「"Appearance Inspection"」に関連した英語例文の一覧と使い方(5ページ目) - Weblio英語例文検索

SENSOR HEAD, LUMINANCE DISTRIBUTION MEASURING DEVICE PROVIDED WITH THE SAME, APPEARANCE INSPECTION DEVICE, AND DEVICE FOR INSPECTING AND EVALUATING DISPLAY UNEVENNESS例文帳に追加

センサヘッド、これを具備した輝度分布測定装置、外観検査装置及び表示ムラ検査評価装置 - 特許庁

To provide a jig unnecessary for an inspector to pass a head assembly from one hand to the other hand many times when executing an appearance inspection from many directions.例文帳に追加

多方向からの外観検査を実施する際に、検査員がヘッド組立品を手に持って何度も持ち替える必要の無い治具を提供する。 - 特許庁

To provide an appearance inspection apparatus capable of executing cleaning more easily than a conventional apparatus when changing a specimen.例文帳に追加

被検査物を変更する際の洗浄を、従来装置に比べてより簡単に行うことができる外観検査装置を提供する。 - 特許庁

APPEARANCE INSPECTION SYSTEM, QUALITY EVALUATION SYSTEM USING THE SAME AND QUALITY EVALUATION INFORMATION PROVIDING SYSTEM例文帳に追加

外観検査システムおよびそれらを用いた品質評価システムおよび品質評価情報提供システム - 特許庁

To provide a vessel appearance inspection device capable of inspecting in compliance with the actual situation, an appearance defect of a vessel including a new bottle can.例文帳に追加

ニューボトル缶を含む容器の外観不良を実情に合った検査のできる容器外観検査装置を提供する。 - 特許庁

Consequently, it is possible to automatically carry out the external appearance inspection of the inside crack of the ceramic element assembly part of the chip type electronic part by picture image processing.例文帳に追加

よって、チップ型電子部品のセラミック素体部の内部クラックの外観検査を、画像処理によって自動的に行うことができる。 - 特許庁

To provide an appearance inspection device of a base material, having a simple structure and capable of improving inspection efficiency, when inspecting a color tone and the glossiness of the base material.例文帳に追加

基材の色調と光沢の検査にあたり、簡便な構成を有し且つ検査効率の向上が可能な基材の外観検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method and a device for carrying out appearance inspection for a linear matter having nonlinear matter portions in its both ends.例文帳に追加

両端に非線状体部分２，３を有する線状体１の外観検査を行う方法及び装置を提供する。 - 特許庁

To provide an appearance inspection method capable of detecting accurately bubbles in liquid in a container in the stationary state.例文帳に追加

静止した状態で容器内の液体内の泡を精度良く検出することができる外観検査方法を提供することにある。 - 特許庁

To realize a highly accurate and reliable outward appearance inspection by eliminating variable density nonuniformity due to light diffraction generated in a repeating pattern part.例文帳に追加

繰り返しパターン部で発生する光の回折による濃淡ムラによる影響を無くして、高精度で信頼性の高い外観検査を実現する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device manufacturing method including a highly reliable appearance inspection process which can be achieved in a simple process and simple inspection equipment.例文帳に追加

簡単な工程でかつ簡易的な検出設備でできる信頼性が高い外観検査工程を有する、半導体装置の製造方法を提供すること。 - 特許庁

The appearance inspection device comprises a light source 2, a visible light detector 3, an ultraviolet light detector 4, and a control device 5.例文帳に追加

本発明に係る外観検査装置は、光源２と、可視光検出器３と、紫外光検出器４と、制御装置５とを備える。 - 特許庁

To provide an appearance inspection device of an inspection device capable of determining presence/absence of a defect of an opening of a PET bottle with high accuracy.例文帳に追加

ペットボトルの開口部の欠陥の有無を高精度に判定することができる検査装置の外観検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a 3-D shape measurement method which effectively performs a shape measurement of a measurement object, and also to provide an appearance inspection device.例文帳に追加

