test design specificationとは 意味・読み方・使い方

Then the description data necessary for the operation test are extracted from the design manual file 21 on the basis of the format specification and test specifications for an application are generated by using the extracted description data (step S2).例文帳に追加

次に、書式指定に基づいて設計書ファイル２１から動作テストに必要な記述データを抽出し、抽出された記述データを用いて、このアプリケーション用のテスト仕様書を生成する（ステップＳ２）。 - 特許庁

Design faults such as specification failures in planning specifications of an entire system (first design stage) and planning detailed specifications of individual ECUs (second design stage) are verified on the basis of test results of a simulation test for the entire system in a simulation environment equivalent to an actual environment.例文帳に追加

そして、この接続ファイルの整合性、または、実車相当のシミュレーション環境によるシステム全体のシミュレーション試験の試験結果に基づいて、システム全体の仕様策定（第１の設計段階）や個々のＥＣＵの詳細仕様の策定（第２の設計段階）における仕様漏れなどの設計不具合を検証する。 - 特許庁

A test support device 1 acquires format specification indicating a position on which description data necessary for an operation test regulated in accordance with the format of a design manual is set at inputting a design manual file 21 stored in a storage part and generates a format information file 22 (step S1).例文帳に追加

テスト支援装置１は、記憶部に格納されている設計書ファイル２１が入力されると、この設計書の書式に応じて規定される動作テストに必要な記述データが設定されている位置を示す書式指定を取得し、書式情報ファイル２２を生成する（ステップＳ１）。 - 特許庁

To provide a sediment material incorporation rate determining software program for designing a soil ground surface layer, allowing quick low-cost presentation of a highly reliable design specification to a customer by promptly reflecting test data having bases of design.例文帳に追加

設計根拠がある試験データを即座に反映させ、顧客対して迅速にかつ低コストで信頼性の高い設計書を提示できる土系グラウンド表層舗装設計のための土砂材料の配合率決定ソフトウェアプログラムを得る。 - 特許庁

The static design information narrowed by the analysis part 15 and the dynamic design information related to the screen transition corresponding to the screen transition information specification key determined by the analysis part 18 are collected as one piece of design information, and the form of source code, the external file and the test item are generated from the one piece of design information.例文帳に追加

クラス依存関係解析部１５によって絞り込まれた静的設計情報と、画面遷移情報特定キー解析部１８によって判定された画面遷移情報特定キーに対応する画面遷移に関連する動的設計情報とを１つの設計情報としてまとめ、この１つの設計情報からソースコードの雛型、外部ファイル、テスト項目を生成する。 - 特許庁

To provide a 300 mm test wafer, in which the evaluation of a performance data for a semiconductor manufacturing apparatus, and an evaluation apparatus, etc. is ensured, and the design specification inhibits layer peeling within a laser mark, and the damage to the surface is not produced after a CMP processing.例文帳に追加

半導体製造装置、評価装置などの性能データ評価を確実にするための３００ｍｍテストウエハであり、レーザマーク内で膜剥離が生じない設計仕様とし、ＣＭＰ処理後に表面の傷が生じない３００ｍｍテストウエハを提供する。 - 特許庁

This test specification generation device has a generation means generating the specifications for a test of the conversion program for the conversion of deign information of the program on the basis of: combination conversion processing information showing combination conversion processing wherein conversion items to the design information of the program are combined; between-item order information showing the priority order of the conversion item.例文帳に追加

テスト仕様生成置が，プログラムの設計情報に対する変換項目を組み合わせた組み合わせ変換処理を表す組み合わせ変換処理情報と，前記変換項目の優先順位を表す項目間順位情報と，に基づき，プログラムの設計情報の変換のための変換プログラムのテスト用の仕様を生成する生成手段を有する。 - 特許庁

The design specifications of the clock frequency modulation circuit satisfying the clock specifications 53 which are electric specifications of clock signals and satisfying an EMI effect target value 58 for which an EMI suppression effect in the EMI standard adaptability test 21 is estimated are decided in SSC specification decision 14.例文帳に追加

クロック信号の電気的仕様であるクロック仕様５３を満足し、且つＥＭＩ規格適合試験２１におけるＥＭＩ抑制効果を推定しＥＭＩ効果目標値５８を満足するようなクロック周波数変調回路の設計仕様をＳＳＣ仕様決定１４で決定する。 - 特許庁