「Microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方(176ページ目) - Weblio英語例文検索

An infrared microscope system 1 includes an optical unit 50 that narrows down the infrared light flux supplied from an interference unit 22 of an FT-IR 2 to a smaller diameter in a substantially parallel light, so as to generate a high density infrared light flux having a higher light beam density than the supplied infrared light flux and to introduce it.例文帳に追加

本発明の赤外顕微システム１は、ＦＴ−ＩＲ２の干渉計部２２から供給された赤外光線束を実質的に平行光とした状態で小径に絞ることで、当該赤外光線束の光線密度よりも高い光線密度とされた高密度の赤外光線束を形成して導入する光学ユニット５０を備えている。 - 特許庁

To provide an electron microscope in which control of a button and a slider or the like realizing demand of an operator from a complicated operation screen is shown to the operator in a visually comprehensive state, and in which the most effective operation can be instructed to the operator by analyzing an operation state at that time point in the case a problem occurs during observation.例文帳に追加

本発明の目的は、複雑な操作画面からオペレータの要求を実現するボタンやスライダ等のコントロールをオペレータに視覚的にわかり易く示すと共に、観察中に問題が発生した場合には、その時点の操作状態を解析し、最も有効な操作をオペレータに指示することのできる電子顕微鏡を提供することにある。 - 特許庁

To provide a apparatus and a program for medical image generation which allows editing of animation such as extraction of a still image which has the highest utilization value for a medical doctor and other persons making medical practices from the animation photographed by a medical photographing apparatus such as a slit lamp microscope (slit lamp) and an endoscope used at a medical site.例文帳に追加

医療現場で利用される細隙灯顕微鏡（スリットランプ）や内視鏡等の医療用撮影装置で撮影された動画から、医師等の医療行為を行う者にとって、最も利用価値の高い静止画を抽出する等の動画の編集を行うことを可能にする医療画像作成装置及び医療画像作成プログラムの提供。 - 特許庁

To quantitatively express directional properties(anisotropy) in a three-dimensional structure created by a target to be noticed in an image to a three-dimensional image constructed by a tomogram acquired nondestructively, a sectional image acquired by direct observations using a microscope, or the like by a nondestructive inspection, such as X rays and a nuclear magnetic resonance method.例文帳に追加

エックス線や核磁気共鳴法などの非破壊検査により非破壊で取得された断層画像や顕微鏡などの使った直接的な観察よって取得された断面の画像などから構築された３次元画像に対して、画像内にある注目対象が作る３次元構造の方向性（異方性）を定量的に表現する。 - 特許庁

In the microscopic surface temperature distribution measuring device 100, a material having a predetermined relationship with temperature dependency of a resonance frequency is used as the cantilever 1 in the scanning probe microscope, temperature change of the cantilever 1 is measured as change of the resonance frequency, and a temperature is measured by converting the change into temperature on the basis of the predetermined relationship.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡におけるカンチレバー１として、共振周波数の温度依存性に所定の関係を有する材料を用い、前記カンチレバー１の温度変化を前記共振周波数の変化として測定し、前記所定の関係により温度に換算して測温する微小表面温度分布測定装置１００とする。 - 特許庁

The observation is performed by a scanning transmission electron microscope observation equipment equipped with a field emission electron gun, a convergence means to converge an electron ray emitted from the field emission electron gun onto a sample, a deflecting means to scan a convergence electron ray irradiating the sample, a projecting means to project a sample image, and a measuring means for a sample thickness.例文帳に追加

電界放射型電子銃と、電界放射型電子銃から放射された電子線を試料に収束する収束手段と、試料を照射する収束電子線を走査する偏向手段と、試料像を投影する投影手段と、試料厚さ測定手段とを備える走査透過型電子顕微鏡観察装置を用いて観察を行う。 - 特許庁

The correcting method for a photomask to correct a white defect in a photomask is characterized in that: a deposition film 11 is formed at a white defect portion C by a FIB-CVD (focused ion beam chemical vapor deposition) system; if the film protrudes a desired pattern, the protruding portion 2 is shaved off with a needle; and the needle is preferably a probe of a scanning probe microscope.例文帳に追加

