「Microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方(177ページ目) - Weblio英語例文検索

Average size and/or maximum size of minute thrombi larger than the diameter (7 μm) of capillary vessel, and variation of the number of minute thrombi are measured with an optical method and/or electrical method of a combination of a microscope and a flow-cytometer, using blood plasma obtained from blood of two hours or longer after eating.例文帳に追加

食後２時間以上を経過した血液から得られた血漿を検体として、毛細血管の直径（７μｍ）より大きな微小血栓の平均大きさ，および／または最大大きさ、微小血栓の数の変化を顕微鏡とフローサイトメーターとを組み合わせた光学手法および／または電気学的手法によりリアルタイムで測定する。 - 特許庁

For this microscope, fluorescent light is condensed from the upper and the lower parts of a stage on which a sample is placed, converted into an electric signal by two optical sensors (photomultiplier, etc.), 120 and 170 provided above and below, and the electric signals from the two above and below optical sensors are added by a device 180 for laser scanning control and image processing.例文帳に追加

本発明の二方向蛍光測光多光子励起レーザ顕微鏡は、試料を乗せるステージの上下から蛍光を集光して、上下に設けた２つの光センサ（光電子倍増管等）１２０および１７０により電気信号に変換し、レーザ走査制御・画像処理装置１８０により上下２つの光センサからの電気信号を加算している。 - 特許庁

To cancel a shift between a displacement amount of a cantilever generated in two-dimensional scan and a positional displacement amount of a spot of a laser beam, in a scanning type probe microscope using a probe scanning system arranged with a laser beam source between an XY piezo scanner for conducting the two dimensional scanning and a Z piezo scanner for conducting height-directional control to conduct the scanning.例文帳に追加

２次元的な走査を行うＸＹピエゾスキャナと高さ方向の制御を行うためのＺピエゾスキャナとの間にレーザ光源を配置して走査するプローブ走査方式を用いた走査型プローブ顕微鏡において、２次元走査時に生じるカンチレバーの変位量と、レーザ光のスポットの位置の変位量のズレをキャンセルする。 - 特許庁

The preparation holding hand 5 can be moved and positioned by three driving sources which are independent in forward and backward, horizontal and vertical directions of a substrate 3, and many preparations stored in the prepared slide storage magazine 4 are successively supplied to the microscope and exchanged for another, then, the operation of inspecting/imaging the sample can be continuously and efficiently performed.例文帳に追加

プレパラート保持ハンド５は、基台３の前後方向、左右方向、及び、上下方向に独立した３つの駆動源で移動位置決め可能になっていて、プレパラート収納マガジン４内に収納された多数のプレパラートを順次顕微鏡に供給・交換して、試料の検査・撮像作業を連続して効率良く行うことができる。 - 特許庁

To seal and preserve a thin slice formed from an embedding sample using an adhesive plastic film as a thin slice support material as a permanent specimen capable of being observed by an optical microscope in the state bonded to the adhesive plastic film after subjected to dyeing, dehydrating or permeating operation in the state that the thin slice is bonded to the adhesive plastic film.例文帳に追加

粘着性プラスチックフィルムを薄切片の支持材として用いて、包埋試料から作製した薄切片を、粘着性プラスチックフィルムに貼り付けた状態で、染色、脱水、透徹等の操作を行った後、粘着性プラスチックフィルムに貼り付けた状態で、光学顕微鏡で観察できる永久標本として封入保存する。 - 特許庁

In transferring a sample held in the sample holder in the transmission electron microscope, its transmission image is obtained with the sample held by the sample holder, a statistical treatment is performed on the obtained sample and the transmission image of a grid of the sample holder, and a velocity of the sample transfer is controlled based on the statistical treatment.例文帳に追加

透過電子顕微鏡において、試料ホルダに保持された試料を移動する場合において、試料が試料ホルダに保持された状態でその透過像を獲得し、獲得した試料と試料ホルダのグリッドの透過像に対して統計的処理を行ない、該統計的処理に基づいて試料移動の速度を制御するように構成する。 - 特許庁

To provide a high precision angle measuring device for planes of several tens of micrometer (corresponding to a domain of micro Vickers test) by measuring angles of minute plane of samples using optical system installing two beam splitters in the middle of an ocular lens and an objective lens of an optical microscope.例文帳に追加

