受渡し試験の英語

データの読み出しに同期してデータの受渡しに利用される基準クロックを出力する被試験デバイスを高精度に試験する半導体デバイス試験装置を提供する。例文帳に追加

To provide a semiconductor device test apparatus which performs a test on a device under test which outputs a reference clock for use in data delivery synchronously with data reading with high precision. - 特許庁

データの読み出しに同期してデータの受渡しに利用される基準クロックＤＱＳを出力する半導体デバイスを短時間に高精度に試験する試験方法を提案する。例文帳に追加

To provide a method for testing a semiconductor device capable of testing a semiconductor device outputting a reference clock DQS, used for data delivery, simultaneously to data reading, with high accuracy in a short period. - 特許庁

データの読み出し出力と同期して基準クロックを出力し、この基準クロックをデータの受渡しに供する半導体デバイスにおいて、基準クロックとデータとの間の位相差が所定の条件の満たすとき不良と判定する試験方法を提案する。例文帳に追加

To provide a test method in which data is discriminated as defective data when phase difference between a reference clock and the data satisfies the prescribed conditions, in a semiconductor device in which a reference clock is outputted synchronizing with a read-out output of data, and this reference clock is used for delivery and reception of data. - 特許庁