「"Appearance Inspection"」に関連した英語例文の一覧と使い方(3ページ目) - Weblio英語例文検索

DEFECT INSPECTION METHOD AND APPEARANCE INSPECTION DEVICE例文帳に追加

欠陥検査方法及び外観検査装置 - 特許庁

APPEARANCE INSPECTING METHOD AND APPEARANCE INSPECTION DEVICE例文帳に追加

外観検査方法及び外観検査装置 - 特許庁

APPARATUS AND METHOD FOR APPEARANCE INSPECTION例文帳に追加

外観検査装置および外観検査方法 - 特許庁

APPEARANCE INSPECTION APPARATUS AND METHOD例文帳に追加

外観検査装置及び外観検査方法 - 特許庁

EXTERNAL APPEARANCE INSPECTION DEVICE AND MASK INSPECTION METHOD例文帳に追加

外観検査装置およびマスク検査方法 - 特許庁

TABLET APPEARANCE INSPECTION DEVICE AND PTP PACKAGING MACHINE例文帳に追加

錠剤の外観検査装置及びＰＴＰ包装機 - 特許庁

APPEARANCE INSPECTION DEVICE FOR LIQUID CRYSTAL MODULE FOR ELECTRONIC APPLIANCE例文帳に追加

電子機器用液晶モジュールの外観検査装置 - 特許庁

SEMICONDUCTOR APPEARANCE INSPECTION DEVICE AND INSPECTION METHOD例文帳に追加

半導体外観検査装置および検査方法 - 特許庁

LIQUID CRYSTAL PANEL APPEARANCE INSPECTION METHOD AND INSPECTION DEVICE例文帳に追加

液晶パネル外観検査方法及び検査装置 - 特許庁

IMAGE RECOGNITION APPARATUS AND APPEARANCE INSPECTION APPARATUS USING IT例文帳に追加

画像認識装置及び該装置を用いた外観検査装置 - 特許庁

LEAKAGE INSPECTION AND APPEARANCE INSPECTION DEVICE OF PET BOTTLE例文帳に追加

ペットボトルのリーク検査および外観検査装置 - 特許庁

EXTERNAL APPEARANCE INSPECTION METHOD FOR SUBSTRATE SEALED WITH RESIN例文帳に追加

樹脂封止済基板の外観検査方法 - 特許庁

INSPECTION REGION SETTING APPARATUS, AND OUTER APPEARANCE INSPECTION APPARATUS例文帳に追加

検査領域設定装置および外観検査装置 - 特許庁

SCANNING HEAD AND APPEARANCE INSPECTION APPARATUS AVAILABLE FOR THE SAME例文帳に追加

走査ヘッドおよびそれを利用可能な外観検査装置 - 特許庁

ILLUMINATING APPARATUS FOR USE IN APPEARANCE INSPECTION AND APPEARANCE INSPECTING APPARATUS例文帳に追加

外観検査用照明装置及び外観検査装置 - 特許庁

MICROSCOPE DEVICE, APPEARANCE INSPECTION DEVICE, SEMICONDUCTOR APPEARANCE INSPECTION DEVICE, AND SAMPLE ILLUMINATION METHOD IN MICROSCOPE DEVICE例文帳に追加

顕微鏡装置、外観検査装置、半導体外観検査装置及び顕微鏡装置における試料照明方法 - 特許庁

APPEARANCE INSPECTION METHOD AND APPEARANCE INSPECTION DEVICE FOR ELECTRONIC CIRCUIT PARTS, AND METHOD FOR MANUFACTURING ELECTRONIC CIRCUIT PARTS例文帳に追加

電子回路用部品の外観検査方法及び外観検査装置並びに電子回路用部品の製造方法 - 特許庁

To provide a semiconductor appearance inspection device capable of performing appearance inspection automatically without depending on manual labor, even when different wiring materials are mixed.例文帳に追加

異なる配線材が混成されている場合でも、外観検査を人手に頼らず自動的に行うことができる半導体外観検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide an appearance inspection method for chip parts capable of performing accurate appearance inspection by surely receiving reflection light from a ridge part.例文帳に追加

稜線部からの反射光線を確実に受光し、高精度の外観検査を可能にする、チップ部品の外観検査方法を提供すること。 - 特許庁

To provide an appearance inspection device and an appearance inspection method of a tire for inspecting the appearance of a tire by image processing with high accuracy.例文帳に追加

画像処理によるタイヤの外観検査において精度良く検査を行うことができるタイヤの外観検査装置及び外観検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide an appearance inspection device and an appearance inspection method capable of improving the yield and the product quality with a simple constitution.例文帳に追加

簡単な構成で、歩留りと製品品質を向上させる外観検査装置および外観検査方法を提供する。 - 特許庁

To improve the efficiency of manual operation in wafer appearance inspection by improving the operability of a wafer appearance inspection device.例文帳に追加

ウェーハ外観検査装置の操作性を向上させ、ウェーハ外観検査における人手作業の効率向上を図る。 - 特許庁

ILLUMINANCE VARIABLE ILLUMINATION SECTION AND APPEARANCE INSPECTION APPARATUS FOR INDEPENDENTLY MOVING IMAGING SECTION例文帳に追加

