「Microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方(171ページ目) - Weblio英語例文検索

The aluminum alloy sheet is subjected to cold rolling at a working ratio of 30 to 60%, the average crystal grain size obtained by a cutting method is ≤30 μm, and the area occupancy ratio of intermetallic compounds on the surface obtained by the image analysis of an observed picture in a scanning type electron microscope is 1.0 to 5.0%.例文帳に追加

このアルミニウム合金板は、加工率が３０乃至６０％の冷間圧延が施され、切断法により求めた平均結晶粒径が３０μｍ以下であり、走査型電子顕微鏡の観察画面像の画像解析により求めた表面における金属間化合物の面積占有率が１．０乃至５．０％である。 - 特許庁

By this operating method, an object to be observed on the sample is specified first by using the visible light beam of a normal optical system and observed with high resolution by using the extreme ultraviolet laser beam of a confocal optical system after it is specified when the sample is observed by a ultraviolet laser confocal microscope 1.例文帳に追加

極紫外線レーザコンフォーカル顕微鏡１で試料を観察する場合、最初に試料上の観察対象を通常光学系の可視光を使用して特定し、観察対象を特定した後で、コンフォーカル光学系の極紫外線レーザを使用してより高い分解能で観察対象を観察する。 - 特許庁

To provide a method capable of clearly observing suspended particulate matter in an atmosphere with a microscope without being affected by backgrounds, accurately measuring the amount of the suspended particulate matter in the atmosphere, and accurately identifying chemical substances contained in the suspended particulate matter in the atmosphere.例文帳に追加

大気中の浮遊粒子状物質を背景の影響を受けることなく顕微鏡で鮮明に観察し、あるいは大気中の浮遊粒子状物質の量を正確に測定し、更には大気中の浮遊粒子状物質に含まれる化学物質を正確に同定することのできる方法を提供する。 - 特許庁

This microscope has a cantilever 14 with the probe 15, a Z micromotion part 13b changing an interval between a sample 17 and the probe 15, an XY scan control part 19 imparting relative displacement in the sample surface direction between the sample 17 and the probe 15, displacement detection means 21, 22 detecting displacement occurring in the cantilever 14, and a Z direction control part 20.例文帳に追加

探針１５を有するカンチレバー１４、試料１７と探針の間隔を変化させるＺ微動部１３ｂと、試料と探針の間で試料表面方向に相対変位を与えるＸＹ走査制御部１９と、カンチレバーで生じる変位を検出する変位検出手段２１，２２と、Ｚ方向制御部２０とを備える。 - 特許庁

A wafer edge is scanned in three dimensions by using a confocal microscope having a light source (1) which emits a light beam, 1st and 2nd beam deflecting devices (2, 7), an objective (11) which converges and projects the light beam on a sample, and a linear image sensor (4) to image the wafer edge from a plurality of angle directions.例文帳に追加

本発明では、光ビームを発生する光源(1)、第１及び第２のビーム偏向装置(2，7)、光ビームを収束して試料に投射する対物レンズ(11)、及びリニァイメージセンサ(14)を有するコンフォーカル顕微鏡を用い、ウェハ端縁を３次元的に走査し、複数の角度方向からウェハ端縁を撮像する。 - 特許庁

The electron microscope introducing a sample through a spare exhaust room for carrying out measurement and observation by electron beams is to be provided with an exchange room for an electrostatic chuck different from the spare exhaust chamber, and a vacuum pump for vacuum pumping the exchange chamber.例文帳に追加

上記課題を解決するために、電子ビームによる測定，観察を行うために予備排気室を経由して、試料を導入する電子顕微鏡において、前記予備排気室とは異なる静電チャックの交換室と、当該交換室を真空排気するための真空ポンプを備えた電子顕微鏡を提案する。 - 特許庁

A system for correcting electron energy-loss spectral images of the electron microscope provided with an electron spectrometer corrects spectra of electron energy-loss spectral images of a sample to be analyzed at each measuring position on the basis of differences between spectra at a reference position included in a reference spectral image and spectra except the reference position.例文帳に追加

