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"Test pattern"を含む例文一覧と使い方
該当件数 : 1673件
TEST PATTERN GENERATION APPARATUS例文帳に追加
テストパターン生成装置 - 特許庁
TEST PATTERN PHOTOGRAPHING APPARATUS例文帳に追加
テストパターン撮影装置 - 特許庁
TEST PATTERN PREPARATION DEVICE例文帳に追加
テストパターン作成装置 - 特許庁
TEST PATTERN GENERATING MEANS例文帳に追加
テストパターン発生手段 - 特許庁
TEST PATTERN GENERATION SYSTEM, TEST PATTERN GENERATION METHOD, AND TEST PATTERN GENERATION PROGRAM例文帳に追加
テストパタン生成システム、テストパタン生成方法、およびテストパタン生成プログラム - 特許庁
TEST PATTERN GENERATING SYSTEM, TEST PATTERN ANALYZING SYSTEM, TEST PATTERN GENERATION METHOD, TEST PATTERN ANALYTICAL METHOD, TEST PATTERN GENERATION PROGRAM, TEST PATTERN ANALYTICAL PROGRAM, AND RECORDING MEDIUM例文帳に追加
テストパターン生成システム、テストパターン解析システム、テストパターン生成方法、テストパターン解析方法、テストパターン生成プログラム、テストパターン解析プログラム、および記録媒体 - 特許庁
TEST PATTERN SELECTION APPARATUS, TEST PATTERN SELECTION MEANS, AND TEST PATTERN SELECTING PROGRAM例文帳に追加
テストパターン選択装置、テストパターン選択方法、及びテストパターン選択プログラム - 特許庁
TEST PATTERN SELECTION DEVICE AND TEST PATTERN SELECTION METHOD例文帳に追加
テストパターン選別装置及びテストパターン選別方法 - 特許庁
TEST PATTERN GENERATOR, AND TEST PATTERN GENERATION METHOD例文帳に追加
テストパターン生成装置およびテストパターン生成方法 - 特許庁
TEST PATTERN PRINTING METHOD, PRINTING APPARATUS, AND TEST PATTERN例文帳に追加
テストパターン印刷方法、印刷装置、及びテストパターン - 特許庁
TEST PATTERN EDITING SYSTEM, TEST PATTERN EDITING PROGRAM, AND TEST PATTERN EDITING METHOD例文帳に追加
テストパターン編集装置、テストパターン編集プログラム及びテストパターン編集方法 - 特許庁
PRINTER, TEST PATTERN PRINTING METHOD, TEST PATTERN PRINTING PROGRAM, AND TEST PATTERN DATA例文帳に追加
印刷装置、テストパターン印刷方法、テストパターン印刷プログラムおよびテストパターンデータ - 特許庁
TEST PATTERN GENERATING METHOD, AND TEST PATTERN GENERATING PROGRAM例文帳に追加
テストパターン生成方法およびテストパターン生成プログラム - 特許庁
The test pattern is read by a test pattern imaging section 6.例文帳に追加
このテストパターンをテストパターン撮像部6により読み取る。 - 特許庁
TEST PATTERN GENERATION METHOD, TEST PATTERN GENERATION SYSTEM, AND TEST PATTERN GENERATION DEVICE例文帳に追加
テストパターンの生成方法及びテストパターンの生成システム並びにテストパターン生成装置 - 特許庁
TEST-PATTERN FORMING METHOD, PRINTER AND TEST-PATTERN FORMING PROGRAM例文帳に追加
テストパターン形成方法、プリンタ、及びテストパターン形成プログラム - 特許庁
TEST PATTERN MANAGEMENT DEVICE, TEST PATTERN MANAGEMENT METHOD, AND PROGRAM例文帳に追加
テストパターン管理装置及びテストパターン管理方法及びプログラム - 特許庁
PARALLEL GENERATION METHOD FOR TEST PATTERN AND GENERATION APPARATUS FOR TEST PATTERN例文帳に追加
テストパターンの並列生成方法およびテストパターン生成装置 - 特許庁
