「Microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方(177ページ目) - Weblio英語例文検索

In the experiments and analyses, a computer 2 controls laser beam irradiation from a laser system 4 to make photobleaching on a partial area of a specimen in observation sample 108, while controlling a confocal laser scan type microscope body 1, to observe time variation in recovery of fluorescence on the area, where photobleaching in the specimen at this time has been carried out.例文帳に追加

コンピュータ２は、レーザ装置４によるレーザ光の照射の制御を行って観察試料１０８における標本の部分領域にフォトブリーチを施す一方で、共焦点レーザ走査型顕微鏡本体１を制御してそのときの当該標本における当該フォトブリーチが施された領域の蛍光の回復の時間変化を観測する。 - 特許庁

In the formation of lead electrodes 4 electrically divided by a very small track width by EB drawing and etching in both sides of the GMR element, the end point detection land 6 of a substrate AlTiC substrate 1 is installed in a part other than the GMR, and the end point of etching is detected by using an optical microscope to check the exposure of the substrate AlTiC substrate 1.例文帳に追加

ＧＭＲ素子両側にＥＢ描画とエッチングにて微細なトラック幅寸法で電気的分割されたリード電極４を形成する際に、ＧＭＲ以外の部分に下地ＡｌＴｉＣ基板１の終点検出ランド６を設け、光学顕微鏡にて下地ＡｌＴｉＣ基板１の露出を確認することでエッチングの終点を検出する。 - 特許庁

This manufacturing method of a sample for a transmission type electron microscope includes a process for forming a protective film of an amorphous structure to the observation cross section of the specific place of a semiconductor device, a process for removing the periphery of the observation cross section to which the protective film is formed and a process for forming the region containing the protective film into a thin film state.例文帳に追加

透過型電子顕微鏡用の試料の作製方法において、半導体デバイスの特定箇所の観察断面に非晶質構造の保護膜を形成する工程と；前記保護膜が形成された観察断面の周囲を除去する工程と；少なくとも前記保護膜を含む領域を薄膜化する工程とを含むことを特徴とする。 - 特許庁

The identification information recording particles are fine particles obtained by coating base members 1 molded by using a semiconductor manufacturing technology to visually display identification information thereon and ID characters 2 attached to surfaces of the members 1 with a coating material 3 so that the information displayed by the characters 2 can be recognized only via a microscope or the like.例文帳に追加

識別情報記録粒子は、半導体製造技術を用いて成形されたベース部材１の表面に識別情報を視覚的に表すＩＤ文字２を付し、これらベース部材１及びＩＤ文字２をコーティング材３で被覆した微粒子であって、ＩＤ文字２によって表された識別情報は、顕微鏡等を介してのみ認識可能とされる。 - 特許庁

For this microscope, fluorescent light is condensed from the upper and the lower parts of a stage on which a sample is placed, converted into an electric signal by two optical sensors (photomultiplier, etc.), 120 and 170 provided above and below, and the electric signals from the two above and below optical sensors are added by a device 180 for laser scanning control and image processing.例文帳に追加

本発明の二方向蛍光測光多光子励起レーザ顕微鏡は、試料を乗せるステージの上下から蛍光を集光して、上下に設けた２つの光センサ（光電子倍増管等）１２０および１７０により電気信号に変換し、レーザ走査制御・画像処理装置１８０により上下２つの光センサからの電気信号を加算している。 - 特許庁

To cancel a shift between a displacement amount of a cantilever generated in two-dimensional scan and a positional displacement amount of a spot of a laser beam, in a scanning type probe microscope using a probe scanning system arranged with a laser beam source between an XY piezo scanner for conducting the two dimensional scanning and a Z piezo scanner for conducting height-directional control to conduct the scanning.例文帳に追加

