total reflection spectroscopyとは 意味・読み方・使い方

Spectroscopy of fluorescent X-rays emitted from a sample in a total reflection condition or its periphery is carried out by means of a curved crystal 1.例文帳に追加

全反射条件またはその近傍において試料から放出される蛍光Ｘ線（Ｂ）の分光を湾曲結晶（１）により行う。 - 特許庁

Further, this polybutene has an infrared absorbance I per reflection at 1,230 cm-1 of not smaller than 0.025 when the infrared absorbance I is measured by the total reflection infrared absorption spectroscopy.例文帳に追加

また、このポリブテンは赤外全反射吸収法により赤外吸光度Ｉを測定した場合に、１２３０ｃｍ^-1における反射１回あたりの赤外吸光度Ｉが０．０２５以上である。 - 特許庁

The section formation method for a sample is a method for forming a measurement section 22 in a film-like sample 21 for use in an infrared spectroscopy by means of an attenuated total reflection method.例文帳に追加

試料の断面形成方法は、減衰全反射法を利用した赤外分光法において、フィルム状の試料２１に測定用断面２２を形成するための方法である。 - 特許庁

The attenuated total infrared reflection spectroscopy (ATR method) is preferably used as the surface analytical method, and hereby the adsorption state can be determined by calculating the relative absorption intensity between the adsorbed material and the sample.例文帳に追加

表面分析法として赤外全反射分光法（ＡＴＲ法）を用いるのが好ましく、これにより、吸着物質と試料の相対吸収強度を計算して吸着状態の判定を行うことができる。 - 特許庁

In the propylene-based resin film 25, a surface orientation parameter obtained by a Raman spectroscopy measurement by attenuated total reflection about at least one surface out of film surfaces lies in the range of 0.66 to 1.50.例文帳に追加

プロピレン系樹脂フィルム２５は、フィルム表面のうち少なくとも一方の面について減衰全反射法によるラマン分光法測定によって得られる表面配向パラメータが０．６６〜１．５０の範囲内である。 - 特許庁

To conduct elementary analysis in a sample electrode surface and in a site deeper than the surface without carrying out etching, in analysis using total reflection photoelectron spectroscopy.例文帳に追加

エッチングを行うことなく、全反射光電子分光法を用いた分析で、試料極表面とそれより深いところの元素分析を行うことができる試料分析方法および試料分析装置を提供すること。 - 特許庁