TEST PATTERN GENERATION MANAGING SYSTEM AND TEST PATTERN GENERATION MANAGEMENT METHOD例文帳に追加
テストパターン生成管理システム及びテストパターン生成管理方法 - 特許庁
IMAGE RECORDER, TEST PATTERN AND TEST PATTERN FOR IMAGE RECORDER例文帳に追加
画像記録装置、テストパターン及び画像記録装置用テストパターン - 特許庁
TEST PATTERN AUTOMATIC GENERATION PROGRAM AND TEST PATTERN AUTOMATIC GENERATION METHOD例文帳に追加
テストパタン自動生成プログラムおよびテストパタン自動生成方法 - 特許庁
TEST PATTERN GENERATION DEVICE, TEST PATTERN CORRECTION DEVICE, TEST PATTERN GENERATION METHOD, PROGRAM, AND RECORDING MEDIUM例文帳に追加
テストパターン生成装置、テストパターン修正装置、テストパターン生成方法、プログラム、及び、記録媒体 - 特許庁
QUALITY ASSESSMENT METHOD FOR TEST PATTERN例文帳に追加
テストパターンの品質評価方法 - 特許庁
TEST PATTERN FORMING SYSTEM AND FORMING METHOD FOR TEST PATTERN USED THEREFOR例文帳に追加
テストパターン作成システム及びそれに用いるテストパターン作成方法 - 特許庁
LOGIC CIRCUIT TEST PATTERN GENERATING DEVICE例文帳に追加
論理回路テストパタン生成装置 - 特許庁
A plurality of test pattern groups (A-E) composed of a first test pattern 101 and a second test pattern 102 are formed.例文帳に追加
第1のテストパターン101と、第2のテストパターン102と、で構成された複数のテストパターン群(A〜E)を形成する。 - 特許庁
PRINTER, TEST PATTERN FORMING METHOD IN PRINTER, AND TEST PATTERN FORMING PROGRAM例文帳に追加
プリンタ、プリンタにおけるテストパターン形成方法、及びテストパターン形成プログラム - 特許庁
Test pattern supplying units 42 and 52 supply a test pattern to the projector.例文帳に追加
テストパターン供給部42、52はテストパターンをプロジェクタに供給する。 - 特許庁
TEST PATTERN SUBSTRATE FOR MANUFACTURING COLOR FILTER例文帳に追加
カラーフィルタ製造用テストパターン基板 - 特許庁
TEST PATTERN BOARD FOR MANUFACTURING COLOR FILTER例文帳に追加
カラーフィルタ製造用テストパターン基板 - 特許庁
TEST PATTERN GENERATING APPARATUS AND METHOD例文帳に追加
テスト・パターン発生装置及び方法 - 特許庁
A test pattern generator 24 reads a test pattern out of a test pattern storage 25 and prints out the pattern by using an output device.例文帳に追加
テストパターン発生装置24がテストパターン記憶装置25からパターンを読み出し、出力装置に印刷する。 - 特許庁
Based on image data for forming a test pattern (A), the test pattern is printed (first test pattern output).例文帳に追加
テストパターン(A)を形成するための画像データに基づいて、テストパターンを印刷する(第1のテストパターン出力)。 - 特許庁
SEMICONDUCTOR TESTING METHOD, SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE, TEST PATTERN GENERATION METHOD, TEST PATTERN GENERATION TOOL, AND TEST PATTERN DISPLAY TOOL例文帳に追加
半導体テスト方法、半導体テスト装置、テストパターン生成方法、テストパターン生成ツール、及びテストパターン表示ツール - 特許庁
INK JET PRINTER, PROGRAM, AND TEST PATTERN例文帳に追加
インクジェットプリンタ、プログラム、及びテストパターン - 特許庁
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