測定対象物の形状測定を効率的に行える立体形状測定方法及び外観検査装置を提供することにある。 - 特許庁

To efficiently implement an appearance inspection for a transfer mold formed from a translucent material such as glass, etc., without degrading a detection rate of defect locations.例文帳に追加

ガラス等の光を透過する素材で作成された転写用型の外観検査を、不具合箇所の検出率を低下させることなく、効率よく行う。 - 特許庁

To provide an appearance inspection method by an image which can extract a trait portion so as to be in agreement with feeling seen by a person.例文帳に追加

特徴部分を人の視認する感覚に一致するように抽出することができる画像による外観検査方法を提供する。 - 特許庁

IMAGE PATTERN CORRECTION METHOD, SIMULATED IMAGE GENERATION METHOD USING THE SAME AND PATTERN APPEARANCE INSPECTION METHOD例文帳に追加

画像パターン補正方法、及びそれを適用した模擬画像生成方法、並びにパターン外観検査方法 - 特許庁

To provide an appearance inspection apparatus which is improved in discharging performance of an electronic part when a feeding defect of the electronic part to a disk is generated.例文帳に追加

円盤への電子部品の供給不良が生じた場合におけるその電子部品の排出性を向上した外観検査装置の提供。 - 特許庁

The appearance inspection stations ST1-ST5 rotate the object P to be inspected by a rotary mechanism 30 through the rotary chucks 40 to perform inspection processing.例文帳に追加

外観検査ステーションＳＴ１〜ＳＴ５は、回転機構３０により回転チャック４０を介して被検査物Ｐを回転して各検査処理を行う。 - 特許庁

To provide an appearance inspection apparatus that allows a user to give precedence to either defect detection performance or throughput.例文帳に追加

ユーザが、欠陥の検出性能とスループットのどちらかを優先させることができる外観検査装置を提供する。 - 特許庁

To simultaneously detect the lead positions of a plurality of faces of an electronic component with high accuracy in external appearance inspection of the electronic component.例文帳に追加

電子部品の外観検査において、電子部品の複数の面におけるリード位置を、同時に精度良く検査すること。 - 特許庁

ADDITIONAL REVIEW POINT GENERATING APPARATUS, APPEARANCE INSPECTION APPARATUS, REVIEW APPARATUS, POOR APPEARANCE REVIEW SYSTEM, AND ADDITIONAL REVIEW POINT GENERATING METHOD例文帳に追加

追加レビューポイント生成装置、外観検査装置、レビュー装置、外観不良レビューシステムおよび追加レビューポイント生成方法 - 特許庁

To provide a parallel processing method of image data which is proper for a semiconductor appearance inspection device for inspecting a chip of a semiconductor wafer.例文帳に追加

半導体ウエハのチップを検査する半導体外観検査装置に適した画像データの並列処理方式を提供する。 - 特許庁

To provide an appearance inspection device and method of high reliability for a fuel rod for a nuclear reactor free from a personal error by a determining person, exact and excellent in reproducibility.例文帳に追加

判定者による個人差がなく、信頼性が高く、厳密で再現性のある原子炉用燃料棒の検査装置及び検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide an image input device capable of efficiently and speedily obtaining effective information by appearance inspection.例文帳に追加

外観検査によって有効な情報を効率良くかつ高速に得ることができる画像入力装置を提供する。 - 特許庁

A plurality of inspection items are prepared for the appearance inspection, and a plurality of types of image templates to be used for template matching are prepared.例文帳に追加

外観検査は複数の検査項目があり、テンプレートマッチングに用いる画像テンプレートは複数種類が用意されている。 - 特許庁

To provide an appearance inspection device for a thread package capable of executing the inspection with high accuracy in a short time by surely retracting a suspended thread outside of an inspection area.例文帳に追加

