LSiを含む例文一覧と使い方
該当件数 : 3589件
INTERFACE DEVICE BETWEEN LSI例文帳に追加
LSI間インターフェース装置 - 特許庁
SYSTEM LSI VERIFICATION DEVICE例文帳に追加
システムLSI検証装置 - 特許庁
MIXED LSI SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加
混載LSI半導体装置 - 特許庁
LSI SIMULATION CIRCUIT AND LSI SIMULATION METHOD例文帳に追加
LSIシミュレーション回路およびLSIシュミレーション方法 - 特許庁
LSI INSPECTION MODULE, CONTROL METHOD FOR LSI INSPECTION MODULE, COMMUNICATION METHOD BETWEEN LSI INSPECTION MODULE AND LSI INSPECTION DEVICE, AND LSI INSPECTION METHOD例文帳に追加
LSI検査モジュール、LSI検査モジュールの制御方法、LSI検査モジュールとLSI検査装置との通信方法、およびLSI検査方法 - 特許庁
DESIGN METHOD OF LSI SYSTEM例文帳に追加
LSIシステム設計方法 - 特許庁
LSI DESIGN VERIFICATION DEVICE例文帳に追加
LSI設計検証装置 - 特許庁
DIAGNOSTIC DEVICE FOR LSI TESTER例文帳に追加
LSIテスタの診断装置 - 特許庁
LSI CHIP MOUNTING STRUCTURE例文帳に追加
LSIチップの実装構造 - 特許庁
LSI DESIGN SUPPORT SYSTEM, LSI DESIGN SUPPORT METHOD, AND LSI DESIGN SUPPORT PROGRAM例文帳に追加
LSI設計支援システム、LSI設計支援方法およびLSI設計支援プログラム - 特許庁
LSI MANUFACTURE SUPPORTING SERVER, LSI MANUFACTURE SUPPORTING METHOD AND LSI MANUFACTURE SUPPORTING PROGRAM例文帳に追加
LSI製造支援サーバ、LSI製造支援方法、及びLSI製造支援プログラム - 特許庁
LSI FAULT DETECTION SYSTEM例文帳に追加
LSI故障検出方式 - 特許庁
Vdd-Vss (GND) bonding pads 014 and 015, consisting of a nest structure, are formed between an LSI chip mounting part 004 and a wire bonding part in the vicinity of an LSI 005.例文帳に追加
LSIチップ搭載部とワイアーボンディング部との間に、入れ子構造からなるVdd,Vss(GND)ボンディングパッドをLSIの近くに形成する。 - 特許庁
LSI DEVELOPMENT SUPPORT METHOD AND LSI DEVELOPMENT SUPPORT PROGRAM例文帳に追加
LSI開発支援方法及びLSI開発支援プログラム - 特許庁
FLIP-CHIP LSI AND ANALYSIS METHOD FOR FLIP-CHIP LSI例文帳に追加
フリップチップLSIおよびフリップチップLSIの解析方法 - 特許庁
SYSTEM LSI SIMULATION DEVICE例文帳に追加
システムLSIシミュレーション装置 - 特許庁
PROTECTION METHOD FOR LSI TEST PROGRAM AND TEST METHOD FOR LSI例文帳に追加
LSIテストプログラムの保護方法及びLSIのテスト方法 - 特許庁
INTERFACE MODULE FOR LSI PACKAGE AND LSI PACKAGE BODY例文帳に追加
LSIパッケージ用インターフェイスモジュール及びLSI実装体 - 特許庁
SYSTEM LSI VERIFICATION DEVICE AND SYSTEM LSI VERIFICATION PROGRAM例文帳に追加
システムLSI検証装置及びシステムLSI検証プログラム - 特許庁
LSI PACKAGE AND LSI PACKAGE LOADING TYPE ELECTRONIC COMPONENT例文帳に追加
LSIパッケージ及びLSIパッケージ搭載型の電子部品 - 特許庁
