「Microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方(174ページ目) - Weblio英語例文検索

This microscope where observation data are acquired by irradiating an observation object with the deep ultraviolet light has a control part measuring the line width of a pattern provided at the prescribed position of the observation object and stopping the irradiation of the observation object with the deep ultraviolet light when the line width of the pattern attains a prescribed limiting value.例文帳に追加

観察対象に深紫外光を照射して観察データを取得する顕微鏡において、該観察対象の所定の位置に設けられたパターンの線幅を測定し、該パターンの線幅が所定の制限値に達した場合に、該観察対象への深紫外光の照射を停止する制御部を有することを特徴とする。 - 特許庁

To provide a semiconductor device, where stable contact resistance can be obtained when a probe is brought into contact with an electrode pad to check its properties, and the probe is kept in contact with the electrode pad can be visually confirmed with ease by a microscope, the electrode is superior in solder wettability, and a solder bump can be suitably formed on the electrode pad.例文帳に追加

探針プローブを電極パッドに接触させて特性検査を行う際、安定な抵抗が得られ、探針プローブを接触させたことが顕微鏡観察等により容易に視認することができるようにし、さらに、ハンダに対する濡れ性が良好で、電極パッド上にハンダバンプを好適に形成することができる、半導体装置を提供する。 - 特許庁

The scanning electron microscope for two-dimensionally scanning an electron beam on a sample to form an image with signals obtained from the sample and sent to display means comprises a means for controlling pressure in a sample cell and a means for sending signals obtained from the sample to the display means by controlling in accordance with the pressure in the sample cell.例文帳に追加

試料上で電子線を２次元的に走査し試料から得られる信号を表示手段に送って像を形成する走査電子顕微鏡において、試料室の圧力を制御する手段と、前記試料から得られる信号を前記試料室の圧力に応じて制御して表示手段に送る手段とを備えたことを特徴とする。 - 特許庁

In this probe microscope having a probe, an electrode arranged through a sample and a measuring instrument which applies voltage across the probe and the electrode to detect the current flowing to the sample between the probe and the electrode, voltage is applied across two desired points in the sample to detect the produced migration to thereby determine the insulating failure.例文帳に追加

探針と試料を介して配置される電極と、探針と電極間に電圧を印加して探針と電極間の試料に流れる電流を検出する測定装置を有するプローブ顕微鏡において、試料内における所望の二点間に電圧を印加することにより、発生するマイグレーションを検知して絶縁不良を判定するプローブ顕微鏡にある。 - 特許庁

The conductive electroless plating powder in which a nickel film is formed by an electroless plating method on the surface of the core member powder is characterized in that grain boundaries are not admitted at the section in the thickness direction of the nickel film when the section is observed by a scanning electron microscope at magnifying power up to 100,000 times.例文帳に追加

本発明の芯材粉体の表面に無電解めっき法によってニッケル皮膜を形成した導電性無電解めっき粉体は、前記ニッケル皮膜の厚さ方向断面を、走査型電子顕微鏡によって１０００００倍迄の拡大倍率で観察したときに、該断面に結晶粒界が認められないことを特徴とする。 - 特許庁

In a method of evaluating the surface of a principal surface of an attraction retainer onto which an object is to be attracted, surface evaluation of the principal surface is performed based on images of interference patterns in the principal surface obtained using a laser microscope.例文帳に追加

被吸着物を吸着する吸着保持装置の前記被吸着物を吸着する側の主面に対する表面評価方法であって、レーザ顕微鏡を用いて求められた前記主面における干渉縞の像に基づいて前記主面に対する表面評価を行うことを特徴とする吸着保持装置の表面評価方法。 - 特許庁

To provide a retaining apparatus which retains an optical viewing device, for example, a microscope stably without any vibration and with (position) reproducibility, and specially improves a vibration state perpendicularly, increases the rigidity and strength of the whole structure by mechanical properties of the structure, and makes the structure as lightweight as possible on the whole.例文帳に追加

顕微鏡等の光学観察装置の安定的、無振動的、かつ（位置）再現性のある支持を可能にし、とりわけ、鉛直方向において、振動状態の改善、その構造の機械的性質による構造全体の剛性ないし強度の更なる増進、構造全体の重量の可及的軽量化も図ることが可能な支持装置を提供すること。 - 特許庁