２次元的な走査を行うＸＹピエゾスキャナと高さ方向の制御を行うためのＺピエゾスキャナとの間にレーザ光源を配置して走査するプローブ走査方式を用いた走査型プローブ顕微鏡において、２次元走査時に生じるカンチレバーの変位量と、レーザ光のスポットの位置の変位量のズレをキャンセルする。 - 特許庁

The preparation holding hand 5 can be moved and positioned by three driving sources which are independent in forward and backward, horizontal and vertical directions of a substrate 3, and many preparations stored in the prepared slide storage magazine 4 are successively supplied to the microscope and exchanged for another, then, the operation of inspecting/imaging the sample can be continuously and efficiently performed.例文帳に追加

プレパラート保持ハンド５は、基台３の前後方向、左右方向、及び、上下方向に独立した３つの駆動源で移動位置決め可能になっていて、プレパラート収納マガジン４内に収納された多数のプレパラートを順次顕微鏡に供給・交換して、試料の検査・撮像作業を連続して効率良く行うことができる。 - 特許庁

To seal and preserve a thin slice formed from an embedding sample using an adhesive plastic film as a thin slice support material as a permanent specimen capable of being observed by an optical microscope in the state bonded to the adhesive plastic film after subjected to dyeing, dehydrating or permeating operation in the state that the thin slice is bonded to the adhesive plastic film.例文帳に追加

粘着性プラスチックフィルムを薄切片の支持材として用いて、包埋試料から作製した薄切片を、粘着性プラスチックフィルムに貼り付けた状態で、染色、脱水、透徹等の操作を行った後、粘着性プラスチックフィルムに貼り付けた状態で、光学顕微鏡で観察できる永久標本として封入保存する。 - 特許庁

In transferring a sample held in the sample holder in the transmission electron microscope, its transmission image is obtained with the sample held by the sample holder, a statistical treatment is performed on the obtained sample and the transmission image of a grid of the sample holder, and a velocity of the sample transfer is controlled based on the statistical treatment.例文帳に追加

透過電子顕微鏡において、試料ホルダに保持された試料を移動する場合において、試料が試料ホルダに保持された状態でその透過像を獲得し、獲得した試料と試料ホルダのグリッドの透過像に対して統計的処理を行ない、該統計的処理に基づいて試料移動の速度を制御するように構成する。 - 特許庁

To provide a high precision angle measuring device for planes of several tens of micrometer (corresponding to a domain of micro Vickers test) by measuring angles of minute plane of samples using optical system installing two beam splitters in the middle of an ocular lens and an objective lens of an optical microscope.例文帳に追加

本発明は、試料の微小平面の角度を光学顕微鏡の接眼レンズ及び対物レンズの中間に２個のビームスプリッタを設置した光学系を用いて測定することにより、数十μm程度 (マイクロビッカース試験の領域に対応) の測定面に対し、高い精度で角度測定が行える装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

An inspection method of an optical semiconductor element includes steps of: driving an optical semiconductor element 2 which is an inspected target with a current smaller than a threshold current of the optical semiconductor element 2 to generate incoherent light; acquiring a light emitting image by observing the light with an emission microscope 10; and analyzing a defective state from the light emitting image.例文帳に追加

光半導体素子の検査方法は、検査対象である光半導体素子２を該光半導体素子２のしきい値電流より低い電流で駆動して、インコヒーレントな光を発生させる工程と、前記光をエミッション顕微鏡１０で観察することにより発光像を得る工程と、前記発光像から不良状態を解析する工程と、を含む。 - 特許庁

In the formation of the transmission electron microscope observation sample for a magnetic material by means of a convergent ion beam machining method, machining is carried out so that a width w1 of the thin piece machined part for observation and a sample thickness t in the part adjacent to the machined part satisfy the relation t<3×w1.例文帳に追加

磁性材料の透過電子顕微鏡観察用試料を集束イオンビーム加工法で作製するにあたり、観察をおこなう薄片加工部の幅ｗ_1 とそれに隣接した部分の試料厚みｔとの間に、ｔ＜３×ｗ_1 なる関係が成り立つように加工することを特徴とする磁性材料の透過電子顕微鏡観察用試料作製方法。 - 特許庁

