「Microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方(168ページ目) - Weblio英語例文検索

Since not only the assistant mirror 34 but also the video camera 35 attached if necessary are attached to the suspension arm 20 not rotated in a right and left direction X or to the body part of an surgical microscope 15 they are not rotated in the right and left direction X even if the weight in the right and left direction X is unbalanced.例文帳に追加

アシスタント鏡３４も、必要に応じて取付けるビデオカメラ３５も、左右方向Ｘで回転しない吊下アーム２０や、手術顕微鏡１５の本体部分に取付けられているため、左右方向での重量バランスが不均衡でも、それらが左右方向Ｘで回転することはない。 - 特許庁

This steel sheet has 80% or less of a ratio of Si-containing oxide occupying in 10 μm length of the steel sheet surface in an average measured on arbitrarily selected five places, when a cross section in the transversal direction to the steel sheet surface is observed with an electron microscope at a magnification of 50,000 times or higher.例文帳に追加

鋼板表面と直交する方向の断面を電子顕微鏡にて倍率５００００倍以上で観察したときに、鋼板表面長さ１０μｍに占めるＳｉ含有酸化物の割合が、任意に選択される５箇所の平均で８０％以下となるようにする。 - 特許庁

In the fluorescence microscope, the imaging part 22 picks up the image for every filter set 1 interlocked with timing to switch the filter set 1 by the filter switching part 18 in timing set by a switching setting part 20, and the picked-up image is automatically updated and displayed in the picture display area G.例文帳に追加

この蛍光顕微鏡は、切替設定部２０で設定されたタイミングでフィルタ切替部１８がフィルタセット１を切り替えるタイミングに連動して撮像部２２が各フィルタセット１毎に撮像し、撮像した画像イメージが画像表示領域Ｇにおいて自動的に更新されて表示される。 - 特許庁

When the antitumor substance is administered into a human body, each erythrocyte in the blood is separated in a true circle state and erythrocytes having abnormal shapes, e.g. acanthrocyte are changed to normal erythrocytes and further, the diameter of leukocyte is made ≥2.5 times larger than that of erythrocyte when the blood is observed by a microscope in a blood cell analysis method.例文帳に追加

また、血液細胞分析法における顕微鏡で観察した場合に血液中の各赤血球は真円形状に分離し、有棘赤血球等の異常形状の赤血球を正常なものとし、更に白血球の径を赤血球の２．５倍以上とする。 - 特許庁

To solve the problem that a stage device of a conventional microscope is not easy to use since an operation handle moves as a top plate stage where an object to be observed is mounted moves and then the operation handle is searched for without turning an eye away from an ocular when a hand is put away from the operation handle.例文帳に追加

従来の顕微鏡のステージ装置は、観察対象物を載置した上板ステージが移動すると、同時に操作ハンドルもその方向へ移動してまい、操作ハンドルから手を離した場合には、接眼レンズから目を逸らさずに探し出しているため、使い勝手が悪い。 - 特許庁

To realize a more accurate full-closed controller which eliminates the need for conventional expensive length measuring scales, by setting a marker or the like with high visibility on a slide glass, a stage or the like of a microscope and using a pattern image recognition method, and to realize a work by using the controller.例文帳に追加

視認度の高いマーカ等を顕微鏡のスライドガラスやステージ等に取り付け、パターン画像認識を利用することによって、従来の高価な測長スケールを全く必要としない、より高精度なフルクローズド制御装置とそれを用いて製作したワークを実現することを目的とする。 - 特許庁

To provide an observation method of an FIB-processed sample by an electron microscope, which enables the identification of a processed part of the sample that is processed into a thin film for a short time by FIB (focused ion beam) and enables the reduction of the time duration from setting of the processed sample to observation of the processed position.例文帳に追加

短時間にＦＩＢで薄膜状に加工された試料の加工部分を見出し、電子顕微鏡への加工済み試料のセットから加工位置の観察までの時間を短縮することができるＦＩＢによる加工試料の電子顕微鏡による観察方法を実現する。 - 特許庁

To provide a measuring method using a scanning probe microscope capable of quantitatively grasping the irregularity of the shape or physical properties of the pattern on a two-dimensional plane, the relation between the shape and physical properties of the pattern, pattern arrangement precision and the like in the analysis of the pattern having feasures in its shape, physical properties or the like.例文帳に追加

