「Microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方(170ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide an Fe-Co-V soft high magnetic flux-density material which is used, e.g., for a ball piece and a yoke of an electron lens for an electron microscope, an electron beam lithography system, etc., and a ball piece and a yoke of an electromagnet for a magnetic resonance apparatus, a mass spectroscope, etc., and also to provide its manufacturing method.例文帳に追加

電子顕微鏡、電子ビーム描画装置等の電子レンズのボールピース、ヨーク、および磁気共鳴装置、質量分析装置等の電磁石のボールピース、ヨーク等に使用するＦｅ−Ｃｏ−Ｖ軟質性の高磁束密度材料およびその製造方法を提供する。 - 特許庁

Similarly in correcting a black defect, an etching source material in a liquid state is supplied from the probe of a scanning probe microscope onto only the black defect region by a similar method to Dip-Pen Nanolithography, and an ion beam or an electron beam is supplied to etch to correct the black defect.例文帳に追加

黒欠陥修正の場合も同様に、走査プローブ顕微鏡の探針から液体状のエッチング原料をＤｉｐ−Ｐｅｎ Ｎａｎｏｌｉｔｈｏｇｒａｐｈｙと同様な方法で黒欠陥領域上のみに供給し、イオンビームや電子ビームを供給してエッチングを行い黒欠陥を修正する。 - 特許庁

The microscope having at least one of the iris diaphragm, field stop and fine focus adjustment handle as an adjustable member is provided with a mounting part for freely removably mounting a scale member having the scale corresponding to at least one of the adjustable members.例文帳に追加

開口絞り、視野絞り及び焦準用微動ハンドルの少なくとも１つを調節可能な部材として有する顕微鏡において、前記調節可能な部材の少なくとも１つに対応する目盛りを備えた目盛り部材を取外し自在に取付けるための取付け部を設ける。 - 特許庁

Microbe suspension is added to a biofilm carrier stored in a sterilization dish, and a fluorescent dye is added so as to cover the surface of the biofilm carrier, and then a biofilm formation amount on the surface of the biofilm carrier is measured by using a confocal laser scanning fluorescence microscope system, to thereby evaluate slime generation.例文帳に追加

滅菌シャーレに入れたバイオフィルム担体に菌懸濁液を加え、蛍光染色剤を前記バイオフィルム担体の表面を覆うように加え、続いて、共焦点レーザー走査蛍光顕微鏡システムを用いて前記バイオフィルム担体表面のバイオフィルム形成量を測定してヌメリの発生を評価している。 - 特許庁

In the invention 2, in the SQUID microscope of the invention 1, the control section measures the interval between the tip of the probe and the sample to be measured with a tunnel current occurring between them, and controls the interval between the probe and the sample to be measured so that this current value becomes a desired value.例文帳に追加

また、発明2では、発明1のＳＱＵＩＤ顕微鏡において、前記制御部は、プローブの先端と被測定試料との間隔をその間に生じるトンネル電流にて計測し、この電流値が所望の値となるように前記プローブと被測定試料との間隔を制御することを特徴とする構成を採用した。 - 特許庁

The imaging device for the microscope photographs a predetermined image for correction which is displayed on the display screen of a desired display device by using the imaging device as a correction tool, and allows the operator to make color matching adjustments more easily by referring to obtained chromaticity information for correction and chromaticity information of the display part itself.例文帳に追加

本発明は、撮像装置を校正ツールとして用いて、所望する表示装置の表示画面に表示される予め定めた校正用画像を撮影して、得られた校正用色度情報と、表示部自身の色度情報を参照して、より簡便に色合わせ調整を行う顕微鏡用撮像装置である。 - 特許庁

To provide a scanning high-definition image processor capable of directly printing and observing an extremely high-definition scanned image of several tens of thousands of pixels by several tens of thousands of pixels by a scanning microscope, and, in addition, capable of extracting and displaying a necessary part to observe it.例文帳に追加

