例文 (192件) |
顕微分析の部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 192件
顕微分析例文帳に追加
microscopic analysis - 日本語WordNet
顕微分析装置例文帳に追加
MICROSCOPIC ANALYSIS DEVICE - 特許庁
顕微赤外分光分析例文帳に追加
Microscopic infrared spectrum analysis - Weblio Email例文集
分析電子顕微鏡例文帳に追加
電子顕微鏡分析装置例文帳に追加
ELECTRON MICROSCOPE ANALYZER - 特許庁
光学顕微鏡と電子顕微鏡とによる分析方法例文帳に追加
ANALYSIS METHOD BY OPTICAL MICROSCOPE AND ELECTRON MICROSCOPY - 特許庁
電子顕微鏡における分析方法例文帳に追加
ANALYZING METHOD IN ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁
分析走査電子顕微鏡例文帳に追加
SCANNING ELECTRON MICROSCOPE FOR ANALYSIS - 特許庁
分析透過型電子顕微鏡例文帳に追加
顕微レーザ質量分析計例文帳に追加
顕微光学分析システム例文帳に追加
MICROSCOPIC OPTICAL ANALYSIS SYSTEM - 特許庁
顕微鏡装置及び分析装置例文帳に追加
MICROSCOPIC APPARATUS AND ANALYZER - 特許庁
顕微鏡用マルチカラー分析装置及び顕微鏡を用いたマルチカラー分析方法例文帳に追加
MULTICOLOR ANALYZER FOR MICROSCOPE, AND MULTICOLOR ANALYSIS METHOD USING MICROSCOPE - 特許庁
透過電子顕微鏡又は走査型透過電子顕微鏡を用いた試料の分析方法及び分析装置例文帳に追加
METHOD AND APPARATUS FOR ANALYZING SAMPLE USING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE OR SCANNING TYPE TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁
共焦点顕微鏡又は多光子顕微鏡の光学系を用いた光分析装置及び光分析方法例文帳に追加
OPTICAL ANALYSIS DEVICE AND OPTICAL ANALYSIS METHOD USING OPTICAL SYSTEM OF CONFOCAL MICROSCOPE OR MULTIPHOTON MICROSCOPE - 特許庁
試料ホルダ、元素分析装置、電子顕微鏡、及び、元素分析方法例文帳に追加
SAMPLE HOLDER, ELEMENT ANALYZER, ELECTRON MICROSCOPE AND ELEMENT ANALYZING METHOD - 特許庁
真空分析装置、質量分析装置および電子顕微鏡装置例文帳に追加
VACUUM ANALYZER, MASS SPECTROMETER AND ELECTRON MICROSCOPIC APPARATUS - 特許庁
電子顕微鏡またはX線分析装置及び試料の分析方法例文帳に追加
ELECTRON MICROSCOPE OR X-RAY ANALYSIS APPARATUS, AND METHOD FOR ANALYZING SAMPLE - 特許庁
対物レンズ、光分析装置、光分析装置の運転方法および顕微鏡例文帳に追加
OBJECTIVE LENS, OPTICAL ANALYZER, METHOD OF OPERATING THE OPTICAL ANALYZER, AND MICROSCOPE - 特許庁
蛍光顕微鏡およびマイクロ分析チップ例文帳に追加
FLUORESCENCE MICROSCOPE AND MICRO ANALYSIS CHIP - 特許庁
共焦点顕微ラマン分光分析方法例文帳に追加
電子エネルギー分析器及びそれを用いた電子顕微鏡例文帳に追加
ELECTRON ENERGY ANALYZER AND ELECTRON MICROSCOPE USING THE SAME - 特許庁
エミッション顕微鏡およびその分析方法例文帳に追加
EMISSION MICROSCOPE AND ITS ANALYSIS - 特許庁
走査電子顕微鏡による分析方法例文帳に追加
表面元素分析機能付き走査プローブ顕微鏡例文帳に追加
SCANNING PROBE MICROSCOPE WITH SURFACE ELEMENT ANALYSIS FUNCTION - 特許庁
赤外顕微鏡装置および分光分析方法例文帳に追加
INFRARED MICROSCOPE DEVICE AND SPECTROSCOPIC ANALYSIS METHOD - 特許庁
