「Microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方(174ページ目) - Weblio英語例文検索

An image means 11 photographs an inspection surface including the deformed layer of a worked surface 201 of a metallic worked member 20, for instance, a grain boundary microscope image of a surface 202, the image signal of the imaging means 11 is subjected to AD conversion, and an image vectorizing means 14 converts the image signal subjected to AD conversion into a vector image.例文帳に追加

金属加工品２０の加工面２０１の加工変質層を含む検査面、例えば、２０２面の粒界顕微鏡像を、撮像手段１１により撮影し、撮像手段１１の画像信号をＡＤ変換し、ＡＤ変換された画像信号を画像のクトル化手段１４により、ベクトル画像に変換する。 - 特許庁

The illumination mechanism 30 has: a light guide part 32 having an illumination light irradiation part for irradiating out illumination light toward the observation field to the first end side, wherein the second end side is extended from the observation field to the outside of the optical microscope 13; and a light source 23 for supplying the illumination light to the second end side of the light guide part 32.例文帳に追加

照明機構３０は、第一端部側に観察視野に向けて照明光を照出する照明光照出部を有するとともに、第二端側が観察視野から光学顕微鏡１３外に延出するライトガイド部３２と、該ライトガイド部３２の第二端側に照明光を供給する光源２３とを有してなる。 - 特許庁

To achieve an electron microscope or an X-ray analysis apparatus, and a sample analysis method for precisely and speedily performing an element analysis with high precision by X rays being generated from a sample by applying electron rays being a foreign object element inspection required for improving a manufacturing yield in a semiconductor element or the like.例文帳に追加

半導体素子等の製造歩留まり向上のために必要な異物元素検査である電子線を照射して試料から発生するＸ線による元素分析を、高精度、高分解能、高速に実施できる電子顕微鏡またはＸ線分析装置及び試料の分析方法を実現することを目的とする。 - 特許庁

To provide a charged particle beam equipment, that can effectively utilize specimen observing conditions (coordinates, tilting angles, loci, observed image, etc.), memorized before its specimen holder was removed even when the positional deviation of the observed image as the specimen holder was once detached from the microscope column followed by its return to the column again.例文帳に追加

試料ホルダーをいったん鏡筒から取り外した後、再び鏡筒内に戻して観察画像に位置ずれが生じた場合でも、試料ホルダーを鏡筒から取り外す前に記憶させておいた試料の観察条件（座標、傾斜角、軌跡、観察画像など）をそのまま有効に活用することのできる荷電粒子線装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method corresponding to the subject related to a sample holding stand, sample pretreatment and a sample holder for analyzing a structure, a composition and an electronic state in a device operated state by applying external voltage to a sample to be observed in a sample analyzer inclusive of a transmission electron microscope, and a sample analyzing method.例文帳に追加

透過電子顕微鏡をはじめとする試料分析装置において、観察しようとする試料に外部電圧を印加し、デバイスが動作状態のまま構造、組成、電子状態を分析するための、試料保持台、試料の前処理および試料ホルダに関する課題に対応する方法、および、当該試料の分析を行う方法を提供する。 - 特許庁

In the laser scanning type microscope equipped with the optical system for observation and the optical system for luminous stimulus, the optical system for observation includes a scanning means for scanning a sample surface with a spot obtained by condensing exciting light, and the optical system for luminous stimulus irradiates wide field with stimulating light.例文帳に追加

本発明の上記課題は、観察用光学系と光刺激用光学系を備えたレーザー走査型顕微鏡において、前記観察用光学系は励起光を集光させたスポットを試料面で走査する走査手段を備え、前記光刺激用光学系は刺激光をワイドフィールド照射することを特徴とするレーザー走査型顕微鏡によって解決される。 - 特許庁

In the illuminator of the microscope provided with a holding member holding a plurality of filter cassettes, at least one 50 of the plurality of the filter cassettes is provided with a dichroic mirror 66 reflecting the illumination light and the angle of the dichroic mirror 66 to the objective lens is changed by a cam mechanism provided in the filter cassette 50.例文帳に追加

複数のフィルタカセットを保持する保持部材を備えている顕微鏡の照明装置において、複数のフィルタカセットの少なくとも１つのフィルタカセット５０に照明光を反射するダイクロイックミラー６６を設けるとともに、対物レンズに対するダイクロイックミラー６６の角度をフィルタカセット５０に備えたカム機構によって変化させるようにした。 - 特許庁

