Microscopeを含む例文一覧と使い方
該当件数 : 8959件
MICROSCOPE SYSTEM AND STAGE CONTROL METHOD例文帳に追加
顕微鏡システム及びステージ制御方法 - 特許庁
ANALYTICAL METHOD BY SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加
走査電子顕微鏡による分析方法 - 特許庁
LASER SCANNING MICROSCOPE AND SETTING METHOD例文帳に追加
レーザ走査顕微鏡および設定方法 - 特許庁
MULTIFOCAL CONFOCAL RAMAN SPECTROSCOPIC MICROSCOPE例文帳に追加
多焦点共焦点ラマン分光顕微鏡 - 特許庁
MICROSCOPE APPARATUS FOR SEMICONDUCTOR WAFER INSPECTION例文帳に追加
半導体ウェーハ検査用顕微鏡装置 - 特許庁
MICROSCOPE IMAGE PHOTOGRAPHING SYSTEM AND METHOD例文帳に追加
顕微鏡画像撮影システム及び方法 - 特許庁
PATTERN MEASUREMENT METHOD AND ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加
パターン測定方法、及び電子顕微鏡 - 特許庁
MAGNETIC FIELD OBJECTIVE LENS FOR ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加
電子顕微鏡用磁界型対物レンズ - 特許庁
OBJECTIVE LENS FOR SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND THE LIKE例文帳に追加
走査電子顕微鏡等の対物レンズ - 特許庁
ELECTRON MICROSCOPE, AND SAMPLE MANAGEMENT METHOD例文帳に追加
電子顕微鏡、及び試料管理方法 - 特許庁
LASER SCANNING MICROSCOPE FOR FLUORESCENCE ANALYSIS例文帳に追加
蛍光検査用の走査型レーザ顕微鏡 - 特許庁
ELECTRON MICROSCOPE AND IMAGE DISPLAYING METHOD例文帳に追加
電子顕微鏡および画像表示方法 - 特許庁
SCANNING ELECTRON MICROSCOPE EQUIPPED WITH MONOCHROMATOR例文帳に追加
モノクロメータを備えた走査電子顕微鏡 - 特許庁
MANUFACTURE OF SAMPLE FOR ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加
電子顕微鏡用試料の作製方法 - 特許庁
MICROSCOPE SYSTEM USING SURFACE PLASMON例文帳に追加
表面プラズモンを利用した顕微鏡システム - 特許庁
ELECTRON MICROSCOPE AND SOLID OBSERVATION METHOD例文帳に追加
電子顕微鏡及び立体観察方法 - 特許庁
a sample to look at through a microscope, called {prepared slide} 例文帳に追加
プレパラートという顕微境用標本 - EDR日英対訳辞書
a photograph taken through a microscope 例文帳に追加
顕微鏡を用いて撮影された写真 - EDR日英対訳辞書
THREE-DIMENSIONAL CONFOCAL LASER SCANNING MICROSCOPE SYSTEM例文帳に追加
3次元共焦点レーザ顕微鏡システム - 特許庁
ILLUMINATING SYSTEM AND MICROSCOPE USING THE SAME例文帳に追加
照明装置とそれを用いた顕微鏡 - 特許庁
LASER SCANNING MICROSCOPE AND SCANNING MIRROR DRIVING METHOD FOR LASER SCANNING MICROSCOPE例文帳に追加
レーザー走査顕微鏡及びレーザ走査顕微鏡における走査ミラーの駆動方法 - 特許庁
KERR EFFECT MICROSCOPE, MAGNETIZATION DIRECTION MEASURING METHOD, AND KERR EFFECT MICROSCOPE CALIBRATION METHOD例文帳に追加
カー効果顕微鏡、磁化方向測定方法、及びカー効果顕微鏡校正方法 - 特許庁
ELECTRON MICROSCOPE, OBSERVING TEST-PIECE, TEST-PIECE BASE OF ELECTRON MICROSCOPE, AND SEMICONDUCTOR WAFER例文帳に追加
電子顕微鏡、観察試料、電子顕微鏡の試料台および半導体ウェハ - 特許庁
CONDITION SETTING DEVICE FOR SCANNING LASER MICROSCOPE AND SCANNING LASER MICROSCOPE SYSTEM例文帳に追加
走査型レーザ顕微鏡の条件設定装置及び走査型レーザ顕微鏡システム - 特許庁
APPARATUS FOR MICROSCOPE OBSERVATION AND/OR MICROSCOPE DETECTION AND ITS USE例文帳に追加
顕微鏡観察および/または顕微鏡検出のための装置およびそれの使用 - 特許庁
MOVABLE PROBE APPARATUS FOR ELECTRON MICROSCOPE, AND SPECIMEN OBSERVING METHOD WITH ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加
電子顕微鏡用可動プローブ装置および電子顕微鏡の試料観察方法 - 特許庁
SCANNING X-RAY MICROSCOPE AND OBSERVATION METHOD OF SCANNING X-RAY MICROSCOPE IMAGE例文帳に追加
走査型X線顕微鏡および走査型X線顕微鏡像の観察方法 - 特許庁
SCANNING PROBE MICROSCOPE, SAMPLE FOR SCANNING PROBE MICROSCOPE AND ITS FORMING METHOD例文帳に追加
走査型プローブ顕微鏡、走査型プローブ顕微鏡用試料及びその形成方法 - 特許庁
MICROSCOPE IMAGE PHOTOGRAPHING APPARATUS, MICROSCOPE IMAGE PHOTOGRAPHING METHOD, PROGRAM AND RECORDING MEDIUM例文帳に追加
顕微鏡画像撮影装置、顕微鏡画像撮影方法、プログラムおよび記録媒体 - 特許庁
VIBRATION ATTENUATOR FOR MICROSCOPE, AND MICROSCOPE HAVING VIBRATION ATTENUATOR例文帳に追加
顕微鏡のための振動減衰装置および振動減衰装置を備えた顕微鏡 - 特許庁
The present invention can be applied to a microscope system having a microscope device, for example.例文帳に追加
本発明は、例えば、顕微鏡装置を備えた顕微鏡システムに適用できる。 - 特許庁
APPARATUS FOR REPRODUCING MICROSCOPE IMAGE, PROGRAM FOR REPRODUCING MICROSCOPE IMAGE AND RECORDING MEDIUM THEREOF例文帳に追加
顕微鏡イメージ再現装置、顕微鏡イメージ再現プログラムおよびその記録媒体 - 特許庁
CONFOCAL MICROSCOPE AND RELAY OPTICAL SYSTEM USED FOR CONFOCAL MICROSCOPE例文帳に追加
共焦点顕微鏡及び共焦点顕微鏡等に用いられるリレー光学系 - 特許庁
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