「"Appearance Inspection"」に関連した英語例文の一覧と使い方(4ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a part inspection apparatus, wherein work efficiency of the appearance inspection of parts from multiple directions is increased.例文帳に追加

部品検査装置において、部品の複数の方向からの外観検査の作業効率を高める。 - 特許庁

IMAGE PATTERN CORRECTION METHOD, SIMULATION IMAGE GENERATION METHOD USING SAME, AND PATTERN APPEARANCE INSPECTION METHOD例文帳に追加

画像パターン補正方法、及びそれを適用した模擬画像生成方法、並びにパターン外観検査方法 - 特許庁

To provide an appearance inspection device capable of inspecting surely the appearance of an inspection object.例文帳に追加

検査対象物の外観を確実に検査することができる外観検査用装置を提供する。 - 特許庁

FORMING METHOD OF REGION SETTING DATA FOR INSPECTION REGION AND SUBSTRATE APPEARANCE INSPECTION DEVICE例文帳に追加

検査領域の領域設定データの作成方法および基板外観検査装置 - 特許庁

METHOD OF GENERATING LIBRARY DATA FOR BOARD APPEARANCE INSPECTION, AND METHOD OF GENERATING INSPECTION DATA例文帳に追加

基板外観検査用のライブラリデータの作成方法および検査データ作成方法 - 特許庁

To automatically detect an inside crack of a ceramic element assembly of an electronic part by external appearance inspection.例文帳に追加

電子部品のセラミック素体の内部クラックを外観検査によって自動的に検出する。 - 特許庁

METHOD FOR ACCELERATING ALIGNMENT OF OPTICAL APPEARANCE INSPECTION APPARATUS, AND PATTERN INSPECTION APPARATUS USING SAME例文帳に追加

光学式外観検査装置のアライメント高速化法、これを用いたパターン検査装置 - 特許庁

To improve the reliability of the outward appearance inspection of a wire harness and to make the inspecting process efficient.例文帳に追加

ワイヤハーネスの外観検査の信頼性を向上させると共に検査工程の効率化を図る。 - 特許庁

To provide a board appearance inspection device forming a two-dimensional color image suitable for inspection during board conveyance within the device.例文帳に追加

装置内で基板を搬送する間に、検査に適した２次元カラー画像を生成する。 - 特許庁

METHOD FOR MEASURING DIMENSION OF FUEL ASSEMBLY AND FUEL APPEARANCE INSPECTION DEVICE USED FOR EXECUTING IT例文帳に追加

燃料集合体の寸法計測方法ならびに該方法を実施するための燃料外観検査装置 - 特許庁

To reduce a disposing space for a part inspection device which enables appearance inspection from various directions.例文帳に追加

部品の複数の方向からの外観検査が可能な部品検査装置の配置スペースを小さくする。 - 特許庁

IMAGE DISPLAY UNIT AND METHOD, APPEARANCE INSPECTION DEVICE, CREAM SOLDER PRINTER例文帳に追加

画像表示装置、外観検査装置、クリーム半田印刷機、及び画像表示方法 - 特許庁

To provide an external appearance inspection device which can detect the defect of a reticle with high sensitivity.例文帳に追加

レチクルの欠陥の検出を高感度で行うことのできる外観検査装置を提供する。 - 特許庁

BOARD IMAGE EXTRACT DEVICE, BOARD IMAGE EXTRACT METHOD AND BOARD APPEARANCE INSPECTION DEVICE例文帳に追加

基板画像抽出装置、基板画像抽出方法及び基板外観検査装置 - 特許庁

In review work, the defect is extracted in a defect extracting part 3 of an appearance inspection device.例文帳に追加

レビュー作業では外観検査装置の欠陥抽出部３で欠陥抽出を行なう。 - 特許庁

To provide an appearance inspection device capable of performing excellent appearance inspection by improving the inspection accuracy further, even if an unmeasurable part exists on an object to be imaged.例文帳に追加

被撮像物につき計測不能な部分があっても、検査精度をより向上させることにより、優れた外観検査を行うことができる外観検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method and a device capable of performing exact appearance inspection by reducing the occurrence of bending in a supporting state of a liquid crystal panel in appearance inspection.例文帳に追加

外観検査時における液晶パネルの支持状態に起因する撓みを低減することによって、正確な外観検査を行うことのできる方法及び装置を提供する。 - 特許庁

To provide an appearance inspection apparatus and an appearance inspection method which requires less capacity for a memory area, and conducts image composition which is optimum for an object to be inspected.例文帳に追加

必要な記憶領域の容量を少なく、また、検査対象物に最適な画像合成が行うことができる外観検査装置、外観検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide an external appearance inspection apparatus for markedly suppressing the influence due to interference of light and performing external appearance inspection of an object to be inspected with a very high accuracy.例文帳に追加