形状もしくは物性等に特徴を有するパターンの解析において、二次元平面でのパターン形状や物性のばらつき、パターン形状と物性の関係、パターン配列精度等を定量的に把握することができる測定方法を提供する。 - 特許庁

To provide a lens barrel and a microscope using the lens barrel in which a horizontal distance from the optical axis of an objective lens to the position of an eye point, the height of the eye point and the angle of depression at the time of observation can be varied so that any person can perform observation in natural observation posture and also in posture causing little fatigue regardlessly of his or her build.例文帳に追加

どのような体格の人にも、観察姿勢に無理がなく疲労の少ない姿勢で観察できるように、対物レンズ光軸からアイポイント位置までの水平距離とアイポイントの高さと観察時の俯角を変えることの出来る鏡筒とそれを用いた顕微鏡を提供する。 - 特許庁

The microscope comprises an observatory optical system 10 composed of an objective lens 11, an imaging lens 12 and an eyepiece 13, an index image projection section 30 projecting two index images and a half mirror 26 connecting an optical path of the index image projection section 30 with an optical path of the observatory optical system 10.例文帳に追加

顕微鏡は、対物レンズ１１と結像レンズ１２と接眼レンズ１３からなる観察光学系１０と、二つの指標像を投射する指標像投射部３０と、指標像投射部３０の光路を観察光学系１０の光路に結合するハーフミラー２６とを有している。 - 特許庁

The composite electrolyte membrane consisting of polymer electrolyte and polymer nonelectrolyte, has a structure formed by dispersing the polymer electrolyte in the polymer nonelectrolyte granularly or a structure formed in layers respectively, when observing a section of the electrolyte membrane with a transmission electron microscope.例文帳に追加

すなわち、プロトン伝導度を燃料電池用電解質膜として使用できるよう保ちつつ、メタノールなどの水素含有液体透過性（クロスオーバー）をできるだけ小さくした電解質膜であり、なおかつ電極とのプロトン伝導経路を十分に形成しうる電解質膜を提供することを課題とする。 - 特許庁

To provide an illuminating device capable of more uniformly illuminating all over (throughout) an illumination area with less vignetting, simultaneously, which is made as compact as possible so that the structure height of an adaptable microscope may not be increased in the undesirable state.例文帳に追加

従来の同様の装置と比べて、照明領域をより一様にかつよりけられが少なく隈なく（完全に）照明することが可能であると同時に、適用される顕微鏡の構造高さを望ましくない態様で大きくしてしまわないように可及的にコンパクトに構成可能な照明装置。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope capable of separately measuring frictional force deriving from surface force such as adsorptive force corresponding to the surface conditions of a sample and frictional force caused by the coefficient of friction of the surface of the sample.例文帳に追加

試料表面の摩擦力を測定する際に、試料の表面状態に対応した吸着力等の表面力に基づく摩擦力と、試料表面の摩擦係数に基づく摩擦力とを分離して測定することが可能な走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To obtain an optical microscope apparatus where a plurality of optical devices are selectively arranged on an optical path, and where a plurality of optical devices in accordance with various observation methods are arranged and set by flexible and easy operation while avoiding the complication and the scale increase of the device.例文帳に追加

複数の光学素子を選択的に光路に配置する光学顕微鏡装置において、装置の複雑化及び大型化を避けつつ各種観察法に応じた複数の光学素子の配置設定を柔軟かつ容易な操作により行うことができるようにする。 - 特許庁

To provide a confocal microscope capable of compensating the lowering of light quantity caused in the periphery area of the observed image of a sample, capable of successively and easily changing the light quantity of a light source and capable of changing the wavelength of illuminating light.例文帳に追加

試料の観察像の周辺領域で生じる光量の低下を補うことが可能な共焦点顕微鏡、光源光量を逐次容易に変化させることが可能な共焦点顕微鏡、及び照明光の波長を変化させることが可能な共焦点顕微鏡を提供する。 - 特許庁

Furthermore, in the scanning charged particle microscope for semiconductor test and semiconductor measurement, by using a pattern size measurement, defect detection, and defect classification or the like by using the image after image restoration, measurement precision improvement and high precision of defect detection and defect classification or the like become possible.例文帳に追加

