「Microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方(179ページ目) - Weblio英語例文検索

This microscope includes a first white light source 302 for directing light along a first optical path, a ring opening 324 which is arranged within the first optical path, has an annular slit 326 and shields all of the light exclusive of the annular light corresponding to this annular slit and an objective lens 314 for achieving the total reflection fluorescent microscopy of a specimen by directing the annular light to the specimen 345.例文帳に追加

第１の光路に沿って光を向けるための第１の白色光源３０２と、第１の光路内に配置されていて、環状スリット３２６を有し該環状スリットに対応する環状の光を除く総べての光を遮光するリング開口３２４と、環状の光を標本３４５に向けて該標本の全反射蛍光検鏡が達成されるようにするための対物レンズ３１４とを含んでいる。 - 特許庁

To provide a probe for microscopic analysis capable of labeling specifically a specific portion of a target molecule in a sample, labeling and analyzing an analysis object without damaging a space resolution of a used microscope, and analyzing localization, the direction (aspect), the shape (stereoscopic structure) and kinetics of the analysis object in the functional state, and a microscopic analysis method using the probe for microscopic analysis.例文帳に追加

試料中の標的分子の特定部位を特異的に標識可能であり、使用する顕微鏡の空間分解能を損なわずに解析対象を標識及び解析することができ、該解析対象の局在、方向（向き）、形状（立体構造）、及び動態を、機能状態において解析可能とする顕微鏡解析用プローブ、及び該顕微鏡解析用プローブを用いた顕微鏡解析方法を提供する。 - 特許庁

To provide a capturing device capable of efficiently capturing a floating particulate matter in the atmosphere, facilitating the observation of the captured particles with a microscope and the extraction and supply of independent particles to various analyzing equipments, and a method capable of measuring the particle size distribution of the floating particulate matter captured by the capturing device with high resolution in a wide particle size range.例文帳に追加

大気中の浮遊粒子状物質を効率的に捕集し、その捕集した粒子を容易に顕微鏡で観察することができ、かつ、容易に個別の粒子を抽出して各種分析機器に供することのできる捕集装置と、その捕集装置により捕集した浮遊粒子状物質を、広い粒径範囲において高い分解能のもとに粒度分布を測定することのできる方法を提供する。 - 特許庁

To provide an economical optical microscope used for observing objects having different depths or a plurality of objects having distances in the direction of optical axis simultaneously and observing the overall images of the objects to be observed simultaneously and having an intuitive understanding characteristic, and, in particular, for clarifying three-dimensional form of a biological substance formed by coupling fluorescence dyes, analyzing its behavior, and clarifying properties of protein.例文帳に追加

異なる深さのある物体または光軸方向に距離がある複数の物体を同時に観察し、かつ、観察する全体像を同時観察すると共に、見てすぐに直感的に理解できる特性を保持し、かつ、経済性にも優れた光学顕微鏡を得ることにあり、特に、例えば、蛍光色素を結合した生体物質の立体形態を解明し、その挙動を解析してたんぱく質の性質を明らかにすること。 - 特許庁

The methods includes a hybridization reaction process with a probe on the microarray and a target nucleic acid labeled; a process for checking a probe's location from a signal from the label of the target nucleic acid that is detected by observing a surface with a probe fixing region with a cofocal microscope; and a process for eliminating the target nucleic acid by cleaning buffer, wherein theses processes are repeated to a same microarray.例文帳に追加

マイクロアレイ上のプローブと、標識したターゲット核酸とのハイブリダイゼーション反応工程と、共焦点型の顕微鏡によりプローブ固定領域が存する面を観察して検出されるターゲット核酸の標識からのシグナルからプローブの位置を確認する工程と、洗浄用バッファによりターゲット核酸を除去する工程とを有し、これらの工程を同じマイクロアレイに対して繰り返し行う。 - 特許庁

This confocal microscope capable of obtaining a three- dimensional image by scanning the optical beam on a sample surface by a confocal scanner and axially scanning the optical beam by a moving mechanism, comprises a driving means for driving the moving mechanism, and the driving means outputs the driving waveform corrected on the basis of the reverse characteristic of the frequency characteristic on the displacement of the moving mechanism.例文帳に追加