An electronic optical system provided to radiate charged particle beam on a testpiece, a deflecting system to scan the charged particle beam for image formation and a detecting system to detect secondary electrons produced in the testpiece when the charged particle is radiated on the testpiece from the electronic optical system are provided in a scanning electronic microscope main body 110.例文帳に追加

走査電子顕微鏡本体１１０は、試料上に荷電粒子線を照射するために設けた電子光学系と、画像作成のために上記荷電粒子線を走査する偏向系と、上記電子光学系から上記試料に荷電粒子を照射した際に試料から発生する二次電子やその他の信号を検出する検出系とを備える。 - 特許庁

In the inspection apparatus using an electron microscope which senses the defects present on the pattern of a sample based on the sensed signal of secondary charged particles generated by a scanning electron beam, there is provided such a function that the informations obtained by its ADC function are so fed back to its inspection function in the form of an inspection/non-inspection region as to improve its inspection and ADC performances.例文帳に追加

電子線を走査して発生する二次荷電粒子の検出信号に基づいて試料のパターン上の欠陥を検出する電子顕微鏡を用いた検査装置において、ＡＤＣ機能で得られた情報を検査／非検査領域という形で検査機能にフィードバックさせ、検査性能、ＡＤＣ性能の向上を図る機能を備える。 - 特許庁

The method applied to the scanning probe microscope comprises a probe section, having the probe 20 facing the sample 12; a detection section for detecting physical quantities between the sample and the probe; a measuring section for measuring surface information of the sample, based on the physical quantity, when the probe scans the surface of the sample; and a moving mechanism that has at least two degrees of freedom.例文帳に追加

この探針制御方法は、試料１２に対向する探針２０を有する探針部、試料と探針の間の物理量を検出する検出部、探針が試料の表面を走査するとき物理量に基づき試料の表面情報を測定する測定部、少なくとも２自由度を有する移動機構を備え走査型プローブ顕微鏡に適用される。 - 特許庁

The adhesive layer of the adhesive sheet (A) for collecting microorganisms is pressed to a test specimen to collect the microorganism and then, the culture medium layer of the culture medium sheet (B) is laminated to the adhesive surface in which microorganisms of the adhesive layer are collected and the microorganisms are cultured and the microorganisms proliferated through such culture are observed by a microscope to detect the microorganisms.例文帳に追加

上記（Ａ）の微生物捕集用粘着シートの粘着層を被験体に圧着して微生物を捕集し、次いで、粘着層の微生物を捕集した粘着面に上記（Ｂ）の培地シートの培地層を積重して、微生物を培養し、次いで、かかる培養を経て増殖した微生物を例えば顕微鏡観察することで、微生物の検出を行う。 - 特許庁

This ophthalmic surgical microscope includes: an observation optical system for observing a patient's eye during surgery; a corneal shape measuring means for measuring the corneal shape of the patient's eye placed in a surgical position; and a guide means for outputting guide information for guiding the intraocular lens surgery based on a measured result obtained by the corneal shape measuring means.例文帳に追加

手術時における患者眼を観察するための観察光学系と、手術位置に配置された患者眼の角膜形状を測定する角膜形状測定手段と、角膜形状測定手段によって得られた測定結果に基づいて眼内レンズ手術をガイドするためのガイド情報を出力するガイド手段と、を備える。 - 特許庁

The microscope is provided with the objective lens 8 for condensing a luminous flux of linearly polarized light from illuminating optical systems 1 to 6 and projecting the luminous flux to a sample, and also, transmitting the luminous flux reflected by the sample, and a compensation optical system 104 for compensating the rotation of the luminous flux of the linearly polarized light in the polarizing direction caused by the objective lens 8.例文帳に追加