垂れ糸を確実に検査領域外に退避させ、短時間に精度の高い検査を可能にする糸パッケージの外観検査装置を提供する。 - 特許庁

METHOD, PROGRAM, AND APPARATUS FOR APPEARANCE INSPECTION OF PRINTED CIRCUIT BOARD例文帳に追加

プリント回路基板外観検査方法、プリント回路基板外観検査プログラム及びプリント回路基板外観検査装置 - 特許庁

An inspection content setting screen is displayed on a display 18 to allow a user to determine the setting contents for conducting appearance inspection on the screen.例文帳に追加

ディスプレイ１８に表示される検査内容設定画面は、外観検査を実施するための設定内容をユーザが設定できるよう設けられる。 - 特許庁

Exterior parts for branches are fitted at the step S4b, conduction inspection is made at the step S5b, and appearance inspection in the step S6b.例文帳に追加

ステップＳ４ｂで枝用の外装品を取り付けステップＳ５ｂで導通検査を行いステップＳ６ｂで外観検査を行う。 - 特許庁

Exterior parts for branches are fitted at the step S4a, conduction inspection is made at the step S5a, and appearance inspection in the step S6a.例文帳に追加

ステップＳ４ａで枝用の外装品を取り付けステップＳ５ａで導通検査を行いステップＳ６ａで外観検査を行う。 - 特許庁

To provide an image processor for generating a contrast image whose characteristic extraction or appearance inspection is simplified even when a color difference between two colors to be discriminated is small.例文帳に追加

区別しようとする２色の色の差が小さい場合でも特徴抽出や外観検査が容易になる濃淡画像を生成する。 - 特許庁

To enable to perform the outside appearance inspection of a photosensitive film direct after the photosensitive film is formed without giving thermal adverse effect due to the leakage of drying air to a coating equipment or an outside appearance inspection equipment.例文帳に追加

感光塗膜の外観検査を感光塗膜の形成後に直ちに行うことが可能であり、かつ、塗布設備や外観検査設備が乾燥用エアの漏れ出しによる熱的な悪影響を受けることのない感光体ドラムの製造工程における乾燥設備を提供する。 - 特許庁

An apparatus for setting inspection conditions (inspection apparatus 1) presets conditions for the appearance inspection before conducting the appearance inspection of an inspection object having a plurality of electronic circuits such as semiconductors, liquid crystal circuits, or printed circuit boards mounted thereon by comparing CAD data (41) and an inspection object image (43).例文帳に追加

検査条件設定装置（検査装置１）は、半導体、液晶回路、またはプリント基板などの電子回路を複数搭載する被検査物の外観検査をＣＡＤデータ（４１）と被検査物画像（４３）との対比によって行う前に、当該外観検査の条件を予め設定する。 - 特許庁

To provide a tape carrier for a semiconductor device which can carry out appearance inspection for detecting the abnormality of electric wiring formed below a solder resist, and the detection of the abnormality due to the inclusion of a foreign matter of the solder resist or the like readily by an automatic appearance inspection device.例文帳に追加

ソルダレジストの下に形成された電気配線の異常を検出する外観検査と、ソルダレジストの異物混入などによる異常検出を、自動外観検査装置で容易に実施することができる半導体装置用テープキャリアを提供する。 - 特許庁

To provide an appearance inspection device for simplifying the inspection method and shortening the inspection time, by simultaneously performing, in one operation, appearance inspection of an inspected object, especially a plurality of appearance inspections of length dimension of the inspected object with a circular outline, roughness of each end face, and the like.例文帳に追加

被検査物の外観検査、特に外形が円形である被検査物の長さ寸法及び各端面の表面粗さなど複数の外観検査を一回の操作の中で同時に行えるようにして、検査方法の簡素化と検査時間の短縮を図れるようにした外観検査装置を提供することである。 - 特許庁

To provide a reexamination method and an appearance inspection device for an implementation substrate having been judged as a defective product for a good-quality product due to the dissatisfaction judgement of an existing appearance inspection device, while maintaining the automation and laborsaving in an implementation line, for an implementation line implemented with electronic parts.例文帳に追加