共焦点スキャナにより光ビームで試料面を走査すると共に移動機構により光ビームを光軸方向に走査して試料の３次元画像が得られるように構成してなる共焦点顕微鏡装置において、前記移動機構を駆動する駆動手段を備え、この駆動手段からは前記移動機構の変位の周波数特性の逆特性に基づいて補正された駆動波形が出力されるようにする。 - 特許庁

The microscopic inspection apparatus 100 is equipped with a cassette 102 which can house a plurality of sheets of samples 101, an elevator to vertically move the cassette 102, a microscope 132 to enlarge and observe a sample 101, an XY stage 105 to appropriately place the sample 101 in an observation position, and a carrying device 104 to carry the sample 101 between the cassette 102 and the XY stage 105.例文帳に追加

顕微鏡検査装置１００は、複数枚の標本１０１を収納し得るカセット１０２と、カセット１０２を上下方向に昇降させるエレベーター１０３と、標本１０１を拡大観察する顕微鏡１３２と、標本１０１を観察位置に適宜配置するためのＸＹステージ１０５と、カセット１０２とＸＹステージ１０５の間で標本１０１を搬送する搬送装置１０４とを備えている。 - 特許庁

This new topograph measuring method and its device are characterized by detecting the electrostatic force working between the cantilever and the sample, and feeding back a cantilever bias potential at which the electrostatic force becomes minimum to the cantilever, in the noncontact type atomic force microscope for scanning the sample surface by the cantilever to execute measurement, while maintaining an attraction gradient between the cantilever and the sample constant.例文帳に追加

本発明による新トポグラフ測定方法およびその装置は、カンチレバーと試料間の引力勾配を一定に維持しながらカンチレバーで試料表面を走査することにより計測する非接触型原子間力顕微鏡において、カンチレバーと試料間に作用する静電気力を検出し、該静電気力が最小となるカンチレバーバイアス電位をカンチレバーにフィードバックすることを特徴とする。 - 特許庁

The optical filter is provided with two optical elements 1 and 2 operating to separate luminous flux and an optical element 3 which is arranged between those two optical elements and operates to eliminate polarization, wherein at least one of the three optical elements being a microscope element which has a structure finer than the wavelength of incident light and operates to separate luminous flux or eliminate polarization by optical anisotropy.例文帳に追加

光束分離作用を有する２つの光学素子１，２と、これら２つの光学素子の間に配置され、偏光解消作用を有する光学素子３とを有し、３つの光学素子のうち少なくとも１つの光学素子を、入射光の波長より細かい構造の光学的異方性による光束分離作用又は偏光解消作用を持つ微細構造素子として光学フィルタを構成する。 - 特許庁

Information related to a sample such as height of the sample, alignment information or the like are obtained from the sample 5 housed in a load lock part 15 by sample information obtaining means like height detecting equipment or an optical microscope 30 arranged on the load lock part 15, in parallel with pressure reduction work executed when transferring the sample 5 from the load lock part 15 to a sample chamber 22.例文帳に追加

ロードロック部１５に設けた高さ検出器や光学顕微鏡３０といった試料情報取得手段によって、試料室２２で観察する試料の高さ情報やアライメント情報といった試料情報の取得を、ロードロック部１５から試料５を試料室２２への搬送するに際して実行されるロードロック部１５の減圧作業と並行して、ロードロック部１５に収容されている試料５に対して実行する。 - 特許庁

The mask for manufacturing the observation mask of the electron microscope is provided with a first mask 13 formed on a semiconductor substrate 11 with the observed region 13A and having a width W1 corresponding to a thickness for transmitting an electron beam through the observed region 13 and a second mask 14 formed on the semiconductor substrate 11 and having a width W2 partially larger than the first mask 13.例文帳に追加

電子顕微鏡の観察用試料作製用マスクは、観察対象領域１３Ａを有する半導体基板１１上に、観察対象領域１３を電子線が透過できる厚みに相当する幅Ｗ１で形成された第１マスク１３と、半導体基板１１上に、少なくともその一部が第１マスク１３よりも大きい幅Ｗ２で形成された第２マスク１４とを具備している。 - 特許庁

wt. by size-exclusion chromatography is about 200 to about 300 kDa; (b) spherical particles having diameters of about 10 to about 20 nm by atomic force microscope observation are contained; (c) a detectable GM1 ganglioside is not contained; and (d) apoptosis-like cell death is induced to cultured cells.例文帳に追加

