「Microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方(178ページ目) - Weblio英語例文検索

The near field scanning optical microscope laser processing device is comprised of a laser beam source 110 generating a laser beam with the peak wavelength, an NSOM prove 110, a binding substrate 124 formed by materials substantially transmitting the laser peak wavelength, an NSOM mount holding the NSOM probe and the binding substrate controllably, an NSOM controller, and a photodetector combined optically with the NSOM mount.例文帳に追加

ピーク波長を有するレーザ光を発生するレーザ光源１１０と、ＮＳＯＭプローブ１１０と、レーザピーク波長をほぼ伝達する材料によって形成した結合サブストレート１２４と、ＮＳＯＭプローブおよび結合サブストレートを制御可能に保持するＮＳＯＭマウントと、ＮＳＯＭコントローラと、ＮＳＯＭマウントに光学的に結合される光検出器とを有する。 - 特許庁

The microscope device includes the predetermined rotatable optical element which is present on an optical axis and is configured to adjust optical environment, a rotating means which rotates the optical element, and a control means which controls the rotating means to control so that the rotating direction of the optical element is a first rotating direction at least when stopping the rotation of the optical element.例文帳に追加

光軸上に存在し、光学環境を調整するための回転可能な所定の光学素子と、前記光学素子を回転させる回転手段と、少なくとも前記光学素子の回転を停止させる場合、前記回転手段を制御して、該光学素子の回転方向を第１の回転方向で制御する制御手段と、を備える顕微鏡装置により、上記課題の解決を図る。 - 特許庁

An atomic force microscope 3 is prepared, and a cantilever 4 having the head on which a probe 6 is formed is mounted on a substrate 4a to form a cantilever combination 8, and an oscillation member 7 is driven to oscillate with a characteristic frequency of the cantilever 4, and a voltage corresponding to the frequency change Δf of the oscillation frequency from the characteristic frequency is detected by a frequency change detector 19.例文帳に追加

原子間力顕微鏡３を準備し、探針６が先端に形成されたカンチレバー４を基体４ａに、取付けてカンチレバー組合せ体８を構成し、振動部材７を駆動してカンチレバー４の固有振動数で発振し、振動周波数の固有振動数からの周波数変化Δｆに対応する電圧を周波数変化検出器１９によって検出する。 - 特許庁

The X-ray detected by the method described above is discharged mostly from the region within the diffusion range of the incident electron in the observation sample support member, and if the diffusion range of the incident electron is controlled to about a few nm, the resolution of the scanning X-ray microscope can be not more than 10 nm which has been considered to be the theoretical limit by the conventional method.例文帳に追加

上述の手法で検知されるＸ線は、概ね、観察試料支持部材内での入射電子の拡散範囲内の領域から放出されることとなり、当該入射電子の拡散範囲を数ｎｍ程度に制御すれば、得られる走査型Ｘ線顕微鏡像の分解能は、従来の手法の理論的限界とされていた１０ｎｍ以下とすることが可能となる。 - 特許庁

The three-dimensional confocal observation apparatus constituted by combining a confocal microscope and an optical tweezers technology has a pair of lenses for focal plane displacement of which one lens can be moved in an optical axis direction arranged between a fixed objective lens and a camera for fluorescent imaging, and includes means of correcting distortion of fluorescent confocal images obtained by the camera for fluorescent imaging.例文帳に追加

共焦点顕微鏡と光ピンセット技術を組み合わせた３次元共焦点観察用装置において、固定の対物レンズと蛍光撮像用カメラとの間に、一方のレンズが光軸方向に移動可能とされている焦点面変位用レンズペアを配置し、かつ、蛍光撮像用カメラにより得られた蛍光共焦点像の歪みを補正する手段を設ける。 - 特許庁

This multiwavelength observation optical probe microscope has an optical probe, capable generating an optical field localized on the leading end thereof, a light source for emitting a plurality of selectable exciting lights in the optical probe and a scanning means for scanning the optical probe.例文帳に追加

光プローブと、光検出手段と、データ収集手段と、光源が少なくとも２つ以上の選択可能な波長の励起光を発生できるとともに、さらに、動的光路変更手段を有し、励起光の光路の制御を行うことによって、同一試料に対して複数の蛍光イメージを取得することで、複数種の蛍光標識を識別して相対的な位置情報を解析できるようにした。 - 特許庁