さらに、半導体検査および半導体計測用の走査型荷電粒子顕微鏡において、画像復元後の画像を用いてパターン寸法計測、欠陥検出、欠陥分類等に用いることにより、計測精度向上や欠陥検出、欠陥分類の高精度化を可能とした。 - 特許庁

This scanning charged particle microscope provides with a passing opening limiting the passage of charged particle beams arranged between a charged particle source and a scanning deflecting device, wherein the passing opening has a member for limiting the passage of the charged particle beams in at least the center of the opening.例文帳に追加

荷電粒子線の通過を制限する通過開口を、荷電粒子源と走査偏向器の間に配置し、当該通過開口は、少なくともその開口中心に荷電粒子線の通過を制限する部材を備えてなることを特徴とする走査形荷電粒子顕微鏡を提供する。 - 特許庁

In this method of preparing the sample for direct observation in the transmission electron microscope, of an interface between the iron oxide and solid carbon for analyzing the reduction process of the iron oxide by the solid carbon, the iron oxide which is an observation object is broken and carbon is deposited on the broken face.例文帳に追加

酸化鉄の固体炭素による還元過程を解析するために酸化鉄と固体炭素の界面を透過電子顕微鏡内で直接観察する試料の作製方法であって、観察対象物である酸化鉄を破断しその破断面に炭素を蒸着することとする。 - 特許庁

The endoscopic observation system 2 is constituted of an endoscope imaging device 51, an endoscope unit 10 with a microscope imaging device 52 and an endoscope side observation device 13 which conducts a remote communication with the pathologic diagnosis system 4 by using an endoscope side remote communicator 12 through the remote communication circuit 3.例文帳に追加

内視鏡観察システム２は、内視鏡像撮像装置５１及び、顕微像撮像装置５２を設けた内視鏡装置１０と、遠隔通信回線３を介して内視鏡側遠隔通信機１２で病理診断システム４と遠隔通信する内視鏡側観測装置１３とから構成される。 - 特許庁

A mask mark M (MX, MY) on the mask and a pallet mark MP (MPX, MPY) on the wafer pallet are simultaneously imaged with the microscope imaging apparatus including two pairs of focusing optical systems from the direction orthogonal to the mask and wafer surface to measure two-dimensional position displacement between these marks.例文帳に追加

マスク及びウエハの面と直交する方向からマスク上のマスクマークＭ（Ｍ_X 、Ｍ_Y ）とウエハパレット上のパレットマークＭＰ（ＭＰ_X 、ＭＰ_Y）とを２組の結像光学系を有する顕微鏡撮像装置によって同時に撮像し、これらのマーク間の二次元の位置ずれ量を測定する。 - 特許庁

To provide a scanning electron microscope device having a function to produce precisely and rapidly an imaging recipe having an equal or better performance than an imaging recipe produced manually by SEM operators based on their own unique know-how, and to provide an imaging method using the same.例文帳に追加

ＳＥＭオペレータが独自のノウハウに基づきマニュアルで生成した撮像レシピと同等あるいはそれ以上の性能をもつ撮像レシピを正確にかつ高速に生成する機能を備えた走査型電子顕微鏡装置ならびにそれを用いた撮像方法を提供する。 - 特許庁

With the help of a means of inputting a space size or a distance d an operator wishes to observe, and by calculating observation conditions alleviating influence of high contrast and superposed false images based on the values, desired modulation is applied on acceleration voltage or the like of the electron microscope.例文帳に追加

操作者が観測を希望する空間的な大きさまたは距離dを入力する手段と、この値に基づく像が高いコントラスト、且つ重畳する偽像の影響を低減せしめる観察条件を算出し、それに基づき電子顕微鏡の加速電圧等に所望の変調をかける。 - 特許庁

A previously selected reference pattern region is measured at a certain timing during measurement of a measurement region of sample characteristics with a scanning probe microscope, and the displacement of a probe is corrected while necessarily specifying the displacement in an XYZ axis from a measured image of the reference pattern.例文帳に追加