A intensive wet blasting operation is applied to a coating film of a CVD coated cutting tool equipped with a TiC_XN_Y layer containing a cemented carbide as base material and having a low tensile stress level of 50-390 Mpa and Al_2O_3 having a high surface smoothness with a mean Ra 0.12 μm or below as measured by the atomic force microscope (AFM) technique.例文帳に追加

超硬合金を母在とし、５０〜３９０Ｍｐａの低引張応力レベルを有するＴｉＣ_ＸＮ_Ｙ層と、原子間力顕微鏡（ＡＦＭ）技術によって測定される平均Ｒａが０．１２μｍ以下の高い表面平滑度を有するＡｌ_２Ｏ_３と備えるＣＶＤ被覆切削工具の被膜に、非常に激しい湿潤吹き付け処理を施す。 - 特許庁

A transmission electron microscope comprises a means for calculating an deviation amount in visual field among a plurality of sample permeation images, a means for changing an electric current given in a deflector for deflecting an electron beam or moving a sample to automatically correct the deviations in visual field, and a control means for repeating this operation means to decrease the deviations in the visual field.例文帳に追加

透過型電子顕微鏡において、複数の試料透過像間の視野ずれの量を計算する手段と、電子線を偏向させる偏向器に与える電流をかえて、または試料を移動させて視野ずれを自動的に補正する手段と、以上の手段の動作を繰り返して視野ずれを減少させる制御手段とを備える。 - 特許庁

When the proportion (wt.%) of the metallic salt in the entire toner is represented by A and the number of particles of the metallic salt observed with a polarizing microscope is represented by B, the inequality 100<(B/A)<1,000 is satisfied.例文帳に追加

本発明の製造方法は、着色粒子に、体積平均粒径が３〜１５μｍの脂肪酸金属塩を添加混合してトナー原料を得る工程と、前記脂肪酸金属塩の体積平均粒径の６〜１５倍の目開きを有する篩を使用して前記トナー原料の篩分け処理を施すことにより粗大粒子を除去する工程とを有してなる。 - 特許庁

The semiconductor test system is composed of a navigation system which makes up all conditions required for photographing/testing from design information, and a scanning electron microscope system which actually carries out photographing/testing, and then the all conditions required for photographing/testing are made up from the design information such as CAD data or the like, and the actual test is carried out in those conditions.例文帳に追加

CADデータ等の設計情報から撮影／検査に必要な全ての条件を作成し、その条件で実際の検査を行うために、半導体検査システムを設計情報から撮影／検査に必要な全ての条件を作成するナビゲーションシステムと実際の撮影／検査を実行する走査型電子顕微鏡システムとから構成させる。 - 特許庁

The microscope controller is equipped with: two rotatable dial operated sections composed of a coarse adjusting handle 1201 and a fine adjusting handle 1301; one rotary encoder comprising a rotary encoder disk 1602, an encoder 1701, etc.; and two transmission mechanisms transmitting the rotation of the two dial operated sections at each different gear ratio to one rotary encoder.例文帳に追加

顕微鏡用コントローラーは、粗動ハンドル１２０１と微動ハンドル１３０１とから成る回転可能な二つのダイヤル操作部と、ロータリーエンコーダーディスク１６０２とエンコーダー１７０１等から構成される一つのロータリーエンコーダーと、二つのダイヤル操作部の回転をそれぞれ異なる変速比で一つのロータリーエンコーダーへ伝達する二つの伝達機構とを備えている。 - 特許庁

The mapping type electron microscope includes an illuminating system which irradiates a primary electron beam onto a sample, and the projection imaging optical system 24 which guides a secondary beam irradiated from the sample to a detection system, and the projection imaging optical system 24 is provided with the transfer lens system 24b, having a first zooming lens 6a and a second zooming lens 6b.例文帳に追加

試料を照射する１次電子ビームを放出する照射系と、試料から放出された２次電子ビームを検出系へ導く投影結像光学系２４とを備える写像型電子顕微鏡の投影結像光学系２４は、第１のズームレンズ６ａと第２のズームレンズ６ｂとを有するトランスファー・レンズ系２４ｂを備える。 - 特許庁