ＧＭ１ガングリオシドの存在下でインビトロで形成される可溶性毒性アミロイドβアセンブリーであって、（ａ）サイズ排除クロマトグラフィによる見かけの分子量が約２００〜約３００kDaであること；（ｂ）原子力間顕微鏡観察による直径が約１０〜約２０nmである球状粒子を含むこと；（ｃ）検出可能なＧＭ１ガングリオシドを含まないこと；及び（ｄ）培養細胞に対してアポトーシス様細胞死を誘導すること、を特徴とするアセンブリー。 - 特許庁

In this extremely fine magnetic recording medium and its manufacturing method, non-oxidized regions enclosed by oxidized regions and oxidized regions enclosed by non-oxidized regions are arranged as an array by applying oxidation processing to the surface of a substrate which consists of magnetic material whose magnetic property is changed by oxidation by using an atomic force microscope under a wet atmosphere, and 1-bit information is made recordable in each region.例文帳に追加

酸化により磁気特性の変化する磁性材料からなる表面に対して、湿潤雰囲気下で原子間力顕微鏡を用いて酸化処理を施すことにより、酸化領域に囲まれた未酸化領域又は未酸化領域に囲まれた酸化領域をアレイ状に配し、前記各領域に１ｂｉｔの情報を記録可能とした、極微細な磁気記録媒体およびその製造方法。 - 特許庁

To provide a three-dimensional shape measuring device for measuring and displaying a three-dimensional shape efficiently by relating surface optical image information acquired by a confocal laser scanning type microscope with a simple configuration to height information acquired by a microscopic interference measurement method for management and easily acquiring the three-dimensional shape of a high-definition and high-resolution sample over a wide magnification range.例文帳に追加

簡単な構成で共焦点レーザ走査型顕微鏡によって取得される表面光学像情報と顕微干渉計測法によって取得される高さ情報を関連付けて管理し、広い倍率範囲に渡って高精細、高分解能な試料の３次元形状を容易に取得し、効率的にこの３次元形状を測定、表示する３次元形状測定装置を提供する。 - 特許庁

In the time lapse observation, while performing an autofocus, the inverted microscope system does not allow an application of the exiting light to the observation sample, when photographing the observation sample after finishing the autofocus, allows the application of the exiting light to the observation sample, and after finishing the photographing, does not allow the application of the exciting light to the observation sample again.例文帳に追加

タイムラプス観察において、オートフォーカスを行なっている間は、励起光を観察試料に対して照射しない状態とし、オートフォーカスが完了した後、観察試料の撮影を行うときに、励起光を観察試料に対して照射する状態とし、さらに撮影が完了した後は、励起光を観察試料に再び照射しない状態にすることを特徴とする倒立顕微鏡システム。 - 特許庁

In order to solve above problems, a high-powered microscope apparatus is provided with a prescribed pattern which is formed on the stage or a sample support member for microscopes, a recognizing means which recognizes the prescribed pattern, and a moving means which moves the sample support member for the microscopes to a prescribed position, based on positional information being recognized by the recognizing means.例文帳に追加

本発明によれば、上記課題を解決するために、顕微鏡用試料保持材やステージに形成された所定のパターンと、この所定のパターンを認識する認識手段と、この認識手段によって認識された位置情報に基づいて、上記顕微鏡用試料保持材を所定位置に移動させる移動手段とを備えていることを特徴とする高倍率顕微観測装置を提供される。 - 特許庁

A surface area ratio ▵S^50 obtained from three-dimension data obtained by 512×512 point-measuring the 50 μm SQUARE of a surface by using an atomic force microscope and a steepness degree (a)45^50(0.2-2)例文帳に追加

原子間力顕微鏡を用いて、表面の５０μｍ□を５１２×５１２点測定して求められる３次元データより得られる表面積比ΔＳ^５０と、同じく表面の５０μｍ□を５１２×５１２点測定して求められる３次元データより波長０．２μｍ以上２μｍ以下の成分を抽出して得られる急峻度ａ４５^５０（０．２−２） とが、次の関係式［１］を満たすことを特徴とする平版印刷版用支持体。 - 特許庁