電子分光器を備えた電子顕微鏡の電子エネルギー損失スペクトル像の補正システムであって、基準スペクトル像に含まれる基準位置のスペクトル及び基準位置以外のスペクトルの相違点に基き、分析対象試料のエネルギー損失スペクトル像の各測定位置のスペクトルを補正することを特徴とする補正システム。 - 特許庁

The convex part is defined as the part protruding from outside of a polygon formed by connecting local minimum points to the inside direction of the fiber on a photograph of the cross section of the cellulose acetate fiber taken in a scanning electron microscope of 3000 magnification.例文帳に追加

本発明でいう凸部とは、対象となるセルロースアセテート繊維の繊維軸に垂直方向の断面を、走査型電子顕微鏡を用いて３０００倍の倍率で写真撮影し、繊維の内部方向に対して極小点となる部分を結んでできる多角形の外側に突出している部分を凸部とする。 - 特許庁

In this method of manufacturing the probe made of iridium, used in the scanning tunneling microscope(STM), a calcium chloride solution incorporated with acetone is used as an electrolyte, and a parallel plate type electrodes made of graphite are used as opposed electrodes in electrolytic grinding to manufacture the acute probe made of iridium, easy to handle, by an electrolytic polishing method.例文帳に追加

走査トンネル顕微鏡（ＳＴＭ）で使用するイリジウム製探針の製作方法において、アセトンを添加した塩化カルシウム溶液を電解液とし、かつ電解研削時の対向電極として黒鉛製平行平板型電極を用いて電解研磨法により、取り扱いが容易な尖鋭なイリジウム製探針を作製する。 - 特許庁

The position of the stage 101 can be electrically controlled in X-Y-Z directions, and the microscope system 100 includes: a stage X-Y controller 115 for controlling the position of the stage 101 in the X-Y directions; and a stage Z drive control part 116 for controlling the position of the stage 101 in the Z direction.例文帳に追加

ステージ１０１はＸ−Ｙ−Ｚ方向の位置が電動制御可能であり、顕微鏡システム１００は、ステージ１０１のＸ−Ｙ方向の位置を制御するステージＸ−Ｙ制御部１１５と、ステージ１０１のＸ−Ｙ方向の位置を制御するステージＺ駆動制御部１１６とを備えている。 - 特許庁

Thus, even if the non-effective reference chip region adjacent to the effective reference chip region, and other non-effective chip regions remain in exposure of a peripheral region in a periphery aligner, a position of the effective reference chip region can be easily recognized by visual observation, a microscope, or the like according to a difference in a pattern to be formed.例文帳に追加

これにより、周辺露光装置における周辺領域の露光において、有効基準チップ領域に隣接した無効基準チップ領域、その他無効チップ領域が残存していても、形成されるパターンの違いから有効基準チップ領域の位置を目視、顕微鏡などによっても容易に認識することができる。 - 特許庁

To provide a method of designing long life fatigue strength of a metallic material with increase in the size of ODA (a hydrogen effecting area observed to be blackish with a metallurgical microscope) according to a life to be expected for usage of a mechanical part taken into account to allow an optimal mechanical part according to a service life set to be designed.例文帳に追加

機械部品の使用想定寿命に応じたＯＤＡ（金属顕微鏡観察で黒く見える水素影響領域）寸法の拡大を考慮することにより、設定する耐用年数に応じた最適な機械部品を設計可能とした金属材料の長寿命疲労強度設計法の提供。 - 特許庁

A surface of a glass substrate containing SiO_2 as main component is polished by a polishing slurry including colloidal silica having an average primary particle size of at most 50 nm, an acid and water, and having pH adjusted to be in a range of 0.5-4, so that the surface roughness Rms measured by an atomic force microscope becomes not higher than 0.15 nm.例文帳に追加

平均一次粒子径が５０ｎｍ以下のコロイダルシリカ、酸および水を含み、ｐＨが０．５〜４の範囲になるように調整してなる研磨スラリーを用いて、ＳｉＯ_２を主成分とするガラス基板の表面を、原子間力顕微鏡で測定した表面粗さＲｍｓが０．１５ｎｍ以下になるように研磨する。 - 特許庁