It includes a step of forming a pattern by inputting the position and size data of the designed pattern and impacting power data for them into an impacting machine having chips and punching the processing surface, and a step of checking the processing surface with a microscope and grinding the surface with a grinder if defective then processing the surface after adjusting the processing conditions.例文帳に追加

設計されたパターンの位置、パターンのサイズデータ及びこれらに対応する打撃力データをチップ付き打撃装置に入力して加工面を打撃することにより、パターンを形成する段階と、加工面をマイクロスコープで確認し、異常があれば、加工面を研磨機で押し出し、加工条件を調節した後再加工する段階とを含む。 - 特許庁

A laser mark 2 to be the positioning mark for a second charged particle image in the charged particle beam apparatus is made at the periphery of a processing/observation object area 1 by moving the processing/observation object area 1 in the charged particle beam apparatus so as to come into the visual field while performing an observation with an infrared microscope and by using a laser optical system 7 arranged coaxially with an optical observation system.例文帳に追加

赤外顕微鏡による観察を行いながら荷電粒子ビーム装置における加工・観察対象箇所１が視野内にくるように移動し、加工・観察対象箇所１周辺に光学観察系と同軸に配置されたレーザー光学系７によって、荷電粒子ビーム装置における二次荷電粒子像の目印となるレーザーマーク２をつける。 - 特許庁

A joint section where the carbon nanotube adheres to the tip of the probe of the scanning probe microscope or the handling equipment, is dipped in a dielectric liquid section, and a portion of liquid is solidified around the joint section in order to form a reinforcing section, by applying a potential difference between the joint section and the liquid section by using an external power source, thereby reinforcing the joint section.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡あるいはハンドリング機器のプローブ先端部とカーボンナノチューブとの付着部である接合部を誘電体である液体部に浸し、該接合部と液体部間に外部電源装置によって電位差を付与させて接合部周囲に液体の一部を固化させて補強部を形成し、以って接合部を強化する。 - 特許庁

To prevent particles generated from a moving part of an electronic beam lens barrel from falling onto an observation face of a sample in an electronic microscope in which a floor area of a device is saved by positioning the electronic beam lens barrel at a position of observing respective points on the observation face of the sample to be retained by a sample retaining part by moving the electronic beam lens barrel.例文帳に追加

電子ビーム鏡筒を移動させることによって、試料保持部に保持される試料の観察面上の各箇所を観察する位置に電子ビーム鏡筒を位置付けることにより、装置の床面積を節約する電子顕微鏡において、電子ビーム鏡筒の移動部から発生するパーティクルが試料の観察面に落ちることを防止する。 - 特許庁

In a magnetic head for a contact slide type linear tape drive sliding in contact with the magnetic tape upon recording and/or reproduction of a magnetic signal, a surface sliding in contact with the magnetic tape upon contact sliding has a plurality of recessed parts observed in a surface projecting and recessed image of a scanning probe microscope and the plurality of recessed parts satisfy the following (1) to (4).例文帳に追加

磁気信号の記録および／または再生時に磁気テープと磁気ヘッドとが接触摺動する接触摺動型リニアテープドライブ用磁気ヘッドにおいて、接触摺動時に磁気テープと接触摺動する面に、走査型プローブ顕微鏡の表面凹凸像において観察される凹部を複数有し、かつ該複数の凹部は下記（１）〜（４）を満たす。 - 特許庁

In a scanning probe microscope 10 for making a probe 16 provided for one end of the cantilever 15 scan along the surface of a sample 30 and measuring the height and a distribution of the physical state of the sample 30, the resonance frequency of the cantilever 15 is detected before and after the measurement of the sample 30 to detect the presence or absence of the adhesion of foreign matter to the tip of the probe 16.例文帳に追加

カンチレバー１５の一端に設けられたプローブ１６を試料３０の表面に沿って走査させて試料３０の高さ及び物理状態の分布を測定する走査プローブ顕微鏡１０において、試料３０の測定の前後にカンチレバー１５の共振周波数を検出してプローブ１６の尖端への異物の付着の有無を検知する。 - 特許庁

The objective lens adjustment mechanism is constituted by providing a fixing part 10 supported by a microscope system 2, an objective lens supporting part 20 which supports the objective lens 3, flexible parts 11-14 provided between the fixing part and the objective lens supporting part, and a pressurization part 41 which bends the flexible parts 11-14 by pressurizing the objective lens 3 or the objective lens supporting part 20.例文帳に追加