照明光学系１〜６からの直線偏光の光束を集光して標本に照射するとともに、標本により反射された光束を通過させる対物レンズ８と、対物レンズ８により光束に生じる直線偏光の偏光方向の回転を補償するための補償光学系１０４とを有する。 - 特許庁

In the probe 10 for the magnetic force microscope having a magnetic region at its pointed end part 12 and detecting the magnetic force caused by allowing the magnetic region to approach the surface of a sample, the magnetic region of the pointed end part 12 of the probe 10 is formed of a dia-ferromagnetic single crystal to micronize the self-magnetic field leaked from the magnetic region.例文帳に追加

尖端部１２に磁性体領域を有し、この磁性体領域を試料表面に接近させることにより生じる磁気力を検出する磁気力顕微鏡用プローブ１０であって、プローブ尖端部１２の磁性体領域が反強磁性単結晶で形成されるようにして、磁性体領域から漏れ出る自己磁場を微小にする。 - 特許庁

This surface coated member 5 is furnished with a hard coating layer 4 having a part with at least an under layer 1, a connecting part 3 and an upper layer 2 sequentially and continuously laminated on a surface of a base body, and a tripe type contrast 3a can be observed on the connecting part 3 in a transmission electron microscope photograph for a cross-section of the hard coating layer 4.例文帳に追加

基体の表面に、少なくとも下部層１と、結合部３と、上部層２とを順次続けて積層した部分を有する硬質被覆層４を具備し、硬質被覆層４の断面についての透過型電子顕微鏡写真において、結合部３にストライプ状のコントラスト３ａが観察される表面被覆部材５である。 - 特許庁

While astronomy, with its telescope, ranges beyond the known stars, and physiology, with its microscope, is subdividing infinite minutiae, we may expect that our historic centuries may be treated as inadequate counters in the history of the planet on which we are placed. 例文帳に追加

天文学は望遠鏡を使ってそれまで知られていた星々をこえて範囲を拡げ、生理学は顕微鏡を使って限りなく細かいところまで細 分してきたのですが、その一方で、私たちの有史以来の数世紀は私たちが住んでいるこの惑星の歴史の中では不相応な反抗的行為だとみなされると思っているのかもしれません。 - Thomas H. Huxley『ダーウィン仮説』

The three-dimensional confocal observation apparatus constituted by combining a confocal microscope and an optical tweezers technology has a pair of lenses for focal plane displacement of which one lens can be moved in an optical axis direction arranged between a fixed objective lens and a camera for fluorescent imaging, and includes means of correcting distortion of fluorescent confocal images obtained by the camera for fluorescent imaging.例文帳に追加

共焦点顕微鏡と光ピンセット技術を組み合わせた３次元共焦点観察用装置において、固定の対物レンズと蛍光撮像用カメラとの間に、一方のレンズが光軸方向に移動可能とされている焦点面変位用レンズペアを配置し、かつ、蛍光撮像用カメラにより得られた蛍光共焦点像の歪みを補正する手段を設ける。 - 特許庁

This multiwavelength observation optical probe microscope has an optical probe, capable generating an optical field localized on the leading end thereof, a light source for emitting a plurality of selectable exciting lights in the optical probe and a scanning means for scanning the optical probe.例文帳に追加

光プローブと、光検出手段と、データ収集手段と、光源が少なくとも２つ以上の選択可能な波長の励起光を発生できるとともに、さらに、動的光路変更手段を有し、励起光の光路の制御を行うことによって、同一試料に対して複数の蛍光イメージを取得することで、複数種の蛍光標識を識別して相対的な位置情報を解析できるようにした。 - 特許庁

An atomic force microscope 3 is prepared, and a cantilever 4 having the head on which a probe 6 is formed is mounted on a substrate 4a to form a cantilever combination 8, and an oscillation member 7 is driven to oscillate with a characteristic frequency of the cantilever 4, and a voltage corresponding to the frequency change Δf of the oscillation frequency from the characteristic frequency is detected by a frequency change detector 19.例文帳に追加

