例文 (11件) |
高圧電子顕微鏡の部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 11件
超高圧電子顕微鏡例文帳に追加
高圧電子顕微鏡法では、加速電圧は500〜3000kVに達する。例文帳に追加
The accelerating voltage reaches 500 to 3000 kV in high-voltage electron microscopy. - 科学技術論文動詞集
高圧電子顕微鏡では、電子回折はより厚い結晶に応用できる。例文帳に追加
In a high-voltage TEM, electron diffraction can be applied to thicker crystals. - 科学技術論文動詞集
超高圧電子顕微鏡用耐圧光ファイバー及びその製造方法例文帳に追加
WITHSTAND VOLTAGE OPTICAL FIBER FOR ULTRA-HIGH VOLTAGE ELECTRON MICROSCOPE AND MANUFACTURING METHOD THEREOF - 特許庁
高圧環境中の試料を使用して動作する走査透過電子顕微鏡を提供すること。例文帳に追加
To provide a scanning transmission electron microscope operated with a sample in a high pressure environment. - 特許庁
高圧電子顕微鏡では、試料が低次指数の晶帯軸の近くで(電子ビームで)照射されるとき、より多くのブラッグ反射が同時に励起される。例文帳に追加
In a high-voltage TEM, many more Bragg reflections are excited simultaneously when a specimen is illuminated near a low-indexed zone axis. - 科学技術論文動詞集
絶縁劣化を起こし難く、高耐圧を有する超高圧電子顕微鏡用耐圧光ファイバー及びその製造方法を提供する。例文帳に追加
To provide a withstand voltage optical fiber resistant to deterioration in insulation, as well as being heavily insulated for an ultra-high voltage electron microscope and realize a manufacturing method thereof. - 特許庁
直流超高圧電源、直流加速管及び多数の超高圧用電磁レンズを使用しなくても、超高圧に加速された電子線による試料観察が可能な対物レンズ系及び電子顕微鏡を提供する。例文帳に追加
To provide an objective lens system and an electron microscope capable of sample observation with an electron beam accelerated to ultra high voltage even without any use of a DC ultra high-voltage power supply, a DC acceleration tube, or a number of electromagnetic lenses for ultra high voltage. - 特許庁
電子顕微鏡や電子線描画装置などの電子線応用装置において採用されるショットキー電子源の高圧電源に関し、電子源に急激な状態変化をもたらさないようにすることで、電子線応用装置の信頼性向上を目的とする。例文帳に追加
To improve reliability of an electron beam application device by preventing a rapid change of state to an electron source with regard to a high voltage power source of a Schottky electron source adopted in the electron beam application device such as an electron microscope or an electron beam picture drawing device. - 特許庁
走査電子顕微鏡の電子銃2に接続される電子線加速高圧電源1を電圧微細調整器3により加速電圧を可変にすることにより対物レンズの焦点距離を連続的に変更し、試料位置を機械的手段で調整することなく試料への焦点合わせを実現させる。例文帳に追加
A focal length of an objective is continuously changed by making accelerated voltage from a power source 1 of an electron beam accelerating voltage connected to an electron gun 2 of the scanning electron microscope variable by a voltage fine controller 3 to realize focusing to a sample without adjusting a position of a sample by a mechanical means. - 特許庁
電子線損失をより効果的に防止し、低圧から高圧まで広範囲の加速電圧に適用可能で、製造上の困難性を伴わず、実用化が可能で高コントラストの像を得ることを可能とする電子顕微鏡用位相板を提供する。例文帳に追加
To provide a phase plate for an electron microscope which can further effectively prevent an electron beam loss, can be applied to an acceleration voltage over a wide range from low to high voltages, can be put into practical use without being accompanied by difficulty in its manufacture, and can attain an image of a high contrast. - 特許庁
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