フォトマスクの白欠陥を修正するフォトマスク修正方法において、白欠陥部ＣにＦＩＢ−ＣＶＤ方式でデポジション膜１１を形成し、膜の形状が所望の形状よりはみ出た場合、はみ出た部分２を針で削りとり、好ましくは前記針は、走査プローブ顕微鏡の探針であることを特徴とする。 - 特許庁

The fluorescent microscope has the objective lens 21 and is provided with imaging means 21 and 23 for forming the fluorescent image of a specimen 20 marked by a fluorescent substance, vertical illumination means 13 to 18 for illuminating the specimen 20 and beam attenuating means 14 for attenuating the light intensity near an optical axis 20a of the objective lens 21 out of the incident light for illumination on the objective lens 21.例文帳に追加

対物レンズ２１を有し、蛍光物質で標識された標本２０の蛍光像を形成する結像手段２１，２３と、標本２０を照明する落射照明手段１３〜１８と、対物レンズ２１に入射する照明光のうち、対物レンズ２１の光軸２０ａ付近の光強度を低減させる減光手段１４とを備える。 - 特許庁

The microscope stage provided with a stationary stage 11 and a circular stage 12 freely slidingly coming into contact with a thrust surface 11c on a projecting part 11b of this stationary stage 11 controls the moving competence of the circular stage 12 by adjusting the contact area of the thrust surface 11c on the projecting part 11b by which the circular stage 12 is slid.例文帳に追加

固定ステージ１１と、この固定ステージ１１の突出部１１ｂ上のスラスト面１１ｃに対して摺動自在に接触する円形ステージ１２を備えた顕微鏡ステージであって、円形ステージ１２が摺動される突出部１１ｂ上のスラスト面１１ｃの接触面積を調整して円形ステージ１２の移動力量を制御する。 - 特許庁

To provide a microscope apparatus for surgery wherein there exists no possibility of damaging tissues at an objective sites for medical curing by the apex of an endoscope and even when an operator concentrates on operating a tool for treatment, safety can be confirmed and a lot of instrument are not necessary and a large sample is unnecessary and the range of activity and procedures for surgical operation of the operator are not restricted.例文帳に追加

内視鏡先端で治療対象部位の組織を傷つけることなく、術者が処置具の操作に集中しても安全性の確認ができ、多くの機器を必要とせず、且つ、大きなスペースを不要として術者の活動範囲及び手術操作を制限することのない手術用顕微鏡装置を提供することである。 - 特許庁

A transmission electron microscope comprises a means for calculating an deviation amount in visual field among a plurality of sample permeation images, a means for changing an electric current given in a deflector for deflecting an electron beam or moving a sample to automatically correct the deviations in visual field, and a control means for repeating this operation means to decrease the deviations in the visual field.例文帳に追加

透過型電子顕微鏡において、複数の試料透過像間の視野ずれの量を計算する手段と、電子線を偏向させる偏向器に与える電流をかえて、または試料を移動させて視野ずれを自動的に補正する手段と、以上の手段の動作を繰り返して視野ずれを減少させる制御手段とを備える。 - 特許庁

When the proportion (wt.%) of the metallic salt in the entire toner is represented by A and the number of particles of the metallic salt observed with a polarizing microscope is represented by B, the inequality 100<(B/A)<1,000 is satisfied.例文帳に追加

本発明の製造方法は、着色粒子に、体積平均粒径が３〜１５μｍの脂肪酸金属塩を添加混合してトナー原料を得る工程と、前記脂肪酸金属塩の体積平均粒径の６〜１５倍の目開きを有する篩を使用して前記トナー原料の篩分け処理を施すことにより粗大粒子を除去する工程とを有してなる。 - 特許庁

The semiconductor test system is composed of a navigation system which makes up all conditions required for photographing/testing from design information, and a scanning electron microscope system which actually carries out photographing/testing, and then the all conditions required for photographing/testing are made up from the design information such as CAD data or the like, and the actual test is carried out in those conditions.例文帳に追加

CADデータ等の設計情報から撮影／検査に必要な全ての条件を作成し、その条件で実際の検査を行うために、半導体検査システムを設計情報から撮影／検査に必要な全ての条件を作成するナビゲーションシステムと実際の撮影／検査を実行する走査型電子顕微鏡システムとから構成させる。 - 特許庁