原子間力顕微鏡３を準備し、探針６が先端に形成されたカンチレバー４を基体４ａに、取付けてカンチレバー組合せ体８を構成し、振動部材７を駆動してカンチレバー４の固有振動数で発振し、振動周波数の固有振動数からの周波数変化Δｆに対応する電圧を周波数変化検出器１９によって検出する。 - 特許庁

The X-ray detected by the method described above is discharged mostly from the region within the diffusion range of the incident electron in the observation sample support member, and if the diffusion range of the incident electron is controlled to about a few nm, the resolution of the scanning X-ray microscope can be not more than 10 nm which has been considered to be the theoretical limit by the conventional method.例文帳に追加

上述の手法で検知されるＸ線は、概ね、観察試料支持部材内での入射電子の拡散範囲内の領域から放出されることとなり、当該入射電子の拡散範囲を数ｎｍ程度に制御すれば、得られる走査型Ｘ線顕微鏡像の分解能は、従来の手法の理論的限界とされていた１０ｎｍ以下とすることが可能となる。 - 特許庁

The surface atom visualizing apparatus 1 is equipped with an exciting unit 2 for irradiating the surface atom of the solid sample 5 with high-energy exciting light 9 for exciteing itinerant valence electrons, to convert the same into photoelectrons and an electron microscope unit 3 for forming an atomic image on the surface of the solid sample 5, on the basis of the photoelectrons excited from the itinerant valence electrons by the exciting unit 2.例文帳に追加

表面原子可視化装置１は、固体試料５の表面原子に高エネルギ励起光９を照射し、遍歴的な価電子を励起して光電子に変換する励起ユニット２と、励起ユニット２によって遍歴的な価電子から励起された光電子に基づいて、固体試料表面上の原子像を生成する電子顕微鏡ユニット３とを備えたことを特徴とする。 - 特許庁

This microscope has coefficient determining means (5) for determining a coefficient according to the arithmetic value of either one of the luminance value or contrast value of the optical information, detected by optical information detecting means (10) and setting means (6) for multiplying the signal from operation means (4) by the coefficient determined by the coefficient determining means and setting the result thereof in a driving means (7).例文帳に追加

光学情報検出手段（１０）により検出された光学情報の輝度値またはコントラスト値の内いずれか１の演算値に基づいて係数を決定する係数決定手段（５）と、操作手段（４）からの信号に係数決定手段により決定された係数を乗じてその結果を駆動手段（７）に設定する設定手段（６）とを備えた顕微鏡装置である。 - 特許庁

The testing method of semiconductor device comprises a steps of forming an electrode 10 on the main surface of a semiconductor test sample, cutting out a semiconductor test sample, exposing the cross-section of the semiconductor test sample, and obtaining carrier distribution within the cross-section by scanning the cross-section with a probe 14 of the scanning probe microscope while the predetermined potential is applied to the electrode 10.例文帳に追加

半導体試料の主面上に電極１０を形成する工程と、半導体試料を切断し、該半導体試料の断面を露出させる工程と、前記電極１０に所定電位を与えながら、走査型プローブ顕微鏡のプローブ１４で上記断面を走査することにより、該断面内におけるキャリア分布を得ることを特徴とする半導体装置の検査方法。 - 特許庁

The device partially attenuates the light intensity (lightness) of the lighting of a microscope having, for example, a lighting optical path, a main objective, a light source, and a spectrum filter; and the spectrum filter (4) is so constituted that the light intensity values of different wavelength ranges (22) are attenuated to a specific extent (attenuated intensity Int 0) in mutually different spatial lighting areas (21).例文帳に追加