The scanning probe microscope is provided with a cantilever 21 having a probe 20 directed to a sample 12 and a measuring part for measuring the physical quantity generated between the probe and the sample while the probe scans a surface of the sample, regularly maintains the physical quantity in the measuring part, scans and measures the surface of the sample.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡は、試料１２に対して探針２０が向くように設けられたカンチレバー２１と、探針が試料の表面を走査するとき探針と試料の間で生じる物理量を測定する測定部を備え、測定部で物理量を一定に保ちながら探針で試料の表面を走査して試料の表面を測定する。 - 特許庁

The scanning probe microscope comprises the plurality of probes 104, displacement detecting means 107 of the same number as the probes, and a sequential feedback circuit 109 for amplifying and modulating displacement signals of the same number of the probes obtained by the displacement detecting means 107 and sequentially inputting them to a scanner 101(b) as feedback signals.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡において、複数のプローブ１０４と、プローブと同数の変位検出手段１０７と、変位検出手段１０７によって得られるプローブと同数の変位信号を増幅変調し、スキャナ１０１(b)に順番にフィードバック信号として入力する順次フィードバック回路１０９とを有することを特徴とする。 - 特許庁

In the cantilever-type near-field optical probe and its manufacturing method, and the microscope, recording/reproducing device, and fine- machining device using them, a surface plasmon polariton transmission line for guiding light from a light source to a small opening or guiding light from the light source being introduced from the small opening is provided at the cantilever.例文帳に追加

カンチレバー型近接場光プローブとその作製方法、及びこれらを用いた顕微鏡、記録再生装置、微細加工装置であって、該微小開口ヘ光源からの光を導波させ、または／及び該微小開口から導入された光源からの光を導波させるための表面プラズモンポラリトン伝送路が、前記カンチレバーに設けられようにする。 - 特許庁

The device comprises a sample chamber which enables atmosphere control, a sample holder 14 which introduces a volatile substance containing sample in the sample chamber, a scanning electron microscope for observing this sample held, a manipulator which samples the sample held in the sample holder 14, and a sample holder 15 for taking out the sample sampled to the outside of the sample chamber 2.例文帳に追加

雰囲気制御が可能な試料チャンバー２、試料チャンバー内に揮発性物質含有試料を導入する試料ホルダー１４、この保持された試料を観察するための走査電子顕微鏡、試料ホルダー１４に保持された試料をサンプリングするマニピュレータ、サンプリングされた試料を試料チャンバー２の外部に取り出すための試料ホルダー１５を具備する。 - 特許庁

In the inspection method of the nonmetal inclusion in steel, the surface of steel subjected to mirror surface polishing is observed using an optical microscope using a single wavelength laser beam source as an illumination light source and the nonmetal inclusion is discriminated on the basis of the brightness difference between steel and the nonmetal inclusion in the observed variable density image.例文帳に追加

本発明に係る鋼中非金属介在物検査方法は、照明光源として単波長レーザ光源を使用した光学顕微鏡を用いて鏡面研磨した鋼の表面を観察し、観察した濃淡画像における鋼と非金属介在物との輝度差に基づいて、非金属介在物を識別することを特徴とする。 - 特許庁

The polishing jig for physical analysis 1 comprises at least an observing block 2 having a sample attaching surface 5a to which the sample 11 is attached and insertable to an in-lens type scanning electron microscope (SEM), a sample mount 3 having a stepped guide part 6 by which the observing block 2 is positioned, and a sample mount holder 4 to which the sample mount 3 is attached.例文帳に追加

試料１１が貼付される試料貼付面５ａを有し、インレンズ方式の走査型電子顕微鏡（ＳＥＭ）に挿入可能な観察用ブロック２と、観察用ブロック２が位置決めされる段差ガイド部６を有する試料マウント３と、試料マウント３が固定される試料マウントホルダ４とを少なくとも備える物理解析用研磨冶具１である。 - 特許庁

A polishing composition comprises water sol containing zirconium oxide particles having a specific surface area value of 10 to 400 m^2/g, a particle diameter in the range of 3 to 110 nm converted from it, and the mean value of a primary particle diameter by scanning electron microscope observation in the range of 5 to 150 nm; and is used for polishing a silicon oxide film in manufacturing semiconductor devices.例文帳に追加

