「Euv」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

EUV EXPOSURE METHOD AND EUV EXPOSURE APPARATUS例文帳に追加

ＥＵＶ露光方法及びＥＵＶ露光装置 - 特許庁

EUV MASK INSPECTION DEVICE例文帳に追加

ＥＵＶマスク検査装置 - 特許庁

EUV MASK AND METHOD FOR REPAIRING EUV MASK例文帳に追加

ＥＵＶマスク及びＥＵＶマスクの修正方法 - 特許庁

STENCIL MASK FOR EUV EXPOSURE, EUV EXPOSURE APPARATUS, AND EUV EXPOSURE METHOD例文帳に追加

ＥＵＶ露光用ステンシルマスク、ＥＵＶ露光装置、およびＥＵＶ露光方法 - 特許庁

COLLECTOR FOR EUV LIGHT SOURCE例文帳に追加

ＥＵＶ光源用コレクタ - 特許庁

EUV MASK INSPECTION DEVICE AND EUV MASK INSPECTION METHOD例文帳に追加

ＥＵＶマスク検査装置、ＥＵＶマスク検査方法 - 特許庁

EXTREME ULTRAVIOLET (EUV) RAY SOURCE FOR EMITTING EUV RADIATION例文帳に追加

極紫外（ＥＵＶ）線を発生するＥＵＶ線源 - 特許庁

EUV EXPOSURE MASK BLANK, AND EUV EXPOSURE MASK例文帳に追加

ＥＵＶ露光用マスクブランクおよびＥＵＶ露光用マスク - 特許庁

MIRROR FOR EUV AND EUV ALIGNER HAVING THE SAME例文帳に追加

ＥＵＶ用ミラー及びそれを有するＥＵＶ露光装置 - 特許庁

SUBSTRATE FOR EUV MASK BLANKS例文帳に追加

ＥＵＶマスクブランクス用基板 - 特許庁

MANUFACTURING METHOD OF EUV MASK例文帳に追加

ＥＵＶマスクの製造方法 - 特許庁

EUV EXPOSURE APPARATUS, EUV EXPOSURE METHOD, AND DEVICE MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

ＥＵＶ露光装置、露光方法およびデバイス製造方法 - 特許庁

EUV EXPOSURE DEVICE, EUV EXPOSURE METHOD AND REFLECTION TYPE MASK例文帳に追加

ＥＵＶ露光装置、ＥＵＶ露光方法及び反射型マスク - 特許庁

EUV RADIATION SOURCE AND METHOD FOR GENERATING EUV RADIATION例文帳に追加

ＥＵＶ放射源およびＥＵＶ放射を発生させる方法 - 特許庁

EUV RETICLE THERMAL MANAGEMENT SYSTEM例文帳に追加

ＥＵＶレチクルサーマルマネージメントシステム - 特許庁

METHOD OF FORMING EUV-RAY REFLECTING FILM, EUV MASK BLANK, AND REFLECTIVE MASK FOR EUV EXPOSURE例文帳に追加

ＥＵＶ光反射膜の成膜方法とＥＵＶマスクブランクならびにＥＵＶ露光用反射型マスク - 特許庁

DETECTION OF CONTAMINATION IN EUV SYSTEM例文帳に追加

ＥＵＶシステムでの汚染検出 - 特許庁

LPP TYPE EUV LIGHT SOURCE APPARATUS例文帳に追加

ＬＰＰ型ＥＵＶ光源装置 - 特許庁

This material is particularly suited for micro-lithography, in particular EUV-lithography.例文帳に追加

この材料はマイクロリソグラフィー、特にEUVリソグラフィーに特に好適である。 - 特許庁

METHOD FOR CORRECTING MASK FOR EUV EXPOSURE, AND MASK FOR EUV EXPOSURE例文帳に追加

ＥＵＶ露光用マスクの修正方法およびＥＵＶ露光用マスク - 特許庁

METHOD OF MEASURING EUV MIRROR SHAPE例文帳に追加

ＥＵＶミラー形状の測定法 - 特許庁

To provide an EUV irradiation source with high EUV conversion efficiency.例文帳に追加

高いＥＵＶ変換効率を有するＥＵＶ放射源を提供する。 - 特許庁

EUV RAY SPECTRUM MEASURING INSTRUMENT, AND EUV RAY POWER CALCULATION METHOD例文帳に追加

ＥＵＶ光スペクトル測定装置およびＥＵＶ光のパワー算出方法 - 特許庁

IMAGING APPARATUS FOR EUV LIGHT OR X-RAY, AND EUV EXPOSURE APPARATUS例文帳に追加

ＥＵＶ光またはＸ線用撮像装置およびＥＵＶ露光装置 - 特許庁

METHOD FOR MANUFACTURING EUV LIGHT SOURCE, EUV EXPOSURE APPARATUS AND ELECTRON DEVICE例文帳に追加

ＥＵＶ光源、ＥＵＶ露光装置および電子デバイスの製造方法 - 特許庁

EUV LIGHT SOURCE, EUV EXPOSURE DEVICE AND MANUFACTURING METHOD FOR SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