The mapping type electron microscope includes an illuminating system which irradiates a primary electron beam onto a sample, and the projection imaging optical system 24 which guides a secondary beam irradiated from the sample to a detection system, and the projection imaging optical system 24 is provided with the transfer lens system 24b, having a first zooming lens 6a and a second zooming lens 6b.例文帳に追加

試料を照射する１次電子ビームを放出する照射系と、試料から放出された２次電子ビームを検出系へ導く投影結像光学系２４とを備える写像型電子顕微鏡の投影結像光学系２４は、第１のズームレンズ６ａと第２のズームレンズ６ｂとを有するトランスファー・レンズ系２４ｂを備える。 - 特許庁

The microscope controller is equipped with: two rotatable dial operated sections composed of a coarse adjusting handle 1201 and a fine adjusting handle 1301; one rotary encoder comprising a rotary encoder disk 1602, an encoder 1701, etc.; and two transmission mechanisms transmitting the rotation of the two dial operated sections at each different gear ratio to one rotary encoder.例文帳に追加

顕微鏡用コントローラーは、粗動ハンドル１２０１と微動ハンドル１３０１とから成る回転可能な二つのダイヤル操作部と、ロータリーエンコーダーディスク１６０２とエンコーダー１７０１等から構成される一つのロータリーエンコーダーと、二つのダイヤル操作部の回転をそれぞれ異なる変速比で一つのロータリーエンコーダーへ伝達する二つの伝達機構とを備えている。 - 特許庁

A laser mark 2 to be the positioning mark for a second charged particle image in the charged particle beam apparatus is made at the periphery of a processing/observation object area 1 by moving the processing/observation object area 1 in the charged particle beam apparatus so as to come into the visual field while performing an observation with an infrared microscope and by using a laser optical system 7 arranged coaxially with an optical observation system.例文帳に追加

赤外顕微鏡による観察を行いながら荷電粒子ビーム装置における加工・観察対象箇所１が視野内にくるように移動し、加工・観察対象箇所１周辺に光学観察系と同軸に配置されたレーザー光学系７によって、荷電粒子ビーム装置における二次荷電粒子像の目印となるレーザーマーク２をつける。 - 特許庁

A joint section where the carbon nanotube adheres to the tip of the probe of the scanning probe microscope or the handling equipment, is dipped in a dielectric liquid section, and a portion of liquid is solidified around the joint section in order to form a reinforcing section, by applying a potential difference between the joint section and the liquid section by using an external power source, thereby reinforcing the joint section.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡あるいはハンドリング機器のプローブ先端部とカーボンナノチューブとの付着部である接合部を誘電体である液体部に浸し、該接合部と液体部間に外部電源装置によって電位差を付与させて接合部周囲に液体の一部を固化させて補強部を形成し、以って接合部を強化する。 - 特許庁

To prevent particles generated from a moving part of an electronic beam lens barrel from falling onto an observation face of a sample in an electronic microscope in which a floor area of a device is saved by positioning the electronic beam lens barrel at a position of observing respective points on the observation face of the sample to be retained by a sample retaining part by moving the electronic beam lens barrel.例文帳に追加

電子ビーム鏡筒を移動させることによって、試料保持部に保持される試料の観察面上の各箇所を観察する位置に電子ビーム鏡筒を位置付けることにより、装置の床面積を節約する電子顕微鏡において、電子ビーム鏡筒の移動部から発生するパーティクルが試料の観察面に落ちることを防止する。 - 特許庁

In a magnetic head for a contact slide type linear tape drive sliding in contact with the magnetic tape upon recording and/or reproduction of a magnetic signal, a surface sliding in contact with the magnetic tape upon contact sliding has a plurality of recessed parts observed in a surface projecting and recessed image of a scanning probe microscope and the plurality of recessed parts satisfy the following (1) to (4).例文帳に追加

磁気信号の記録および／または再生時に磁気テープと磁気ヘッドとが接触摺動する接触摺動型リニアテープドライブ用磁気ヘッドにおいて、接触摺動時に磁気テープと接触摺動する面に、走査型プローブ顕微鏡の表面凹凸像において観察される凹部を複数有し、かつ該複数の凹部は下記（１）〜（４）を満たす。 - 特許庁

