1016万例文収録!

「検板」に関連した英語例文の一覧と使い方(12ページ目) - Weblio英語例文検索


小窓モード

プレミアム

ログイン
設定

設定

Weblio 辞書 > 英和辞典・和英辞典 > 検板に関連した英語例文

セーフサーチ:オン

不適切な検索結果を除外する

不適切な検索結果を除外しない

セーフサーチについて

検板の部分一致の例文一覧と使い方

該当件数 : 16915



例文

表示用パネル基査装置例文帳に追加

INSPECTION APPARATUS FOR DISPLAY PANEL BOARD - 特許庁

のコイニング電気査装置例文帳に追加

SUBSTRATE COINING ELECTRICAL INSPECTION DEVICE - 特許庁

査装置およびその方法例文帳に追加

SUBSTRATE INSPECTION DEVICE AND SUBSTRATE INSPECTION METHOD - 特許庁

電子線式基査装置例文帳に追加

ELECTRON BEAM TYPE SUBSTRATE INSPECTING APPARATUS - 特許庁

例文

プリント配線基査用治具例文帳に追加

PRINTED WIRING BOARD INSPECTION JIG - 特許庁


例文

電子回路基査治具例文帳に追加

INSPECTION JIG FOR ELECTRONIC CIRCUIT BOARD - 特許庁

査装置及び方法例文帳に追加

SUBSTRATE TESTING DEVICE AND METHOD THEREOF - 特許庁

プレス熱精度の査方法例文帳に追加

TEST METHOD FOR PRESS HOT PLATEN PRECISION - 特許庁

の研磨終点例文帳に追加

POLISHING END POINT DETECTION FOR SUBSTRATE - 特許庁

例文

液晶基及び査装置例文帳に追加

LIQUID CRYSTAL SUBSTRATE AND INSPECTION INSTRUMENT - 特許庁

例文

実装基の外観査方法例文帳に追加

VISUAL INSPECTION METHOD FOR MOUNTING SUBSTRATE - 特許庁

の表面欠陥査装置例文帳に追加

SURFACE DEFECT INSPECTING DEVICE FOR STEEL PLATE - 特許庁

プローブ及び基査装置例文帳に追加

PROBE AND SUBSTRATE INSPECTION DEVICE - 特許庁

のエッジ出方法例文帳に追加

STEEL PLATE EDGE DETECTING METHOD - 特許庁

の非破壊査装置例文帳に追加

NONDESTRUCTIVE INSPECTION DEVICE OF SHEET - 特許庁

状部品の反り査装置例文帳に追加

WARP INSPECTION DEVICE FOR PLATE COMPONENTS - 特許庁

回転出装置及び回路基例文帳に追加

ROTATION DETECTING DEVICE AND CIRCUIT BOARD - 特許庁

ベアチップ査用プローブ基例文帳に追加

PROBE SUBSTRATE FOR BARE CHIP INSPECTION - 特許庁

部品実装基査装置例文帳に追加

INSPECTION DEVICE OF COMPONENT MOUNTING SUBSTRATE - 特許庁

実装メモリ査装置例文帳に追加

MEMORY VERIFYING DEVICE FOR MOUNTING SUBSTRATE - 特許庁

配線基査方法例文帳に追加

INSPECTION METHOD OF WIRING BOARD - 特許庁

査治具及び接触子例文帳に追加

SUBSTRATE INSPECTION JIG AND CONTACT - 特許庁

プローブ装置及び基査装置例文帳に追加

PROBE DEVICE, AND SUBSTRATE INSPECTION DEVICE - 特許庁

近方視機能査視標例文帳に追加

NEAR VISUAL FUNCTION EXAMINATION TARGET PLATE - 特許庁

査方法及び記憶媒体例文帳に追加

SUBSTRATE INSPECTION METHOD AND STORAGE MEDIUM - 特許庁

ガラスの端部の査方法例文帳に追加

TESTING METHOD OF END PART OF PLATE GLASS - 特許庁

なぞり式回路基査装置例文帳に追加

TRACE TYPE CIRCUIT BOARD INSPECTION DEVICE - 特許庁

査治具及び接触子例文帳に追加

SUBSTRATE INSPECTION JIG AND CONTACTOR - 特許庁

配線基の外観査方法例文帳に追加

WIRING BOARD VISUAL INSPECTION METHOD - 特許庁

バンプ付き基査方法例文帳に追加

INSPECTION METHOD OF SUBSTRATE WITH BUMP - 特許庁

プリント配線査治具例文帳に追加

INSPECTION TOOL FOR PRINTED WIRING BOARD - 特許庁

半導体基査装置例文帳に追加

APPARATUS FOR INSPECTING SEMICONDUCTOR SUBSTRATE - 特許庁

出装置および方法例文帳に追加

SUBSTRATE DETECTING DEVICE AND METHOD - 特許庁

分離装置及び基査装置例文帳に追加

SEPARATING DEVICE, AND SUBSTRATE INSPECTING DEVICE - 特許庁

