x-type probeとは 意味・読み方・使い方

To easily set an X-ray extraction angle with respect to dispersion type X-ray spectrometer of a plurality of wavelengths, in oblique emission electron probe microanalyzer (EPMA) analysis.例文帳に追加

斜出射ＥＰＭＡ分析において、複数の波長分散形Ｘ線分光器に対するＸ線取出し角度を簡単に設定できるようにする。 - 特許庁

Material of the probe and its crystallinity has a structure including at least a part of a zinc blende type In1-X-YGaXAlYN (where, 0≤X, Y, X+Y≤1) crystal.例文帳に追加

探針の材料およびその結晶性が閃亜鉛鉱型Ｉｎ_１−Ｘ−ＹＧａ_ＸＡｌ_ＹＮ（但し０≦Ｘ、Ｙ、Ｘ＋Ｙ≦１）結晶を少なくとも一部含む構造とした。 - 特許庁

This instrument 1 for measuring the probe type tube inner face coating film component of the present invention has an X-ray source 12 and an X-ray fluorescence detector 13 inside a hollow probe 11 having a cut-out part 111.例文帳に追加

本発明のプローブ型管内面皮膜成分測定装置１は、切欠部１１１を有する中空のプローブ１１の内部にＸ線源１２及び蛍光Ｘ線検出器１３を有する。 - 特許庁

This atomic force microscope (AFM) probe structure includes a cantilever (8) and a planar type tip (19) mounted on the cantilever (8) extending along its longitudinal direction (x).例文帳に追加

原子間力顕微鏡（ＡＦＭ）プローブ構成は、カンチレバー（８）と、カンチレバー（８）に装着され、その長手方向（ｘ）に沿って延びるプレーナ型チップ（１９）とを備える。 - 特許庁

The probe pins 3 in a plurality are formed respectively in the shape of the horizontal type cantilever and disposed aslant to both of two-dimensional directions (direction X and direction Y) in the grid disposition of the electrodes 11.例文帳に追加

複数のプローブピン３は、水平型カンチレバー形状にそれぞれ形成されており、複数の電極１１のグリッド配置における２次元方向（Ｘ方向およびＹ方向）の両方向に対してプローブピン３を傾斜させて配置されている。 - 特許庁

Particles to be created by changing the ratio of different elements for indexing a probe are used; an SEM image is obtained by a scanning electron microscope for detecting the position and the size; and further, the position and the size of characteristic X rays generated, when electrons irradiated to the particles by the scanning electron microscope are obtained, by obtaining element analysis images, by using an energy dispersion type characteristic X-ray detector.例文帳に追加

プローブのインデクシング用に異なる元素の比率を変えて作成する粒子を用い、走査型電子顕微鏡でＳＥＭ像を得て容易にその位置と大きさを検出し、さらに、走査型電子顕微鏡で粒子に電子を照射する時に発生する特性Ｘ線をエネルギー分散型特性Ｘ線検出器により元素分析像を得ることで位置と大きさを得る。 - 特許庁