In the component for glassy carbon CVD device, when observing a field of view of 50μm×50μm on its surface by a scanning electron microscope, at least five holes of 1-10μ in diameter exist, or the total length of a linear hole of 0.5-5μm in width is at least 50μm in the field of view.例文帳に追加

ガラス状炭素製ＣＶＤ装置用部品であって、該部品の表面について、走査型電子顕微鏡を用いて観察した５０μｍ×５０μｍの視野中に、直径１〜１０μｍの孔が、少なくとも５個存在するか、該視野中に存在する幅０．５〜５μｍの線状孔の全長さが、少なくとも５０μｍであることを特徴とするガラス状炭素製ＣＶＤ装置用部品である。 - 特許庁

The device partially attenuates the light intensity (lightness) of the lighting of a microscope having, for example, a lighting optical path, a main objective, a light source, and a spectrum filter; and the spectrum filter (4) is so constituted that the light intensity values of different wavelength ranges (22) are attenuated to a specific extent (attenuated intensity Int 0) in mutually different spatial lighting areas (21).例文帳に追加

例えば、照明光路、主対物レンズ、光源及びスペクトルフィルタを有する顕微鏡における、照明の光強度（明るさ）を部分的に減衰する装置において、互いに異なる空間的照明領域（２１）において、異なる波長レンジ（２２）の光強度を所定の程度（減衰強度Int０）（２４）に減衰するように、スペクトルフィルタ（４）が構成されていることを特徴とする。 - 特許庁

The amount of scanning and the amount of interval control are controlled in such a way that the relative velocity between the probe and the sample in the direction of the surface of the sample may be constant in the probe scanning control device, scanning probe microscope, working device, probe scanning control method, measuring method, and working method for detecting information on the sample by relatively scanning the sample with the probe.例文帳に追加

探針を試料に対し相対走査して該試料上の情報を検出するプローブの走査制御装置、走査型プローブ顕微鏡、加工装置、およびプローブの走査制御方法、測定方法、加工方法において、前記試料表面方向において探針と試料とのなす相対速度が一定となるように、走査量と間隔制御量を制御するように構成する。 - 特許庁

The surface atom visualizing apparatus 1 is equipped with an exciting unit 2 for irradiating the surface atom of the solid sample 5 with high-energy exciting light 9 for exciteing itinerant valence electrons, to convert the same into photoelectrons and an electron microscope unit 3 for forming an atomic image on the surface of the solid sample 5, on the basis of the photoelectrons excited from the itinerant valence electrons by the exciting unit 2.例文帳に追加

表面原子可視化装置１は、固体試料５の表面原子に高エネルギ励起光９を照射し、遍歴的な価電子を励起して光電子に変換する励起ユニット２と、励起ユニット２によって遍歴的な価電子から励起された光電子に基づいて、固体試料表面上の原子像を生成する電子顕微鏡ユニット３とを備えたことを特徴とする。 - 特許庁

To provide an optical device and a microscope whose resolution is excellent and whose sectioning effect is excellent, by which time required until obtaining an output image is shortened and the inside of an object to intensively scatter light is observed without adding a fluorescent pigment and is observed by excellent resolution without being affected by vibration or the like and also the lamination structure of an IC pattern formed on a semiconductor wafer is observed.例文帳に追加

高解像でセクショニング効果が高く、出力画像を得るまでの時間を短縮化でき、光を強く散乱する物体の内部を、蛍光色素を付加することなく観察可能で、振動等に強く高解像で観察可能であり、更に、半導体ウエハー上に形成されたＩＣパターンの積層構造をも観察可能な光学装置及び顕微鏡を提供する。 - 特許庁

Right and left pictures picked up by CCDs 18a and 18b arranged to have parallax right and left in a mirror body 6 constituting a surgical microscope are displayed on right and left LCDs 23a and 23b in an FMD 11 via a signal processing part 34 in the stereoscopic picture display controller 9, and optically stereoscopically observed by an operator with right and left eyes through zoom optical systems 22a and 22b.例文帳に追加