本発明は、試料の微小平面の角度を光学顕微鏡の接眼レンズ及び対物レンズの中間に２個のビームスプリッタを設置した光学系を用いて測定することにより、数十μm程度 (マイクロビッカース試験の領域に対応) の測定面に対し、高い精度で角度測定が行える装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

An inspection method of an optical semiconductor element includes steps of: driving an optical semiconductor element 2 which is an inspected target with a current smaller than a threshold current of the optical semiconductor element 2 to generate incoherent light; acquiring a light emitting image by observing the light with an emission microscope 10; and analyzing a defective state from the light emitting image.例文帳に追加

光半導体素子の検査方法は、検査対象である光半導体素子２を該光半導体素子２のしきい値電流より低い電流で駆動して、インコヒーレントな光を発生させる工程と、前記光をエミッション顕微鏡１０で観察することにより発光像を得る工程と、前記発光像から不良状態を解析する工程と、を含む。 - 特許庁

In the formation of the transmission electron microscope observation sample for a magnetic material by means of a convergent ion beam machining method, machining is carried out so that a width w1 of the thin piece machined part for observation and a sample thickness t in the part adjacent to the machined part satisfy the relation t<3×w1.例文帳に追加

磁性材料の透過電子顕微鏡観察用試料を集束イオンビーム加工法で作製するにあたり、観察をおこなう薄片加工部の幅ｗ_1 とそれに隣接した部分の試料厚みｔとの間に、ｔ＜３×ｗ_1 なる関係が成り立つように加工することを特徴とする磁性材料の透過電子顕微鏡観察用試料作製方法。 - 特許庁

An electronic optical system provided to radiate charged particle beam on a testpiece, a deflecting system to scan the charged particle beam for image formation and a detecting system to detect secondary electrons produced in the testpiece when the charged particle is radiated on the testpiece from the electronic optical system are provided in a scanning electronic microscope main body 110.例文帳に追加

走査電子顕微鏡本体１１０は、試料上に荷電粒子線を照射するために設けた電子光学系と、画像作成のために上記荷電粒子線を走査する偏向系と、上記電子光学系から上記試料に荷電粒子を照射した際に試料から発生する二次電子やその他の信号を検出する検出系とを備える。 - 特許庁

In the inspection apparatus using an electron microscope which senses the defects present on the pattern of a sample based on the sensed signal of secondary charged particles generated by a scanning electron beam, there is provided such a function that the informations obtained by its ADC function are so fed back to its inspection function in the form of an inspection/non-inspection region as to improve its inspection and ADC performances.例文帳に追加

電子線を走査して発生する二次荷電粒子の検出信号に基づいて試料のパターン上の欠陥を検出する電子顕微鏡を用いた検査装置において、ＡＤＣ機能で得られた情報を検査／非検査領域という形で検査機能にフィードバックさせ、検査性能、ＡＤＣ性能の向上を図る機能を備える。 - 特許庁

The method applied to the scanning probe microscope comprises a probe section, having the probe 20 facing the sample 12; a detection section for detecting physical quantities between the sample and the probe; a measuring section for measuring surface information of the sample, based on the physical quantity, when the probe scans the surface of the sample; and a moving mechanism that has at least two degrees of freedom.例文帳に追加

この探針制御方法は、試料１２に対向する探針２０を有する探針部、試料と探針の間の物理量を検出する検出部、探針が試料の表面を走査するとき物理量に基づき試料の表面情報を測定する測定部、少なくとも２自由度を有する移動機構を備え走査型プローブ顕微鏡に適用される。 - 特許庁

The adhesive layer of the adhesive sheet (A) for collecting microorganisms is pressed to a test specimen to collect the microorganism and then, the culture medium layer of the culture medium sheet (B) is laminated to the adhesive surface in which microorganisms of the adhesive layer are collected and the microorganisms are cultured and the microorganisms proliferated through such culture are observed by a microscope to detect the microorganisms.例文帳に追加

上記（Ａ）の微生物捕集用粘着シートの粘着層を被験体に圧着して微生物を捕集し、次いで、粘着層の微生物を捕集した粘着面に上記（Ｂ）の培地シートの培地層を積重して、微生物を培養し、次いで、かかる培養を経て増殖した微生物を例えば顕微鏡観察することで、微生物の検出を行う。 - 特許庁

This ophthalmic surgical microscope includes: an observation optical system for observing a patient's eye during surgery; a corneal shape measuring means for measuring the corneal shape of the patient's eye placed in a surgical position; and a guide means for outputting guide information for guiding the intraocular lens surgery based on a measured result obtained by the corneal shape measuring means.例文帳に追加

