例文 (348件) |
"Appearance Inspection"を含む例文一覧と使い方
該当件数 : 348件
VISUAL APPEARANCE INSPECTION DEVICE AND VISUAL APPEARANCE INSPECTION METHOD FOR SUBSTRATE例文帳に追加
基板の外観検査装置および外観検査方法 - 特許庁
APPEARANCE INSPECTION DEVICE AND APPEARANCE INSPECTION METHOD FOR WORK例文帳に追加
ワークの外観検査装置および外観検査方法 - 特許庁
MOUNTING APPEARANCE INSPECTION METHOD AND MOUNTING APPEARANCE INSPECTION DEVICE例文帳に追加
実装外観検査方法及び実装外観検査装置 - 特許庁
APPEARANCE INSPECTION APPARATUS FOR WOOD AND APPEARANCE INSPECTION METHOD FOR WOOD例文帳に追加
木材の外観検査装置、木材の外観検査方法 - 特許庁
EXTERIOR APPEARANCE INSPECTION METHOD AND EXTERIOR APPEARANCE INSPECTION DEVICE例文帳に追加
外観検査方法および外観検査装置 - 特許庁
EXTERNAL APPEARANCE INSPECTION METHOD AND EXTERNAL APPEARANCE INSPECTION DEVICE例文帳に追加
外観検査方法および外観検査装置 - 特許庁
APPEARANCE INSPECTION DEVICE FOR COLOR FILTER AND APPEARANCE INSPECTION METHOD例文帳に追加
カラーフィルタ外観検査装置および外観検査方法 - 特許庁
APPEARANCE INSPECTION APPARATUS AND APPEARANCE INSPECTION METHOD OF SOLDERED REGION例文帳に追加
半田付け部位の外観検査装置及び外観検査方法 - 特許庁
SIDE SURFACE APPEARANCE INSPECTION TRAY, AND APPEARANCE INSPECTION TRAY CONNECTOR例文帳に追加
側面外観検査トレー、及び外観検査トレー連結体 - 特許庁
APPEARANCE INSPECTION APPARATUS, APPEARANCE INSPECTION METHOD, AND APPEARANCE INSPECTION PROGRAM AND INFORMATION RECORDING MEDIUM RECORDED WITH THE SAME例文帳に追加
外観検査装置、外観検査方法、外観検査プログラム及びそれを記録した情報記録媒体 - 特許庁
SEMICONDUCTOR PACKAGE APPEARANCE INSPECTION APPARATUS例文帳に追加
半導体パッケージ外観検査装置 - 特許庁
WIRE HARNESS APPEARANCE INSPECTION DEVICE例文帳に追加
ワイヤハーネス外観検査装置 - 特許庁
APPEARANCE INSPECTION APPARATUS OF SEMICONDUCTOR APPARATUS例文帳に追加
半導体装置の外観検査装置 - 特許庁
APPEARANCE INSPECTION DEVICE FOR RUBBER PLUG例文帳に追加
ゴム栓の外観検査装置 - 特許庁
APPEARANCE INSPECTION DEVICE FOR LIGHT TRANSMISSION BODY例文帳に追加
光透過体の外観検査装置 - 特許庁
APPEARANCE INSPECTION APPARATUS OF LIGHT GUIDE PLATE例文帳に追加
導光板外観検査装置 - 特許庁
ELECTRONIC COMPONENT APPEARANCE INSPECTION DEVICE例文帳に追加
電子部品外観検査装置 - 特許庁
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