電子部品が実装される実装ラインにおいて、実装ラインの自動化、省力化を維持しつつ、既存の外観検査装置の不満足な判定から、良品を不良品として判定してしまった実装基板の再検査方法及び外観検査装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

When the defective of the electronic component is detected by the appearance inspection part 8, the taping unit driving part transfers the taping unit body part 4 and the pocket in the appearance inspection position Q is returned to a housing and elimination position P to suck and hold the defective product and discharge it.例文帳に追加

テーピングユニット駆動部は、外観検査部８において電子部品の不良が検知された場合に、テーピングユニット本体部４を移送して、外観検査位置Ｑにあるポケットを収容除去位置Ｐまで戻すことにより、不良品を吸着保持して排出する。 - 特許庁

A personal computer 37 storing the appearance inspection result obtained in the appearance inspection part 32 and the frequency inspection result obtained in the frequency inspection part 33 as evaluation data in relation to the inspected quartz blank 1 and an output means such as a printer taking out the evaluation data from the personal computer 37 are provided.例文帳に追加

外観検査部３２で得られた外観検査結果、及び周波数検査部３３で得られた周波数検査結果を、検査済みの水晶ブランク１と関連付けて評価用データとして記憶するパソコン３７と、パソコン３７から評価用データを取り出すプリンタなどの出力手段とを備える。 - 特許庁

To provide a shape measuring method, an appearance inspection method, a shape measuring device, and an appearance inspection device, capable of suppressing an influence of deformation of a member, and measuring accurately a projection amount of a projection part which may be generated on the member.例文帳に追加

本発明は、部材の変形の影響を抑制して、部材上に発生した可能性がある突出部の突出量の正確な測定を可能ならしめる、外形測定方法、外観検査方法、外形測定装置、及び外観検査装置を提供する。 - 特許庁

This commodity providing system is provided with a production facility 1a for producing a commodity according to an order from a client, an appearance inspection device 1b capturing an image of the commodity as image data and inspecting an appearance of the commodity, and a server 4 providing the image data captured by the appearance inspection device 1b to the client through the Internet.例文帳に追加

顧客からの注文に基づいて商品を生産する生産設備１ａと、商品の画像を画像データとして取り込んで商品の外観検査を行う外観検査装置１ｂと、外観検査装置１ｂにより取り込まれた画像データをインターネットを介して顧客に提供するサーバー４と備える。 - 特許庁

Faults of the electrode pattern and their locations are grasped by conducting appearance inspection immediately after formation of the electrode on a glass substrate, correction of the electrode is conducted standing on information obtained with the appearance inspection, then following formation process of each composing layer is executed, followed by a non-contact continuity test is performed as the final inspection before shipment.例文帳に追加

ガラス基板上に電極を形成した直後に外観検査を実施して電極パターンの欠陥及びその位置を把握し、その外観検査で得た情報を基にして電極の修正を実施し、それ以降の各構成層の形成工程を経た後に、出荷前の最終検査として非接触による電極の導通検査を行う。 - 特許庁

The appearance inspection apparatus allows a user to select the frequency of a digital image signal or the ratio of the frequency of the digital image signal to a sampling rate.例文帳に追加

本発明の外観検査装置では、ユーザは、デジタル画像信号の周波数、又は、サンプリングレートに対するデジタル画像信号の周波数の比を選択することができる。 - 特許庁

Since the marking portions consisting of the holograms make it possible to easily obtain reconstructed images by irradiation with a laser beam, etc., the automation of the appearance inspection of the marking portions by utilizing the reconstructed images is made possible.例文帳に追加

また、ホログラムからなる表示部は、レーザ光等を照射することにより容易に再生像を得ることができるので、この再生像を利用することにより、表示部の外観検査を自動化することが可能となる。 - 特許庁

To provide an appearance inspection device capable of continuously applying the appropriate amount of suspension to a ceramic molded article, and easily inspecting the ceramic molded article.例文帳に追加

セラミック成型体に対して検査液を適量かつ持続的に付与でき、簡便にセラミック成型体の外観を検査できる外観検査装置を提供する。 - 特許庁