浮上ユニット及び基査装置例文帳に追加

FLOATING UNIT AND SUBSTRATE INSPECTION APPARATUS - 特許庁

の内部欠陥出装置例文帳に追加

INTERNAL DEFECT DETECTOR FOR STEEL SHEET - 特許庁

多層基の基準孔査装置例文帳に追加

NOMINAL PRONGS INSPECTION DEVICE OF MULTILAYER SUBSTRATE - 特許庁

電子回路基査装置例文帳に追加

INSPECTION DEVICE OF ELECTRONIC CIRCUIT BOARD - 特許庁

パンタグラフのすり査装置例文帳に追加

PANTOGRAPH SLIDER INSPECTION APPARATUS - 特許庁

査装置および基査方法並びに基査装置の査ロジック生成装置および査ロジック生成方法例文帳に追加

SUBSTRATE INSPECTION DEVICE, SUBSTRATE INSPECTION METHOD, INSPECTION LOGIC FORMING DEVICE OF SUBSTRATE INSPECTION DEVICE AND INSPECTION LOGIC FORMING METHOD - 特許庁

査基の欠陥を出する基査装置において、被査基査効率を向上できるようにする。例文帳に追加

To enhance the inspection efficiency of a substrate to be inspected in a substrate inspection device for detecting the flaw of the substrate to be inspected. - 特許庁

査用基査用基の製造方法、査用基の評価方法、位置出装置の製造方法、位置出装置及び投影露光装置例文帳に追加

SUBSTRATE FOR INSPECTION, METHOD OF MANUFACTURING SUBSTRATE FOR INSPECTION, METHOD OF EVALUATING SUBSTRATE FOR INSPECTION, METHOD OF MANUFACTURING POSITION DETECTOR, POSITION DETECTOR, AND PROJECTION EXPOSURE DEVICE - 特許庁

プリント基査用治具基作製用情報生成方法および装置、プリント基査用治具基並びにプリント基査方法例文帳に追加

METHOD AND DEVICE FOR GENERATING INFORMATION FOR PRODUCTION OF PRINTED BOARD INSPECTING JIG BOARD PRINTED BOARD INSPECTING JIG BOARD, AND PRINTED BOARD INSPECTING METHOD - 特許庁

の位置ずれ査機構,処理システム及び基の位置ずれ査方法例文帳に追加

MISREGISTRATION INSPECTION MECHANISM OF SUBSTRATE, PROCESSING SYSTEM, AND MISREGISTRATION INSPECTION METHOD OF SUBSTRATE - 特許庁

液晶基査用プローバ及び液晶基査装置例文帳に追加

LIQUID CRYSTAL SUBSTRATE INSPECTING PROBER AND LIQUID CRYSTAL SUBSTRATE INSPECTING DEVICE - 特許庁

半導体基査方法及び半導体基査装置例文帳に追加

CHECKING METHOD FOR SEMICONDUCTOR SUBSTRATE AND CHECKING DEVICE FOR SEMICONDUCTOR SUBSTRATE - 特許庁

多層基形成用素の保護フィルム、査装置及び査方法例文帳に追加

PROTECTIVE FILM OF BLANK FOR FORMING MULTILAYER SUBSTRATE, INSPECTION EQUIPMENT AND INSPECTION METHOD - 特許庁

TFT基査装置用パレットおよびTFT基査装置例文帳に追加

PALLET FOR TFT SUBSTRATE INSPECTION DEVICE, AND TFT SUBSTRATE INSPECTION DEVICE - 特許庁

回路基査用プロービング装置および回路基査装置例文帳に追加

PROBING APPARATUS FOR INSPECTING CIRCUIT BOARD AND CIRCUIT BOARD INSPECTION APPARATUS - 特許庁

例文

電圧出回路及びこれを用いた基雑音出回路例文帳に追加

SUBSTRATE VOLTAGE-DETECTING CIRCUIT AND SUBSTRATE NOISE- DETECTING CIRCUIT USING THE CIRCUIT - 特許庁

索引トップ用語の索引



  
Copyright © Japan Patent office. All Rights Reserved.
こんにちは ゲスト さん

ログイン

Weblio会員(無料)になると

会員登録のメリット検索履歴を保存できる!

会員登録のメリット語彙力診断の実施回数増加!

無料会員に登録する
英→日 日→英
こんにちは ゲスト さん

ログイン

Weblio会員(無料)になると

会員登録のメリット検索履歴を保存できる!

会員登録のメリット語彙力診断の実施回数増加!

無料会員に登録する

©2024 GRAS Group, Inc.RSS