味や英語表現を生成しているため、不適切な項目が含まれていることもあります。ご了承くださいませ。

「test devices」の部分一致の例文検索結果

該当件数 : 435



例文

TEST CIRCUIT AND TEST METHOD FOR SEMICONDUCTOR DEVICES例文帳に追加

半導体装置のテスト回路及びテスト方法 - 特許庁

TEST METHOD AND TELEPHONE TERMINAL DEVICES例文帳に追加

試験方法および電話端末装置 - 特許庁

PARALLEL TEST SYSTEM FOR SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICES例文帳に追加

半導体メモリ素子の並列テストシステム - 特許庁

To simultaneously test a plurality of devices under test without connecting test resources to all terminals of the plurality of devices under test.例文帳に追加

複数の被試験デバイスの全ての端子に試験リソースを接続することなく、複数の被試験デバイスを同時に試験する。 - 特許庁

The test devices are carried in a carrier.例文帳に追加

試験装置は、担体内に担持されている。 - 特許庁

COMMUNICATION SYSTEM AND METHOD FOR TEST BETWEEN DEVICES例文帳に追加

通信システム及び装置間試験方法 - 特許庁

例文

The subsystem is equipped with a transport system moving the carrier through the instrument where various modules perform operations on the test devices including sealing the test devices, loading the test devices into an incubation station, incubating the test devices, reading the test devices and disposing of the test devices.例文帳に追加

このサブシステムは、担体を器具を通して移動させる運搬システムを備え、ここで様々なモジュールが、試験装置の密封、培養ステーション内への試験装置の装填、試験装置の培養、試験装置の読取、および試験装置の処分を含む操作を試験装置上で行う。 - 特許庁

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「test devices」の部分一致の例文検索結果

該当件数 : 435



例文

a test run on electric devices to check for short-circuits発音を聞く 例文帳に追加

電気機器の短絡特性を求める試験 - EDR日英対訳辞書

We conducted a test with two terminal devices.発音を聞く 例文帳に追加

私たちは端末2台でテストを行いました - Weblio Email例文集

a test which examines the stability of devices発音を聞く 例文帳に追加

衝撃試験という,装置の安定性をみるテスト - EDR日英対訳辞書

To provide a test cassette adaptable to different test devices in common.例文帳に追加

異なる試験装置に共通に適用できる試験用カセットを提供する。 - 特許庁

To provide devices and methods for sensitivity test.例文帳に追加

感受性検査のための装置及び方法を提供する。 - 特許庁

SYSTEM FOR SIMULTANEOUS TEST OF DIFFERENT TYPES OF SEMICONDUCTOR DEVICES例文帳に追加

他の種類の半導体装置を同時にテストするシステム - 特許庁

APPARATUS AND METHOD FOR PERFORMING PARALLEL TEST ON INTEGRATED CIRCUIT DEVICES例文帳に追加

集積回路素子の並列試験装置及び方法 - 特許庁

例文

In the above case, the memory test is carried out through a sheet process sequence, in which the test is started from a test board where packing semiconductor devices is finished, and semiconductor devices are removed from a test board whose test is finished.例文帳に追加

この場合、半導体装置を詰め終わったテストボードからテストスタート、テスト終了したテストボードから半導体装置を払い出すという枚葉処理のシーケンスによってメモリテストが実行される。 - 特許庁

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