走査プローブ顕微鏡による試料特性の測定領域を測定中のあるタイミングで予め選択されたリファレンスパターン領域の測定を行い、リファレンスパターンの測定像から適宜ＸＹＺ軸方向の位置ずれ量を特定して探針の位置ずれ補正を行う。 - 特許庁

To provide a stereoscopic microscope which can obtain light observation images on both a main and a subordinate observation side, holds a main and a subordinate observation lens barrel at a proper distance to obtain the sufficient degree of freedom of the subordinate observation side, and holds the proper height and shift of an eye point.例文帳に追加

主観察側及び副観察側ともに明るい観察像を得ることができ、しかも、主観察鏡筒と副観察鏡筒とが適切な距離を保ち、副観察側の自由度を十分保ち、かつ、適切なアイポイントの高さ及びシフトを保つことが可能な実体顕微鏡を提供する。 - 特許庁

A microscope 11 is provided with an objective lens 22 for making the fluorescence developed from the sample 13 incident on an observation optical system for imaging the sample 13, and an image guide 25 comprising a plurality of optical fibers and making the fluorescence developed from the sample 13 incident on the objective lens 22.例文帳に追加

顕微鏡１１には、標本１３から発現した蛍光を標本１３の像を結像させるための観察光学系に入射させる対物レンズ２２と、複数の光ファイバからなり、標本１３から発現した蛍光を対物レンズ２２に入射させるイメージガイド２５とが設けられている。 - 特許庁

Regarding the optical microscope including a finite objective lens or a pair of infinite objective lenses and an imaging lens, by dividing an optical path behind the imaging lens into two and making a difference in optical path lengths, two images having different focuses are projected on the light receiving surface of an image acquisition apparatus such as a CCD camera.例文帳に追加

有限系対物レンズ、あるいは、一対の無限系対物レンズと結像レンズを備えた光学顕微鏡において、結像レンズ以降の光路を二つに分け、光路長に差を与えることにより、二つの焦点の異なる像をＣＣＤカメラ等の画像取得装置の受光面に投影する。 - 特許庁

To provide an inexpensive device with a simple structure and an easy operation capable of enlarging an analyzing area of sample and enhancing a resolving power of ion at an electric field evaporation position to an atom level in an atom probe or a scanning type atom probe in which an electric field ion microscope and an ion detector are combined.例文帳に追加

電界イオン顕微鏡とイオン検出器を組み合わせたアトムプローブあるいは走査型アトムプローブにおいて、試料の分析領域を拡大すると共にイオンの電界蒸発位置の分解能を原子レベルまで向上させ得る、簡素な構造で安価で操作が容易な装置を構成する。 - 特許庁

The visual inspection device for inspecting an appearance of the V groove which is formed in the silicon substrate and on which the optical fiber is mounted by using a microscope is provided with a coaxial vertical illumination means and a spread illumination means installed outside.例文帳に追加

シリコン基板上に形成された光ファイバ搭載用のＶ溝の外観を顕微鏡下で検査する装置において、同軸落射照明手段と外部取り付け拡散照明手段を設けたことを特徴とする検査装置、及びこれを使用することを特徴とするＶ溝外観の検査方法。 - 特許庁

The ceria-zirconia based compound oxide satisfies A/B<1.5 wherein A is an average particle diameter estimated from surface area and B is an average particle diameter ratio measured by observation with an electron microscope, and a specific surface area of the compound oxide after firing at 1,000°C for 3 h is ≥40 m^2/g.例文帳に追加

セリア−ジルコニア系複合酸化物を表面積から推定される平均粒子径Ａと電子顕微鏡観察から測定される平均粒子径比Ｂの比Ａ／Ｂが＜１．５であり、かつ１０００℃で３時間焼成後の比表面積が４０ｍ^２／ｇ以上とする。 - 特許庁

The host system 2 determines a setting and an operation which are to be reproduced on the basis of the post-changeover wizard screen and the history data recorded in the operation history record unit 4 when the wizards screen to be executed are changed over, and controls the microscope apparatus 1 in accordance with the present setting and present operation.例文帳に追加

ホストシステム２は、実行させるウィザード画面を切り替えた時に、切り替え後のウィザード画面と操作来歴記録部４に記録された来歴データとに基づいて再現させる設定及び操作を決定し、当該設定及び操作に応じて顕微鏡装置１を制御する。 - 特許庁