In a scanning probe microscope 10 for making a probe 16 provided for one end of the cantilever 15 scan along the surface of a sample 30 and measuring the height and a distribution of the physical state of the sample 30, the resonance frequency of the cantilever 15 is detected before and after the measurement of the sample 30 to detect the presence or absence of the adhesion of foreign matter to the tip of the probe 16.例文帳に追加

カンチレバー１５の一端に設けられたプローブ１６を試料３０の表面に沿って走査させて試料３０の高さ及び物理状態の分布を測定する走査プローブ顕微鏡１０において、試料３０の測定の前後にカンチレバー１５の共振周波数を検出してプローブ１６の尖端への異物の付着の有無を検知する。 - 特許庁

It includes a step of forming a pattern by inputting the position and size data of the designed pattern and impacting power data for them into an impacting machine having chips and punching the processing surface, and a step of checking the processing surface with a microscope and grinding the surface with a grinder if defective then processing the surface after adjusting the processing conditions.例文帳に追加

設計されたパターンの位置、パターンのサイズデータ及びこれらに対応する打撃力データをチップ付き打撃装置に入力して加工面を打撃することにより、パターンを形成する段階と、加工面をマイクロスコープで確認し、異常があれば、加工面を研磨機で押し出し、加工条件を調節した後再加工する段階とを含む。 - 特許庁

A wafer chuck rotatable 360° and an X-Y stage with a movable distance which is a half of the diameter of a semiconductor wafer are provided, and the regions provided by dividing a semiconductor wafer 1 into four is rotated with a wafer chuck, according to wafer's defect position coordinate and the four regions are observed sequentially with a fixed microscope 2, for defect review on the entire wafer surface.例文帳に追加

３６０度回転可能なウェハチャックと半導体ウェハ直径の半分の可動距離をもつＸ−Ｙステージとを有し、半導体ウェハ１を４分割した領域をウェハの欠陥位置座標に応じてウェハチャックを回転して、この４つの領域を順次固定された顕微鏡２により観察して、ウェハ全面の欠陥レビューを行うようにしている。 - 特許庁

The filter slider 101 for the microscope adhered and fixed with a first optical element 103 and with a second optical element 102 at a mounting member 104, so as to face each other is provided with a vent hole 106 for making the space between the first optical element 103 and the second optical element 102 at the mounting member 104 described above, communicate with the outside.例文帳に追加

第１の光学素子１０３と第２の光学素子１０２とを対向させて、取付け部材１０４に接着固定した顕微鏡用フィルタースライダ１０１において、前記第１の光学素子１０３と前記第２の光学素子１０２との空間部を外部に連通させる通気孔１０６を前記取付け部材１０４に設ける。 - 特許庁

In this method, shape measurement for the lens under test which is to be turned about a rotating shaft R_2, performed as changing relative attitude of a microscope interferometer 1 is divided into two steps, such as a surface side measurement performed with the lens under test 9 supported from the rear face side; and a rear face side measurement performed with the lens under test 9 supported from the surface side.例文帳に追加

回転軸Ｒ_２回りに回転せしめられる被検レンズ９に対し、顕微干渉計１の相対姿勢を変えながら行う形状測定を、被検レンズ９が裏面側から支持された状態で行う表面部の測定と、被検レンズ９が表面側から支持された状態で行う裏面部の測定とに分けて行う。 - 特許庁

To provide a method for joining a probe to a detecting piezoelectric element in a scanning probe microscope that uses a piezoelectric element as the distance control means of the probe, without depending on changes in ambient condition, such as temperature, and the amount of an adhesive or a method of adhesion, so that stable vibration characteristic and detection characteristic can be obtained and so that the detecting piezoelectric element can be reused.例文帳に追加

プローブの距離制御手段として圧電体を利用する走査型プローブ顕微鏡において、温度などの環境変化や接着剤の量や接着方法によらず、安定した振動特性や検出特性が得られ、さらに検出用圧電素子の再利用が可能なようなプローブと検出用圧電体の接合方法を提供する。 - 特許庁

The objective lens adjustment mechanism is constituted by providing a fixing part 10 supported by a microscope system 2, an objective lens supporting part 20 which supports the objective lens 3, flexible parts 11-14 provided between the fixing part and the objective lens supporting part, and a pressurization part 41 which bends the flexible parts 11-14 by pressurizing the objective lens 3 or the objective lens supporting part 20.例文帳に追加