照度可変照明部及び撮像部の独立可動における外観検査装置 - 特許庁

TAPE CARRIER FOR SEMICONDUCTOR DEVICE AND ITS APPEARANCE INSPECTION METHOD例文帳に追加

半導体装置用テープキャリアおよびその外観検査方法 - 特許庁

INSPECTION METHOD OF SOLDER FILLET AND SUBSTRATE APPEARANCE INSPECTION APPARATUS例文帳に追加

はんだフィレットの検査方法および基板外観検査装置 - 特許庁

IMAGE DEFECT INSPECTION METHOD, IMAGE DEFECT INSPECTION APPARATUS, AND APPEARANCE INSPECTION APPARATUS例文帳に追加

画像欠陥検査方法、画像欠陥検査装置及び外観検査装置 - 特許庁

ILLUMINATION DEVICE AND FINAL APPEARANCE INSPECTION EQUIPMENT FOR PRINTED WIRING BOARD例文帳に追加

照明装置及びプリント配線板最終外観検査装置 - 特許庁

APPEARANCE INSPECTION JIG FOR SMALL COMPONENT, AND INSPECTION METHOD USING THE JIG例文帳に追加

小型部品の外観検査治具およびその治具を用いた検査方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR APPEARANCE INSPECTION DEVICE AND IMAGE PROCESSING DEVICE THEREOF例文帳に追加

半導体外観検査装置、及び半導体外観検査装置の画像処理装置 - 特許庁

Then the first lower-layer wiring 2 is subjected to appearance inspection and electric conduction inspection.例文帳に追加

次に、第１の下層配線２の外観検査または導通検査を行なう。 - 特許庁

IMAGE DEFECT INSPECTION METHOD, IMAGE DEFECT INSPECTION DEVICE, AND EXTERNAL APPEARANCE INSPECTION DEVICE例文帳に追加

画像欠陥検査方法、画像欠陥検査装置及び外観検査装置 - 特許庁

TOTAL NUMBER APPEARANCE INSPECTION DEVICE OF LAMINATED BODY AND TOTAL NUMBER APPEARANCE INSPECTING METHOD例文帳に追加

積層体の全数外観検査装置及び全数外観検査方法 - 特許庁

To improve accuracy in appearance inspection and increase its speed.例文帳に追加

外観検査における精度を向上すると共に、高速化を可能とする。 - 特許庁

CHIP PART CONVEYANCE METHOD, ITS DEVICE, APPEARANCE INSPECTION METHOD, AND ITS DEVICE例文帳に追加

チップ部品搬送方法及び装置、並びに外観検査方法及び装置 - 特許庁

To accurately and easily perform appearance inspection on the back side of a wire harness.例文帳に追加

ワイヤハーネスの裏側の外観検査を正確且つ容易に行わせる。 - 特許庁

GRANULAR MATERIAL TRANSPORTING DEVICE AND APPEARANCE INSPECTION APPARATUS FOR GRANULAR MATERIAL GROUP例文帳に追加

粒状体搬送装置及び粒状体群の外観検査装置 - 特許庁

To improve an efficiency of setting work to be implemented before an appearance inspection of electronic circuits.例文帳に追加

電子回路の外観検査前の設定作業を効率化する。 - 特許庁

An appearance inspection device 1 includes a camera 4 and an optical system 15.例文帳に追加

外観検査装置１は、カメラ４と、光学系１５とを具備する。 - 特許庁

DEFECT EXTRACTION METHOD AND PRINTED WIRING BOARD FINAL APPEARANCE INSPECTION DEVICE例文帳に追加

欠陥抽出手法及びプリント配線板最終外観検査装置 - 特許庁

IMAGE DATA TRANSFER METHOD, IMAGE PROCESSOR, AND WAFER EXTERNAL APPEARANCE INSPECTION DEVICE例文帳に追加

画像データ転送方法、画像処理装置及びウェハ外観検査装置 - 特許庁

To provide an appearance inspection system and an appearance inspection method of a mounting board capable of keeping tact balance excellently when performing inspection by plural appearance inspection devices, and improving productivity.例文帳に追加

複数の外観検査装置によって検査を実行する場合においてタクトバランスを良好に保ち、生産性を向上させることができる実装基板の外観検査システムおよび外観検査方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide an appearance inspection method and an appearance inspection to be used for the method by which a finished product with a curved face is inspected for its appearance using an image photographing device, without particularly setting a line for appearance inspection.例文帳に追加

外観検査用のラインを別に設けることなく、撮像装置を用いて曲面を有する製品の外観検査をすることができる外観検査方法およびそれに用いる外観検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide an appearance inspection method for electronic circuit parts capable of enhancing processing accuracy and processing speed when an appearance inspection is carried out on electronic circuit parts by using color image processing, and an appearance inspection device used for the same.例文帳に追加

電子回路用部品に対してカラー画像処理を用いて外観検査する際、そのの処理精度及び処理速度を高めることを可能とする電子回路用部品の外観検査方法及びそれに用いられる外観検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide an appearance inspection device for color filters automatically determining, at high speed, whether a detected defect is present only in a single colored part or over a plurality of colored parts in an appearance inspection of a color filter, and an appearance inspection method.例文帳に追加

カラーフィルタの外観検査において、検出された欠陥が単一の着色部にのみ存在しているのか、複数の着色部に跨って存在しているのかを高速に自動判別するカラーフィルタ外観検査装置および外観検査方法を提供すること。 - 特許庁

SEMICONDUCTOR MOUNTING SUBSTRATE, SUBSTRATE FOR MOUNTING SEMICONDUCTOR, AND APPEARANCE INSPECTION METHOD AND DEVICE FOR THEM例文帳に追加

半導体実装基板、半導体実装用基板、その外観検査方法及び外観検査装置 - 特許庁