手術時における患者眼を観察するための観察光学系と、手術位置に配置された患者眼の角膜形状を測定する角膜形状測定手段と、角膜形状測定手段によって得られた測定結果に基づいて眼内レンズ手術をガイドするためのガイド情報を出力するガイド手段と、を備える。 - 特許庁

The microscope is provided with the objective lens 8 for condensing a luminous flux of linearly polarized light from illuminating optical systems 1 to 6 and projecting the luminous flux to a sample, and also, transmitting the luminous flux reflected by the sample, and a compensation optical system 104 for compensating the rotation of the luminous flux of the linearly polarized light in the polarizing direction caused by the objective lens 8.例文帳に追加

照明光学系１〜６からの直線偏光の光束を集光して標本に照射するとともに、標本により反射された光束を通過させる対物レンズ８と、対物レンズ８により光束に生じる直線偏光の偏光方向の回転を補償するための補償光学系１０４とを有する。 - 特許庁

In the probe 10 for the magnetic force microscope having a magnetic region at its pointed end part 12 and detecting the magnetic force caused by allowing the magnetic region to approach the surface of a sample, the magnetic region of the pointed end part 12 of the probe 10 is formed of a dia-ferromagnetic single crystal to micronize the self-magnetic field leaked from the magnetic region.例文帳に追加

尖端部１２に磁性体領域を有し、この磁性体領域を試料表面に接近させることにより生じる磁気力を検出する磁気力顕微鏡用プローブ１０であって、プローブ尖端部１２の磁性体領域が反強磁性単結晶で形成されるようにして、磁性体領域から漏れ出る自己磁場を微小にする。 - 特許庁

This surface coated member 5 is furnished with a hard coating layer 4 having a part with at least an under layer 1, a connecting part 3 and an upper layer 2 sequentially and continuously laminated on a surface of a base body, and a tripe type contrast 3a can be observed on the connecting part 3 in a transmission electron microscope photograph for a cross-section of the hard coating layer 4.例文帳に追加

基体の表面に、少なくとも下部層１と、結合部３と、上部層２とを順次続けて積層した部分を有する硬質被覆層４を具備し、硬質被覆層４の断面についての透過型電子顕微鏡写真において、結合部３にストライプ状のコントラスト３ａが観察される表面被覆部材５である。 - 特許庁

While astronomy, with its telescope, ranges beyond the known stars, and physiology, with its microscope, is subdividing infinite minutiae, we may expect that our historic centuries may be treated as inadequate counters in the history of the planet on which we are placed. 例文帳に追加

天文学は望遠鏡を使ってそれまで知られていた星々をこえて範囲を拡げ、生理学は顕微鏡を使って限りなく細かいところまで細 分してきたのですが、その一方で、私たちの有史以来の数世紀は私たちが住んでいるこの惑星の歴史の中では不相応な反抗的行為だとみなされると思っているのかもしれません。 - Thomas H. Huxley『ダーウィン仮説』

In the scanning probe microscope, the tube scanner is the above-mentioned tube scanner.例文帳に追加

また、試料と、前記試料に対向する探針と、前記試料と前記探針を相対的に２次元走査すると共に、試料と探針との間の距離を変化させるチューブスキャナと、を備え、前記探針と前記試料との間に作用する物理量により検出される信号に基づいて像を表示する走査形プローブ顕微鏡において、チューブスキャナが前記チューブスキャナであることを特徴とする走査形プローブ顕微鏡。 - 特許庁

A micro-marking system includes: a microcapsule particle 1 encapsulating a solvent containing fine particles for marking; a hollow glass probe 2 storing the microcapsule particles; a drive mechanism 6 for extruding the microcapsule particles on the marking object sample 5 through the inside of the probe; and a manipulating mechanism for depositing the extruded particles on a targeted place of the marking object sample under an optical microscope 3.例文帳に追加

マーキング用の微粒子を含む溶媒を封入したマイクロカプセル粒子１と、このマイクロカプセル粒子を収納した中空ガラスプローブ２と、このプローブ内を通してマイクロカプセル粒子をマーキング対象試料５の上に押し出す駆動機構６と、押し出した粒子を光学顕微鏡３下で、マーキング対象試料の目的箇所に付着させるマニピュレート機構と、を備える。 - 特許庁