１０〜４００ｍ^２／ｇの比表面積値とそれから換算される３〜１１０ｎｍの範囲の粒子径を有し、走査型電子顕微鏡観察による一次粒子径の平均値が５〜１５０ｎｍの範囲にある酸化ジルコニウム粒子を含有する水性ゾルを含み、半導体装置製造時の酸化珪素膜の研磨に使用される研磨用組成物。 - 特許庁

In this imaging device for a video microscope including a lens having a magnification varying mechanism, any of changing a correction amount of color tone in accordance with an object, changing an enhancement correction amount in accordance with the object, changing the correction amount of the color tone in accordance with the magnification of the lens, and changing the enhancement correction amount in accordance with the magnification of the lens is carried out.例文帳に追加

倍率可変機構を有するレンズを備えるビデオマイクロスコープ用撮像装置において、被写体に応じて、色調の補正量を変えること、被写体に応じて、エンハンス補正量を変えること、レンズの倍率に応じて、色調の補正量を変えること、レンズの倍率に応じて、エンハンスの補正量を変えることのいずれかをおこなう。 - 特許庁

To provide a method corresponding to the subject related to a sample holding stand, sample pretreatment and a sample holder for analyzing a structure, a composition and an electronic state in a device operated state by applying external voltage to a sample to be observed in a sample analyzer inclusive of a transmission electron microscope, and a sample analyzing method.例文帳に追加

透過電子顕微鏡をはじめとする試料分析装置において、観察しようとする試料に外部電圧を印加し、デバイスが動作状態のまま構造、組成、電子状態を分析するための、試料保持台、試料の前処理および試料ホルダに関する課題に対応する方法、および、当該試料の分析を行う方法を提供する。 - 特許庁

In the laser scanning type microscope equipped with the optical system for observation and the optical system for luminous stimulus, the optical system for observation includes a scanning means for scanning a sample surface with a spot obtained by condensing exciting light, and the optical system for luminous stimulus irradiates wide field with stimulating light.例文帳に追加

本発明の上記課題は、観察用光学系と光刺激用光学系を備えたレーザー走査型顕微鏡において、前記観察用光学系は励起光を集光させたスポットを試料面で走査する走査手段を備え、前記光刺激用光学系は刺激光をワイドフィールド照射することを特徴とするレーザー走査型顕微鏡によって解決される。 - 特許庁

To provide a charged particle beam equipment, that can effectively utilize specimen observing conditions (coordinates, tilting angles, loci, observed image, etc.), memorized before its specimen holder was removed even when the positional deviation of the observed image as the specimen holder was once detached from the microscope column followed by its return to the column again.例文帳に追加

試料ホルダーをいったん鏡筒から取り外した後、再び鏡筒内に戻して観察画像に位置ずれが生じた場合でも、試料ホルダーを鏡筒から取り外す前に記憶させておいた試料の観察条件（座標、傾斜角、軌跡、観察画像など）をそのまま有効に活用することのできる荷電粒子線装置を提供する。 - 特許庁

In the illuminator of the microscope provided with a holding member holding a plurality of filter cassettes, at least one 50 of the plurality of the filter cassettes is provided with a dichroic mirror 66 reflecting the illumination light and the angle of the dichroic mirror 66 to the objective lens is changed by a cam mechanism provided in the filter cassette 50.例文帳に追加

複数のフィルタカセットを保持する保持部材を備えている顕微鏡の照明装置において、複数のフィルタカセットの少なくとも１つのフィルタカセット５０に照明光を反射するダイクロイックミラー６６を設けるとともに、対物レンズに対するダイクロイックミラー６６の角度をフィルタカセット５０に備えたカム機構によって変化させるようにした。 - 特許庁

A intensive wet blasting operation is applied to a coating film of a CVD coated cutting tool equipped with a TiC_XN_Y layer containing a cemented carbide as base material and having a low tensile stress level of 50-390 Mpa and Al_2O_3 having a high surface smoothness with a mean Ra 0.12 μm or below as measured by the atomic force microscope (AFM) technique.例文帳に追加

超硬合金を母在とし、５０〜３９０Ｍｐａの低引張応力レベルを有するＴｉＣ_ＸＮ_Ｙ層と、原子間力顕微鏡（ＡＦＭ）技術によって測定される平均Ｒａが０．１２μｍ以下の高い表面平滑度を有するＡｌ_２Ｏ_３と備えるＣＶＤ被覆切削工具の被膜に、非常に激しい湿潤吹き付け処理を施す。 - 特許庁