化学分析用複合放出電子顕微鏡装置例文帳に追加
COMPOSITE EMISSION ELECTRON MICROSCOPE FOR CHEMICAL ANALYSIS - 特許庁
分析装置および透過電子顕微鏡例文帳に追加
ANALYZER AND TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁
走査型プローブ顕微鏡による二本鎖核酸の分析例文帳に追加
ANALYSIS OF DOUBLE STRANDED NUCLEIC ACID BY SCANNING PROBE MICROSCOPE - 特許庁
顕微鏡分析用の薄い液体試料を準備する方法例文帳に追加
PREPARATION OF THIN LIQUID SAMPLE FOR MICROSCOPIC ANALYSIS - 特許庁
暗視野熱レンズ顕微鏡分析方法とその装置例文帳に追加
DARK FIELD THERMAL LENS MICROSCOPIC ANALYSIS METHOD AND DEVICE THEREFOR - 特許庁
光分析装置、その運転方法及び顕微鏡例文帳に追加
PHOTOMETRIC ANALYZER, ITS OPERATION METHOD, AND MICROSCOPE - 特許庁
全反射顕微鏡装置、及び蛍光試料分析方法例文帳に追加
TOTAL INTERNAL REFLECTION MICROSCOPE APPARATUS AND METHOD FOR ANALYZING FLUORESCENT SAMPLE - 特許庁
熱レンズ顕微鏡超微量分析方法とその装置例文帳に追加
METHOD AND SYSTEM FOR ANALYZING MICRO AMOUNT WITH THERMAL LENS MICROSCOPE - 特許庁
顕微赤外分光測定用試料台、及び顕微赤外分光分析用試料作製方法例文帳に追加
SAMPLE BASE FOR INFRARED MICROSPECTROMETRY AND METHOD OF PREPARING SAMPLE FOR INFRARED MICROSPECTROSCOPIC ANALYSIS - 特許庁
プローブ顕微鏡およびそのプローブ顕微鏡を用いた表面性状分析方法例文帳に追加
PROBE MICROSCOPE AND SURFACE PROPERTY ANALYZING METHOD USING THE SAME - 特許庁
X線分光顕微分析方法および光電変換型X線顕微鏡装置例文帳に追加
X-RAY SPECTRAL MICROSCOPIC ANALYZING METHOD AND PHOTOELECTRIC CONVERSION TYPE X-RAY MICROSCOPIC DEVICE - 特許庁
電子顕微鏡装置と共に用いる分析装置、及び、第1の分析装置と共に用いる第2の分析装置例文帳に追加
ANALYZER USED WITH ELECTRON MICROSCOPE APPARATUS, AND SECOND ANALYZER USED WITH FIRST ONE - 特許庁
原子間遷移エネルギー分析走査プローブ顕微鏡法および原子間遷移エネルギー分析走査プローブ顕微鏡例文帳に追加
INTERATOMIC TRANSITION ENERGY ANALYSIS SCANNING PROBE MICROSCOPY AND INTERATOMIC TRANSITION ENERGY ANALYSIS SCANNING PROBE MICROSCOPE - 特許庁
電子線分光器、それを備えた電子顕微鏡及び分析方法例文帳に追加
ELECTRON BEAM SPECTROSCOPE, ELECTRON MICROSCOPE EQUIPPED WITH THE SAME, AND ANALYTICAL METHOD - 特許庁
陽電子分析顕微鏡および陽電子ビームを用いた測定方法例文帳に追加
POSITIVE ELECTRON ANALYSIS MICROSCOPE AND MEASUREMENT METHOD USING POSITIVE ELECTRON BEAM - 特許庁
分析電子顕微鏡において、電子線照射時の試料汚染を防止する。例文帳に追加
To prevent sample contamination in electron irradiation in an analytical electron microscope. - 特許庁
サンプルが、顕微鏡分析に適した光学キュベット内に配置される。例文帳に追加
A sample is disposed in an optical cuvette suitable for microscopic analysis. - 特許庁
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