The colloidal silica is produced by using an active silicic acid as a raw material in the presence of triazole, and contains triazole in the liquid phase and a group of non-spherical heteromorphic silica particles which has a major axis/minor axis ratio by a transmission electron microscope in the range of 1.0-5 and an average value of the major axis/minor axis ratio of 1.2-3.例文帳に追加

トリアゾールの存在下で活性珪酸を原料として製造されるコロイダルシリカであって、液相にトリアゾールを含有し、透過型電子顕微鏡による長径／短径比が１．０〜５の範囲にありかつ長径／短径比の平均値が１．２〜３である非球状の異形シリカ粒子群を含有するコロイダルシリカである。 - 特許庁

The observation instrument comprises: an observation assisting tool 10 used in a state that it is supported by the holder, and having a sample receiving area F for receiving the sample to be observed; and a transparent substrate 20 for covering the sample receiving area F on the observation assisting tool 10, and observes the sample by a microscope.例文帳に追加

ホルダによって支持された状態において用いられ、観察対象となる試料を収容する試料収容領域Ｆを有する観察支援具１０と、観察支援具１０上の試料収容領域Ｆを覆う透明基板２０と、を有し、試料を顕微鏡により観察するための観察用器具である。 - 特許庁

The microscope 100 includes: the objective optical system 4 having such a configuration; the variable power optical system 6 including at least one movable lens and configured to vary power by moving the movable lens in the direction of an optical axis; and an imaging optical system 7 configured to image light emitted from the variable power optical system 6.例文帳に追加

また、顕微鏡１００は、そのように構成された対物光学系４と、少なくとも１つの可動レンズを含み、可動レンズが光軸方向に移動することにより変倍する変倍光学系６と、変倍光学系６から射出された光を結像させる結像光学系７と、を含む。 - 特許庁

To provide an electron source which can reduce a work function of an electron emission surface rather than a currently-used Zr/O/W electron source and can attain emitted electrons with narrow energy width and high current density and has longer lifetime, an electron microscope which can attain high resolution image for a short period, and an electron beam lithography device having high throughput.例文帳に追加

現用のＺｒ／Ｏ／Ｗ電子源よりも電子放出面の仕事関数を減少させ、狭エネルギー幅かつ高電流密度の放出電子が得られ、長寿命な電子源を提供し、高分解能像が短時間に得られる電子顕微鏡や高スループットな電子線描画装置を実現する。 - 特許庁

When the displacement of the preparation PRT relative to the standard position PR is detected, the microscope 20 pushes the stage 21 from a movement start position, which is a position at the time of detection, toward a direction to respond to the displacement at an extrusion speed, and draws it back to the movement start position at a slower speed than the extrusion speed.例文帳に追加

基準位置ＲＰに対するプレパラートＰＲＴの位置ずれが検出された場合、顕微鏡２０はステージ２１を、検出時点の位置である移動開始位置から位置ずれに対応する方向へ押出速度で押し出し、該押出速度よりも遅い引戻速度で移動開始位置まで引き戻す。 - 特許庁

The transmission illuminator for a microscope includes a glass plate 7 on which a sample 8 is mounted, a flat light source device 10 emitting substantially uniform illuminating light toward the glass plate 7, a light directional member 9 which restricts diffusion of the illuminating light emitted from the flat light source device 10 at least in one direction.例文帳に追加

顕微鏡用透過照明装置は、試料８を載置するためのガラスプレート７と、ガラスプレート７に向けてほぼ均一な照明光を射出する面光源１０と、面光源１０から射出される照明光の拡散を少なくとも一方向に関して制限する光指向部材９とを備えている。 - 特許庁

