waveform analyzing deviceとは 意味・読み方・使い方

METHOD FOR DRIVING CABLE DEVICE, METHOD FOR ANALYZING WAVEFORM FOR THE CABLE DEVICE AND METHOD FOR MEASURING THE CABLE DEVICE例文帳に追加

ケーブル装置の駆動方法並びにケーブル装置の波形解析方法並びにケーブル装置の測定方法 - 特許庁

To provide a waveform analyzing device, capable of precisely performing an analysis of waveform at a sampling clock frequency lower than in the past, and a plasma treatment device using it.例文帳に追加

従来よりも低いサンプリングクロック周波数で波形の解析を正確に行う波形解析装置およびこれを用いたプラズマ処理装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

To analyze measured data before finishing a measurement in a waveform analyzer obtaining the measured data from a waveform measuring device and analyzing it.例文帳に追加

波形測定器から測定データを取得し、解析を行なう波形解析装置において、測定完了前に測定データの解析を行なうことができるようにする。 - 特許庁

The control/processing device 13 specifies the value of the parameter by analyzing the changed waveform, and outputs it to an IC testing device 14.例文帳に追加

制御／処理装置１３は、上記変更後の波形を解析することにより、パラメータの値を特定し、ＩＣ試験装置１４へ出力する。 - 特許庁

An analyzing device 4 identifies a case in which the bone is hit by a hitting hammer 1 and a case in which the tendon is hit by the hitting hammer 1 from the time axis waveform of the hitting force and an FFT (Fourier transformation) waveform, and recognizes the mistake impact.例文帳に追加

解析装置４は、叩打ハンマー１により骨を叩打した場合と腱を叩打した場合を、叩打力の時間軸波形とＦＦＴ波形から識別し、ミスインパクトを判定する。 - 特許庁

To provide an optical pulse testing device for accurately analyzing events in a short time when simultaneously displaying waveform of loss distribution characteristics and analysis result of the events appearing on the waveform.例文帳に追加

損失分布特性の波形と波形上に現れるイベントの解析結果を同時に表示する場合に、短時間で精度よくイベントの解析を行うことが出来る光パルス試験器を実現する。 - 特許庁

To provide a speech analyzing and synthesizing device which suitably synthesizes a speech waveform by phase correction taking notice of a leak of a frequency component.例文帳に追加

周波数成分の漏れ出しに着目した位相補正により音声波形の合成をより適切に行う音声分析合成装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method of analyzing a waveform with which parameters specific to a matrix type electronic device are extracted from the measured waveform of a scanning line or a signal line of the device, and a method of measuring parameters specific to a matrix type display panel and a matrix type display device.例文帳に追加

マトリクス型電子デバイス装置の走査線あるいは信号線の測定波形から装置固有のパラメータを抽出する波形解析方法、マトリクス型表示パネルおよびマトリクス型表示装置固有のパラメータを測定する測定方法を提供する。 - 特許庁