対物レンズ調整機構を、顕微鏡装置２に支持される固定部１０と、対物レンズ３を支持する対物レンズ支持部２０と、固定部と対物レンズ支持部との間に設けられた可撓部１１〜１４と、対物レンズ３又は対物レンズ支持部２０を押圧することにより、可撓部１１〜１４を撓ませる押圧部４１と、を備えて構成する。 - 特許庁

An illumination device is equipped with: a light guide 40 having emission ends 42a-42d emitting illumination lights La-Ld to enter the sample 2 obliquely with respect to the optical axis AX of the objective lens of the microscope; and an emission end rotation part 50 for rotating each position of the emission ends 42a-42d by using the optical axis AX as a rotation axis.例文帳に追加

照明装置は、顕微鏡の対物レンズの光軸ＡＸに対して斜めに試料２に入射するように照明光Ｌａ〜Ｌｄが出射する出射端４２ａ〜４２ｄを有する光ガイド４０と、光軸ＡＸを回転軸として出射端４２ａ〜４２ｄの位置を回転させる出射端回転部５０と、を備える。 - 特許庁

This microscope has a stage 31, an illumination optical system for irradiating a specimen 11 on the stage 31 with illumination light, an objective supporting section for supporting an objective lens 13, a light shielding section 110 which is arranged around the stage 31 and shields the incident light on the stage 31 from outside and changing means for changing the arrangement position of the light shielding section 110.例文帳に追加

ステージ３１と、ステージ３１上の標本１１に向かって照明光を照射するための照射光学系と、対物レンズ１３を支持するための対物支持部と、ステージ３１の周囲に配置され、外部から前記ステージ３１に入射する光を遮断する遮光部１１０と、遮光部１１０の配置位置を変更する変更手段とを有する。 - 特許庁

Micromanipulators 13, 14 driven along three axes X, Y and Z disposed on a microscope 12 are controlled to be driven in the respective directions of X, Y and Z axes by the operation of a mouse 24, whereby a user is enabled to operate the micromanipulators 13, 14 by one hand, and carry out the micro-operation more simply than the operation of the mouse 24.例文帳に追加

顕微鏡１２に配設されたＸＹＺの三軸に駆動可能なマイクロマニピュレータ１３，１４をマウス２４の操作によって各ＸＹＺ軸方向に駆動制御することによって、利用者は片手でマイクロマニピュレータ１３，１４の操作を行うことができるとともに、マウス２４の操作性より簡易に微小操作を実施することが可能になる。 - 特許庁

This cantilever for a scanning type probe microscope is provided with: a flexible beam 120 with one end 121 fixed to a base part 110; a probe 130 formed on the side of the other end 122 of the flexible beam 120; and a through-hole 140 formed in a region including the prove 130 and the side of the other end 122 of the flexible beam 120.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡用カンチレバーは、一端１２１が基部１１０に固定されている可撓性の可撓梁１２０と、可撓梁１２０の他端１２２の側に設けられている探針１３０と、探針１３０と可撓梁１２０の他端１２２の側とを含む領域に形成されている貫通孔１４０とを備えている。 - 特許庁

The microscope condenser lens LCon includes, in order from the light source side to the specimen side: a first lens group G1 having a cemented negative meniscus lens L1 whose concave face is oriented on the light source side; a second lens group G2 having a single positive lens L2; and a third lens group G3 having a positive lens L31 and a negative lens L32.例文帳に追加

本発明の顕微鏡用コンデンサレンズＬＣｏｎは、光源側から標本側に向かって順に並んだ、光源側に凹面を向けた接合負メニスカスレンズＬ１を有する第１レンズ群Ｇ１と、単体正レンズＬ２を有する第２レンズ群Ｇ２と、正レンズＬ３１と負レンズＬ３２とを有する第３レンズ群Ｇ３とから構成される。 - 特許庁

In this method, shape measurement for the lens under test which is to be turned about a rotating shaft R_2, performed as changing relative attitude of a microscope interferometer 1 is divided into two steps, such as a surface side measurement performed with the lens under test 9 supported from the rear face side; and a rear face side measurement performed with the lens under test 9 supported from the surface side.例文帳に追加

回転軸Ｒ_２回りに回転せしめられる被検レンズ９に対し、顕微干渉計１の相対姿勢を変えながら行う形状測定を、被検レンズ９が裏面側から支持された状態で行う表面部の測定と、被検レンズ９が表面側から支持された状態で行う裏面部の測定とに分けて行う。 - 特許庁