To detect, in a method detecting particles containing infinitesimal fission materials contained in a collected swipe sample by the fission track method, the particles containing the fission materials in a short time and easily by eliminating sophisticated measuring techniques using special apparatus such as an atomic force microscope and eliminating effects in which the shape of the core of a fission track depends on the surface shape of the particles.例文帳に追加

採取したスワイプ試料中に含まれる極微量核分裂性物質を含む粒子をフィッショントラック法によって検出する手法において、原子間力顕微鏡のような特殊な装置を用いた高度な測定技術を必要とせず、また、フィッショントラックのコアの形状が粒子の表面形状に依存する影響をなくして、短時間で容易に核分裂性物質を含む粒子を濃縮度別に検出する。 - 特許庁

The objective monomer cast nylon resin produced by the monomer cast polymerization of an ω-lactam has a structure characterized in that the length of the bright region observable by a polarizing microscope under crossed nicols at a magnification of 400 is ≤10 μm and the distance between a bright region and the adjacent bright region is ≤10 μm.例文帳に追加

ω−ラクタムをモノマーキャスト法により重合して得られるモノマーキャストナイロン樹脂において、偏光顕微鏡により、直交ニコル下で、４００倍の倍率で観察される明るい領域の長さが１０μｍ以下であり、且つ、一の明るい領域と、該一の明るい領域に最も近い他の明るい領域との間の距離が１０μｍ以下であるような構造を有することを特徴とするモノマーキャストナイロン樹脂。 - 特許庁

To discover a new equibration system of a type to obstruct the undesirable equibration operation by bearing power by performing the equibration operation when the accessories of the microscope are changed without using intricate or costly force sensors or stroke sensors and as immediately as possible and rapidly in such a manner that a surgery interruption is averted without preliminarily carrying out the operation to measure physical quantities (for example, force, deformation, etc.).例文帳に追加

複雑なまたは高価な力センサまたはストロークセンサを使用せず、顕微鏡のアクセサリを変更した場合には直ちに、物理量（例えば、力、変形など）の測定操作を事前に行うことなく、手術中断が回避されるようできる限り直ちに且つ迅速に平衡化操作を行い、支持力による望ましくない平衡化操作が阻止される形式の新規の平衡化システムを見出すこと。 - 特許庁

The electron microscope, with an image forming lens system to project electron beams transmitted through a sample to an image forming part and a TV detector to receive transmitted and projected electron beams at the image forming part, has a detection means to detect displacement between transmitted and projected electron beams and the TV detector, and a positioning means to position the transmitted electron beams and the TV detector based on the displacement information detected.例文帳に追加

試料を透過した電子線を結像部に投影する結像レンズ系と、投影された透過電子線を結像部で受光するＴＶ検出器とを備えた電子顕微鏡において、投影された透過電子線とＴＶ検出器との間の位置ずれを検出する位置ずれ検出手段と、検出された位置ずれ情報に基づいて透過電子線とＴＶ検出器の位置合わせをする位置合わせ手段とを設けた。 - 特許庁

The microscope device with an illumination means having an illumination means 5 for illuminating an object 200 to be observed arranged in front of an objective lens and magnifying the image of the object 200 to be observed is constituted in such a way that illuminance of the illumination means 5 given to the object to be observed 200 can be changed so as to have positive correlation to the magnification of the image.例文帳に追加

対物レンズの前方に配置される被観察物２００を照明する照明手段５を有する前記被観察物２００の映像を拡大する照明手段付き顕微鏡装置であって、前記照明手段５の前記被観察物２００に与える照度を前記映像の拡大倍率と正の相関関係を有するように変えることが可能に構成されていることを特徴とする照明手段付き顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁

The incubator unit to be installed on the stage of a microscope includes: an incubator holder mounted on the stage; fluid feed means mounted on the stage; an incubator body connected detachably to the fluid feed means and fitted detachably onto fitting means provided on the incubator holder; and at least a culture device installed in the incubator body.例文帳に追加

顕微鏡のステージに設けられるインキュベータ装置において、前記ステージに設けられたインキュベータホルダーと、前記ステージに設けられた流体供給手段と、この流体供給手段に着脱自在に接続され前記インキュベータホルダーに設けられた取付け手段に着脱自在に取付けられたインキュベータ本体と、このインキュベータ本体内に設けられた少なくとも１個の培養器と、を具備したことを特徴とするインキュベータ装置である。 - 特許庁