To provide a program which enables operation of a new scanning method which is always not associated with the contact of a probe with a sample surface such as that in a non-contact mode or a point contact mode, while maintaining the versatility of a contact mode, in regard to the program for forming an instruction which makes a computer operate the scanning method of a scanning type probe microscope.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡の走査方法をコンピュータに実行させる指示を生成するプログラムにおいて、コンタクトモードの汎用性を維持しつつ、非接触モードやポイントコンタクトモードのように、常時探針と試料表面の接触を伴わない新たな走査方法を実施可能とするプログラムを提供する。 - 特許庁

The microscope apparatus includes a first lens group G1 having positive refractive power, a second lens group G2 having negative refractive power and a third lens group G3 having positive refractive power in the order from the object side, whereby the first lens group G1 moves to the object side and the second lens group G2 moves to the image side in accordance with variable power from lower power to higher power.例文帳に追加

物体側から順に、正の屈折力を持つ第１レンズ群Ｇ１と、負の屈折力を持つ第２レンズ群Ｇ２と、正の屈折力を持つ第３レンズ群Ｇ３とからなり、低倍から高倍への変倍にしたがって第１レンズ群Ｇ１は物体側へ、第２レンズ群Ｇ２は像側へ移動する。 - 特許庁

The negative electrode carbon material for a lithium ion battery is prepared by heat-treating coke at about 2,100-2,700°C, wherein a cross-sectioned optical structure of the coke observed with a polarizing microscope is of an anisotropic structure formed with a fine-mosaic structure and a flow structure and an area ratio of both structures is: the former/the latter=10/90 to 70/30.例文帳に追加

偏光顕微鏡で観察した断面の光学組織が、ファインモザイク組織と流れ組織とで形成された異方性組織であり、かつ両組織の面積割合が、前者／後者＝１０／９０〜７０／３０であるコークスを２１００〜２７００℃程度で熱処理して、リチウムイオン電池用負極炭素材を調製する。 - 特許庁

This curable resin composition contains an epoxy resin, a solid polymer having a functional group reacting with the epoxy group and a curing agent for the epoxy resin, and when the cured material is dyed with a heavy metal and observed by using a transmission electron microscope, a phase separated structure is not observed in a matrix consisting of the resin.例文帳に追加

エポキシ樹脂と、エポキシ基と反応する官能基を有する固形ポリマーと、エポキシ樹脂用硬化剤とを含有する硬化性樹脂組成物であって、硬化物を重金属により染色し、透過型電子顕微鏡により観察したときに、樹脂からなるマトリクス中に相分離構造が観察されない硬化性樹脂組成物。 - 特許庁

After a polishing process ends, a top surface of the glass substrate is observed using an optical microscope after a pit defect which has an easy-to-observe size is obtained through 5 μm etching using an acid etching solution including hydrogen fluoride, nitric acid, etc., and then isotropic etching of a processing deformed layer (a flaw etc.) remaining at a chamfer part.例文帳に追加

研磨工程終了後、ガラス基板の表面を、フッ酸や硝酸等を含む酸性のエッチング溶液を用いて５μｍエッチングし、面取り部に残留する加工変質層（キズなど）を等方的にエッチングして観察しやすい大きさのピット欠陥にした後、光学顕微鏡を用いて観察する。 - 特許庁

A comparison arithmetic section 82 compares data of the insertion states of an endoscope 35 and a bipolar 37 relative to the microscope observing field calculated by a WS33 with data of the position of the display prohibition region which is set by the setting region recording section 81, so as to supply the comparison result to the first input side of an image control section 83.例文帳に追加

比較演算部８２は、ＷＳ３３が算出した顕微鏡観察視野に対する内視鏡３５及びバイポーラ３７の挿入状態のデータと、設定領域記録部８１が設定する表示禁止領域の位置のデータを比較し、この比較結果を画像制御部８３の第１の入力側に供給する。 - 特許庁

To provide a manufacturing method of a needle crystal which can manufacture the needle crystal having an extremely sharp tip without requiring materials such as Au and the like that cause deterioration of a semiconductor crystal, and a cantilever of a scanning type probe microscope which can comply with extremely fine irregularities of the surface of an observation object.例文帳に追加