ＥＵＶ光源、ＥＵＶ露光装置、及び半導体デバイスの製造方法 - 特許庁

This EUV emission is condensed by an EUV condenser 4 and is emitted from an EUV light extraction part 5.例文帳に追加

このＥＵＶ放射はＥＵＶ集光鏡４により集光され、ＥＵＶ光取出部５より出射する。 - 特許庁

EUV EXPOSURE METHOD AND ALIGNER例文帳に追加

ＥＵＶ露光方法及び露光装置 - 特許庁

To stably generate EUV light.例文帳に追加

安定してＥＵＶ光を生成する。 - 特許庁

LIGHTING DEVICE FOR EUV MICROLITHOGRAPHY例文帳に追加

ＥＵＶマイクロリソグラフィ用照明装置 - 特許庁

The collector mirror leads the EUV radiation from an EUV light source to the hole member 22.例文帳に追加

集光器ミラーは、ＥＵＶ光源からのＥＵＶを孔部材２２に導く。 - 特許庁

EUV LIGHT SOURCE, EUV EXPOSURE DEVICE, AND MANUFACTURING METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

ＥＵＶ光源、ＥＵＶ露光装置および半導体デバイスの製造方法 - 特許庁

MASK BLANKS FOR EUV EXPOSURE, ITS MANUFACTURING METHOD AND MASK FOR EUV EXPOSURE例文帳に追加

ＥＵＶ露光用マスクブランクスおよびその製造方法、ＥＵＶ露光用マスク - 特許庁

ADJUSTING METHOD OF EUV EXPOSURE DEVICE例文帳に追加

ＥＵＶ露光装置の調整方法 - 特許庁

METHOD OF CORRECTING DEFECT OF EUV MASK例文帳に追加

ＥＵＶマスクの欠陥修正方法 - 特許庁

EUV MASK AND ITS MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

ＥＵＶマスクおよびその製造方法 - 特許庁

EUV MASK WHITE DEFECT CORRECTING METHOD例文帳に追加

ＥＵＶマスク白欠陥修正方法 - 特許庁

EUV LIGHT GENERATING DEVICE AND METHOD例文帳に追加

ＥＵＶ光発生装置および方法 - 特許庁

To provide an EUV radiation collector system in which EUV radiation collection capability is enhanced.例文帳に追加

ＥＵＶ集光能力を強化したＥＵＶ集光器システムを提供する。 - 特許庁

REFLECTION-TYPE MASK BLANK FOR EUV EXPOSURE, AND REFLECTION-TYPE MASK FOR EUV EXPOSURE例文帳に追加

ＥＵＶ露光用反射型マスクブランクおよびＥＵＶ露光用反射型マスク - 特許庁

EUV PLASMA SOURCE TARGET DELIVERY SYSTEM例文帳に追加

ＥＵＶプラズマ源ターゲット供給システム - 特許庁

REFLECTIVE MASK BLANK FOR EUV LITHOGRAPHY例文帳に追加

ＥＵＶリソグラフィ用反射型マスクブランク - 特許庁

MULTILAYER FILM MIRROR AND EUV ALIGNER例文帳に追加

多層膜ミラー及びＥＵＶ露光装置 - 特許庁

EUV MASK BLANK QUALITY DETERMINATION METHOD AND EUV MASK BLANK MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

ＥＵＶマスク用ブランクの良否判定方法及びＥＵＶマスクの製造方法 - 特許庁

HALFTONE EUV MASK, HALFTONE EUV MASK BLANK, MANUFACTURING METHOD OF HALFTONE EUV MASK AND PATTERN TRANSFER METHOD例文帳に追加

ハーフトーン型ＥＵＶマスク、ハーフトーン型ＥＵＶマスクブランク、ハーフトーン型ＥＵＶマスクの製造方法及びパターン転写方法 - 特許庁