The lens barrel 10 for an optical observing device having a linearly variable visual field height in length and/or height, especially for the microscope, includes an optical path in which at least two optical elements 23, 24 are disposed, wherein at least the two optical elements 23, 24 are disposed to be movable independently of each other in the optical path.例文帳に追加

長さおよび／または高さで線状に可変の視野高を有する光学観察装置、特に顕微鏡のための鏡胴（１０）であって、前記鏡胴（１０）が、少なくとも２つの光学要素（２３、２４）が配設された光学光路を有する鏡胴において、 少なくとも２つの光学要素（２３、２４）が互いに独立して可動式に光学光路内に配設されている鏡胴である。 - 特許庁

This raster microscope has a light source to illuminate an object under test, a detection beam path and a detector disposed in the beam path to detect the light emitted from the object, and is also provided with a light injector which can lead the light other than the emitted light into the above beam path and supply it to the detector.例文帳に追加

被検対象を照明するための光源と、検出ビーム路と、該検出ビーム路に配されると共に被検試料から射出する検出光を検出するための検出器とを有するラスタ顕微鏡において、検出光以外の光を、前記検出ビーム路に差込入射可能としかつ前記検出器に供給可能とする差込入射装置を有することを特徴とする。 - 特許庁

To provide a liquid medium for sample observation by an electron microscope and a sample observation method using the liquid medium, capable of preventing charge of a sample observation surface by a simple means, suppressing deformation caused by contraction or the like even after being dried, in a biosample or the like, and restraining an original image of the sample from being obstructed by partial remaining of ion liquid on a contraction impression.例文帳に追加

試料観察面の帯電を簡易な手段で防止でき、生体試料等において、乾燥後も収縮等の変形を抑制でき、さらに収縮痕へのイオン液体の部分的な残留により試料本来の像が妨げられることを抑制できる電子顕微鏡による試料観察用の液状媒体とそれを用いた試料観察方法を提供する。 - 特許庁

In the device for generating a laser light beam such as an illumination light beam preferably for a confocal scanning microscope, including at least one laser light source (2), the laser light source (2) constitutes a module (1) having a mechanical and/or electrical and/or optical interface which is regulated to the outside individually or by grouping.例文帳に追加

少なくとも１つのレーザ光源（２）を含んで構成される、好ましくは共焦点式の走査顕微鏡のための照明光ビーム等のレーザ光ビームを生成するための装置において、前記レーザ光源（２）は、個別に又はグループ化されて、外部に対して規定される機械的及び／又は電気的及び／又は光学的インターフェースを有するモジュール（１）を構成することを特徴とする。 - 特許庁

The measuring microscope A is configured by installing a specimen imaging camera 2 with an optical system lens 5 mounted thereon in order to image a specimen B placed on a stage 1, and a periphery imaging camera 4 which captures an image including the periphery of the specimen B, and outputs an image captured by the specimen imaging camera 2 in an image captured by the periphery imaging camera 4.例文帳に追加

本発明は、ステージ１上に載置された被検物Ｂを撮影するために光学系レンズ５を装着した被検物撮影カメラ２と、前記被検物Ｂ周辺を含んで撮影する周辺撮影カメラ４とを設置し、前記周辺撮影カメラ４で撮影した映像内に前記被検物撮影カメラ２で撮影した映像を出力した測定顕微鏡Ａである。 - 特許庁

A device comprises an observation mechanism 13 that enables observation of a biological specimen 12 made by the steps of slicing a tissue, immersing it in a fixing fluid, and embedding it in a resin plate, with an optical microscope 21 for defining a selected area, and cutting out mechanism 15 that enables forming of the biological specimen by depressing a knife 36 for cutting out the selected area from the biological specimen 12.例文帳に追加

組織を薄切りして固定液に浸漬し、樹脂材料で平板状に包埋して製作された生体試料１２を、選択対象エリアの特定のため、光学顕微鏡２１により観察可能に構成された観察機構１３と、生体試料１２から選択対象エリアをナイフ３６で押し切りして生体標本を成形可能に構成された切出機構１５とを備えた。 - 特許庁

When the surface of the metal film 30 is observed using a field emission type scanning electron microscope at an acceleration voltage of 3 kV or lower, small particles having a particle size of 3 μm or smaller, intermediate particles having a particle size of 5-20 μm formed by aggregating the small particles, and large particles having a particle size of 30 μm or larger formed by aggregating the intermediate particles are observed.例文帳に追加