本発明は、走査型高精細画像処理装置に関し、走査型顕微鏡で数万画素×数万画素という極めて高精細の走査画像を直接に印刷して観察することを実現すると共に必要な部分を抽出して表示して観察することも併せて実現することを目的とする。 - 特許庁

A second configuration of the Z-direction correction means has a tilt stage capable of adjusting a tilt angle unidirectionally or bidirectionally against a reference plane of the scanning probe microscope between a sample stand and the sample, and corrects the inclination caused by the characteristic of the sample or the scanner by the tilt stage.例文帳に追加

Ｚ方向補正手段の第２の形態は、試料台と試料との間において、走査型プローブ顕微鏡の基準面に対する傾斜角度を一方向又は二方向で調整可能とする傾斜ステージを備え、この傾斜ステージによって、試料あるいはスキャナーの特性による傾斜を補正する。 - 特許庁

This information acquiring method acquires information about material in the solvent and comprises processes to hold the material in the solvent, to make the solvent as an amorphous solid phase, and to acquire information about the material held by the amorphous solvent by using an electron microscope.例文帳に追加

溶媒中における物質に関する情報の取得方法であって、前記物質を溶媒中で保持する工程と、前記溶媒を非晶質な固相状態にする工程と、前記非晶質の溶媒に保持された物質に関する情報を電子顕微鏡を用いて取得する工程とを有する情報取得方法。 - 特許庁

The scanning electron microscope scans electron beams on a test piece two-dimensionally and produces two dimensional image data 40 based on secondary electrons emitted from the test piece and composes scales 41a, 41b for expressing a prescribed length (1 μm) on the image data along two vertical and horizontal directions mutually perpendicular.例文帳に追加

本発明の走査型電子顕微鏡は、電子ビームを試料上に２次元状に走査し、試料から発せられる２次電子に基づいて２次元的な画像データ４０を生成するとともに、画像データ４０に、互いに垂直な縦横の２方向に沿って、所定の長さ（１μｍ）を表すスケール４１ａ，４１ｂを合成する。 - 特許庁

To solve the problem that exact image information is not obtained and gradation characteristics are spoiled in gain compensation, etc. when large luminance difference occurs during photography when exposure conditions are set before starting the photography when photographing a sample in which luminance of fluorescence changes in an image recorder to be loaded on the conventional microscope.例文帳に追加

従来の顕微鏡に搭載される画像記録装置は、蛍光発光の輝度が変化する標本を撮影する場合、撮影開始前に露出条件を設定すると、撮影中に大きな輝度差が発生すると、正確な画像情報が得られず、ゲイン補正等では階調特性が損なわれる。 - 特許庁

When observing the anterior segment and eyeground segment of the eye thereafter, the changeover of the observation focus positions is executed by the voices of an operator, etc., and the microscope body 8 is moved in the vertical position on the basis of the observation focus positions stored in the memory 61 and the previously stored changeover moving distances, etc.例文帳に追加

その後、再度前眼部または眼底部を観察する場合、観察フォーカス位置の切り換えを術者などの音声によって行い、メモリ６１に記憶されている観察フォーカス位置および予め記憶されている切換移動距離などを基にして顕微鏡本体８を上下方向に移動させる。 - 特許庁

In this method of differentiating the subcorneal cell collected from the skin, an ultraviolet ray is emitted from an ultraviolet ray source toward the subcorneal cell on a slide glass sealed with an immersion oil, under observation by a microscope or magnification video, and fluorescence intensity of the subcorneal cell excited by the ultraviolet ray is used as the index.例文帳に追加

