| 例文 | 類語 |
LIN1を含む例文一覧と使い方
該当件数 : 8件
A reactor L1 has inductance Lin1, and a reactor L2 has inductance Lin2(>Lin1).例文帳に追加
リアクトルＬ１はインダクタンスＬｉｎ１を有し、リアクトルＬ２はインダクタンスＬｉｎ２（＞Ｌｉｎ１）を有する。 - 特許庁
Thus, the respective input ports Lin1-Lin4 can be equally selected.例文帳に追加
これにより、各入力ポートＬin1〜Ｌin4を公平に選択することができる。 - 特許庁
An inspection light generation mechanism 121 irradiates inspection light Lin1 to the inspected position on a wafer 10 at an incident angle A1.例文帳に追加
検査光発生機構１２１は、ウェハ１０上の検査箇所に入射角度Ａ１を有して検査光Ｌｉｎ１を照射する。 - 特許庁
An inspection beam generating mechanism 121 irradiates the portion to be inspected on the wafer 10 with an inspection light Lin1 so as to have an incident angle θ.例文帳に追加
検査光発生機構１２１は、ウェハ１０上の検査箇所に入射角度θを有して検査光Ｌｉｎ１を照射する。 - 特許庁
A detection mechanism 131 is provided for detecting reflected light Lre1 of the inspection light Lin1 from the wafer 10 while a detection mechanism 132 is provided for detecting reflected light Lre2 of the inspection light Lin2.例文帳に追加
ウェハ１０上からの検査光Ｌｉｎ１の反射光Ｌｒｅ１を検出する検出機構１３１、検査光Ｌｉｎ２の反射光Ｌｒｅ２を検出する検出機構１３２が設けられている。 - 特許庁
A detecting mechanism 131 for detecting a reflection light Lre1 of the inspection light Lin1 from the top of the wafer 10 and a detecting mechanism 132 for detecting the inspection light Lin2 passing if a foreign matter does not exist are provided.例文帳に追加
ウェハ１０上からの検査光Ｌｉｎ１の反射光Ｌｒｅ１を検出する検出機構１３１、異物が無ければ通過してくる検査光Ｌｉｎ２を検出する検出機構１３２が設けられている。 - 特許庁
The port selector circuit 4 switches whether the fetch priority of the input ports Lin1-Lin4 is to be changed in ascending order or descending order by alternately selecting the up counter 1 and the down counter 2 each time a packet is fetched.例文帳に追加
ポート選択回路４は、アップカウンタ１とダウンカウンタ２を交互に選択することにより、入力ポートＬin1〜Ｌin4の取り込み優先順序を昇順に変化させるか、降順に変化させるかを、パケットを取り込むたびに切り替える。 - 特許庁
| 例文 | 類語 |
| Copyright © Japan Patent office. All Rights Reserved. |
ログイン |
Weblio会員(無料)になると
|
検索履歴を保存できる！
|
ログイン |
Weblio会員(無料)になると
|