また、金属被膜３０の表面を、電界放射型走査電子顕微鏡を用いて加速電圧３ｋＶ以下で観察した際に、粒径３μｍ以下の小粒子と、この小粒子が凝集して形成された粒径５μｍ以上２０μｍ以下の中粒子と、この中粒子が凝集して形成された粒径３０μｍ以上の大粒子と、が観察されることを特徴とする。 - 特許庁

A lower jaw is extirpated from a mouse, a grinder and an incisor are pulled out under a stereoscopic microscope, alveolar bones with uniform size are gathered, an LPS or a TLR2 ligand is added to an organ culture system of the alveolar bones, the culture system is cultured for 6 days under existence or non-existence of a subject substance, bone absorbing activity is determined by quantitative analysis of calcium concentration in a culture supernatant after culturing.例文帳に追加

マウスより下顎を摘出し、実体顕微鏡下において臼歯及び切歯を抜歯し、大きさを揃えた歯槽骨を採取し、歯槽骨の器官培養系に、ＬＰＳ又はＴＬＲ２リガンドを添加して、被検物質の存在下又は非存在下に６日間培養し、培養後、培養上清中のカルシウム濃度の定量により骨吸収活性を測定する。 - 特許庁

An SEM control means 41 of a scanning electron microscope device body 10 is set at a maintenance mode via a computer 50 processing an operation function about an observation operation processed with a normal SEM control means 41, or an output function about an observation operation via a data telecommunication line 80 from a maintenance computer 60 of a development base, a service center or the like of the manufacturer.例文帳に追加

メーカの開発拠点・サービスセンタのメンテナンスコンピュータ６０から、データ通信回線８０を介して、通常のＳＥＭ制御手段４１との間で実行する観察作業に関わる操作機能や観察作業に関わる出力機能を実行するコンピュータ５０を経由して、走査電子顕微鏡装置本体１０のＳＥＭ制御手段４１をメンテナンスモードに設定する。 - 特許庁

To provide an apparatus to generate the harmonics of the irradiated laser beam from a fine area by irradiating the laser beam on the fine area of the nanometer order of a non-linear optical substance layer, a scan probe microscope to analyze the molecular orientation structure with the resolution of the nanometer order using this harmonic generator, and a display device of extremely high screen quality by the pixels of the nanometer order.例文帳に追加

非線型光学物質層のｎｍオーダーの微細領域にレーザー光を照射し、該微細領域から該照射レーザー光の高調波を発生させる装置、更にこの高調波発生装置を用いてｎｍオーダーの分解能で分子配向構造を分析できる走査プローブ顕微鏡およびｎｍオーダーの画素による極めて高画質の表示装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method for quantitatively measuring the surface potential distribution of a solid, especially a semiconductor with high space dissolving capacity using a scanning type tunnel microscope by solving the conventional technical problem that the distance between a probe and the surface of a sample and the thickness of the depleted layer of the surface of the sample are unclear and the measurement in the depleted layer region is difficult, and an apparatus therefor.例文帳に追加

探針／試料表面距離が不明、試料表面の空乏層 厚が不明、空乏層領域での計測が困難、という従来技術の問題点を解決し、固体表面、特に半導体表面の表面電位分布を、走査型トンネル顕微鏡を用いて高い空間分解能で定量的に計測する方法とそのための装置を提供する。 - 特許庁

In the case of measuring the surface area of the cured product subjected to desmear processing in a measuring region having a size of 100 μm×100 μm by using an atomic force microscope when the cured product subjected to the desmear processing by using the thermosetting film is obtained, the surface area of the cured product subjected to the desmear processing in the measuring region is 20000 μm^2 or larger.例文帳に追加

上記熱硬化性フィルムを用いたデスミア処理された硬化物を得たときに、原子間力顕微鏡を用いて、１００μｍ×１００μｍの大きさの測定領域における上記デスミア処理された硬化物の表面積を測定した場合に、測定領域における上記デスミア処理された硬化物の表面積が２００００μｍ^２以上である。 - 特許庁

The system comprises an optical tweezers unit 2 which holds a particle 20, a lens 10 and an actuator 16 which move the particle 20 toward the object 35, a tetrameric photodetector 15 which measures a force acting on the object 35 from the particle 20, and a confocal unit 3 and a microscope unit 4 which enlarge the object 35 to observe.例文帳に追加