This emission microscope has an ultraviolet-ray irradiating device 11 for irradiating an ultraviolet ray on a sample 1 to emit electrons from the sample 1, a phosphor plate 8 for indicating an electron image formed by the electrons emitted from the sample 1 and an electron lens system (respective lenses 4, 5 and 6) for imaging the electron image on the phosphor plate 8.例文帳に追加

エミッション顕微鏡には、試料１に紫外線光を照射して試料１から電子を放出させる紫外線照射装置１１と、試料１から放出された電子によって形成される電子像を表示する蛍光板８と、その電子像を蛍光板８上に結像させる電子レンズ系（各レンズ４，５，６）とを有する。 - 特許庁

Upon using a scanning electron microscope which is loaded with a spin-polarized electron source having a laser 201 and a semiconductor 202, a chirality structure and magnetized vector of polymer inside a testpiece 208 can be visualized by measuring intensity and the degree of spin-polarization of reflected electrons 209 from the testpiece 208 which is irradiated by a spin-polarized electron beam 203 by using a reflected electron detector 210.例文帳に追加

レーザー201と半導体202を備えたスピン偏極電子源等を搭載した走査電子顕微鏡を用いて、スピン偏極電子線203を照射した試料208からの反射電子209の強度やスピン偏極度を反射電子検出器210などを用いて測定することにより、試料208内部の高分子のカイラリティ構造や磁化ベクトルを可視化することができる。 - 特許庁

To provide a nonlinear dielectric microscope developed for usage of ultrahigh-sensitivity range sensing of vertical direction by using of the phenomenon based on an evidence where, when a gap is prepared between a probe and a sample surface, large variation of nonlinear dielectric signal by changing a minute gap can be predicted from theoretical analysis.例文帳に追加

本発明の課題は、探針と試料表面に空隙を設けた場合、微小な空隙の変化で非線形誘電率信号が大きく変化することが理論解析により予測されることに基き、この現象を利用して超高感度な垂直方向距離センシングに用いる非線形誘電率顕微鏡を開発し、提供することにある。 - 特許庁

The resin composition foam having foam cells whose average cell diameter measured with a scanning electron microscope (SEM) is 100-3,000 nm is obtained by melt-mixing and foaming a mixture comprising an olefinic rubber (A) containing a functional group, a compound (B) having a group reactive with the functional group contained in the olefinic rubber (A), and a thermoplastic resin (C).例文帳に追加

官能基を含有するオレフィン系ゴム（Ａ）、該オレフィン系ゴム（Ａ）に含まれる官能基と反応しうる基を有する化合物（Ｂ）、および熱可塑性樹脂（Ｃ）を含む混合物を、溶融混合および発泡することにより得られる、走査型電子顕微鏡（ＳＥＭ）で測定した平均セル径１００〜３０００ｎｍの発泡セルを有する樹脂組成物発泡体。 - 特許庁

The composition for polishing the semiconductor wafer preferably has a 40 to 300 mol ratio of silica/urea, an average short diameter of the aspherical heteromorphic silica particles having urea fixed through a transmission electron microscope is 7 to 30 nm, and a long diameter/short diameter ratio is 1.2 to 10, an average value of the long diameter/short diameter ratio being preferably 1.2 to 5.例文帳に追加

この半導体ウエハ研磨用組成物のシリカ／尿素のモル比は４０〜３００であることが好ましく、また、尿素が固定化された非球状の異形シリカ粒子の透過型電子顕微鏡観察による平均短径が７〜３０ｎｍであり、長径／短径比が１．２〜１０であり、かつ長径／短径比の平均値が１．２〜５であることが好ましい。 - 特許庁

The scanning electron microscope includes: a pattern existence determining part 1012 that determines the existence of a pattern with respect to an individual frame image and sub-frame image constituting a synthesis image for inspection/length-measurement; a magnification correction part 1014; a distortion correction part 1018; an image synthesis part 1015; and a storage unit 1111 that compresses and stores those images therein in a video form.例文帳に追加

走査電子顕微鏡において、パターンの検査・測長のための合成画像を構成する個々のフレーム画像やサブフレーム画像に対してパターンの有無を判定するパターン有無判定部１０１２や倍率補正部１０１４、歪曲補正部１０１８、画像合成部１０１５及びそれら画像を動画形式で圧縮保存する記憶部１１１１を備える。 - 特許庁