手術用顕微鏡を構成する鏡体６内で左右に視差を持つように配置されたＣＣＤ１８ａ、１８ｂにより撮像された左右の画像は、立体画像表示制御装置９の信号処理部３４を介してＦＭＤ１１の左右のＬＣＤ２３ａ、２３ｂに表示され、術者は左右の眼でズーム光学系２２ａ、２２ｂを経て光学的に立体観察する。 - 特許庁

In order to achieve the objective, a scanning electron microscope is disclosed in which the shield member to shield the exterior magnetic field is constituted with a plurality of plate state parts consisting of magnetic materials, and constituted so that on a circumference of a circle having its center at the center of the space, the plurality of plate state parts are aligned to have the face directions in different directions from tangent lines of the circle.例文帳に追加

上記目的を達成するために、外部磁場をシールドするシールド部材を、磁性材料からなる複数の板状部で構成し、前記空間の中心を円の中心とした円周上に、当該円の接線とは異なる方向にその面方向を持つように、前記複数の板状部を配列するように構成した走査電子顕微鏡を提案する。 - 特許庁

The stereoscopic microscope possesses the pair of the photographing optical systems separated by a prescribed base line length and forming the pair of images for the same observation object and a convergence prism 260 to guide the optical axis of each photographing optical system to right and left image pickup areas on the image pickup surface of a CCD 116 by respectively shifting in parallel in directions in which they approach with each other.例文帳に追加

立体顕微鏡は、所定の基線長に隔てられるとともに同一観察対象物に対する一対の像を形成する一対の撮影光学系と，各撮影光学系の光軸を互いに接近する方向に夫々平行にシフトさせてＣＣＤ１１６の撮像面上の左右の撮像領域に導く輻輳寄せプリズム２６０とを有している。 - 特許庁

In this method, the dispersion state, the grain size or the shape of the crystalline hardening agent which is present in a dispersive state in a powder paint composition obtained by kneading the crystalline hardening agent to react with a reactive group of a resin for the hardening powder paint is measured by using a polarization microscope.例文帳に追加

硬化型粉体塗料用樹脂の反応性基と反応し得る結晶性硬化剤を混練して得られる粉体塗料組成物中に分散された状態で存在する当該結晶性硬化剤の分散状態、粒径、又は形状の測定方法であって、偏光顕微鏡を用いて測定することを特徴とする結晶性硬化剤の分散状態、粒径、又は形状の測定方法。 - 特許庁

The confocal microscope has the spectroscopic unit which spectroscopes an optical image outputted from the Nipkow disk system confocal scanner and performs multicolor observation of the sample, wherein the spectroscopic unit is provided with a plurality of spectroscopic means having the different reflection and transmission characteristics according to the spectroscopy for the optical image and an inversion means that inverts the optical image reflected by the spectroscopic means.例文帳に追加

ニポウディスク方式共焦点スキャナから出力される光学像を分光する分光光学ユニットを有し、試料の多色観察を行う共焦点顕微鏡において、 前記分光光学ユニットは、前記光学像を分光する反射透過特性の異なる複数の分光手段と、 これら分光手段で反射された光学像を反転させる反転手段と、を備えた構成とする。 - 特許庁

In addition to a basic electron microscope, this device comprises means for inputting a required space resolution in a holography observation, a calculating device for calculating an electron beam bi-prism and a specimen position for realizing a required space resolution from an input value and a parameter unique to the device, and a mechanism for moving these two positions for realizing the found calculation results.例文帳に追加

基本的な電子顕微鏡本体に加え、ホログラフィ観察において要求する空間分解能を入力する手段と、入力された値及び装置固有のパラメータから要求された空間分解能を実現する電子線バイプリズム及び試料位置を算出するための計算装置及び、得られた計算結果を実現するためのこれら二つの位置を移動させる機構を設ける。 - 特許庁

This scanning probe microscope is provided at least with a polarization modulator which lets circularly-polarized light in a rotating polarizer to modulate and irradiate the P-polarized component of linear polarization on the probe tip, and a photodetector for detecting scattered light between the probe tip and the sample at the time point, when P-polarized light is irradiated on the probe tip.例文帳に追加

円偏光としたレーザーを回転する偏光子に通してプローブ先端へ直線偏光のＰ偏光成分を変調して照射する偏光変調装置と、プローブ先端にＰ偏光が照射されたタイミングでプローブ先端と試料との間の散乱光を検出する光検出部とを少なくとも有することを特徴とする走査型プローブ顕微鏡。 - 特許庁