皮膚より採取した角層細胞を鑑別する方法であって、顕微鏡下、乃至は、拡大ビデオでの観察下、油浸オイルで封入されたスライドグラス上の角層細胞に、紫外線光源より紫外線を照射し、紫外線によって励起される、角層細胞の蛍光強度を指標とすることを特徴とする。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope, constituted so as to easily perform the light spot positional alignment when a cantilever is irradiated with light in a dark field illumination state, with respect to the objective lens for observing a light spot, or when the light spot is difficult to be recognized from the wavelength of ultraviolet or infrared rays.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡において、光スポット観察用の対物レンズに対して、暗視野照明状態でカンチレバーに光が照射される場合や、紫外や赤外などの波長でスポットが認識しづらい場合に、光スポット位置合わせが容易に行えるような走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope and cantilever management method suitable for automatic inspection process capable of automatically replace with a new probe or inducing a user to replace a probe when the tip of the probe has worn while surely monitoring the tip condition of the probe in real time and in a short time.例文帳に追加

探針の先端状態をリアルタイム、短時間で確実にモニタでき、使用中の探針の先端が磨耗等したときに、自動的に新しい探針に交換しまたはユーザに交換を促すことができる自動検査工程に適した走査型プローブ顕微鏡およびカンチレバー管理方法を提供する。 - 特許庁

A scanning microscope displays a stage operation panel which is on the same display as the one that displays images, rotating ft in synchronization with a rotational angle of scan rotation at all times, the direction of the marks for XY operation buttons 3-6 in the stage operation panel can be reversed and displayed simultaneously, and synchronizing with that, XY stage reversed the direction of movement respectively.例文帳に追加

画像を表示している画面と同一の画面上にあるステージ操作パネルをスキャンローテーションの回転角度に常に連動して回転して表示し、ステージ操作パネル内のＸＹ操作ボタン3〜6のマークの向きを同時に反転して表示でき、それに連動してＸＹステージが動く方向をそれぞれ反転する。 - 特許庁

The total reflection fluorescence microscope makes the change over of vertical illumination and total reflection illumination possible by changing the incident angle of the illumination light to be radiated to a sample through an objective lens 7 from a laser beam source, in which the incident angle of the illumination light from the objective lens 7 on the sample is regulated to a range making the total reflection illumination obtainable.例文帳に追加

レーザ光源から対物レンズ７を介して試料に照射される照明光の入射角を変化させ落射照明と全反射照明の切換えを可能にした全反射蛍光顕微鏡であって、照明光の対物レンズ７から試料への入射角を全反射照明が得られる範囲に規制する。 - 特許庁

In one embodiment, the microscopic observation system 1 is provided with: an observation unit 3 observing a sample using a microscope; an observation system control unit 3 controlling the operation of the observation part 3; and a characteristic data memory unit 7 memorizing characteristic data decided in accordance with the attribute value showing the attribute of the sample per attribute value.例文帳に追加

本発明のある実施の形態において、顕微鏡観察システム１は、顕微鏡を用いて標本を観察する観察部３と、観察部３の動作を制御する観察システム制御部５と、標本の属性を示す属性値に応じて定められた特性データを属性値毎に記憶する特性データ記憶部７とを備える。 - 特許庁

The probe 1 is tilted and moved to the direction where the tip of the probe 1 corresponds to the tip of the shade of the probe 1 at a target position on an observation screen while causing the tip thereof to approach the target position of the sample 5, and observing a distance between the tip of the probe 1 and the target position by a charged particle beam microscope.例文帳に追加

プローブ１をチルトさせてその先端部を試料５の目標位置に接近させながら、プローブ１先端部と前記目標位置の距離を荷電粒子ビーム顕微鏡で観察しつつ、観察画面上で前記目標位置にてプローブ１とプローブ１の影との先端部が一致する方向へ、プローブ１を移動させる。 - 特許庁

To stain a thin section produced from a frozen embedded sample by using an adhesive plastic film as a support material for the thin section in a state attached to the adhesive plastic film, and thereafter enclose and preserve it in the form attached to the adhesive plastic film as a permanent specimen that can be observed by an optical microscope.例文帳に追加