半導体結晶の劣化を引き起こすＡｕ等の材料を必要とせず、先端が極めて鋭い針状結晶を製造することができる針状結晶の製造方法と、被観察物表面の極めて微細な凹凸に対応することが可能な走査型プローブ顕微鏡のカンチレバーとを提供する。 - 特許庁

The optical microscope 100 comprises a laser light source 10, a Y scanning device 40 for performing scanning of light beams in a Y direction, an objective lens 23, an X scanning device 20 for performing scanning of light beams in an X direction, the spectrograph 31 for measuring spectra, and a line CCD camera 50.例文帳に追加

第１の態様にかかる光学顕微鏡１００は、レーザ光源１０と、光ビームをＹ方向に走査するＹ走査装置４０と、対物レンズ２３と、光ビームをＸ方向に走査するＸ走査装置２０と、スペクトルを測定するための分光器３１と、ラインＣＣＤカメラ５０が設けられている。 - 特許庁

An electron microscope is provided with axial-symmetry lenses (10, 11) arranged between two multipoles (8, 9), a rotating compensation lens (12) giving rotating action to electrons in a surface perpendicular to the optical axis is arranged in a collecting light surface of an electron orbit to be made between the axial-symmetry lenses.例文帳に追加

２つの多極子（８，９）間に２つの軸対称レンズ（１０，１１）を配置した電子顕微鏡の球面収差補正装置において、軸対称レンズ間にできる電子軌道の集光面内に、光軸と垂直な面内で電子に回転作用を与える回転補正レンズ（１２）を配置したものである。 - 特許庁

The ultraviolet microscope is provided with ultraviolet rays observation means (21-26, 41 and 43) by which a sample (11) is observed based on ultraviolet rays, gas supply means (51-57) by which an inert gas is supplied between the ultraviolet rays observation means and the sample, and a timing control means (13) which controls the inert gas supply timing by the gas supply means.例文帳に追加

紫外光により標本(１１)を観察する紫外光観察手段(２１〜２６,４１,４３)と、紫外光観察手段と標本との間に不活性ガスを供給するガス供給手段(５１〜５７)と、ガス供給手段による不活性ガスの供給タイミングを制御するタイミング制御手段(１３)とを備える。 - 特許庁

The sample holder 14 is equipped with a means, having a mechanism of inclination and rotation, in addition to the movement of the position of the sample or a means for altering the position of the lens barrel 1 of the scanning electron microscope and a reflected electron detector 12, to make the lens barrel 1 and the reflected electron detector 12 face the surface of the sample.例文帳に追加

前記試料ホルダ１４は、試料位置の移動に加え傾斜と回転の機構を有するか、前記走査型電子顕微鏡の鏡筒１と反射電子検出器１２の位置を変更し、前記鏡筒１と反射電子検出器１２を前記試料表面に対向させるための手段を備える。 - 特許庁

To provide a quantitative phase microscope A designed so that light use efficiency is high, disturbance is highly resisted, a quantity of light can be easily adjusted, the need for a space filter 43 specially provided to match a wavelength is eliminated, and quantitative measurement of the thickness of a specimen S or the like can be performed with high measurement precision.例文帳に追加

光利用効率が高く、外乱に対して強く、光量調節を容易に行え、波長に応じて専用の空間フィルタ４３を用いる必要がなく、測定試料Ｓの厚みなどの定量的な測定を高い測定精度で行うことが可能な定量位相顕微鏡Ａを提供する。 - 特許庁

To provided an azo pigment which has extremely excellent dispersibility and dispersion stability and exhibits good color hue and high tinting strength, preferably, an azo pigment which has a length in a long axis direction of 0.01-30 μm when observed under a transmission microscope.例文帳に追加

本発明は分散性及び分散安定性が極めて良好であり、優れた色相及び着色力を有するアゾ顔料を提供することを目的とするものであり、好ましくは透過型顕微鏡で観察した際の長軸方向の長さが０．０１μｍ〜３０μｍであるアゾ顔料を提供すること。 - 特許庁