To provide a method for joining a probe to a detecting piezoelectric element in a scanning probe microscope that uses a piezoelectric element as the distance control means of the probe, without depending on changes in ambient condition, such as temperature, and the amount of an adhesive or a method of adhesion, so that stable vibration characteristic and detection characteristic can be obtained and so that the detecting piezoelectric element can be reused.例文帳に追加

プローブの距離制御手段として圧電体を利用する走査型プローブ顕微鏡において、温度などの環境変化や接着剤の量や接着方法によらず、安定した振動特性や検出特性が得られ、さらに検出用圧電素子の再利用が可能なようなプローブと検出用圧電体の接合方法を提供する。 - 特許庁

The confocal microscope provided with the acousto-optical element 2 is characterized in that an acoustic absorption material 4 is fitted on the light incident face, the light emitting face and all outer circumferential faces of the acousto-optical element 2 except the face on which a transducer 3 for giving vibration on the acousto-optical element 2 is fitted.例文帳に追加

音響光学素子２を備える共焦点顕微鏡において、音響光学素子２における光の入射面および出射面ならびに該音響光学素子２に振動を与えるトランスデューサ３が取り付けられている取付面以外の全ての外周面に吸音材４が取り付けられた共焦点顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide an afocal zoom lens for a microscope, which has an overall length reduced to simultaneously realize a high variable power ratio and improvement of aberration performance in all variable power areas and not only has an exit pupil less varied at a high power end from a low power end but also has the quantity of light like the quantity of peripheral light less reduced to improve systematizability as an optical system.例文帳に追加

全長を抑えて高変倍比化と変倍全域での収差性能を向上とを同時に満たすとともに、低倍端から高倍端での射出瞳の変動及び周辺光量などの光量低下を抑えて、光学系としてのシステム性を向上させることができる顕微鏡用アフォーカルズームレンズを提供する。 - 特許庁

This optical device slider is equipped with a slider 1 provided to slide on a slider receiver provided in the condenser of a microscope and having a diaphragm aperture part 6, an optical device aperture part 5 and plural filter aperture parts 7a and 7b, and the optical device 10 and plural filters 11 provided to be freely loaded and unloaded on/from the aperture parts 5 and 7a and 7b respectively.例文帳に追加

顕微鏡のコンデンサに設けたスライダー受にスライド可能に設けられ、絞り開口部６及び光学素子開口部５並びに複数のフィルター開口部７ａ，７ｂを有するスライダー１と、該光学素子開口部５並びに該フィルター開口部７ａ，７ｂに夫々挿入抜去自在に設けられた光学素子１０及び複数のフィルター１１を備えたもの。 - 特許庁

The measurement on the plurality of items is performed, in which the AMP (auto measurement parameter) registration is performed for the setting of the parameters regarding the preparation of a line profile from a SEM (scanning electron microscope) image, as the common condition to all measurement items, and in which the plurality of AMP registrations for the edge detection method and the distance measurement value calculation method are performed.例文帳に追加

本発明においては、ＳＥＭ画像からラインプロファイルを作成するときに関わるパラメータの設定を全測定項目において共通の条件としてＡＭＰ登録を行い、また、エッジ検出方法と測長値算出方法を複数のＡＭＰ登録を行うことによって、複数項目の測定を行うようにした。 - 特許庁

The microscope apparatus stage which makes the main stage exactly movable to the observation position by finely adjusting the knob provided at the stage base to move the main stage, and is inexpensive and suppresses the observation error is provided.例文帳に追加

本発明は、固定ステージであるステージベースと、ステージベース上面に設けられボールを介して移動可能な主ステージと、ステージベースに設けられ主ステージを移動させるつまみ部を配置し、対物レンズを切り換えた際につまみ部によりベルトの送り速度を微調整することで主ステージを的確に観察位置に移動可能で、安価で観察誤差を抑えた顕微鏡装置ステージを提供する。 - 特許庁

The invention involves providing cells containing fluorescent reporter molecules in an array of locations and scanning numerous cells in each location with a high magnification fluorescent microscope, converting the optical information into digital data, and utilizing the digital data to determine the distribution, environment or activity of the fluorescently labeled reporter molecules in the cells.例文帳に追加

