「LSi」に関連した英語例文の一覧と使い方(4ページ目) - Weblio英語例文検索

LSI DEBUG DEVICE AND SYSTEM例文帳に追加

ＬＳＩデバッグ装置及びシステム - 特許庁

LSI DESIGN VERIFICATION APPARATUS AND LSI DESIGN VERIFICATION METHOD例文帳に追加

ＬＳＩ設計検証装置及びＬＳＩ設計検証方法 - 特許庁

CONDUCTIVE SHEET FOR MEASURING LSI例文帳に追加

ＬＳＩ測定用導電シート - 特許庁

MACRO-TEST CIRCUIT IN LSI例文帳に追加

ＬＳＩにおけるマクロテスト回路 - 特許庁

ELECTRONIC TIMER AND SYSTEM LSI例文帳に追加

電子タイマー及びシステムＬＳＩ - 特許庁

HARD MACRO CELL AND SYSTEM LSI例文帳に追加

ハードマクロセル及びシステムＬＳＩ - 特許庁

LSI DESIGNING SYSTEM AND LSI DESIGNING METHOD AND RECORDING MEDIUM WITH LSI DESIGNING PROGRAM RECORDED THEREON例文帳に追加

ＬＳＩ設計システム、ＬＳＩ設計方法、ＬＳＩ設計用プログラムを記録した記録媒体 - 特許庁

MULTITASK OS FOR SYSTEM LSI例文帳に追加

システムＬＳＩ用マルチタスクＯＳ - 特許庁

SCREEN EDITOR FOR DESIGN OF LSI例文帳に追加

ＬＳＩ設計用スクリーンエディタ - 特許庁

LSI WITH CONNECTION TESTING FUNCTION例文帳に追加

接続検査機能付きＬＳＩ - 特許庁

VERIFICATION DEVICE FOR LSI DESIGN例文帳に追加

ＬＳＩ設計用検証装置 - 特許庁

LSI INSPECTION PROGRAM GENERATOR例文帳に追加

ＬＳＩ検査プログラム生成装置 - 特許庁

SYSTEM LSI DEVELOPMENT SUPPORT SYSTEM例文帳に追加

システムＬＳＩ開発支援システム - 特許庁

LIQUID CRYSTAL CELL PROVIDED WITH FUNCTION OF LSI例文帳に追加

ＬＳＩ機能付液晶セル - 特許庁

LSI PACKAGE AND CIRCUIT SUBSTRATE例文帳に追加

ＬＳＩパッケージ及び回路基板 - 特許庁

LSI INSIDE LOGIC DESIGN SYSTEM例文帳に追加

ＬＳＩ内部論理設計システム - 特許庁

APPARATUS FOR MEMORY CONTROL AND LSI例文帳に追加

メモリ制御装置及びＬＳＩ - 特許庁

LSI OPERATION GUARANTEE DESIGN SYSTEM例文帳に追加

ＬＳＩ動作保証設計システム - 特許庁

METHOD FOR ESTIMATING WIRING LENGTH OF LSI AND METHOD FOR ESTIMATING AREA OF LSI例文帳に追加

ＬＳＩの配線長推定方法および面積推定方法 - 特許庁

SYSTEM LSI, CONTROL METHOD OF SYSTEM LSI, PROGRAM, AND STORAGE MEDIUM例文帳に追加

システムＬＳＩ、システムＬＳＩの制御方法、プログラム、及び記憶媒体 - 特許庁

LOW POWER LSI DESIGNING METHOD例文帳に追加

低電力ＬＳＩ設計方法 - 特許庁

LSI FOR NON-CONTACT IC CARD例文帳に追加

非接触ＩＣカード用ＬＳＩ - 特許庁

MICROCOMPUTER/LSI FUNCTIONAL VERIFICATION DEVICE例文帳に追加

マイコン・ＬＳＩ機能検証装置 - 特許庁

METHOD FOR TESTING LSI EQUIPPED WITH ASYNCHRONOUS CIRCUIT, AND APPARATUS FOR EVALUATING THE LSI例文帳に追加

非同期回路を備えたＬＳＩのテスト手法とその評価装置 - 特許庁