The exhaust gas cleaning catalyst is held by composite oxide particles in which particulates of a noble metal contain CeO_2 and a photograph, which is measured Pd fine particles on a support from a side face by a transmission electron microscope (TEM), exhibits trapezoidal shaped nanoparticles having smooth tips.例文帳に追加

貴金属微粒子がＣｅＯ_２を含有する複合酸化物粒子に担持された排ガス浄化触媒であって、担体上のＰｄ微粒子を側面から透過型電子顕微鏡（ＴＥＭ）により測定した写真が平坦な頂部を有する台形状のナノ粒子を示す、前記排ガス浄化触媒。 - 特許庁

A food composition comprising the food is diluted with an aqueous solution containing a low-molecular surfactant such as a sodium lauryl sulfate and a sugar ester to prepare a stable diluted emulsion, and the diluted emulsion is observed by an optical microscope to measure easily an emulsified state with satisfactory reproducibility.例文帳に追加

これら食品組成物を、ラウリル硫酸ナトリウムやシュガーエステル等の低分子界面活性剤を含む水溶液で希釈することで、安定した希釈乳化物を調製し、この希釈乳化物を光学顕微鏡で観察する事で、容易に再現性良く乳化状態を測定できる事を見いだした。 - 特許庁

This scanning electron microscope is provided with the function of computing corrected precision after coordinates compensation to be displayed by using a vector 39, the function of automatically determining scale factor during search in automatic detection of foreign materials/defects after coordinates compensation from acquired information, and the function of computing appearance ratio of foreign materials/defects and time required from search scale factor and measuring conditions.例文帳に追加

座標補正後の補正精度を算出し、ベクトル３９を用いて表示する機能、得られた情報から座標補正後異物／欠陥を自動検出する際の探索時の倍率を自動で決定する機能、また探索倍率と測定条件から異物／欠陥の出現率とかかる時間を算出する機能を設けた。 - 特許庁

In Fig.2, the fact that the structure of chrysotile is changed from acicular ones to grains may be confirmed from the crystal structure determined by X-ray diffraction and measurement results of a surface structure determined by an electron microscope by irradiating a sulfuric aqueous solution in which the chrysotile is immersed with electron beams with an incidence energy of 0.8 MeV.例文帳に追加

図２では、白石綿を浸漬した硫酸水溶液中に、入射エネルギー０．８ＭｅＶの電子線を照射することで、白石綿の構造が針状から粒状に変化することが、Ｘ線回折による結晶構造ならびに電子顕微鏡による表面構造の測定結果から確認できる。 - 特許庁

In this measuring microscope apparatus, the interior of a support part 25, as a main body provided on the right side of the column 30, is provided with a signal operation display part 36 for operating a signal from a detecting part for detecting the travel of the XY stage 27 and the Z stage 28 and displaying the operational result.例文帳に追加

そして、この測定顕微鏡装置に於いて、コラム３０の右側に設けられた本体としての支持部３５の内部には、上記ＸＹステージ２７及びＺステージ２８の移動量を検出する検出部からの信号を演算して、この演算結果を表示する信号演算表示部３６を有している。 - 特許庁

To promptly and easily reduce light intensity of flare light according to change of the light intensity of the flare light and to prevent image quality deterioration of an observation image even when the light intensity of the flare light which reaches an imaging surface changes by change of a kind of sample, etc. in a flare reduction unit and the microscope using it.例文帳に追加

フレア低減ユニットおよびそれを用いた顕微鏡において、標本の種類などが変わることにより結像面に到達するフレア光の光量が変わっても、それに応じて迅速かつ容易にフレア光の光量を低減でき、観察画像の画質劣化を防止することができるようにする。 - 特許庁

To provide a novel method and apparatus which construct digitally scanned images, and store the digitally scanned images in a tiled format convenient for viewing the images without a microscope, and are improved for transferring the tiled images of a plurality of magnifications in such a manner that the images can be viewed by other users in remote locations.例文帳に追加

