「"Appearance Inspection"」に関連した英語例文の一覧と使い方(2ページ目) - Weblio英語例文検索

APPEARANCE INSPECTION METHOD OF COLOR FILTER例文帳に追加

カラーフィルタの外観検査方法 - 特許庁

APPEARANCE INSPECTION METHOD AND DEVICE THEREFOR例文帳に追加

外観検査方法及びその装置 - 特許庁

IMAGE PROCESSOR FOR APPEARANCE INSPECTION APPARATUS例文帳に追加

外観検査装置用画像処理装置 - 特許庁

PHOTOMASK APPEARANCE INSPECTION DEVICE例文帳に追加

フォトマスク外観検査装置 - 特許庁

WIRE HARNESS OUTWARD APPEARANCE INSPECTION DEVICE例文帳に追加

ワイヤハーネス外観検査装置 - 特許庁

PAPER CUP APPEARANCE INSPECTION DEVICE例文帳に追加

紙カップ外観検査装置 - 特許庁

APPEARANCE INSPECTION APPARATUS FOR SPHERICAL BODY例文帳に追加

球状体外観検査装置 - 特許庁

APPEARANCE INSPECTION APPARATUS AND METHOD例文帳に追加

外観検査装置及び方法 - 特許庁

APPEARANCE INSPECTION METHOD FOR SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体素子の外観検査方法 - 特許庁

SEM TYPE APPEARANCE INSPECTION DEVICE例文帳に追加

ＳＥＭ式外観検査装置 - 特許庁

APPEARANCE INSPECTION APPARATUS AND APPEARANCE INSPECTION METHOD OF WIRE HARNESS例文帳に追加

ワイヤーハーネスの外観検査装置及び外観検査方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR APPEARANCE INSPECTION DEVICE AND SEMICONDUCTOR APPEARANCE INSPECTION METHOD例文帳に追加

半導体外観検査装置及び半導体外観検査方法 - 特許庁

WAFER APPEARANCE INSPECTION DEVICE, WAFER APPEARANCE INSPECTION METHOD, AND SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

ウェーハ外観検査装置、ウェーハ外観検査方法、及び半導体装置 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE, APPEARANCE INSPECTION METHOD, AND APPEARANCE INSPECTION APPARATUS例文帳に追加

半導体装置、ならびに外観検査方法および外観検査装置 - 特許庁

APPEARANCE INSPECTION DEVICE AND APPEARANCE INSPECTION METHOD OF TRANSPARENT BODY BOTTLE例文帳に追加

透明体ボトルの外観検査装置及び外観検査方法 - 特許庁

OPTICAL APPEARANCE INSPECTION DEVICE AND OPTICAL APPEARANCE INSPECTION METHOD例文帳に追加

光学式外観検査装置及び光学式外観検査方法 - 特許庁

APPEARANCE INSPECTION DEVICE AND APPEARANCE INSPECTION METHOD BY IMAGE RECOGNITION例文帳に追加

画像認識による外観検査装置及び外観検査方法 - 特許庁

APPEARANCE INSPECTION DEVICE AND PTP PACKAGING MACHINE EQUIPPED WITH APPEARANCE INSPECTION DEVICE例文帳に追加

外観検査装置及び外観検査装置を備えたＰＴＰ包装機 - 特許庁

BINARIZATION PROCESSING METHOD, APPEARANCE INSPECTION METHOD AND APPEARANCE INSPECTION DEVICE例文帳に追加

二値化処理方法、外観検査方法および外観検査装置 - 特許庁

EXTERNAL APPEARANCE INSPECTION APPARATUS, EXTERNAL APPEARANCE INSPECTION METHOD, AND METHOD FOR MANUFACTURING SEMICONDUCTOR CHIP例文帳に追加

外観検査装置、外観検査方法、及び半導体チップの製造方法 - 特許庁

BOARD APPEARANCE INSPECTION DEVICE, AND METHOD FOR FORMING IMAGE FOR BOARD APPEARANCE INSPECTION例文帳に追加

基板外観検査装置および基板外観検査用の画像生成方法 - 特許庁

APPEARANCE INSPECTION METHOD, APPEARANCE INSPECTION APPARATUS, PROGRAM THEREFOR, AND RECORDING MEDIUM THEREFOR例文帳に追加

外観検査方法、外観検査装置、そのプログラム及びその記録媒体 - 特許庁

APPEARANCE INSPECTION APPARATUS AND APPEARANCE INSPECTION METHOD OF TRANSPARENT BOTTLE例文帳に追加

透明体ボトルの外観検査装置及び外観検査方法 - 特許庁

APPEARANCE INSPECTION SYSTEM AND APPEARANCE INSPECTION METHOD OF MOUNTING BOARD例文帳に追加

実装基板の外観検査システムおよび外観検査方法 - 特許庁

APPEARANCE INSPECTION DEVICE, APPEARANCE INSPECTION METHOD, AND PROGRAM FOR CAUSING COMPUTER TO FUNCTION AS APPEARANCE INSPECTION DEVICE例文帳に追加