光の干渉による影響を大幅に抑制し、検査対象物の外観検査を極めて高精度に行うことが可能な外観検査装置を提供する。 - 特許庁

An appearance inspection device for parts is provided with imaging means 3a-3d for imaging parts disposed on a conveyor path for columnar parts 1, and is used for executing appearance inspection of the parts 1 on the basis of images of the parts imaged while the parts 1 are being conveyed.例文帳に追加

柱状の部品１の搬送路上に部品撮影用の撮像手段３ａ〜３ｄを配して、搬送中の部品１の撮像画像から部品の外観検査を行う部品外観検査装置である。 - 特許庁

In a substrate inspection system 10A, an appearance inspection apparatus 12 performs appearance inspection by taking an image of a substrate and inspecting the substrate for its mounting status by using the result of analysis of the taken image.例文帳に追加

基板検査システム１０Ａにおいて、外観検査装置１２は、基板の画像を撮像し、撮像された画像の解析結果を利用して基板の実装状態を検査する外観検査を実施する。 - 特許庁

To provide a substrate inspection apparatus capable of carrying out an appearance inspection of a substrate to be inspected which is held swingably by a swing mechanism, by using downward lighting, and capable of effectively carrying out the appearance inspection by using backside transmission lighting.例文帳に追加

揺動機構に回動可能に保持された被検査基板を落射照明によって外観検査することが可能であるとともに、効果的に背面透過照明による外観検査を行うことが可能な基板検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide an appearance inspection device capable of preventing cost increase, and realizing space saving, and having excellent durability, concerning the appearance inspection device equipped with an imaging means.例文帳に追加

撮像手段を備えた外観検査装置において、コストの増大防止、省スペース化を図ることができ、耐久性に優れた外観検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide an exterior appearance inspection method that reliably detects defects without overlooking ones in a short time with a simple device and processing, and an exterior appearance inspection device.例文帳に追加

検査を短時間で行うことが可能であり装置や処理が煩雑にならず、欠陥を見逃すことがなく確実に検出することが可能である外観検査方法及び外観検査装置を提供する。 - 特許庁

To realize a highly precise appearance inspection by using converging light in an illuminating apparatus for use in appearance inspection and an appearance inspecting apparatus, and to make the apparatuses compact.例文帳に追加

外観検査用照明装置及び外観検査装置において、収束光を用いて高精度な外観検査を実現すると共に、装置の小型化を図る。 - 特許庁

A ceramic element assembly part of an objective work a photographing part 13 of which is carried by a placing base is firstly photographed and a picture image data is transmitted to a control part 15 in the external appearance inspection of the chip type electronic part by an external appearance inspection device.例文帳に追加

外観検査装置によるチップ型電子部品の外観検査では、まず、撮像部１３が載置台によって搬送された対象ワークのセラミック素体部を撮像し、画像データを制御部１５へ送信する。 - 特許庁

To provide an appearance inspection device capable of improving inspection accuracy and simplifying setting of an optical system, and a PTP packaging machine equipped with the appearance inspection device.例文帳に追加

検査精度の向上及び光学系の設定の簡易化を図ることのできる外観検査装置及び外観検査装置を備えたＰＴＰ包装機を提供する。 - 特許庁

The minute objects (works W) are subjected to appearance inspection plurally at one time, and six faces thereof are subjected to the appearance inspection on the conveyance feeder 2, during rotation of the first rotary disk 3 and during rotation of the second rotary disk 7.例文帳に追加

微小物体（ワークＷ）は、一度に複数ずつ外観検査に供されることとなり、搬送フィーダ２上、第１回転ディスク３の回転中、第２回転ディスク７の回転中において６面について外観検査される。 - 特許庁

Satellite tables 10 for delivering the electronic part S from the turn table 3 to a marking unit 5f and an appearance inspection unit 5i, are installed between the marking unit 5f and the appearance inspection unit 5i, the processing times of which are relatively long among those processings such as an electric characteristic inspection, a characteristic classification, a marking, an appearance inspection.例文帳に追加

電気特性検査、特性分類、マーキング、外観検査等の工程処理のうち処理時間が相対的に長いマーキングユニット５ｆ及び外観検査ユニット５ｉとの間にはターンテーブル３からマーキングユニット５ｆと外観検査ユニット５ｉに電子部品Ｓを受け渡す衛星テーブル１０が設けられている。 - 特許庁

To provide an external appearance inspection method for a substrate sealed with the resin, which can effectively solve various problems of an external appearance inspection in response to the external appearance inspections with stability using an external appearance inspection mechanism, which externally inspects an anomalous formation and an anomalous external appearance of a resin surface formation of the substrate sealed with the resin by using an image process.例文帳に追加