例えば、照明光路、主対物レンズ、光源及びスペクトルフィルタを有する顕微鏡における、照明の光強度（明るさ）を部分的に減衰する装置において、互いに異なる空間的照明領域（２１）において、異なる波長レンジ（２２）の光強度を所定の程度（減衰強度Int０）（２４）に減衰するように、スペクトルフィルタ（４）が構成されていることを特徴とする。 - 特許庁

The amount of scanning and the amount of interval control are controlled in such a way that the relative velocity between the probe and the sample in the direction of the surface of the sample may be constant in the probe scanning control device, scanning probe microscope, working device, probe scanning control method, measuring method, and working method for detecting information on the sample by relatively scanning the sample with the probe.例文帳に追加

探針を試料に対し相対走査して該試料上の情報を検出するプローブの走査制御装置、走査型プローブ顕微鏡、加工装置、およびプローブの走査制御方法、測定方法、加工方法において、前記試料表面方向において探針と試料とのなす相対速度が一定となるように、走査量と間隔制御量を制御するように構成する。 - 特許庁

To provide an optical device and a microscope whose resolution is excellent and whose sectioning effect is excellent, by which time required until obtaining an output image is shortened and the inside of an object to intensively scatter light is observed without adding a fluorescent pigment and is observed by excellent resolution without being affected by vibration or the like and also the lamination structure of an IC pattern formed on a semiconductor wafer is observed.例文帳に追加

高解像でセクショニング効果が高く、出力画像を得るまでの時間を短縮化でき、光を強く散乱する物体の内部を、蛍光色素を付加することなく観察可能で、振動等に強く高解像で観察可能であり、更に、半導体ウエハー上に形成されたＩＣパターンの積層構造をも観察可能な光学装置及び顕微鏡を提供する。 - 特許庁

Right and left pictures picked up by CCDs 18a and 18b arranged to have parallax right and left in a mirror body 6 constituting a surgical microscope are displayed on right and left LCDs 23a and 23b in an FMD 11 via a signal processing part 34 in the stereoscopic picture display controller 9, and optically stereoscopically observed by an operator with right and left eyes through zoom optical systems 22a and 22b.例文帳に追加

手術用顕微鏡を構成する鏡体６内で左右に視差を持つように配置されたＣＣＤ１８ａ、１８ｂにより撮像された左右の画像は、立体画像表示制御装置９の信号処理部３４を介してＦＭＤ１１の左右のＬＣＤ２３ａ、２３ｂに表示され、術者は左右の眼でズーム光学系２２ａ、２２ｂを経て光学的に立体観察する。 - 特許庁

In order to achieve the objective, a scanning electron microscope is disclosed in which the shield member to shield the exterior magnetic field is constituted with a plurality of plate state parts consisting of magnetic materials, and constituted so that on a circumference of a circle having its center at the center of the space, the plurality of plate state parts are aligned to have the face directions in different directions from tangent lines of the circle.例文帳に追加

上記目的を達成するために、外部磁場をシールドするシールド部材を、磁性材料からなる複数の板状部で構成し、前記空間の中心を円の中心とした円周上に、当該円の接線とは異なる方向にその面方向を持つように、前記複数の板状部を配列するように構成した走査電子顕微鏡を提案する。 - 特許庁

The microscope objective lens comprises, in order from an object side: a first lens group having positive refractive power as a whole; and a second lens group comprising, in order from the object side, a first gauss lens group, a lens group having positive refractive power and a second gauss lens group.例文帳に追加

物体側より順に、全体として正屈折力の第１レンズ群と、物体側より順に第１のガウスレンズ群と正屈折力のレンズ群と第２のガウスレンズ群とからなる第２レンズ群と、からなる顕微鏡対物レンズであって、 前記対物レンズの物体面からレンズ最終面までの距離をＤ、前記対物レンズ全体の焦点距離をＦとするとき、以下の条件式を満たす顕微鏡対物レンズ。 - 特許庁