The electron scanning microscope is provided with a plurality of apertures through which electron beams are capable of passing through and a mechanism in which the plurality of apertures are changed from one to another with the electron beams, and the method of static charge control of the sample is carried out by the changeover of the apertures.例文帳に追加

上記目的を達成するために、電子ビームが通過可能な開口を複数備え、前記電子ビームに対して前記複数の開口を切り替える機構を備えた走査電子顕微鏡、及び開口の切り替えによって、試料の帯電を制御する方法を提案する。 - 特許庁

This microscope is provided with a light source, an objective lens condensing luminous flux from the light source on a sample, a scanning optical system for scanning the sample with the luminous flux from the light source, a photodetector 109 for detecting the luminous flux from the sample and an arithmetic part arithmetically operating the output of the photodetector 109.例文帳に追加

光源と、光源からの光束を標本上に集光する対物レンズと、光源からの光束を標本上で走査させるための走査光学系と、標本からの光束を検出するための光検出器１０９と、光検出器の出力を演算する演算部とを有する。 - 特許庁

To form the cross section of an ink transfer part by a focusing ion beam device, in the observation of the transfer and penetration of the ink transferred to a printed matter wherein ink is printed on paper or a written matter written by using a ball point pen or a marking pen, to observe the same by an electron microscope or an electron probe microanalyser.例文帳に追加

紙に印刷された印刷物や、ボールペンやマジックなどを用いて筆記された筆記物に転移したインキ等の転移及び浸透状態を、集束イオンビーム装置等により断面を作製し、該断面を電子顕微鏡或いはエレクトロンプローブマイクロアナライザーにより観察する。 - 特許庁

To produce steel in which the generation of the change of the structure in which the size of crystal grains different from a mother phase whitely shown by an optical microscope is refined to several tens nm is suppressed in case hardening steel and having an excellent life, particularly, an excellent rolling life even under high vibration and high loads and to provide a method for producing it.例文帳に追加

肌焼鋼において光学顕微鏡で白く見える母相と異なった結晶粒の大きさが数１０ｎｍに微細化した組織変化の発生を抑制し、高振動・高荷重下でも優れた寿命、特に転動寿命を有する鋼およびその製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a magnetic recording head measuring device realizing the measurement with high sensitivity and high resolution while having high frequency response in the system for measuring the magnetic force by generating the high frequency magnetic field from the recording head for the subject of measurement by utilizing a magnetic force microscope.例文帳に追加

磁気力顕微鏡を利用して、測定対象の記録ヘッドから高周波の磁界を発生させて磁気力を測定する方式において、高周波応答で、高感度かつ高分解能の測定を実現した磁気記録ヘッド測定装置を提供することにある。 - 特許庁

A space is thereby generated between a support film 7 for the mesh 6 for the transmission electron microscope and the observation area including the specified portion 2 desired to be observed, and reworking is allowed further from both sides of the specified portion 2 by the FIB 3, using the space, after the observation.例文帳に追加

これにより、透過型顕微鏡用メッシュ６の支持膜７と観察したい特定箇所２を含む観察領域との間に空間ができることにより、この空間を用いて、観察した後に更に特定箇所２の両側からＦＩＢ３で再加工できることとなる。 - 特許庁

Since the microscope 16 is focused to the bottom face B of a pattern at the end point of etching, a signal indicative of focusing to the bottom face B of a pattern at the end point of etching can be detected by the detector 21 when the pattern depth reaches the etching end point depth D.例文帳に追加

顕微鏡１６はエッチング終点におけるパターン底面Ｂに合焦するように設定されているので、パターン深さがエッチング終点深さＤとなったときに、検出器２１によりエッチング終点時のパターン底面Ｂへの合焦を示す信号が検出可能となる。 - 特許庁

This microscope is equipped with an ultraviolet-ray intercept means 23a for intercepting the radiation of the DUV beam to the sample 29 by giving a command to a driving circuit 22 for driving a motor M4 and closing a shutter 13, when the radiation time of the DUV beam irradiated to the sample 29 reaches an arbitrary set time.例文帳に追加

