例文 (999件) |
検板の部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 16915件
回路基板検査方法およびその装置ならびに回路基板検査プローブ例文帳に追加
METHOD, APPARATUS AND PROBE FOR TESTING CIRCUIT BOARD - 特許庁
基板検査装置、基板検査方法および半導体装置の製造方法例文帳に追加
SUBSTRATE INSPECTION DEVICE, SUBSTRATE TESTING METHOD, AND MANUFACTURING METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE - 特許庁
基板検査方法、半導体装置の製造方法および基板検査装置例文帳に追加
SUBSTRATE INSPECTION METHOD, SEMICONDUCTOR DEVICE MANUFACTURING METHOD, AND SUBSTRATE INSPECTION SYSTEM - 特許庁
基板検査方法およびこの方法を用いた基板検査装置例文帳に追加
SUBSTRATE TESTING METHOD AND SUBSTRATE TESTING DEVICE USING SAME METHOD - 特許庁
基板検査用カメラのための照明装置を備える基板検査装置例文帳に追加
SUBSTRATE INSPECTION APPARATUS EQUIPPED WITH LIGHTING SYSTEM FOR SUBSTRATE INSPECTION CAMERA - 特許庁
コンタクトプローブ、回路基板検査方法及び回路基板検査装置例文帳に追加
CONTACT PROBE, CIRCUIT BOARD INSPECTION METHOD, AND CIRCUIT BOARD INSPECTION APPARATUS - 特許庁
回路基板検査用プローブユニットおよび回路基板検査装置例文帳に追加
PROBE UNIT FOR CIRCUIT BOARD CHECKUP AND CIRCUIT BOARD CHECKUP DEVICE - 特許庁
プリント回路基板検査装置、及びプリント回路基板検査方法例文帳に追加
PRINTED CIRCUIT BOARD INSPECTING DEVICE AND PRINTED CIRCUIT BOARD INSPECTION METHOD - 特許庁
ティーチング方法、電子基板検査方法、および電子基板検査装置例文帳に追加
TEACHING METHOD, ELECTRONIC SUBSTRATE INSPECTION METHOD, AND ELECTRONIC SUBSTRATE INSPECTION DEVICE - 特許庁
プリント板検査装置及びプリント板検査装置の走査方法例文帳に追加
PRINTED BOARD TESTING DEVICE AND SCANNING METHOD OF PRINTED BOARD TESTING DEVICE - 特許庁
検査用基板の製造方法及び検査用基板の補正治具例文帳に追加
MANUFACTURING METHOD AND CORRECTION TOOL OF SUBSTRATE FOR INSPECTION - 特許庁
基板外観検査装置、基板外観検査方法及びそのプログラム例文帳に追加
SUBSTRATE APPEARANCE INSPECTING APPARATUS, SUBSTRATE APPEARANCE INSPECTING METHOD, AND PROGRAM OF THE SAME - 特許庁
表示基板の検査方法及びこれを利用した表示基板の検査装置例文帳に追加
INSPECTION METHOD FOR DISPLAY SUBSTRATE, AND INSPECTION DEVICE FOR DISPLAY SUBSTRATE USING THE SAME - 特許庁
荷電粒子線を用いた基板検査装置および基板検査方法例文帳に追加
INSPECTION DEVICE OF SUBSTRATE AND INSPECTION METHOD THEREOF USING CHARGED PARTICLE RAY - 特許庁
半導体基板検査装置、半導体基板検査方法およびプログラム例文帳に追加
SYSTEM, METHOD AND PROGRAM FOR INSPECTING SEMICONDUCTOR SUBSTRATE - 特許庁
半導体基板欠陥検出方法及び半導体基板欠陥検出装置例文帳に追加
METHOD AND APPARATUS FOR DETECTING DEFECT OF SEMICONDUCTOR SUBSTRATE - 特許庁
回路基板の外観検査方法及び回路基板の外観検査装置例文帳に追加
METHOD AND DEVICE FOR INSPECTING APPEARANCE OF CIRCUIT BOARD - 特許庁
基板検査装置および該基板検査装置に用いられるパラレルリンク機構例文帳に追加
SUBSTRATE INSPECTION DEVICE AND PARALLEL LINK MECHANISM USED THEREFOR - 特許庁
基板検査装置、基板検査方法、液滴吐出装置及び吐出方法例文帳に追加
APPARATUS AND METHOD FOR INSPECTION OF SUBSTRATE AND APPARATUS AND METHOD FOR DISCHARGE OF DROPLET - 特許庁
基板検査用治具及びこの治具を備える基板検査装置例文帳に追加
JIG FOR SUBSTRATE INSPECTION AND SUBSTRATE INSPECTION APPARATUS EQUIPPED WITH SAME - 特許庁
プリント配線板、プリント配線板の検査装置及び検査方法例文帳に追加
PRINTED WIRING BOARD, AND METHOD AND APPARATUS FOR INSPECTING SAME - 特許庁
回路基板の外観検査方法及び回路基板の外観検査装置例文帳に追加
INSPECTION METHOD AND DEVICE OF CIRCUIT BOARD APPEARANCE - 特許庁
電子回路基板検査システムおよび電子回路基板の検査方法例文帳に追加
SYSTEM AND METHOD FOR INSPECTING ELECTRONIC CIRCUIT BOARD - 特許庁
プリント基板の検査方法および検査装置並びにプリント基板例文帳に追加