微粒子２０を保持する光ピンセットユニット２と、微粒子２０を測定対象物の方へ移動させるレンズ１０およびアクチュエーター１６と、微粒子２０から測定対象物３５に作用する力を計測する４分割光検出器１５と、測定対象物３５を拡大して見ることが可能な共焦点ユニット３および顕微鏡ユニット４とを備えている。 - 特許庁

(b) an average primary particle size of the silica particles measured by a nitrogen adsorption method is 5-100 nm and a coefficient of variation CV value of a particle size of the silica particles measured by an image analysis of a photograph obtained by using a transmission electron microscope is 0-15%; and (c) the polyethylene glycol has a number-average molecular weight of 200-15,000.例文帳に追加

（ａ）：前記シリカ粒子の形状係数ＳＦ１が１．００〜１．２０であること（ｂ）：前記シリカ粒子の窒素吸着法により求められる平均一次粒子径が５〜１００ｎｍであって、且つ透過型電子顕微鏡写真の画像解析から求められる粒子径変動係数ＣＶ値が０〜１５％であること（ｃ）：前記ポリエチレングリコールは、数平均分子量が２００〜１５０００であること - 特許庁

The scanning laser microscope 100 is equipped with a stage 101 on which a specimen 105 is placed, a first scanning optical system A for scanning the specimen 105 placed on the stage 101 with a first light beam, a second scanning optical system B for scanning the specimen 105 placed on the stage 101 with a second light beam, and a detecting optical system C for obtaining the confocal scanning image.例文帳に追加

走査型レーザー顕微鏡１００は、標本１０５が載置されるステージ１０１と、ステージ１０１に載置された標本１０５に対して第一光ビームを走査する第一走査光学系Ａと、ステージ１０１に載置された標本１０５に対して第二光ビームを走査する第二走査光学系Ｂと、共焦点走査画像を得るための検出光学系Ｃを備えている。 - 特許庁

The thermoplastic resin composition is obtained by compounding 15-50 wt.% polyamide resin (a) and 50-85 wt.% polylactic acid resin (b), and forming a phase structure, wherein, in resin phase separation structure observed by an electron microscope, the polyamide resin (a) forms a continuous phase and the polylactic acid resin (b) forms a continuous phase or a dispersed phase.例文帳に追加

ポリアミド樹脂（ａ）１５〜５０重量％およびポリ乳酸樹脂（ｂ）５０〜８５重量％を配合してなる熱可塑性樹脂組成物であり、かつ電子顕微鏡で観察される樹脂相分離構造においてポリアミド樹脂（ａ）が連続相、ポリ乳酸樹脂（ｂ）が分散相または連続相となる相構造を形成することを特徴とする熱可塑性樹脂組成物。 - 特許庁

The scanning probe microscope 100 comprises a cantilever 110 for examining a sample, mechanism 120 for scanning the cantilever 110, light source section 140 emitting a light beam, mirror 170 for directing a light beam from the light source 140 toward the cantilever 110, and section 160 for detecting a light beam reflected on the cantilever 110.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡１００は、試料を調べるためのカンチレバー１１０と、カンチレバー１１０を走査するための走査機構１２０と、光ビームを射出する光源部１４０と、光源部１４０からの光ビームをカンチレバー１１０に方向付ける方向付けミラー１７０と、カンチレバー１１０で反射された光ビームを検出するための光検出部１６０とを備えている。 - 特許庁

The testing method of semiconductor device comprises a steps of forming an electrode 10 on the main surface of a semiconductor test sample, cutting out a semiconductor test sample, exposing the cross-section of the semiconductor test sample, and obtaining carrier distribution within the cross-section by scanning the cross-section with a probe 14 of the scanning probe microscope while the predetermined potential is applied to the electrode 10.例文帳に追加

半導体試料の主面上に電極１０を形成する工程と、半導体試料を切断し、該半導体試料の断面を露出させる工程と、前記電極１０に所定電位を与えながら、走査型プローブ顕微鏡のプローブ１４で上記断面を走査することにより、該断面内におけるキャリア分布を得ることを特徴とする半導体装置の検査方法。 - 特許庁

This microscope has coefficient determining means (5) for determining a coefficient according to the arithmetic value of either one of the luminance value or contrast value of the optical information, detected by optical information detecting means (10) and setting means (6) for multiplying the signal from operation means (4) by the coefficient determined by the coefficient determining means and setting the result thereof in a driving means (7).例文帳に追加