LSI WIRING SYSTEM AND PROGRAM例文帳に追加

ＬＳＩ配線システム及びプログラム - 特許庁

LSI TESTER AND METHOD FOR DOWNLOADING PATTERN DATA IN LSI TESTER例文帳に追加

ＬＳＩテスタ及びＬＳＩテスタにおけるパターンデータのダウンロード方法 - 特許庁

LSI TEST METHOD AND DEVICE THEREFOR例文帳に追加

ＬＳＩテスト方法および装置 - 特許庁

LSI WITH INFORMATION DELETING FUNCTION例文帳に追加

情報削除機能付きＬＳＩ - 特許庁

SELF-OPERATING CIRCUIT FOR SYSTEM LSI例文帳に追加

システムＬＳＩの自己動作回路 - 特許庁

CLOCK GENERATOR CIRCUIT AND SYSTEM LSI例文帳に追加

クロック生成回路、システムＬＳＩ - 特許庁

PLURAL LINE BUFFER TYPE MEMORY LSI例文帳に追加

複数ラインバッファ型メモリＬＳＩ - 特許庁

LSI OPERATION GURANTEE DESIGN SYSTEM例文帳に追加

ＬＳＩ動作保証設計システム - 特許庁

LSI INSPECTION DEVICE AND METHOD THEREFOR例文帳に追加

ＬＳＩ検査装置及び方法 - 特許庁

LSI ANALYTIC PROGRAM, RECORDING MEDIUM WITH PROGRAM RECORDED, LSI ANALYTIC DEVICE, AND LSI ANALYTIC METHOD例文帳に追加

ＬＳＩ解析プログラム、該プログラムを記録した記録媒体、ＬＳＩ解析装置、およびＬＳＩ解析方法 - 特許庁

LSI ANALYSIS PROGRAM, RECORDING MEDIUM RECORDING SAME PROGRAM, LSI ANALYSIS DEVICE AND LSI ANALYSIS METHOD例文帳に追加

ＬＳＩ解析プログラム、該プログラムを記録した記録媒体、ＬＳＩ解析装置、およびＬＳＩ解析方法 - 特許庁

CHARGE DETECTION CIRCUIT AND LSI例文帳に追加

電荷検出回路およびＬＳＩ - 特許庁

LSI PACKAGE WITH INTERFACE MODULE例文帳に追加

インターフェイスモジュール付ＬＳＩパッケージ - 特許庁

CIRCUIT FOR OBSERVING SIGNAL INSIDE LSI例文帳に追加

ＬＳＩ内部信号観測回路 - 特許庁

To provide a test circuit having an effect for suppressing the cost of LSI production by eliminating a LSI test pin unnecessary for a normal operation.例文帳に追加

通常動作に不要であるLSIテストピンを削除し、LSI製造コストの増加を押さえる効果を持つ、テスト回路を提供することを目的とする。 - 特許庁

DELAY MEASURING MECHANISM IN LSI CHIP例文帳に追加

ＬＳＩチップ内遅延測定機構 - 特許庁

LSI DEVICE AND MANUFACTURING METHOD THEREOF例文帳に追加

ＬＳＩデバイスとその製造方法 - 特許庁

LSI FOR MOBILE COMMUNICATION TERMINAL例文帳に追加

移動体通信端末用ＬＳＩ - 特許庁

METHOD FOR PROCESSING LSI LAYOUT VERIFICATION, AND SYSTEM FOR VERIFYING LSI LAYOUT例文帳に追加

ＬＳＩレイアウト検証処理方法及びＬＳＩレイアウト検証システム - 特許庁

SWITCHING REGULATOR AND LSI SYSTEM例文帳に追加

スイッチングレギュレータおよびＬＳＩシステム - 特許庁

LSI FOR SHIELD WIRING例文帳に追加

シールド配線を行うためのＬＳＩ - 特許庁