The colloidal silica is produced by using an active silicic acid as a raw material in the presence of benzotriazole, and contains benzotriazole in the liquid phase and a group of non-spherical heteromorphic silica particles which has a major axis/minor axis ratio by a transmission electron microscope in the range of 1.2-15 and an average value of the major axis/minor axis ratio of 1.5-10.例文帳に追加

ベンゾトリアゾールの存在下で活性珪酸を原料として製造されるコロイダルシリカであって、液相にベンゾトリアゾールを含有し、透過型電子顕微鏡観察による長径／短径比が１．２〜１５の範囲にありかつ長径／短径比の平均値が１．５〜１０である非球状の異形シリカ粒子群を含有するコロイダルシリカである。 - 特許庁

The microscope lens barrel 10 includes: an optical system 12 dividing light from a specimen into an imaging optical path and a visual observation optical path; and a moving means 11 moving the optical system 12 to at least three positions different in a ratio of a light quantity distributed to the visual observation optical path to that distributed to the imaging optical path.例文帳に追加

顕微鏡鏡筒１０は、試料からの光を撮像光路と目視観察光路に分配する光学系１２と、光学系１２を、撮像光路に分配される光量に対する目視観察光路に分配される光量の比率が異なる少なくとも３つの位置に移動させる移動手段１１と、を含んで構成される。 - 特許庁

The microscope body 21 has an image processing circuit 103 that processes a digital image signal obtained from a lens group 101, an imaging device 44 and an AD conversion device 102 in real time and generates digital image data, a display section 62 that displays an image based on the digital image data, and an interface circuit 105 that outputs the digital image signal to the outside.例文帳に追加

顕微鏡本体２１は、レンズ群１０１、撮像素子４４、AD変換素子１０２により得られるデジタル画像信号をリアルタイムに処理し、デジタル画像データを生成する画像処理回路１０３、デジタル画像データに基づく画像を表示する表示部６２、デジタル画像信号を外部に出力するインタフェース回路１０５を備える。 - 特許庁

An electron microscope has: an electron beam lens-barrel 1 in order to irradiate an electron beam 1a to a sample 11; a sample stage 3 to support the sample 11; a scattered electron detector 6 in order to detect backscattered electrons discharged from the sample 11; and a focused ion beam lens-barrel 2 in order to irradiate the sample 11 with a focused ion beam 2b.例文帳に追加

試料１１に電子ビーム１ａを照射するための電子ビーム鏡筒１と、試料１１を支持する試料台３と、試料１１から放出される後方散乱電子を検出するための散乱電子検出器６と、試料１１に集束イオンビーム２ｂを照射するための集束イオンビーム鏡筒２とを有する電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁

While the surface of channels of a field effect transistor is being scanned by a probe, the surface potential of the channels and potentials by trap charge just beneath the probe at each point are measured through potential measurement using an atomic force microscope, and the local mobility is calculated from the measured potentials, and further the distribution of mobility is obtained based on the mobilities calculated at each point.例文帳に追加

探針で電界効果トランジスタのチャンネル表面を走査しながら、各点において探針直下のチャンネルの表面電位およびトラップ電荷による電位を、原子間力顕微鏡を用いた電位測定により測定し求めた電位から局所的な移動度を算出し、さらに各点で算出された移動度に基づいて移動度分布を求める。 - 特許庁

The microscope apparatus 1 is equipped with: a time counting means 8 configured to count a time; a plurality of different image acquisition means 4 and 16; and a storage means 9 configured, when the pieces of image information are obatained by the image acquisition means 4 and 16, to store the obtained image information and the timing information counted by the time counting means 8, in association with each other.例文帳に追加

時間を計数する計時手段８と、複数の異なる画像取得手段４，１６と、該画像取得手段４，１６により画像情報が取得されたときに、取得された画像情報と計時手段８により計数された時間情報とを対応づけて記憶する記憶手段９とを備える顕微鏡装置１を提供する。 - 特許庁

A deflection surface 25A of an optical deflecting element 25, on which a plurality of micromirrors are provided, of the confocal microscope 1 is disposed at a position conjugate to a prescribed observation surface of a sample S, and the optical deflecting element 25 controls the deflection directions of an observation light emitted from the sample S, focused with an objective lens 29 and made incident on the deflecting surface 25A by a micromirror.例文帳に追加