外観検査装置、外観検査方法およびコンピュータを外観検査装置として機能させるためのプログラム - 特許庁

APPEARANCE INSPECTION METHOD AND APPEARANCE INSPECTION DEVICE FOR ELECTRONIC COMPONENT AND RECORD MEDIUM RECORDING PROGRAM FOR MAKING COMPUTER REALIZE APPEARANCE INSPECTION PROCESSING例文帳に追加

電子部品の外観検査方法、外観検査装置及び外観検査処理をコンピュータに実現させるためのプログラムを記録した記録媒体 - 特許庁

RIM ASSEMBLY MECHANISM FOR TIRE, RIM ASSEMBLING METHOD, AUTOMATIC APPEARANCE INSPECTION DEVICE, AUTOMATIC APPEARANCE INSPECTION METHOD例文帳に追加

タイヤのリム組機構、リム組方法、自動外観検査装置、自動外観検査方法 - 特許庁

MASK PATTERN APPEARANCE INSPECTION METHOD, PROGRAM THEREFOR, AND MASK PATTERN APPEARANCE INSPECTION APPARATUS例文帳に追加

マスクパターン外観検査方法及びそのプログラム及びマスクパターン外観検査装置 - 特許庁

TOOL FOR APPEARANCE INSPECTION OF TRANSPARENT SHEET MATERIAL AND APPEARANCE INSPECTION METHOD FOR TRANSPARENT SHEET MATERIAL USING THE SAME例文帳に追加

透明シート材の外観検査用治具、及びこれを用いた透明シート材の外観検査方法 - 特許庁

OUTER APPEARANCE INSPECTION METHOD AND OUTER APPEARANCE INSPECTION MECHANISM FOR ELECTRONIC COMPONENT IN CARRIER TAPE例文帳に追加

キャリアテープ内の電子部品の外観検査方法及び外観検査機構 - 特許庁

SHAPE MEASURING METHOD, APPEARANCE INSPECTION METHOD, SHAPE MEASURING DEVICE, AND APPEARANCE INSPECTION DEVICE例文帳に追加

外形測定方法、外観検査方法、外形測定装置、及び外観検査装置 - 特許庁

APPEARANCE INSPECTION APPARATUS AND PTP WRAPPING MACHINE例文帳に追加

外観検査装置及びＰＴＰ包装機 - 特許庁

ILLUMINATION APPARATUS AND APPEARANCE INSPECTION APPARATUS HAVING THE SAME例文帳に追加

照明装置及びそれを有する外観検査装置 - 特許庁

BONDING APPARATUS AND BONDING APPEARANCE INSPECTION APPARATUS例文帳に追加

ボンディング装置及びボンディング外観検査装置 - 特許庁

REEXAMINATION METHOD AND APPEARANCE INSPECTION DEVICE FOR IMPLEMENTATION SUBSTRATE例文帳に追加

実装基板の再検査方法及び外観検査装置 - 特許庁

MOLDING APPEARANCE INSPECTION SYSTEM AND MOLDING INSPECTION METHOD例文帳に追加

成形品外観検査装置及び成形品検査方法 - 特許庁

APPEARANCE INSPECTION DEVICE FOR BOTTLE INCLUDING TRANSPARENT LABEL例文帳に追加

透明ラベルを含むビン、ボトルの外観検査装置 - 特許庁

IMAGE ALIGNMENT METHOD FOR RETICLE APPEARANCE INSPECTION DEVICE例文帳に追加

レチクル外観検査装置の画像アライメント方法 - 特許庁

DEVICE APPEARANCE INSPECTION APPARATUS AND METHOD, PROGRAM例文帳に追加

デバイス外観検査装置及び方法、プログラム - 特許庁

ILLUMINATING DEVICE FOR APPEARANCE INSPECTION OF RUNNING SHEET例文帳に追加

走行シート外観検査用照明器 - 特許庁

APPEARANCE INSPECTION APPARATUS AND APPEARANCE INSPECTING OPTICAL APPARATUS例文帳に追加

外観検査装置及び外観検査用の光学装置 - 特許庁

APPEARANCE INSPECTING DEVICE AND ILLUMINATION METHOD IN APPEARANCE INSPECTION例文帳に追加

外観検査装置および外観検査における照明方法 - 特許庁

WAFER APPEARANCE INSPECTION DEVICE AND ITS METHOD例文帳に追加

ウエハ外観検査装置およびウエハ外観検査方法 - 特許庁

CHARACTER RECOGNITION DEVICE, APPEARANCE INSPECTION DEVICE, AND CHARACTER RECOGNITION METHOD例文帳に追加

文字認識装置、外観検査装置及び文字認識方法 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR PREPARING APPEARANCE INSPECTION PROGRAM例文帳に追加

外観検査プログラム作成装置およびその方法 - 特許庁