対物レンズ調整機構を、顕微鏡装置２に支持される固定部１０と、対物レンズ３を支持する対物レンズ支持部２０と、固定部と対物レンズ支持部との間に設けられた可撓部１１〜１４と、対物レンズ３又は対物レンズ支持部２０を押圧することにより、可撓部１１〜１４を撓ませる押圧部４１と、を備えて構成する。 - 特許庁

An illumination device is equipped with: a light guide 40 having emission ends 42a-42d emitting illumination lights La-Ld to enter the sample 2 obliquely with respect to the optical axis AX of the objective lens of the microscope; and an emission end rotation part 50 for rotating each position of the emission ends 42a-42d by using the optical axis AX as a rotation axis.例文帳に追加

照明装置は、顕微鏡の対物レンズの光軸ＡＸに対して斜めに試料２に入射するように照明光Ｌａ〜Ｌｄが出射する出射端４２ａ〜４２ｄを有する光ガイド４０と、光軸ＡＸを回転軸として出射端４２ａ〜４２ｄの位置を回転させる出射端回転部５０と、を備える。 - 特許庁

This microscope has a stage 31, an illumination optical system for irradiating a specimen 11 on the stage 31 with illumination light, an objective supporting section for supporting an objective lens 13, a light shielding section 110 which is arranged around the stage 31 and shields the incident light on the stage 31 from outside and changing means for changing the arrangement position of the light shielding section 110.例文帳に追加

ステージ３１と、ステージ３１上の標本１１に向かって照明光を照射するための照射光学系と、対物レンズ１３を支持するための対物支持部と、ステージ３１の周囲に配置され、外部から前記ステージ３１に入射する光を遮断する遮光部１１０と、遮光部１１０の配置位置を変更する変更手段とを有する。 - 特許庁

The confocal microscope provided with the acousto-optical element 2 is characterized in that an acoustic absorption material 4 is fitted on the light incident face, the light emitting face and all outer circumferential faces of the acousto-optical element 2 except the face on which a transducer 3 for giving vibration on the acousto-optical element 2 is fitted.例文帳に追加

音響光学素子２を備える共焦点顕微鏡において、音響光学素子２における光の入射面および出射面ならびに該音響光学素子２に振動を与えるトランスデューサ３が取り付けられている取付面以外の全ての外周面に吸音材４が取り付けられた共焦点顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide an afocal zoom lens for a microscope, which has an overall length reduced to simultaneously realize a high variable power ratio and improvement of aberration performance in all variable power areas and not only has an exit pupil less varied at a high power end from a low power end but also has the quantity of light like the quantity of peripheral light less reduced to improve systematizability as an optical system.例文帳に追加

全長を抑えて高変倍比化と変倍全域での収差性能を向上とを同時に満たすとともに、低倍端から高倍端での射出瞳の変動及び周辺光量などの光量低下を抑えて、光学系としてのシステム性を向上させることができる顕微鏡用アフォーカルズームレンズを提供する。 - 特許庁

This optical device slider is equipped with a slider 1 provided to slide on a slider receiver provided in the condenser of a microscope and having a diaphragm aperture part 6, an optical device aperture part 5 and plural filter aperture parts 7a and 7b, and the optical device 10 and plural filters 11 provided to be freely loaded and unloaded on/from the aperture parts 5 and 7a and 7b respectively.例文帳に追加

顕微鏡のコンデンサに設けたスライダー受にスライド可能に設けられ、絞り開口部６及び光学素子開口部５並びに複数のフィルター開口部７ａ，７ｂを有するスライダー１と、該光学素子開口部５並びに該フィルター開口部７ａ，７ｂに夫々挿入抜去自在に設けられた光学素子１０及び複数のフィルター１１を備えたもの。 - 特許庁

The measurement on the plurality of items is performed, in which the AMP (auto measurement parameter) registration is performed for the setting of the parameters regarding the preparation of a line profile from a SEM (scanning electron microscope) image, as the common condition to all measurement items, and in which the plurality of AMP registrations for the edge detection method and the distance measurement value calculation method are performed.例文帳に追加