コンフォーカル顕微鏡１の光偏向素子２５は、複数の微小ミラーが設けられている偏向面２５Ａが試料Ｓの所定の観察面と共役な位置に配置され、対物レンズ２９により集光されて偏向面２５Ａに入射する試料Ｓからの観察光の偏光方向を微小ミラー毎に制御する。 - 特許庁

The refractory steel has a composition containing 0.005 to 0.050% C, 0.50 to 2.00% Mn, 0.50 to 2.00% Cr, 0.10 to 0.50% V and 0.005 to 0.030% Ti, and has an optical microscope structure in which, by area fraction, ≥80% is composed of a bainitic phase or a martensitic phase.例文帳に追加

Ｃ：０．００５％以上０．０５０％以下、Ｍｎ：０．５０％以上２．００％以下、Ｃｒ：０．５０％以上２．００％以下、Ｖ：０．１０％以上０．５０％以下、Ｔｉ：０．００５％以上０．０３０％以下であり、光学顕微鏡組織が、面積分率で８０％以上がベイナイト相またはマルテンサイト相である耐火鋼材。 - 特許庁

The microscope apparatus stage which makes the main stage exactly movable to the observation position by finely adjusting the knob provided at the stage base to move the main stage, and is inexpensive and suppresses the observation error is provided.例文帳に追加

本発明は、固定ステージであるステージベースと、ステージベース上面に設けられボールを介して移動可能な主ステージと、ステージベースに設けられ主ステージを移動させるつまみ部を配置し、対物レンズを切り換えた際につまみ部によりベルトの送り速度を微調整することで主ステージを的確に観察位置に移動可能で、安価で観察誤差を抑えた顕微鏡装置ステージを提供する。 - 特許庁

The invention involves providing cells containing fluorescent reporter molecules in an array of locations and scanning numerous cells in each location with a high magnification fluorescent microscope, converting the optical information into digital data, and utilizing the digital data to determine the distribution, environment or activity of the fluorescently labeled reporter molecules in the cells.例文帳に追加

蛍光レポーター分子を含有する細胞をある場所の配列で提供するステップ、高倍率蛍光光学系を用いて各場所において非常に多数の細胞をスキャンするステップ、光学情報をデジタルデータに変換するステップ、及び細胞内の蛍光標識レポーター分子の分布、環境又は活性を測定するためにそのデジタルデータを利用するステップを含む。 - 特許庁

To provide a signal detection apparatus enabling simplification of a mechanism for detecting the displacement of a probe and simplification of the arrangement of a detection system even if a plurality of probes are in use, thus enabling a space saving, a scanning atomic force microscope constructed of the detection apparatus, and a signal detection method.例文帳に追加

プローブ変位検出のための機構を簡単化することができ、また複数のプローブを用いる場合においても検出系の構成を簡便化することができ、省スペース化を図ることが可能な信号検出装置、該信号検出装置によって構成した走査型原子間力顕微鏡、および信号検出方法を提供する。 - 特許庁

OPTICAL MICROSCOPE OBSERVATION METHOD FOR COUPLING CONDITION AND AGGREGATION CONDITION OF SUSPENDED MATTER IN AQUEOUS SOLUTION, PHOTOGRAPHIC METHOD FOR SUSPENDED MATTER USING THE OBSERVATION METHOD, EVALUATION METHOD FOR AQUEOUS SOLUTION USING THE OBSERVATION METHOD OR THE PHOTOGRAPHIC METHOD, AND DATA BY STATIC PICTURES OR ANIMATION OF COUPLING CONDITION OF SUSPENDED MATTER AND AGGREGATION CONDITION PHOTOGRAPHED BY THE PHOTOGRAPHIC METHOD例文帳に追加

水溶液中の懸濁物質の結合状態、集合状態の光学顕微鏡観察方法と、その観察方法を利用した懸濁物質の撮影方法と、その観察方法又は撮影方法を利用した水溶液の評価方法と、その撮影方法で撮影された懸濁物質の結合状態、集合状態の静止画又は動画による資料 - 特許庁

To provide an optical radiation pressure measuring device capable of easily and accurately measuring an optical radiation pressure, a resonance frequency regulating method capable of easily adjusting a resonance frequency of a resonance body, an aperture diameter inspection device evaluating a minute aperture of the resonance body, and a near field microscope provided with the aperture diameter inspection device.例文帳に追加