The microscope device includes: a modulation means which separates illumination light having coherence into at least two beams and modulate at least one beam of the separated illumination light; an illumination optical system which guides each beam of the separated illumination light to an objective lens and generates coherence light by the illumination light in the vicinity of the focal point; and a detection means which detects the coherence light as return light.例文帳に追加

可干渉性を有する照明光を少なくとも２つ以上に分離し、分離された前記照明光の少なくとも一の照明光に変調を加える変調手段と、前記分離された照明光をそれぞれ対物レンズに導くとともに、その焦点付近における前記照明光による干渉光を生じさせる照明光学系と、前記干渉光を戻り光として検出する検出手段とを備える。 - 特許庁

A microscope control device 1 comprises a first observation-point-registration reception means 110, a second observation-point-registration reception means 120 for receiving registrations of second observation points for each first observation point, observation-point display means 130 for displaying either of display bodies each of which displays each first observation point or display bodies each of which displays each second observation point, and display-mode-instruction reception means 140.例文帳に追加

顕微鏡制御装置１は、第１観察ポイント登録受付手段１１０と、第１の観察ポイント毎の第２の観察ポイントの登録を受け付ける第２観察ポイント登録受付手段１２０と、第１の観察ポイントの夫々を表す表示体、又は、第２の観察ポイントの夫々を表す表示体のうちの何れか一方を表示する観察ポイント表示手段１３０と、表示態様指示受付手段１４０とを備える。 - 特許庁

The scanning electron microscope having a function specifying a desired position based on a pattern registered beforehand, comprises a means for setting information about the type of the pattern, spaces between a plurality of parts forming the pattern and the size of parts forming the pattern, and a means for forming a pattern image formed of a plurality of the parts based on information acquired by the setting means.例文帳に追加

本発明は、予め登録されているパターンに基づいて、所望の位置を特定する機能を備えた走査電子顕微鏡において、パターンの種類，パターンを構成する複数の部分間の間隔、及びパターンを構成する部分の寸法に関する情報を設定する手段と、当該手段によって得られた情報に基づいて、複数の部分によって構成されるパターン像を形成する手段を備えた走査電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁

When the surface of the semiconductor which is a measuring target is observed by a scanning tunnel microscope (STM), the STM image of the surface of the semiconductor by applying positive voltage to the semiconductor on the basis of a probe is compared with the STM image of the surface of the semiconductor obtained by applying negative voltage to the semiconductor on the basis of the probe to detect the impurity atom in the semiconductor.例文帳に追加

被測定対象物である半導体表面を走査型トンネル顕微鏡(STM)で観察する際に、探針を基準として半導体に正の電圧を印加して得られた半導体表面のSTM像と、探針を基準として半導体に負の電圧を印加して得られた半導体表面のSTM像とを比較することにより、半導体中の不純物原子を検出することを特徴とする半導体不純物原子検出方法である。 - 特許庁

The method for fabricating a probe tip for use in the scanning probe microscope includes steps of forming a triangular prism formed with protective films on both sidewalls by patterning a (111) general silicon wafer; etching the silicon wafer to make the triangular prism into a probe tip of triangular pyramid shape; and removing the protective films.例文帳に追加

本発明は、走査探針顕微鏡（ＳＰＭ：Ｓｃａｎｎｉｇ Ｐｒｏｂｅ Ｍｉｃｒｏｓｃｏｐｅ）に用いられる探針ティップを製造する方法において、（１１１）一般シリコンウェーハをパターニングし、両側壁に保護膜が形成されている三角柱を形成する段階と、前記シリコンウェーハをエッチングし、前記三角柱を三角錐状の探針ティップに形成する段階と、前記保護膜を取り除く段階と、を含む探針ティップの製造方法を提供する。 - 特許庁

The scan near-field optical microscope comprises a light source for irradiating light on the location to be observed of the sample and adjusting the angle of incidence, and a detecting means to detect the irradiating light reflected by the sample, and can measure the angle dependency to the angle of incidence of the intensity of the reflected light detected by the detecting means.例文帳に追加

また、本発明の別態様によると、試料の観察部位に照射光を照射する、入射角度を調節可能な光源と、上記試料で反射された上記照射光を検出する検出手段とを具備し、上記検出手段で検出した反射光強度の上記入射角に対する角度依存性を測定可能に構成されていることを特徴とする走査型近接場光学顕微鏡が提供される。 - 特許庁