本発明においては、ＳＥＭ画像からラインプロファイルを作成するときに関わるパラメータの設定を全測定項目において共通の条件としてＡＭＰ登録を行い、また、エッジ検出方法と測長値算出方法を複数のＡＭＰ登録を行うことによって、複数項目の測定を行うようにした。 - 特許庁

Concerning a plurality of grouping areas whose peripehral parts overlap each other in a photographing object area of a microscope image, the data of a plurality of screening and zooming static images photographed at the highest magnification and the data of a plurality of focusing static images photographed with variable focal points in the respective grouping areas are created.例文帳に追加

顕微鏡像のうちの撮影対象領域を、互いに周辺部の一部が重なり合う複数の区分け領域について、最高倍率で撮影された複数のスクリーニング・ズーミング用静止画像のデータと、前記各区分け領域においてそれぞれ焦点を変えて撮影された複数のフォーカシング用静止画像のデータを作成する。 - 特許庁

To provide an azo pigment which gives good stability to pigment-containing dispersion and ink liquid, and includes an excellent tint and optical density, and preferably a longitudinal length of which is 0.01-30 μm, when measured using a transmission microscope.例文帳に追加

本発明は顔料分散物安定性及びインク液安定性が極めて良好であり、優れた色相及び着色力を有するアゾ顔料を提供することを目的とするものであり、好ましくは透過型顕微鏡で観察した際の長軸方向の長さが０．０１μｍ〜３０μｍであるアゾ顔料を提供することを目的とするものである。 - 特許庁

To approach unevenness of sample surface and measure surface state at high resolution by solving such problems as destruction, deformation of a base probe, destruction of a jointed part, caused by distortion and slipping of the CNT probe, which cause problems in observing the sample surface with a scanning probe microscope using a CNT cantilever.例文帳に追加

ＣＮＴカンチレバーを使用した走査型プローブ顕微鏡による試料表面の観察で問題となるＣＮＴの湾曲や滑りに起因するベース探針の破壊、変形および接合部の破壊の問題を解決し、試料表面の凹凸に確実にアプローチして高分解能で表面状態を測定することができるようにする。 - 特許庁

The resin structure is constituted by a resin composition substantially comprising (a) a polyester resin and (b) a polyphenylene sulfide resin(PPS resin) at a specific ratio and, simultaneously, the PPS resin layer being allowed to have a special structure such as a continuous phase and a belt-shaped dispersion phase as the resin phase separation structure to be observed in the resin composition by an electron microscope.例文帳に追加

特定比の実質的に（ａ）ポリエステル樹脂及び（ｂ）ポリフェニレンスルフィド樹脂（ＰＰＳ樹脂）からなる樹脂組成物で構成され、かつ、該樹脂組成物中に電子顕微鏡で観察される樹脂相分離構造としてＰＰＳ樹脂層が連続相や帯状分散相等の特殊な構造を持った樹脂構造体とする。 - 特許庁

To prevent reattachment of chips produced during modification by removal to a substrate in a step of removing defective portions remaining so as to be different from a state expected by design against a design in a light shielding film Cr, an absorbing film TaN, a phase film MoSi left without being removed in the process and the substrate Qz by using a probe of an atomic force microscope.例文帳に追加

プロセス工程で除去されず残ってしまった遮光膜Ｃｒ、吸収膜ＴａＮ、位相膜ＭｏＳｉ、や基板Ｑｚの設計とは異なり残留した欠陥部分を原子間力顕微鏡の探針を用いて除去する工程において、除去修正時に発生する削り屑の基板への再付着を防止する。 - 特許庁

To provide a microscope in which at least one or more electric drive parts are used, which displays current position information, statuses and error states of the electric drive parts and has the necessary minimum number of inexpensive display parts, operation switches in order to decrease an operation burden to a worker without using expensive liquid crystals, etc.例文帳に追加

少なくとも１つ以上の電動駆動部を用いた顕微鏡において、上記顕微鏡電動駆動部の現在位置情報・ステータス・エラー状態を表示し、高価な液晶などの高価な表示部を用いない安価な表示部と、作業者への操作負担を軽減させるため、必要最小限数の表示部、操作スイッチを備えた顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

This invention relates to the microscope 10 including: the main objective lens 20 having a lens configuration group 22 slidable to change the focal distance in the direction of an optical axis 23 of the main objective lens 20; and an illumination unit for forming an illumination beam path directed to an object surface 100 and having illumination deflecting means 43, 45 for deflecting the illumination beam path.例文帳に追加