光学情報検出手段（１０）により検出された光学情報の輝度値またはコントラスト値の内いずれか１の演算値に基づいて係数を決定する係数決定手段（５）と、操作手段（４）からの信号に係数決定手段により決定された係数を乗じてその結果を駆動手段（７）に設定する設定手段（６）とを備えた顕微鏡装置である。 - 特許庁

The microscope objective lens comprises, in order from an object side: a first lens group having positive refractive power as a whole; and a second lens group comprising, in order from the object side, a first gauss lens group, a lens group having positive refractive power and a second gauss lens group.例文帳に追加

物体側より順に、全体として正屈折力の第１レンズ群と、物体側より順に第１のガウスレンズ群と正屈折力のレンズ群と第２のガウスレンズ群とからなる第２レンズ群と、からなる顕微鏡対物レンズであって、 前記対物レンズの物体面からレンズ最終面までの距離をＤ、前記対物レンズ全体の焦点距離をＦとするとき、以下の条件式を満たす顕微鏡対物レンズ。 - 特許庁

To provide a near-field light detection method and a device therefor having excellent spatial resolution and detection sensitivity of a near field, measuring a space distribution of near-field light by examining an electric potential distribution of surface plasmon excited by the near-field light by a Kelvin force microscope having spatial resolution of an atom to a nanometer order.例文帳に追加

本発明は、原子〜ナノメートルの空間分解能を持つケルビンフォース顕微鏡により、このこの近接場光により励起される表面プラズモンの電位分布を調べることにより、近接場光の空間分布を計測するものであり、空間分解能と近接場の検出感度に優れる近接場光検出方法およびその装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

An optical magnification device for varying the distance between an observer's eye (1) and an object (7), e.g. for a binocular magnifier or a microscope, in which focusing onto the object (7) is accomplished by means of progressive and/or multifocal lenses (3) displaceable perpendicular to the observation beam(s) 2.例文帳に追加

観察者の眼と被検試料との間の距離調節装置と、少なくとも２つの光学レンズとを有するとりわけ顕微鏡又は望遠眼鏡等の光学拡大装置において、光学レンズの少なくとも一方は、前記被検試料（７）上で合焦するよう、観察光ビームの光軸（２）に対し横断方向に摺動可能な多焦点レンズ及び／又はプログレッシブレンズ（３）として構成する。 - 特許庁

This confocal laser scanning microscope having at least one detector 4 to detect detecting light 3 coming from at least one laser beam source 1 for irradiating a sample 2 is provided with additional light source 5 and 8 which are not single mode (TEM00) laser beam sources in order to extend the use of the CLSM while using the light source which is inexpensively acquired and operated.例文帳に追加

試料（２）を照射するための少なくとも１つのレーザ光源（１）および試料からくる検出光（３）を検出するための少なくとも１つの検出器（４）を有する共焦点レーザ走査顕微鏡は、獲得および運転が低コストである光源の使用に関して、ＣＬＳＭ用途を拡張するために、単一モード（ＴＥＭ００）レーザ光源ではない追加光源（５，８）が設けられる。 - 特許庁

Thymine is fixed on a conductive surface of a substrate, a bias voltage applied between a probe and the substrate is varied with a distance between the probe of the scanning probe microscope and thymine fixed, a tunneling current flowing between the probe and thymine is measured, to find an inflection bias voltage wherein a variation rate of the tunneling current logarithmically transformed with respect to the bias voltage varies.例文帳に追加

表面が導電性をもつ基板表面にチミンを固定し、走査型プローブ顕微鏡のプローブとチミン間の距離を固定した状態でプローブと基板間に加えるバイアス電圧を変化させてプローブとチミンとの間に流れるトンネル電流を測定し、バイアス電圧に対する対数変換されたトンネル電流の変化率が変化する変曲バイアス電圧を求める。 - 特許庁

The scanning electron microscope includes at least two memories for temporarily storing image data; a control part for starting to transfer first image data stored in the first memory out of the two memories, to the external device and setting imaging conditions for the second image data; and a memory selecting part for temporarily storing the second image data imaged under the set imaging conditions, into the second memory.例文帳に追加

画像データを一時格納する少なくとも２個のメモリと、該メモリのうちの第一のメモリへ格納された第一の画像データの外部装置への転送の開始とともに、次の第二の画像データの撮像条件設定を行う制御部と、該設定された撮像条件で撮像された第二の画像データを第二のメモリへ一時格納させるメモリ選択部とを備える。 - 特許庁