粘着性プラスチックフィルムを薄切片の支持材として用いて、凍結包埋試料から作製した薄切片を、粘着性プラスチックフィルムに貼り付けた状態で染色を行った後、粘着性プラスチックフィルムに貼り付けた状態で、光学顕微鏡で観察できる永久標本として封入保存する。 - 特許庁

A control unit 16 controls a microscope device 13 that magnifies and images a sample 12 with one or more imaging methods, and images and records the image of the sample 12 with one or more imaging methods according to an imaging method list in which combinations of imaging methods specified by a user are registered.例文帳に追加

コントロールユニット１６は、１以上の撮像手法で試料１２を拡大して観察する画像を撮像する顕微鏡装置１３を制御し、ユーザにより指定された撮像手法の組み合わせが登録された撮像手法リストに従って、１以上の撮像手法で試料１２の画像を撮像して記録する。 - 特許庁

To provide a method to easily measure phase difference by using a scanning atomic force microscope(AFM) without peeling a resist 1 during manufacturing a Levenson type phase shift mask, and to provide a method for manufacturing phase shift mask such that the manufacture process of a Levenson phase shift mask can be significantly reduced by using the above method for measuring the phase difference.例文帳に追加

レベンソン位相シフトマスクの製造途中にレジスト１を剥離せずに、走査型原子間力顕微鏡(AFM)を用いて簡便に位相差を測定する方法を提供し、この位相差測定方法を用いてレベンソン位相シフトマスクの製造プロセスを大幅に短縮することが可能になる位相シフトマスク製造方法を提供する。 - 特許庁

This microscope device comprises an image formation optical system, a lighting system which illuminates an object surface of the image formation optical system, an imaging element arranged in the image formation region of the image formation optical system, and a detector which detects light quantity in the image formation region and in a predetermined region other than the imaging element.例文帳に追加

顕微鏡装置は、結像光学系と、結像光学系の物体面を照明する照明装置と、結像光学系の結像領域内に配置される撮像素子と、結像領域内であって撮像素子以外の所定領域における光量を検出する検出装置とを備えている。 - 特許庁

To enable achievement of a tomographic image having little deteriorated image contained in brightness of an achieved image by correcting the brightness of the image with keeping variation information of the thickness of a sample in a transmission type and scan transmission type electron microscope for constructing a three-dimensional image from a transmission image achieved by inclining the sample.例文帳に追加

試料を傾斜させて得られた透過像から３次元像を構築する透過型および走査透過型電子顕微鏡において、試料の厚さの変化情報を維持したまま、取得した画像の明るさ補正を行い、画像の明るさに含まれる情報の劣化の少ないトモグラフィ像を取得する。 - 特許庁

To provide a manipulator system enabling an operator to perform the attaching operation of a capillary or the like without moving even if a microscope to which a manipulator is attached and a controller are installed remotely, and configured to prevent microscopic observation from being adversely influenced by vibration caused by manipulator operation by the operator.例文帳に追加

マニピュレータを取り付けた顕微鏡とコントローラとが離れて設置されている場合でもキャピラリ等の装着作業を操作者が移動することなく行うことが可能であり、かつ、操作者のマニピュレータ操作に起因する振動が顕微鏡観察に悪影響を及ぼさないようにしたマニピュレータシステムを提供する。 - 特許庁

The chemical-mechanical-property evaluating method supplies a slurry polishing agent on the surface of a polishing pad and evaluates the Young's modulus of the polish relating object of a polished object, etc. obtained in the chemical mechanical polish for subjecting the pad and such a thin-plate-form polished object as a semiconductor wafer into a relative motion, by using an inter-atom microscope device.例文帳に追加

スラリー状の研磨剤を研磨パッド表面に供給して、パッドと半導体ウエハ等の薄板状被被研磨物とを相対運動させる科学的及び機械的な研磨における、被研磨物などの研磨関連物の表面のヤング率を、原子間力顕微鏡装置を用いて評価する。 - 特許庁