LSI TESTER AND TEST SYSTEM例文帳に追加
LSIテスタおよびテストシステム - 特許庁
INSPECTION SYSTEM FOR SYSTEM LSI例文帳に追加
システムLSI用検査システム - 特許庁
By forming a plurality of LSI chips having an LSI region and a plurality of bonding pad regions on a semiconductor substrate on a wafer, an LSI wafer is completed.例文帳に追加
半導体基板上にLSI領域と複数のボンディングパッド領域とを有するLSIチップの複数個をウエハ上に形成してLSIウエハを完成させる。 - 特許庁
METHOD FOR DETERMINING LSI TYPE, METHOD FOR SUPPORTING LSI DESIGN, LSI TYPE DETERMINATION PROGRAM, LSI DESIGN SUPPORTING PROGRAM, RECORDING MEDIUM, LSI TYPE DETERMINATION APPARATUS, AND LSI DESIGN SUPPORTING APPARATUS例文帳に追加
LSI品種決定方法、LSI設計支援方法、LSI品種決定プログラム、LSI設計支援プログラム、記録媒体、LSI品種決定装置およびLSI設計支援装置 - 特許庁
AUTOMATIC DESIGN METHOD FOR LSI例文帳に追加
LSIの自動設計方法 - 特許庁
VERIFICATION TECHNIQUE FOR LSI DEVELOPMENT例文帳に追加
LSI開発検証手法 - 特許庁
VERIFICATION DEVICE FOR SYSTEM LSI例文帳に追加
システムLSIの検証装置 - 特許庁
PRINTED BOARD FOR LSI PACKAGE例文帳に追加
LSIパッケ—ジ用プリント基板 - 特許庁
AUTOMATIC LAYOUT METHOD FOR LSI例文帳に追加
LSIの自動レイアウト方法 - 特許庁
DESIGN SUPPORTING METHOD FOR LSI例文帳に追加
LSIの設計支援方法 - 特許庁
POWER SUPPLY CIRCUIT FOR LSI TESTER例文帳に追加
LSIテスタ用電源回路 - 特許庁
AMPLIFICATION CIRCUIT OF BIPOLAR LSI例文帳に追加
バイポーラLSIの増幅回路 - 特許庁
LSI PACKAGE ASSEMBLY METHOD例文帳に追加
LSIパッケージの実装方法 - 特許庁
POSITIONING MECHANISM OF LSI TESTER例文帳に追加
LSIテスタの位置決め機構 - 特許庁
APPARATUS OF REMOVING LSI CHIP AND METHOD OF REPAIRING LSI CHIP例文帳に追加
LSIチップの取り外し装置およびLSIチップのリペア方法 - 特許庁
LSI LAYOUT DATA DISPLAY DEVICE例文帳に追加
LSIレイアウトデータ表示装置 - 特許庁
LSI DEVICE AND ELECTRONIC APPARATUS例文帳に追加
LSI装置および電子機器 - 特許庁
LSI PATTERN-LAYOUT CREATING METHOD, LSI-PATTERN FORMING METHOD, AND MANUFACTURE OF LSI例文帳に追加
LSI用パターンレイアウト作製方法、LSI用パターン形成方法、並びにLSIの製造方法 - 特許庁
LSI-MOUNTING ADJUSTMENT METHOD, CHIP COMPONENT FOR ADJUSTING LSI CIRCUIT OPERATION, AND LSI PACKAGE例文帳に追加
LSI実装調整方法とLSI回路動作調整用チップ部品、並びにLSIパッケージ - 特許庁
LSI, LSI PACKAGE, TERMINAL POSITIONING METHOD AND DEVICE THEREOF例文帳に追加
LSI、LSIパッケージ、端子位置決定方法及びその装置 - 特許庁
LSI VERIFICATION SYSTEM, LSI VERIFICATION METHOD, AND PROGRAM例文帳に追加
LSI検証システム及びLSI検証方法並びにプログラム - 特許庁
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