INSPECTION METHOD AND INSPECTING APPARATUS FOR PRINTED BOARD AND PRINTED BOARD - 特許庁
基板温度検出装置、その製造方法及び基板温度検出方法例文帳に追加
SUBSTRATE TEMPERATURE DETECTION DEVICE, ITS MANUFACTURING METHOD AND METHOD FOR DETECTING TEMPERATURE OF SUBSTRATE - 特許庁
ガラス基板欠陥検査装置及びガラス基板欠陥検査方法例文帳に追加
GLASS SUBSTRATE DEFECT CHECKUP DEVICE AND GLASS SUBSTRATE DEFECT CHECKUP METHOD - 特許庁
基板検査用プローブ及びそれを用いた基板検査装置例文帳に追加
PROBE FOR INSPECTING SUBSTRATE, AND SUBSTRATE INSPECTING APPARATUS USING THE SAME - 特許庁
プリント基板検査支援装置及びプリント基板検査方法例文帳に追加
PRINTED BOARD INSPECTION SUPPORTING APPARATUS AND METHOD FOR INSPECTING PRINTED BOARD - 特許庁
基板面位置検出装置、基板面位置検出方法及び露光装置例文帳に追加
BOARD SURFACE POSITION-DETECTING APPARATUS AND METHOD THEREFOR, AND ALIGNER - 特許庁
プリント配線基板の検査システム及びプリント配線基板の検査方法例文帳に追加
SYSTEM AND METHOD FOR INSPECTING PRINTED WIRING BOARD - 特許庁
大型基板を高速で検査できる基板検査装置を実現する。例文帳に追加
To provide a substrate inspecting apparatus capable of inspecting a large substrate at a high speed. - 特許庁
基板の欠陥検査システム及び基板の欠陥検出方法例文帳に追加
SUBSTRATE DEFECT INSPECTION SYSTEM AND SUBSTRATE DEFECT DETECTING METHOD - 特許庁
基板検査装置における位置合わせ方法及び基板検査装置例文帳に追加
ALIGNMENT METHOD IN BOARD INSPECTION APPARATUS, AND BOARD INSPECTION APPARATUS - 特許庁
基板の欠陥検査方法および基板の欠陥検査システム例文帳に追加
SUBSTRATE DEFECT INSPECTION METHOD AND SUBSTRATE DEFECT INSPECTION SYSTEM - 特許庁
荷電粒子線を用いた基板検査装置および基板検査方法例文帳に追加
SUBSTRATE INSPECTION DEVICE AND SUBSTRATE INSPECTION METHOD USING CHARGED PARTICLE BEAM - 特許庁
基板欠陥検査システム及び基板欠陥検査方法並びに搬送装置例文帳に追加
SUBSTRATE DEFECT CHECKUP SYSTEM AND SUBSTRATE DEFECT CHECKUP METHOD, AND CONVEYING APPARATUS - 特許庁
鋼板のエッジ検出装置、鋼板のエッジ検出方法及び記憶媒体例文帳に追加
APPARATUS AND METHOD FOR DETECTING EDGE OF STEEL PANEL AND STORAGE MEDIUM - 特許庁
基板検出部66aは、搬入される基板の種類を検出する。例文帳に追加
A substrate detector 66a detects a type of a substrate which has been carried in. - 特許庁
基板外観検査装置および基板外観検査用の画像生成方法例文帳に追加
BOARD APPEARANCE INSPECTION DEVICE, AND METHOD FOR FORMING IMAGE FOR BOARD APPEARANCE INSPECTION - 特許庁
プレス機械における板厚検出方法および板厚検出装置例文帳に追加
METHOD AND APPARATUS FOR DETECTING PLATE THICKNESS IN PRESS MACHINE - 特許庁
アルミ圧延板凹凸検出方法,アルミ圧延板凹凸検出装置例文帳に追加
METHOD AND DEVICE FOR DETECTING ALUMINUM ROLLED PLATE UNEVENNESS - 特許庁
プリント配線基板の検査装置及びプリント配線基板の検査方法例文帳に追加
DEVICE AND METHOD FOR INSPECTING PRINTED WIRING BOARD - 特許庁
生化学的検査用の検査基板とこれに用いる微小基板例文帳に追加
TEST SUBSTRATE FOR BIOCHEMICAL TEST AND MINUTE SUBSTRATE USED THEREFOR - 特許庁
基板の実装状態検査方法および基板の実装状態検査装置例文帳に追加
MOUNTING-STATE INSPECTION METHOD FOR SUBSTRATE, AND MOUNTING-STATE INSPECTION DEVICE FOR SUBSTRATE - 特許庁
板状部材用光検査装置及び板状部材用光検査方法例文帳に追加
OPTICAL INSPECTION APPARATUS FOR PLATE MEMBER AND OPTICAL INSPECTION METHOD FOR PLATE MEMBER - 特許庁
部品実装基板の検査方法および部品実装基板用の検査装置例文帳に追加
METHOD AND APPARATUS FOR CHECKING COMPONENT MOUNTING SUBSTRATE - 特許庁
回路基板検査用プロービング装置および回路基板検査装置例文帳に追加
PROBING APPARATUS FOR CIRCUIT BOARD INSPECTION, AND CIRCUIT BOARD INSPECTING SYSTEM - 特許庁
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