In the confocal microscope apparatus where reflected light L3 from an object S to be measured and reference light L2 are coupled, and the interference light L4 is detected by an interference light detecting means 6, then, the tomographic image of the object S is obtained, an optical modulation part 20 for carrying out the frequency modulation of the reference light L2 is provided.例文帳に追加

測定対象Ｓからの反射光Ｌ３と参照光Ｌ２が合波され、その干渉光Ｌ４が干渉光検出手段６により検出され測定対象Ｓの断層画像が取得される共焦点顕微鏡装置において、参照光Ｌ２の周波数変調を行う光変調部２０が設けられている。 - 特許庁

If the microscope is used for a large sized testpiece or a large shifting and observation range of a testpiece, a part of the testpiece chamber 8 is structured to enlarge a space in the testpiece chamber, and an adaptor 13 is installed for enabling to mount a large sized testpiece and have a large shifting and observation range of the testpiece.例文帳に追加

試料３のサイズや試料３の移動範囲および観察範囲の大きい電子顕微鏡として利用する場合は、試料室８の一部を構成し、試料室８の空間を大きくし、搭載できる試料のサイズや試料の移動範囲および観察範囲を大きくすることができるアダプタ１３を取り付ける。 - 特許庁

To provide a local polarizing microscope analysis/spectral separation method and an apparatus for the method by composite evanescent wave dark field excitation capable of performing the microspectroscopy of optical isomerism, rotary dependency, circular polarization excitation fluorescence, magnetooptical characteristics, spin dependency, and the like in a minute substance, and to provide a substance operation method and a substance operation apparatus applying the method and the apparatus.例文帳に追加

微小物質の光学異性、回転依存性、円偏光励起蛍光、磁気光学特性、スピン依存性などを顕微分光できる合成エバネッセント波暗視野励起による局所偏光顕微鏡分析・分光方法および装置とこれを応用した物質操作方法および装置を提供する。 - 特許庁

In the scanning electron microscope in which the inside of an inner pipe for passing an electron beam is set up to be vacuum and a low vacuum observation is possible with an objective restriction arranged between the inner pipe and a specimen chamber, a two-stage objective restriction unit having another second objective restriction between the objective restriction and the specimen is arranged at an end of the inner pipe.例文帳に追加

本発明は、電子ビームが通過するインナーパイプ内部を真空とし、試料室との間に設けた対物絞りにより低真空観察が可能な走査電子顕微鏡において、対物絞りと試料との間にさらに第二の対物絞りを設けた２段対物絞りユニットをインナーパイプの端に設ける。 - 特許庁

In the manipulation device for the minute work of the electron microscope, the dual probe 10 comprising a main probe 11 and a sub probe 12 bonded to the main probe 11 is provided to one or two or more manipulator units driven in X-axis, Y-axis and Z-axis directions and rotatable around a T-axis and/or an R-axis independently of each other.例文帳に追加

Ｘ軸、Ｙ軸、Ｚ軸方向への駆動及びＴ軸および／またはＲ軸の回転が各々独立に可能な1つ又は2つ以上のマニピュレータユニットにメインプローブ１１とそれに接合するサブプローブ１２よりなるデュアルプローブ１０を載置することを特徴とする電子顕微鏡微細作業用マニピュレーション装置である。 - 特許庁

When a multi-axial stage 40 of a scanning electron microscope 10 is rotated horizontally, inclined or moved horizontally, an operation of rotating, inclining or horizontally moving an image for specification is performed by means of a mouse 62 while creating an image for specification from an SEM image obtained from a signal of a secondary electron detector 20 and displaying the image on an image display unit 61.例文帳に追加

走査電子顕微鏡１０の多軸ステージ４０を水平回転、傾斜、水平移動させるに際して、二次電子検出器２０の信号から得られるＳＥＭ像から指定用画像を作成して画像表示装置６１に表示しつつ、マウス６２で指定用画像を回転、傾斜、水平移動させる操作を行う。 - 特許庁