蛍光レポーター分子を含有する細胞をある場所の配列で提供するステップ、高倍率蛍光光学系を用いて各場所において非常に多数の細胞をスキャンするステップ、光学情報をデジタルデータに変換するステップ、及び細胞内の蛍光標識レポーター分子の分布、環境又は活性を測定するためにそのデジタルデータを利用するステップを含む。 - 特許庁

In the inspection method of the nonmetal inclusion in steel, the surface of steel subjected to mirror surface polishing is observed using an optical microscope using a single wavelength laser beam source as an illumination light source and the nonmetal inclusion is discriminated on the basis of the brightness difference between steel and the nonmetal inclusion in the observed variable density image.例文帳に追加

本発明に係る鋼中非金属介在物検査方法は、照明光源として単波長レーザ光源を使用した光学顕微鏡を用いて鏡面研磨した鋼の表面を観察し、観察した濃淡画像における鋼と非金属介在物との輝度差に基づいて、非金属介在物を識別することを特徴とする。 - 特許庁

The scanning probe microscope is provided with a cantilever 21 having a probe 20 directed to a sample 12 and a measuring part for measuring the physical quantity generated between the probe and the sample while the probe scans a surface of the sample, regularly maintains the physical quantity in the measuring part, scans and measures the surface of the sample.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡は、試料１２に対して探針２０が向くように設けられたカンチレバー２１と、探針が試料の表面を走査するとき探針と試料の間で生じる物理量を測定する測定部を備え、測定部で物理量を一定に保ちながら探針で試料の表面を走査して試料の表面を測定する。 - 特許庁

The scanning probe microscope comprises the plurality of probes 104, displacement detecting means 107 of the same number as the probes, and a sequential feedback circuit 109 for amplifying and modulating displacement signals of the same number of the probes obtained by the displacement detecting means 107 and sequentially inputting them to a scanner 101(b) as feedback signals.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡において、複数のプローブ１０４と、プローブと同数の変位検出手段１０７と、変位検出手段１０７によって得られるプローブと同数の変位信号を増幅変調し、スキャナ１０１(b)に順番にフィードバック信号として入力する順次フィードバック回路１０９とを有することを特徴とする。 - 特許庁

To provide a retaining apparatus which retains an optical viewing device, for example, a microscope stably without any vibration and with (position) reproducibility, and specially improves a vibration state perpendicularly, increases the rigidity and strength of the whole structure by mechanical properties of the structure, and makes the structure as lightweight as possible on the whole.例文帳に追加

顕微鏡等の光学観察装置の安定的、無振動的、かつ（位置）再現性のある支持を可能にし、とりわけ、鉛直方向において、振動状態の改善、その構造の機械的性質による構造全体の剛性ないし強度の更なる増進、構造全体の重量の可及的軽量化も図ることが可能な支持装置を提供すること。 - 特許庁

In the cantilever-type near-field optical probe and its manufacturing method, and the microscope, recording/reproducing device, and fine- machining device using them, a surface plasmon polariton transmission line for guiding light from a light source to a small opening or guiding light from the light source being introduced from the small opening is provided at the cantilever.例文帳に追加

カンチレバー型近接場光プローブとその作製方法、及びこれらを用いた顕微鏡、記録再生装置、微細加工装置であって、該微小開口ヘ光源からの光を導波させ、または／及び該微小開口から導入された光源からの光を導波させるための表面プラズモンポラリトン伝送路が、前記カンチレバーに設けられようにする。 - 特許庁

The device comprises a sample chamber which enables atmosphere control, a sample holder 14 which introduces a volatile substance containing sample in the sample chamber, a scanning electron microscope for observing this sample held, a manipulator which samples the sample held in the sample holder 14, and a sample holder 15 for taking out the sample sampled to the outside of the sample chamber 2.例文帳に追加

雰囲気制御が可能な試料チャンバー２、試料チャンバー内に揮発性物質含有試料を導入する試料ホルダー１４、この保持された試料を観察するための走査電子顕微鏡、試料ホルダー１４に保持された試料をサンプリングするマニピュレータ、サンプリングされた試料を試料チャンバー２の外部に取り出すための試料ホルダー１５を具備する。 - 特許庁