デジタル走査されたイメージを構築し、デジタル走査されたイメージを顕微鏡なしでビューするのに好都合なタイル化フォーマットで記憶し、かつリモートロケーションの他のユーザがビューできるように複数の倍率のタイル化イメージを転送するための改良された新規の方法および装置を提供すること。 - 特許庁

Particularly, a preferable example is the powder having rare earth elements (Sc, Y can be treated as rare earth elements)on the particle surfaces, such as having an average long axis length of 10-200 nm when measured in the image photographed by using transmission electron microscope and a specific surface area of 30-200 m^2/g by the BET method.例文帳に追加

特に、粒子表面に希土類元素（Ｓｃ、Ｙも希土類元素として扱う）を有するものが挙げられ、透過型電子顕微鏡写真より計測される平均長軸長が１０〜２００ｎｍ、ＢＥＴ法による比表面積が３０〜２００ｍ^2／ｇであるものが好適な対象となる。 - 特許庁

With the spherical aberration correction device of the electron microscope with two axial symmetry lenses (10, 11) between two multipole elements (8, 9), a rotation correction lens (12) giving electrons rotation action within the plane vertical to the light axis is arranged in a converging face of an electron orbit generated between the axial symmetry lenses.例文帳に追加

２つの多極子（８，９）間に２つの軸対称レンズ（１０，１１）を配置した電子顕微鏡の球面収差補正装置において、軸対称レンズ間にできる電子軌道の集光面内に、光軸と垂直な面内で電子に回転作用を与える回転補正レンズ（１２）を配置したものである。 - 特許庁

To provide a filtration membrane apparatus with which a fluorescent image with a high contrast can be provided by suppressing the background of the filtration membrane in the case of microorganism observation using a fluorescent microscope after filtration of raw water containing organic components; whose filtration capability is hardly deteriorated by adsorption of organic components; and which has a high water permeability.例文帳に追加

有機成分を含有する原水をろ過して蛍光顕微鏡での微生物観察をする場合において、ろ過膜からのバックグラウンドを抑えることにより、コントラストの高い蛍光像を得ることができ、さらに、有機成分の吸着等によりろ過特性が低下しづらく、通水性が高いろ過膜装置を提供する。 - 特許庁

The stereoscopic microscope has the variable magnification lens body 4 fitted to an arm 3 capable of moving up and down along a prop 2 stood on a base 1, an objective 5 which is fitted to the variable magnification lens body 4, a lens barrel 6 for observation which is fitted to the variable magnification body 4, and an ocular 7 which is fitted to the lens barrel 6 for observation.例文帳に追加

実体顕微鏡は、ベース１に立てた支柱２に対して上下動可能なアーム３に取り付けられた変倍鏡体４と、変倍鏡体４に取り付けられた対物レンズ５と、変倍鏡体４に取り付けられた観察用鏡筒６と、観察用鏡筒６に取り付けられた接眼レンズ７とを有している。 - 特許庁

When a power source switch provided to an operating part 30 is operated, and power supply to a digital camera for the microscope is started, the CPU 201 gives an instruction to a reading attribute setting part 74 to set read-only attributes to a data file already recorded in the removable media 35 when the power supply is started.例文帳に追加

操作部３０に備えられている電源スイッチが操作されてこの顕微鏡用デジタルカメラへの電力の供給が開始されたときに、ＣＰＵ２０１は読み出し属性設定部７４へ指示を与え、当該開始時点においてリムーバブルメディア３５に既に記録されていたデータファイルに対して読み出し専用の属性を設定する。 - 特許庁

In this electron microscope with a magnetic image forming energy filter, the energy filter is provided with direction change systems 11-14 arranged symmetrically with one center plane M and a hexapol provided between the direction change systems 11-14 and a projection system succeeding the energy filter in the beam direction.例文帳に追加

磁気形結像エネルギフィルタを有する電子顕微鏡において、前記エネルギフィルタは、１つの中心平面（Ｍ）に対して対称的に配置された方向変換系（１１−１４）を有し、方向変換系と、ビーム方向でエネルギフィルタに後続する投影系との間に設けられたヘクサポール（Hexapol） を有すること。 - 特許庁