標本２９に照射しているＤＵＶ光の照射時間が任意の設定時間に達すると、駆動回路２２に指令を発してモータＭ_４を駆動し、シャッター１３を閉じて、ＤＵＶ光の標本２９への照射を遮蔽する紫外光遮蔽手段２３ａを備えた。 - 特許庁

An electromagnetic brake 15 is attached to a Z-axis motor 10 which causes the Z-axis stage 5 provided with an objective lens 7 to be raised and lowered and an eyepiece 8 or the like, and the brake 15 is made to act, when the main body power source 25 of the measurement microscope is turned off by a Z-axis control part 16.例文帳に追加

対物レンズ７及び接眼レンズ８などが設けたＺ軸ステージ５を昇降させるＺ軸モータ１０に電磁ブレーキ１５を取り付け、Ｚ軸制御部１６によって測定顕微鏡の本体電源２５が遮断したときに電磁ブレーキ１５を働かせる。 - 特許庁

The confocal microscope with such a correction device exhibits a confocal screen, which illustrates a specimen mark (10), whereby the plane-parallel plate (9) is placed in front of the detector unit (2) in the light path (1), in order to center the illustration of the aperture diaphragm on the detector unit.例文帳に追加

このような補正装置を有する共焦点顕微鏡が、試料スポット（１０）を結像する共焦点絞りを有し、その際に開口絞りの結像を検出ユニットの上にセンタリングするために検出ユニット（２）の光路（１）中に平行平面の板（９）が予め配置されている。 - 特許庁

An imaging control unit composed of a TG 4, an AFE 5, a synchronizing control section 6 and a system control section 7 controls an imaging device 3 under a predetermined imaging condition, and picks up an observation image of a sample, formed on a light receiving surface of the imaging device 3, under a microscope.例文帳に追加

ＴＧ４、ＡＦＥ５、同期信号生成部６、及びシステム制御部７で構成される撮像制御部は、所定の撮像条件の下で撮像素子３を制御して、撮像素子３の受光面に結像した標本の顕微鏡での観察像の画像を撮像させる。 - 特許庁

A two-dimensional area 5 on a substrate 3 and a two-dimensional area 6 on a tilt plane 4 are scanned by the probe of a scanning probe microscope to calculate the angle formed by the two 2 dimensional areas 5 and 6 in this measuring method of the tilt angle 2 of the tilt plane 4 formed on the substrate 3.例文帳に追加

基板３上に形成された傾斜面４の傾斜角２の計測手法において、基板３上の２次元領域５と傾斜面４上の２次元領域６とを走査プローブ顕微鏡のプローブにより走査し、２つの２次元領域５と６のなす角を算出する。 - 特許庁

In the microscope, sample light is detected, and at least one combination of a means SM influencing spatial phase circularly and a means RM influencing it in a radial direction is arranged in the exciting light beam and/or the deexciting light beam and/or the switching light beam.例文帳に追加

本発明の顕微鏡では、試料光が検出され、励起光線および／または脱励起光線および／またはスイッチング光線中に、空間位相に円形に影響を及ぼす手段ＳＭおよび径方向に影響を及ぼす手段ＲＭの少なくとも１つの組合せが配置されている。 - 特許庁

Of the electron source used for an electron-optical equipment, such as, electron microscope and electron-beam lithographic apparatus, an electron-emitting section part consists of a surface-layer part and a base material part, of which the surface-layer part is of transition metal carbide, and the base material part is made of diamond single crystal.例文帳に追加

電子顕微鏡、電子ビーム描画装置等の電子光学機器に使用される電子源であって、電子放出部分は表層部と基材部からなり、該表層部は遷移金属炭化物であり、該基材部はダイヤモンド単結晶であることを特徴とする電子源により解決される。 - 特許庁

Otherwise, the foreign substance P is irradiated with an electron beam to deposit a solid material on the foreign substance P in a deposition gas atmosphere in which the solid material is generated by irradiation with the electron beam, and a force by the probe of an AFM (atomic force microscope) is applied to the solid material.例文帳に追加

又は、電子ビームが照射されることにより固体材料が生成されるデポジションガス雰囲気中において、異物Ｐに電子ビームを照射して異物Ｐ上に固体材料を堆積させ、この固体材料に対してＡＦＭの探針により力を印加する。 - 特許庁