This grid holder sandwiches from the upper and lower sides and fixes this grid for the transmission electron microscope having a base material 1 having at least one opening part 6, a carbon film 2 for covering a first face and the opening part of the base material, a metal later (for example, a tantalum layer) formed on the carbon film, and a ceramic layer (for example, an alumina layer).例文帳に追加

少なくとも１つの開口部６を有する基材１と、基材の第１面および開口部を被覆するカーボン膜２と、カーボン膜上に形成された金属層（例えばタンタル層）３と、セラミック層（例えば酸化アルミニウム層）４とを有する透過型電子顕微鏡用グリッドと、それを上下から挟んで固定するホルダー。 - 特許庁

The detecting device for an optical device, particularly for the confocal microscope, includes: a detector; an aperture plate (2) disposed within an optical path (1) of a detected light ray so as to be positioned in front of the detector; and a lens (3) disposed in front of the aperture plate (2) and used to focus the detected light ray on the aperture plate (2).例文帳に追加

検出器と、該検出器の前に位置するように検出光の光路（１）内に配置されるアパーチャープレート（２）と、該アパーチャープレート（２）の前に配置される、検出光をアパーチャープレート（２）に合焦させるためのレンズ（３）とを備える光学装置用検出装置、特に共焦点顕微鏡用検出装置。 - 特許庁

The phase transition type recording medium has the phase transition material, of which relation: Lc>La is satisfied when brightness of the crystalline phase is Lc and brightness of the amorphous phase is La in an electronic ray image obtained by observing a surface of the phase transition material the phase of which changes between the crystalline phase and the amorphous phase with a scanning type electronic microscope, as the recording layer.例文帳に追加

結晶相とアモルファス相の間を相変化する相変化材料の表面を走査型電子顕微鏡で観察して得られる電子線像において、結晶相の輝度をＬｃ、アモルファス相の輝度をＬａとするとき、Ｌｃ＞Ｌａである相変化材料を記録層とする相変化型記録媒体。 - 特許庁

In a photoelectronic microscope which images photoelectrons emitted from a specimen via an objective lens by irradiating the specimen with light from a light source, and obtains a magnified image, the objective lens includes two or more electrodes, and the two or more electrodes are installed in such a manner that the light passes between two electrodes.例文帳に追加

光源からの光を試料に照射することにより前記試料から放出される光電子を対物レンズを介して結像し、拡大像を得る光電子顕微鏡において、前記対物レンズに、２以上の電極を備えさせ、２以上の前記電極を、前記光が２つの電極間を通るように設置する。 - 特許庁

This method is to adjust the multi-pole lenses of the electron spectrometer having a plurality of the multi-pole lenses attached to a transmission electron microscope, and optimum conditions are found by simulation using a parameter design method using the exciting currents of the multi-pole lenses as parameters in this lens adjusting method.例文帳に追加

透過型電子顕微鏡に付随している複数個の多重極子レンズを有する電子分光器の多重極子レンズを調整する方法であって、多重極子レンズの励磁電流をパラメータとしたパラメータ設計手法を用いたシミュレーションにより最適条件を求めるレンズ調整方法を提供する。 - 特許庁

To provide a microscope objective lens which can correct various aberration generated by the change of the thickness of a medium between the objective lens and a sample, can easily find a lens position for most sharply imaging, can improve the efficiency of observation and maximize the performance.例文帳に追加

対物レンズと標本との間にある媒質の厚さの変化によって生じる諸収差を補正できる対物レンズにおいて、像が最も鮮明に見えるレンズの位置を容易に見付けて観察の効率を向上させることができると共に、性能を最大限に引き出すことが可能な顕微鏡対物レンズを提供する。 - 特許庁

To provide a system that aspirates reagents from a reagent vial while minimizing evaporation in the reagent vial, that dispenses reagents accurately, and that minimizes cross-contamination of the reagent vials through cleaning of a reagent delivery system in an apparatus for automatically applying staining reagents to tissue or cells mounted to microscope slides.例文帳に追加