A micro-marking system includes: a microcapsule particle 1 encapsulating a solvent containing fine particles for marking; a hollow glass probe 2 storing the microcapsule particles; a drive mechanism 6 for extruding the microcapsule particles on the marking object sample 5 through the inside of the probe; and a manipulating mechanism for depositing the extruded particles on a targeted place of the marking object sample under an optical microscope 3.例文帳に追加

マーキング用の微粒子を含む溶媒を封入したマイクロカプセル粒子１と、このマイクロカプセル粒子を収納した中空ガラスプローブ２と、このプローブ内を通してマイクロカプセル粒子をマーキング対象試料５の上に押し出す駆動機構６と、押し出した粒子を光学顕微鏡３下で、マーキング対象試料の目的箇所に付着させるマニピュレート機構と、を備える。 - 特許庁

The lens barrel 10 for an optical observing device having a linearly variable visual field height in length and/or height, especially for the microscope, includes an optical path in which at least two optical elements 23, 24 are disposed, wherein at least the two optical elements 23, 24 are disposed to be movable independently of each other in the optical path.例文帳に追加

長さおよび／または高さで線状に可変の視野高を有する光学観察装置、特に顕微鏡のための鏡胴（１０）であって、前記鏡胴（１０）が、少なくとも２つの光学要素（２３、２４）が配設された光学光路を有する鏡胴において、 少なくとも２つの光学要素（２３、２４）が互いに独立して可動式に光学光路内に配設されている鏡胴である。 - 特許庁

To provide a liquid medium for sample observation by an electron microscope and a sample observation method using the liquid medium, capable of preventing charge of a sample observation surface by a simple means, suppressing deformation caused by contraction or the like even after being dried, in a biosample or the like, and restraining an original image of the sample from being obstructed by partial remaining of ion liquid on a contraction impression.例文帳に追加

試料観察面の帯電を簡易な手段で防止でき、生体試料等において、乾燥後も収縮等の変形を抑制でき、さらに収縮痕へのイオン液体の部分的な残留により試料本来の像が妨げられることを抑制できる電子顕微鏡による試料観察用の液状媒体とそれを用いた試料観察方法を提供する。 - 特許庁

In the device for generating a laser light beam such as an illumination light beam preferably for a confocal scanning microscope, including at least one laser light source (2), the laser light source (2) constitutes a module (1) having a mechanical and/or electrical and/or optical interface which is regulated to the outside individually or by grouping.例文帳に追加

少なくとも１つのレーザ光源（２）を含んで構成される、好ましくは共焦点式の走査顕微鏡のための照明光ビーム等のレーザ光ビームを生成するための装置において、前記レーザ光源（２）は、個別に又はグループ化されて、外部に対して規定される機械的及び／又は電気的及び／又は光学的インターフェースを有するモジュール（１）を構成することを特徴とする。 - 特許庁

The measuring microscope A is configured by installing a specimen imaging camera 2 with an optical system lens 5 mounted thereon in order to image a specimen B placed on a stage 1, and a periphery imaging camera 4 which captures an image including the periphery of the specimen B, and outputs an image captured by the specimen imaging camera 2 in an image captured by the periphery imaging camera 4.例文帳に追加

本発明は、ステージ１上に載置された被検物Ｂを撮影するために光学系レンズ５を装着した被検物撮影カメラ２と、前記被検物Ｂ周辺を含んで撮影する周辺撮影カメラ４とを設置し、前記周辺撮影カメラ４で撮影した映像内に前記被検物撮影カメラ２で撮影した映像を出力した測定顕微鏡Ａである。 - 特許庁

A device comprises an observation mechanism 13 that enables observation of a biological specimen 12 made by the steps of slicing a tissue, immersing it in a fixing fluid, and embedding it in a resin plate, with an optical microscope 21 for defining a selected area, and cutting out mechanism 15 that enables forming of the biological specimen by depressing a knife 36 for cutting out the selected area from the biological specimen 12.例文帳に追加

