| 例文 |
"delta function"を含む例文一覧と使い方
該当件数 : 7件
The delta function returns the difference between the original value and the new value of the expression when a field is changed. 例文帳に追加
デルタ関数は, あるフィールドが変化したときに, 式の元の値と新しい値との差を返す. - コンピューター用語辞典
The signal source 10 outputs a modulation signal whose autocorrelation function has a delta-function-like peak.例文帳に追加
信号源10は、自己相関関数がデルタ関数的なピークを有する変調信号を出力する。 - 特許庁
This digital image processing method has a stage for embedding a delta function in a digital image, a stage for applying an intermediate process stage with a modulating transforming function(MTF) of blurring an image to the digital image, a stage for deriving a delta function from the processed digital image, and a stage for estimating the MTF from the extracted delta function.例文帳に追加
本発明によるディジタル画像処理方法は、ディジタル画像にデルタ関数を埋め込む段階と、画像をぶれさせる変調用変成機能(MTF)を有する中間処理段階をディジタル画像に受けさせる段階と、処理されたディジタル画像からデルタ関数を引き出す段階と、取り出されたデルタ関数からMTFを推定する段階とを有する。 - 特許庁
In the expression (1), β is a result also processing the position parameter required in the two-wave model in the stochastic and statistic manner, and δ(t) is Dirac's delta function.例文帳に追加
h(t)=βδ(t)・・・・・・・・・・・(1) ちなみにβは、2波モデル内で必要な位置パラメータについても確率統計的に処理したものである。 - 特許庁
To provide a direct quality estimating method to a delta function type doping layer in a semiconductor epitaxial multilayer film, especially a method wherein luminescence peak from a doped layer is emphasized and detected simply and clearly.例文帳に追加
半導体エピタキシャル多層膜中のデルタ関数状ドーピング層に対する直接の品質評価法、特に該ドープ層からのルミネッセンスピークを増強して簡単かつ明確に検出する方法を提供すること。 - 特許庁
The CPU 12 multiplies the low-pass filter of the set cutoff frequency and a delta function in a space frequency region, finds a point-spread function obtained by inverse Fourier transform, and finds an effective width of the point spread function.例文帳に追加
CPU12は、設定された遮断周波数の低域通過フィルタとデルタ関数とを空間周波数領域で掛け合わせ、さらに逆フーリエ変換して得られる点広がり関数を求めて、該点広がり関数の実効幅を求める。 - 特許庁
A concentration distribution generation method and a process simulator perform a defect amount calculation procedure to calculate a defect amount Q_I per unit area of defects introduced to a semiconductor substrate by ion implantation and a defect position calculation procedure to calculate a position d_I to position by condensing a defect concentration distribution in an ion implantation concentration distribution by the ion implantation with a computer and treat the defect concentration distribution like a delta function.例文帳に追加
上記課題は、コンピュータが、イオン注入によって半導体基板に導入される欠陥の単位面積当たりの欠陥量Q_Iを算出する欠陥量算出手順と、前記イオン注入によるイオン注入濃度分布において欠陥濃度分布を凝集させて位置付ける位置d_Iを算出する欠陥位置算出手順とを実行し、前記欠陥濃度分布をデルタ関数的に扱うことにより達成される。 - 特許庁
| 例文 |
| Copyright (C) 1994- Nichigai Associates, Inc., All rights reserved. |
| Copyright © Japan Patent office. All Rights Reserved. |
|
ログイン |
Weblio会員(無料)になると
|
|
ログイン |
Weblio会員(無料)になると
|