With the scanning electron microscope furnished with a function of specifying a required position according to a previously registered pattern, a means for setting kinds of patterns, intervals between a plurality of parts constituting the patterns, and information concerning dimension of parts constituting the patterns, and a means for forming a pattern image constituted by a plurality of parts according to the information given are provided.例文帳に追加

本発明は、予め登録されているパターンに基づいて、所望の位置を特定する機能を備えた走査電子顕微鏡において、パターンの種類，パターンを構成する複数の部分間の間隔、及びパターンを構成する部分の寸法に関する情報を設定する手段と、当該手段によって得られた情報に基づいて、複数の部分によって構成されるパターン像を形成する手段を備えた走査電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁

In the galvanized steel sheet, when the range from the surface of the plated layer side in the base steel sheet to a depth of 500 nm is observed with an electron microscope, the ratio between the area ratio (%) of AlN and the Al content (mass%) in the base steel sheet is ≥1/4 on the average.例文帳に追加

質量％で、Ｍｎ：０．５〜７％、Ａｌ：１．５超〜３％、およびＳｉ：０．５％以下（０％を含む）、を夫々含有する素地鋼板に溶融亜鉛めっきを施した溶融亜鉛めっき鋼板であって、素地鋼板におけるめっき層側の表面から深さ５００ｎｍまでの範囲を電子顕微鏡で観察したときに、ＡｌＮの面積率（％）と素地鋼板中のＡｌ含有量（質量％）との比が平均で１／４以上である溶融亜鉛めっき鋼板。 - 特許庁

The polyamide resin composition for vehicle body mechanical parts is composed of (a) 30-60 wt.% polyamide resin, (b) 10-30 wt.% polyester resin and (c) 20-60 wt.% glass fiber wherein the polyamide resin (a) forms a continuous phase and the polyester resin (b) forms a disperse phase in the phase-separated resin structure in the resin composition observed by an electron microscope.例文帳に追加

ポリアミド樹脂（ａ）３０〜６０重量％、ポリエステル樹脂（ｂ）１０〜３０重量％、およびガラス繊維（ｃ）２０〜６０重量％から構成される樹脂組成物であって、該樹脂組成物中に電子顕微鏡で観察される樹脂相分離構造において、ポリアミド樹脂（ａ）が連続相、ポリエステル樹脂（ｂ）が分散相を形成する樹脂相分離構造を有することを特徴とする車体機構部品用ポリアミド樹脂組成物。 - 特許庁

In the method for mounting the microscope observation sample mount of a porous body, a cured resin is subjected to impregnation treatment to the pore section of the porous body by a vacuum impregnation method, a sample mount having a ring type before the curing resin is cured is rotated by a rotary pressurizing apparatus 1 for filling the cured resin into the pore section of the porous body by centrifugal force (1).例文帳に追加

１．多孔質体の顕微鏡観察試料マウント製作方法にして、前記多孔質体の気孔部に真空含浸法により硬化型樹脂を含浸処理し、該硬化型樹脂が硬化する前の型リング付き試料マウントを回転加圧装置１により回転させて前記多孔質体の気孔部へ前記硬化型樹脂を遠心力により充填させることを特徴とする多孔質体の顕微鏡観察試料マウント製作方法。 - 特許庁

By enabling these operations, the focused multi-planar images can be captured in real time, even while the object is being moved; thus, an objective lens 14 can focus on a first focal place 28 on the surface 10 of the object 5 and a second focal plane 30, located at the height position of the probe tip 29, without being influenced by a vertical adjustment drive unit of the microscope.例文帳に追加

この操作を、焦点を合わせた多平面画像取得をリアルタイムで、すなわち検査対象物の移動中にも可能にするために、対物レンズ１４が、顕微鏡の垂直調節駆動装置に左右されずに、検査対象物５の表面１０上の第１焦点面３０と探針尖端２９の高さ位置にある第２焦点面３０に対物レンズ１４の焦点を合わせることができる顕微鏡対物レンズ焦点合わせシステムを備えている。 - 特許庁

In the atomic force microscope, the cantilever control device 1 is constituted of: the cantilever 10 having the probe 12; an actuator 20 for causing the self-oscillation of the cantilever 10; an oscillation speed detector 30 for detecting the oscillation speed of the cantilever 10; a displacement calculator 32 for calculating the oscillation displacement of the cantilever 10 and a controller 40 for forming a signal for driving the actuator 20.例文帳に追加