顕微鏡スライドに取付られた組織又は細胞に染色のための試薬を自動的に付ける装置であって、試薬ブァイアル内での蒸発を最小化しながら吸引し、試薬を精確に分配し、試薬配送システムの清浄化を通して試薬ブァイアルの相互汚染を最小化するシステムを提供する。 - 特許庁

To provide a highly efficient antibody screening method making an unknown ultramicro component composing a fine structure or the like recognized only under microscope determinable, and directly and capable of efficiently screening a specific antibody to a target protein existing in a particular tissue at a certain moment of life activity.例文帳に追加

顕微鏡下においてのみ認められる微細構造物等を構成する未知の超微量成分を決定することを可能にする、生命活動のある瞬間に特定の組織に存在する標的タンパク質に対する特異抗体を、直接的に高効率でスクリーニングする高効率抗体スクリーニング方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a standard template with a standard mark as the standard point for producing an displacement-modified image for observing an image of a sample three-dimensionally correctly and precisely by appropriately processing stereo detection data obtained from an electronic microscope and for measuring the three-dimensional shape of the sample.例文帳に追加

電子顕微鏡から得られたステレオの検出データを適切に処理して、試料像を正確に精度よく立体観察すると共に、試料の三次元形状計測を行う為に、偏位修正画像を作成するために基準点となる基準マークを有する基準テンプレート及びその製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a laser scanning microscope capable of automatically or almost automatically setting a range where effective spectroscopic data is acquired to a sample in the case of photometrically metering fluorescence from one or a plurality of fluorescent probes applied to the sample in arbitrary wavelength units and acquiring it as continuous data (λ stack data).例文帳に追加

標本に塗布された１つ又は複数の蛍光プローブからの蛍光を、任意の波長単位で測光し、それを連続データ（λスタックデータ）として取得する場合に、その標本に対して、有効な分光データを取得できる範囲が自動的または略自動的に設定することが可能なレーザ走査顕微鏡を提供する。 - 特許庁

This microorganism detection method for collecting microorganisms in a sample onto a filter by filtration, and detecting microorganisms subjected to fluorescent dyeing from the filter by using a microscope having autofocus function includes a fluorescent mark arrangement process for arranging a fluorescent mark emitting fluorescence on the filter.例文帳に追加

微生物検出方法が、ろ過によりフィルタ上に試料中の微生物を捕集し、蛍光染色された微生物をオートフォーカス機能を有する顕微鏡を用いて前記フィルタから検出する微生物検出方法であって、蛍光を発する蛍光印を前記フィルタ上に配置する蛍光印配置工程を具備する。 - 特許庁

The method for producing the carbon black comprises subjecting a raw material of the carbon black having 0.5-0.8 μm mode diameter in the size distribution curve drawn by using the structure lengths measured by the transmission electron microscope, and ≥1 μm half width thereof to a heat treatment in a gas flow containing hydrogen to remove an acidic functional group.例文帳に追加

透過型電子顕微鏡によって測定されたストラクチャー長さを用いて描かれた粒度分布曲線の最大頻度径が０．５〜０．８μｍで、その半値幅が１μｍ以上であるカーボンブラック原料を、水素を含む気流中、加熱処理して酸性官能基を脱離させることを特徴とするカーボンブラックの製造方法。 - 特許庁

To provide a scanning electromagnetic wave microscope capable of positioning a distance between a probe tip and a sample in response to necessary resolution and physical quantity measurement distributed at an optional distance from a sample surface, and carrying out resolution-selective scanning by constant distance scanning and high speed scanning of interaction by constant scanning.例文帳に追加

本発明は、サンプル表面から任意距離に分布する物理量測定や必要な分解能に応じたプローブ先端部とサンプル間距離の位置決めが可能で、距離一定走査による分解能選択走査と、相互作用を一定走査による高速走査が行える走査型電磁波顕微鏡を得ることにある。 - 特許庁