本発明の目的は光放射圧を簡便かつ正確に測定可能な光放射圧測定装置、共振体の共振周波数を容易に調整可能な共振周波数調整方法、共振体の微小開口を評価する開口径検査装置及びそれを備えた近接場光学顕微鏡を提供することにある。 - 特許庁

The steel material satisfies a prescribed chemical component composition, and in the steel material, when the size of each inclusion is defined as the length of the widest portion in the direction perpendicular to the maximum length of the projection of the inclusion as observed with a microscope, inclusions each characterized in that the size is ≥2 μm are dispersed.例文帳に追加

鋼材は、所定の化学成分組成を満足し、且つ顕微鏡観察したときの介在物の最大投影長さに垂直な方向で最も幅の大きい長さを介在物の大きさとしたときに、その大きさが２μｍ以上である介在物が分散したものであると共に、該介在物は下記（１）式および（２）式の関係を満足するものである。 - 特許庁

The microscope instrument includes a Z stage 15 for moving an objective lens 11 vertically, a focus point detection system 30 for irradiating a test substance 21 with measuring light for focusing detection, a signal processing part 41 for controlling the Z stage 15 based on the focusing detection result, and a measuring part 42 for measuring the amount of movement of the objective lens 11.例文帳に追加

顕微鏡装置は、対物レンズ１１を上下移動させるＺステージ１５と、被検体２１に測定光を照射して合焦検出する焦点検出系３０と、合焦検出結果に基づいてＺステージ１５を制御する信号処理部４１と、対物レンズ１１の移動量を測定する測定部４２とを有する。 - 特許庁

In a micromanipulation system for applying micro manipulation to an object within the view of a microscope by using a micro needle, positions of the object and an objective lens are relatively moved to detect a position where the object is focused, in accordance with movement, and the movement of a object moving means is controlled on a basis of a detection result.例文帳に追加

顕微鏡の視野内で被検体に対して微小針を用いて微細操作を行うマイクロマニピュレーションシステムは、被検体と対物レンズとの位置を相対的に移動させ、この移動に応じて前記被検体に焦点の合う位置を検出し、この検出結果に基づいて、前記被検体移動手段の動作を制御することにより、上記課題の解決を図る。 - 特許庁

On a fixture 1 for verifying mounting accuracy that is mounted at a region on a stage 800 of a mounting device where a circuit board is mounted, positions of mounting reference points A and B provided on the surface for mounting parts B1 and B2 under the mounted state, and positions of mounting position verifying points P1 and P2 are recognized with an electronic microscope.例文帳に追加

実装装置のステージ８００上の回路基板が載置される部位に載置した実装精度確認用冶具１上に、実装した状態の部品Ｂ１，Ｂ２の搭載面上に設けた実装基準ポイントＡ、Ｂとの位置と実装精度確認用冶具１の実装位置確認ポイントＰ１、Ｐ２の位置とを電子顕微鏡２により認識する。 - 特許庁

The measuring sample in a fine domain which is a measuring object including water is enlarged by a microscope body part, and each spectrum of detection light transmitted through the fine domain and reference light detection light is determined, and the absorbance difference of the measuring sample is determined by using light intensity having a specific wavelength, and a temperature change of a specimen is determined based on the absorbance difference.例文帳に追加

水を含む測定対象である微小領域の測定試料を顕微鏡本体部によって拡大すると共に、微小領域を透過した検体光と参照光のスペクトルを求めると共に、特定の波長の光強度を用いて測定試料の吸光度差を求め、当該吸光度差に基づいて検体の温度変化を求めるようにする。 - 特許庁

The fluorescent microscope 1 demodulates, by modulating the spatial intensity distribution of the intermediate image with the scan mask 4, the component shifted to the frequency equal to or lower than the cutoff frequency f_c to the original high frequency component, and communicates the frequency component to an imaging surface through an imaging lens 6 to be converted to digital image data including super resolution components by an imaging element 7.例文帳に追加

そして、蛍光顕微鏡１は、スキャンマスク４で中間像の空間強度分布を変調することによって、カットオフ周波数f_c以下の周波数にシフトした成分を元の高周波成分に復調して、撮像レンズ６により撮像面に伝達し、撮像素子７により超解像成分を含むデジタル画像データに変換する。 - 特許庁