原子間力顕微鏡において、探針１２を有するカンチレバー１０と、カンチレバー１０を自励振動させるアクチュエータ２０と、カンチレバー１０の振動速度を検出する振動速度検出器３０と、カンチレバー１０の振動変位を算出する変位算出器３２と、アクチュエータ２０を駆動するための信号を生成する制御器４０とから、カンチレバー制御装置１を構成し、フィードバック制御信号Ｓを（Ｋ−Ｇ・ｘ^2）・ｄｘ／ｄｔとする。 - 特許庁

This scanning near-field optical microscope according to one embodiment includes means for illuminating a sample with light, scanning means for bringing a probe close to the sample and scanning the sample, a plurality of collecting optical systems with different optical axes for collecting the scattering light generated by the illumination, and a plurality of scattering light- detecting mechanisms set respectively the plurality of the collecting optical systems.例文帳に追加

本発明の一態様によると、試料に光を照射する手段と、試料にプローブを近接させ走査する走査手段と、照射により発生した散乱光を集光するもので、それぞれ、異なる光軸を持った複数の集光光学系と、前記複数の集光光学系にそれぞれ設けられた複数の散乱光検出機構とを有することを特徴とする走査型近接場光学顕微鏡が提供される。 - 特許庁

The method of operating laser scanning microscope comprises: lighting a sample through at least one scanner 2; imaging the sample; measuring temperature at the scanner 2 and/or a scanner driving part; starting a cooling device 6 when limit temperature is reached; advantageously interrupting the imaging operation once the cooling device 6 is switched on; and making a display device perform optical display or acoustic display when the limit temperature is reached.例文帳に追加

本発明によるレーザ走査型顕微鏡の動作方法では、試料は少なくとも１つのスキャナ２を通じて照明され、撮像が行われ、スキャナ２および／またはスキャナ駆動部において温度測定が行われ、限界温度に達すると冷却装置６が始動され、また有利なことに、冷却装置６のスイッチがオンに入ると撮像が中断され、または限界温度に達すると表示装置が光学的表示または音響的表示を行う。 - 特許庁

The laser scanning microscope is equipped with an illumination beam path for illumination of a sample, and a detection beam path for wavelength-dependent sensing of the light from the sample, whereby filters for selection of the detection wavelengths are provided, characterized in that at least one graduated filter spatially variable in regard to the threshold wavelength between the transmission and reflection is provided in several partial beam paths for the selection of the wavelengths.例文帳に追加

この走査型レーザ顕微鏡は、試料を照らすための照明用の放射線経路と、試料光を波長に応じて感知するための検出用の放射線経路とを備え、検出波長を選択するためのフィルタが設けられており、複数の部分放射線経路へと波長を選択するために、透過と反射との間の境界波長が場所によって変わる少なくとも１つのグラデーション・フィルタが設けられている。 - 特許庁

an inherited condition marked by the following: (1) one or more first- or second-degree relatives (parent, sibling, child, grandparent, grandchild, aunt, or uncle) with malignant melanoma; (2) many moles, some of which are atypical (asymmetrical, raised, and/or different shades of tan, brown, black, or red) and often of different sizes; and (3) moles that have specific features when examined under a microscope. 例文帳に追加

以下を特徴とする遺伝性疾患：（1）悪性黒色腫を有する第一度または第二度近親者（両親、兄弟姉妹、子供、祖父母、孫、叔母、叔父）が1人以上存在する；（2）多数の母斑（ほくろ）が存在し、そのうちのいくつかが非典型的（左右が非対称である、盛り上がっている、および/または色調が黄褐色、褐色、黒、赤など様々である）で、多くの場合大きさは多様である；（3）母斑を顕微鏡で調べると特殊な特徴が認められる。 - PDQ®がん用語辞書 英語版

The chart 10 for resolution evaluation used for evaluating the imaging performance of the coherent Raman microscope includes: a substrate 11 optically smooth for illumination light and not emitting fluorescence for illumination light excitation; and a Raman active layer 12 containing a Raman active substance not emitting fluorescence for illumination light excitation by being two-dimensionally formed on the substrate 11 and having oscillation spectrum different from the substrate 11.例文帳に追加