The polishing jig for physical analysis 1 comprises at least an observing block 2 having a sample attaching surface 5a to which the sample 11 is attached and insertable to an in-lens type scanning electron microscope (SEM), a sample mount 3 having a stepped guide part 6 by which the observing block 2 is positioned, and a sample mount holder 4 to which the sample mount 3 is attached.例文帳に追加

試料１１が貼付される試料貼付面５ａを有し、インレンズ方式の走査型電子顕微鏡（ＳＥＭ）に挿入可能な観察用ブロック２と、観察用ブロック２が位置決めされる段差ガイド部６を有する試料マウント３と、試料マウント３が固定される試料マウントホルダ４とを少なくとも備える物理解析用研磨冶具１である。 - 特許庁

A polishing composition comprises water sol containing zirconium oxide particles having a specific surface area value of 10 to 400 m^2/g, a particle diameter in the range of 3 to 110 nm converted from it, and the mean value of a primary particle diameter by scanning electron microscope observation in the range of 5 to 150 nm; and is used for polishing a silicon oxide film in manufacturing semiconductor devices.例文帳に追加

１０〜４００ｍ^２／ｇの比表面積値とそれから換算される３〜１１０ｎｍの範囲の粒子径を有し、走査型電子顕微鏡観察による一次粒子径の平均値が５〜１５０ｎｍの範囲にある酸化ジルコニウム粒子を含有する水性ゾルを含み、半導体装置製造時の酸化珪素膜の研磨に使用される研磨用組成物。 - 特許庁

In this imaging device for a video microscope including a lens having a magnification varying mechanism, any of changing a correction amount of color tone in accordance with an object, changing an enhancement correction amount in accordance with the object, changing the correction amount of the color tone in accordance with the magnification of the lens, and changing the enhancement correction amount in accordance with the magnification of the lens is carried out.例文帳に追加

倍率可変機構を有するレンズを備えるビデオマイクロスコープ用撮像装置において、被写体に応じて、色調の補正量を変えること、被写体に応じて、エンハンス補正量を変えること、レンズの倍率に応じて、色調の補正量を変えること、レンズの倍率に応じて、エンハンスの補正量を変えることのいずれかをおこなう。 - 特許庁

The resin composition foam having foam cells whose average cell diameter measured with a scanning electron microscope (SEM) is 100-3,000 nm is obtained by melt-mixing and foaming a mixture comprising an olefinic rubber (A) containing a functional group, a compound (B) having a group reactive with the functional group contained in the olefinic rubber (A), and a thermoplastic resin (C).例文帳に追加

官能基を含有するオレフィン系ゴム（Ａ）、該オレフィン系ゴム（Ａ）に含まれる官能基と反応しうる基を有する化合物（Ｂ）、および熱可塑性樹脂（Ｃ）を含む混合物を、溶融混合および発泡することにより得られる、走査型電子顕微鏡（ＳＥＭ）で測定した平均セル径１００〜３０００ｎｍの発泡セルを有する樹脂組成物発泡体。 - 特許庁

The composition for polishing the semiconductor wafer preferably has a 40 to 300 mol ratio of silica/urea, an average short diameter of the aspherical heteromorphic silica particles having urea fixed through a transmission electron microscope is 7 to 30 nm, and a long diameter/short diameter ratio is 1.2 to 10, an average value of the long diameter/short diameter ratio being preferably 1.2 to 5.例文帳に追加

この半導体ウエハ研磨用組成物のシリカ／尿素のモル比は４０〜３００であることが好ましく、また、尿素が固定化された非球状の異形シリカ粒子の透過型電子顕微鏡観察による平均短径が７〜３０ｎｍであり、長径／短径比が１．２〜１０であり、かつ長径／短径比の平均値が１．２〜５であることが好ましい。 - 特許庁

The scanning electron microscope includes: a pattern existence determining part 1012 that determines the existence of a pattern with respect to an individual frame image and sub-frame image constituting a synthesis image for inspection/length-measurement; a magnification correction part 1014; a distortion correction part 1018; an image synthesis part 1015; and a storage unit 1111 that compresses and stores those images therein in a video form.例文帳に追加

走査電子顕微鏡において、パターンの検査・測長のための合成画像を構成する個々のフレーム画像やサブフレーム画像に対してパターンの有無を判定するパターン有無判定部１０１２や倍率補正部１０１４、歪曲補正部１０１８、画像合成部１０１５及びそれら画像を動画形式で圧縮保存する記憶部１１１１を備える。 - 特許庁