本発明は、主対物レンズ（２０）の光軸（２３）方向に焦点距離の変化のためにスライド可能なレンズ構成群（２２）を備える主対物レンズ（２０）と、対象物面（１００）に向けられた照明ビーム路を形成し、該照明ビーム路を偏向するための照明偏向手段（４３，４５）を備える照明ユニットとを有する顕微鏡（１０）に関する。 - 特許庁

As a result, the observation object can be observed from many aspects using a microscope.例文帳に追加

試料液供給手段１６から管部材６を通して試料液回収手段１８に観察試料液を流すと、管部材６を流れる際に観察試料液に含まれる観察体が多数の微小突部１２に衝突し、かかる衝突によって観察体が観察試料液の所定方向の流れを利用して回動し、その結果、顕微鏡を用いて観察体を多面的に観察することができる。 - 特許庁

The confocal microscope is equipped with a light source array 30 comprising a plurality of light sources 40 and positioned on a plane conjugate to the focal plane of an objective 3, and a pinhole array 22 positioned on the plane conjugate to the focal plane of the objective 3 and having apertures 23 at respective positions corresponding to the respective light sources 40 of the light source array 30.例文帳に追加

共焦点顕微鏡を、対物レンズ３の焦点面に共役な面に位置する複数の光源４０からなる光源アレイ３０と、対物レンズ３の焦点面に共役な面に位置し光源アレイ３０の各光源４０に対応する各位置にそれぞれ開口２３を有するピンホールアレイ２２と、を備えて構成する。 - 特許庁

This microscope includes the objective lens, the field stop disposed in a conjugate position to a focal plane of the objective lens to vary a stop diameter, and a magnification change device disposed on an observation optical path of the objective lens, wherein the field stop is controlled to always keep a large stop diameter to the visual field diameter changed in a variable power.例文帳に追加

対物レンズと、前記対物レンズの焦点面と共役な位置に配置されて絞り径が可変な視野絞りと、前記対物レンズの観察光路上に配置された倍率変倍装置とを備えた顕微鏡において、変倍時に変化する視野径に対して常に視野絞りの径が大きい状態を保つように制御することによって解決される。 - 特許庁

The negative electrode for lithium secondary battery is comprises coating and integrating, on a current collector, a graphite paste which is made by adding and mixing an organic binder and solvent to graphite particles which are made by assembling and binding a plurality of flat-shape particles so that the orientation surface is unparallel having pores, when the cross-section of the particles is observed by a scanning type microscope photograph.例文帳に追加

扁平状の粒子を複数、配向面が非平行となるように集合又は結合させてなり、粒子の断面を走査型顕微鏡写真で観察したときに細孔を有する黒鉛粒子に、有機系結着剤及び溶剤を添加し、混合してなる黒鉛ペーストを集電体に塗布、一体化してなるリチウム二次電池用負極。 - 特許庁

In the method for analyzing the materials in the microcapsule of the sample for observation containing the microcapsule by the transmission electron microscope, the sample for observation is used as the sample for observation containing the microcapsule, where the microcapsule including monomer capable of photopolymerization is irradiated with light.例文帳に追加

マイクロカプセルを含む観察用試料のマイクロカプセル内の材料を透過型電子顕微鏡により解析する方法であって、該マイクロカプセルを含む観察用試料として、光重合可能なモノマーが内包されたマイクロカプセルに光照射をした観察用試料を用いることを特徴とする、マイクロカプセル内の材料を透過型電子顕微鏡により解析する方法。 - 特許庁

Local density of state (LDOS) of carbon atoms in the organic molecules adsorbed to the metal is observed in an occupation state or non-occupation state using a scanning tunneling microscope (STM), thereby determining the adsorption state of the organic molecules to adjust the adsorption state of the adsorption organic molecules.例文帳に追加

金属に吸着した有機分子について、走査トンネル顕微鏡（ＳＴＭ）を用いて、占有状態または非占有状態で、有機分子中の炭素原子に局在する状態密度（ＬＤＯＳ）の観測を行うことにより、有機分子の吸着状態を決定することを通じて、吸着有機分子の吸着状態を調整する。 - 特許庁