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"とうかがたでんしけんびきょうほう"を含む例文一覧と使い方
該当件数 : 6件
透過型電子顕微鏡法用サンプルの作成方法および装置例文帳に追加
METHOD AND DEVICE FOR PRODUCING SAMPLE FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPY - 特許庁
透過型電子顕微鏡法における位相コントラスト結像のための新しい方法を提供すること。例文帳に追加
To provide a new method for phase contrast imaging in transmission electron microscopy. - 特許庁
透過型電子顕微鏡法用サンプルの作成方法の場合、サンプルはサンプル材料の基材（１１０）から準備される。例文帳に追加
In a method of producing samples for transmission electron microscopy, a sample is prepared from a substrate (110) of a sample material. - 特許庁
その中空粒子としては透過型電子顕微鏡法による平均一次粒子径が２０ｎｍ〜１μｍ、動的光散乱法による平均粒子径が２０ｎｍ〜３μｍが好適である。例文帳に追加
The particle suitably has an average primary particle diameter of from 20 nm to 1 μm measured by a transmission electron microscope method, and average particle diameter of from 20 nm to 3 μm measured by a dynamic light scattering method. - 特許庁
得られた中空粒子は透過型電子顕微鏡法による一次粒子径が３０〜３００ｎｍ、動的光散乱法による粒子径が３０〜８００ｎｍ、水銀圧入法により測定される細孔分布において２〜２０ｎｍの細孔が検出されない緻密なシリカ殻からなる。例文帳に追加
The obtained hollow particle is comprised of a dense silica shell which has a diameter of a primary particle of 30-300 nm as measured by the transmission electron microscope method, and a particle size of 30-800 nm by the dynamic light scattering method, and which can not detect pores of 2-20 nm in a pore distribution measured by the mercury porosimetry. - 特許庁
サンプルが、効果的に区域限定されかつ再現されるような形で迅速に作成されることを可能にすると共に、多数の異なるサンプル材料に関して損傷を殆ど引き起こさない透過型電子顕微鏡法用サンプルの作成方法、および該方法を実施するのに適した装置を提供する。例文帳に追加
To provide a method of producing a sample for transmission electron microscopy that effectively restricts the zone of the sample, is rapidly produced in a reproduced form, and hardly causes breakage in many different sample materials, and a device appropriate for executing the method. - 特許庁
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