コヒーレント・ラマン顕微鏡の結像性能を評価するのに用いる解像度評価用チャート１０であって、照明光に対して光学的に平滑で、かつ照明光励起に対して蛍光を発光しない基板１１と、基板１１上に二次元的に形成され、基板１１とは異なる振動スペクトルを有し、かつ照明光励起に対して蛍光を発光しないラマン活性物質を含むラマン活性層１２と、を有する。 - 特許庁

In the method and apparatus for creating a template for template matching for specifying desired positions by comparing a previously stored template with images acquired by a microscope, in one embodiment for achieving the target, a plurality of images of a specific location are acquired by template matching, and averaged to thereby create a new template.例文帳に追加

上記目的を達成するための一態様として、予め記憶されたテンプレートと、顕微鏡によって取得された画像を比較することによって、所望の位置を特定するテンプレートマッチング用テンプレートの作成方法、及び装置において、テンプレートマッチングによって、特定された個所の画像を複数取得し、当該複数画像を加算平均することによって、新たなテンプレートを作成するテンプレートマッチング用テンプレートの作成方法、及び装置を提案する。 - 特許庁

To provide a technique capable of measuring accurately a topograph relative to even the sample surface whose accurate surface topograph measurement is difficult by a conventional method, by overcoming a defect that the accurate surface topograph can not be measured because an attraction detected by a cantilever tip includes both an interatomic force and an electrostatic force when executing the surface topograph measurement by a conventional noncontact type atomic force microscope.例文帳に追加

本発明は、従来の非接触型原子間力顕微鏡による表面トポグラフ計測の際に、カンチレバー先端で検出される引力には原子間力と静電気力の両方が含まれるために正確な表面トポグラフを計測できないという欠点を克服し、従来法では正確な表面トポグラフ計測が困難であった試料表面に対しても、そのトポグラフを正確に計測する技術を提供するものである。 - 特許庁

Reflectance and adhesion with a sealing material are improved by making surface roughness Ra in measurement by a stylus surface roughness meter to be 0.010 μm or above and surface roughness Sa in measurement by an atomic force microscope to be 50 nm or below in the LED component material.例文帳に追加

金属基材上の、少なくとも片面もしくは両面に、一部もしくは全面に、電析によりめっき皮膜を析出させた後に、前記めっき皮膜の表面平滑化を加工して得られる、ＬＥＤ用部品材料において、針式表面粗さ計による測定での表面粗さＲａを０．０１０μｍ以上であり、かつ原子間力顕微鏡による測定で表面粗さＳａが５０ｎｍ以下であることで、反射率と封止材との密着性を向上させたことを特徴とするＬＥＤ用部品材料。 - 特許庁

The present invention relates to a film thickness evaluation method for measuring the distribution of film thickness of an insulation thin film by using an atomic force microscope which applies a variable DC voltage between a sample and a probe held by a cantilever.例文帳に追加

試料と、カンチレバーに保持された探針との間に可変直流電圧を印加する原子間力顕微鏡を用いて、絶縁性薄膜の膜厚分布を測定する膜厚評価方法で、試料の測定領域に電圧を変化させて印加するとともに、発生電流および絶縁破壊電圧を測定し、前記測定領域のうち任意の１点の膜厚を基準値として、各測定点の絶縁破壊電圧および（１）式の関係に基づいて、前記測定領域内の相対膜厚の分布を求めることとする。 - 特許庁

A method for obtaining a crystal lattice Moire pattern of a crystal structure through the use of a scanning microscope includes the process for periodically arranging a plurality of virtual lattice points in a scanning surface of the crystal structure according to the crystal structure and orientation, the process for detecting signals from the plurality of virtual lattice points through the use of an incidence probe, and the process for generating a crystal lattice Moire pattern of the crystal structure on the basis of detected signals.例文帳に追加

走査型顕微鏡を用いて、結晶構造の結晶格子モアレパターンを取得する方法であって、前記結晶構造の走査面において、前記結晶構造と方位に対応して、複数の仮想格子点を周期的に配置する工程と、入射プローブを用いて複数の前記仮想格子点からの信号を検出する工程と、検出した前記信号に基づいて、前記結晶構造の結晶格子モアレパターンを生成する工程と、を備えている。 - 特許庁