組織を薄切りして固定液に浸漬し、樹脂材料で平板状に包埋して製作された生体試料１２を、選択対象エリアの特定のため、光学顕微鏡２１により観察可能に構成された観察機構１３と、生体試料１２から選択対象エリアをナイフ３６で押し切りして生体標本を成形可能に構成された切出機構１５とを備えた。 - 特許庁

When the surface of the metal film 30 is observed using a field emission type scanning electron microscope at an acceleration voltage of 3 kV or lower, small particles having a particle size of 3 μm or smaller, intermediate particles having a particle size of 5-20 μm formed by aggregating the small particles, and large particles having a particle size of 30 μm or larger formed by aggregating the intermediate particles are observed.例文帳に追加

また、金属被膜３０の表面を、電界放射型走査電子顕微鏡を用いて加速電圧３ｋＶ以下で観察した際に、粒径３μｍ以下の小粒子と、この小粒子が凝集して形成された粒径５μｍ以上２０μｍ以下の中粒子と、この中粒子が凝集して形成された粒径３０μｍ以上の大粒子と、が観察されることを特徴とする。 - 特許庁

A lower jaw is extirpated from a mouse, a grinder and an incisor are pulled out under a stereoscopic microscope, alveolar bones with uniform size are gathered, an LPS or a TLR2 ligand is added to an organ culture system of the alveolar bones, the culture system is cultured for 6 days under existence or non-existence of a subject substance, bone absorbing activity is determined by quantitative analysis of calcium concentration in a culture supernatant after culturing.例文帳に追加

マウスより下顎を摘出し、実体顕微鏡下において臼歯及び切歯を抜歯し、大きさを揃えた歯槽骨を採取し、歯槽骨の器官培養系に、ＬＰＳ又はＴＬＲ２リガンドを添加して、被検物質の存在下又は非存在下に６日間培養し、培養後、培養上清中のカルシウム濃度の定量により骨吸収活性を測定する。 - 特許庁

The stereoscopic microscope possesses the pair of the photographing optical systems separated by a prescribed base line length and forming the pair of images for the same observation object and a convergence prism 260 to guide the optical axis of each photographing optical system to right and left image pickup areas on the image pickup surface of a CCD 116 by respectively shifting in parallel in directions in which they approach with each other.例文帳に追加

立体顕微鏡は、所定の基線長に隔てられるとともに同一観察対象物に対する一対の像を形成する一対の撮影光学系と，各撮影光学系の光軸を互いに接近する方向に夫々平行にシフトさせてＣＣＤ１１６の撮像面上の左右の撮像領域に導く輻輳寄せプリズム２６０とを有している。 - 特許庁

This raster microscope has a light source to illuminate an object under test, a detection beam path and a detector disposed in the beam path to detect the light emitted from the object, and is also provided with a light injector which can lead the light other than the emitted light into the above beam path and supply it to the detector.例文帳に追加

被検対象を照明するための光源と、検出ビーム路と、該検出ビーム路に配されると共に被検試料から射出する検出光を検出するための検出器とを有するラスタ顕微鏡において、検出光以外の光を、前記検出ビーム路に差込入射可能としかつ前記検出器に供給可能とする差込入射装置を有することを特徴とする。 - 特許庁

In this method, the dispersion state, the grain size or the shape of the crystalline hardening agent which is present in a dispersive state in a powder paint composition obtained by kneading the crystalline hardening agent to react with a reactive group of a resin for the hardening powder paint is measured by using a polarization microscope.例文帳に追加

硬化型粉体塗料用樹脂の反応性基と反応し得る結晶性硬化剤を混練して得られる粉体塗料組成物中に分散された状態で存在する当該結晶性硬化剤の分散状態、粒径、又は形状の測定方法であって、偏光顕微鏡を用いて測定することを特徴とする結晶性硬化剤の分散状態、粒径、又は形状の測定方法。 - 特許庁