樹脂封止済基板の樹脂成形体表面の成形不良や外観不良を画像処理して外観検査する外観検査機構において、安定して外観検査すると共に、外観検査上の諸問題を効率良く解決する、樹脂封止済基板の外観検査方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

APPEARANCE INSPECTION APPARATUS WITH SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND IMAGE DATA PROCESSING METHOD USING SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査電子顕微鏡を備えた外観検査装置及び走査電子顕微鏡を用いた画像データの処理方法 - 特許庁

To provide an automatic macro-appearance inspecting device capable of performing macro appearance inspection of a wafer precisely in a short time, and can be manufactured at a low cost.例文帳に追加

ウエハのマクロ外観検査を精度良く、短時間に行うことができ、しかも安価に構成できる自動マクロ外観検査装置を提供する。 - 特許庁

In the inspection container 58, a hydrous ocular lens to be inspected 20 is allowed to be immersed and is subjected to appearance inspection in a swollen state.例文帳に追加

この検査容器５８内において、検査対象である含水性の被検眼用レンズ２０を浸漬させて膨潤状態で外観検査に付するようにした。 - 特許庁

Thus, the appearance inspection device 1 easily inspects the appearance of the ceramic molded article S.例文帳に追加

これにより、外観検査装置１では、簡便にセラミック成型体Ｓの外観を検査することが可能となる。 - 特許庁

To provide a method of evaluating quantitatively a surface property such as cleanness and quality of a work surface evaluated conventionally by visual appearance inspection.例文帳に追加

目視外観検査法によって評価されていたワーク表面の綺麗さや質といった表面性状を定量的に評価する方法を提供する。 - 特許庁

To provide an appearance inspection device for wood accurately extracting defects only by an imaging processing to a monochromatic gradation image.例文帳に追加

モノクロの濃淡画像に対する画像処理のみで欠陥を正確に抽出することを可能にした木材の外観検査装置を提供する。 - 特許庁

A CCD(Charge Couple Device) camera 20 for appearance inspection of a substrate surface is arranged in an upper side of the other side of the outer cup 5.例文帳に追加

また、外側カップ５の他方の側部上側には、基板表面の外観検査を行うＣＣＤ（Charge Coupled Device ：電荷結合素子）カメラ２０が配設されている。 - 特許庁

Images of the liquid crystal panel are obtained as to various appearance inspection items by using those lighting conditions and the quality of the liquid crystal panel is judged.例文帳に追加

これらの照明条件を用いて，さまざまな外観検査項目について液晶パネルの画像を取得して，その良否を判定する。 - 特許庁

CARRIER TAPE, METHOD FOR MANUFACTURING THE SAME, ELECTRONIC COMPONENT MOUNTING METHOD USING THE CARRIER TAPE, AND APPEARANCE INSPECTION METHOD例文帳に追加

キャリアテープ及びその製造方法、並びにそのキャリアテープを用いた電子部品の実装方法及び外観検査方法 - 特許庁

Subsequently, the gap 106 generated in the semiconductor chip 102 is detected by performing an appearance inspection from the other surface 202 by using a recognition camera 105.例文帳に追加

つぎに、認識カメラ１０５などによって他方の面２０２から外観検査をおこない、半導体チップ１０２に発生したすき間１０６を検出する。 - 特許庁

To provide a wafer appearance inspection device capable of reducing detection of noncritical defects, and shortening the time required for visual confirmation.例文帳に追加

非致命欠陥を検出を低減し、目視確認に要する時間を短縮可能なウェハ外観検査装置を提供することにある。 - 特許庁

The appearance inspection device 10 includes a second rotary table B10, a first camera B11 for imaging sides, and a camera B12 for imaging ridge parts.例文帳に追加

外観検査装置１０は、第２回転テーブルＢ１０と、側面撮像用第１カメラＢ１１と、稜部撮像用カメラＢ１２とを備える。 - 特許庁

To solve a problem that a database of a construction condition in welding and an analysis result of an outer appearance inspection of a weld bead obtained on this condition cannot be easily made.例文帳に追加

溶接時の施工条件と、この条件で得られた溶接ビードの外観検査の分析結果とを容易にデータベース化することができない。 - 特許庁

To provide a paper cup appearance inspection device capable of detecting a shape defect generated on a top curled part of a paper cup.例文帳に追加

紙カップのトップカール部に発生する形状不良を検出することができる紙カップ外観検査装置の提供。 - 特許庁

To provide an appearance inspection apparatus enabling an efficient macro-inspection of a defective site on an observation specimen.例文帳に追加

観察試料における欠陥部位のマクロ検査を、効率良く行うことができる外観検査装置を提供すること。 - 特許庁