This scanning confocal microscope has selecting means (21) for selecting the luminance signal of an optimum wavelength band from a plurality of the luminance signals varying in the wavelength bands of the light outputted after photoelectric conversion by imaging means and image building means (20) for building the three-dimensional images or the images of a deep depth of focus by utilizing the luminance signal of the optimum wavelength band.例文帳に追加

撮像手段で光電変換されて出力される光の波長帯域の異なる複数の輝度信号から最適な波長帯域の輝度信号を選択する選択手段（２１）と、この最適な波長帯域の輝度信号を利用して三次元画像或いは焦点深度の深い画像を構築する画像構築手段（２０）とを備えた走査型共焦点顕微鏡である。 - 特許庁

The method of fabricating the acicular sample for field ion microscopy includes a process for machining the desired part of the sample to be observed with a field ion microscope into an acicular shape by irradiating the sample with a focused charged-particle beam, a process for cutting the acicular sample away from a sample base, and a process for fixing the cut acicular sample to an electrode bar.例文帳に追加

電界イオン顕微鏡観察用針状試料の作製方法は、集束した荷電粒子ビームを照射することにより電界イオン顕微鏡で観察する所望の箇所を針状に加工する工程と、針状試料を試料基板から切り離し摘出する工程と、摘出した針状試料を電極棒に固定する工程を含むことを特徴とする。 - 特許庁

The transparent composite material comprises a transparent resin (a) and a glass filler (b) and has ≤150°C temperature expressing the minimum value of light volume when temperature dependence of the permeated light volume is measured by putting the transparent composite material in a deflection microscope in which the deflection axis intersects 90°at an angle expressing the maximum light volume in a transparent mode.例文帳に追加

透明樹脂（ａ）及びガラスフィラー（ｂ）から構成される透明複合体であって、前記透明複合体を偏向軸が９０°に交差した偏向顕微鏡に設置し、透過モードで透過する光量が最大値を示す角度において、透過する光量の温度依存性を測定した場合に、光量の最小値を示す温度が１５０℃以下である透明複合体。 - 特許庁

The confocal measuring system applies a measuring system 2 comprising a scanning trigger supply part 15 corresponding to a scanning cycle of a sample S by the Nieuwpoort disk 10 by detecting rotation of the Nieuwpoort disk 10 to the confocal microscope 1 acquiring a confocal image of the sample S generated by the Nieuwpoort disk 10 and an image acquiring device 20 for acquiring the confocal image of the sample S.例文帳に追加

ニポウ円盤１０によって生成される試料Ｓの共焦点像を取得する共焦点顕微鏡１に対し、ニポウ円盤１０の回転を検出し、ニポウ円盤１０による試料Ｓの走査周期に対応する走査トリガ信号を供給する走査トリガ供給部１５と、試料Ｓの共焦点像を取得する画像取得装置２０とを備える計測システム２を適用する。 - 特許庁

To obtain a coating composition having a function for preventing or suppressing the collateral staining while keeping close contact with a pathologic tissue and cells, a slide glass for a microscope coated with the coating composition, a methenamine-silver stain solution for PAM staining having a function for preventing or suppressing the collateral staining at the PAM staining, and a preprocessing liquid for PAM staining.例文帳に追加

病理組織・細胞との密着性を保持しながらＰＡＭ染色時の共染を防止ないし抑制する機能を有するコーティング組成物および当該コーティング組成物を表面に被覆した顕微鏡スライドグラス、ＰＡＭ染色時の共染を防止ないし抑制する機能を有するＰＡＭ染色用メセナミン銀染色液及びＰＡＭ染色用前処理液を得る。 - 特許庁

The high pressure sample container for the optical microscopic observation 10 for observing the sample under high pressure by a microscope includes: a container body 12; a cover 14 detachably attached to the container body 12; and an observation window 32 provided in at least one of the container body 12 and the cover 14 and emitting light emitted from the sample.例文帳に追加

本発明は、高圧力下における試料を顕微鏡観察するための光学顕微観察用高圧力試料容器１０であって、容器本体１２と、この容器本体１２に着脱可能に装着される蓋体１４と、前記容器本体１２及び前記蓋体１４の少なくとも一方に設けられ、試料から放射される光を放出する観察窓３２とを備えている。 - 特許庁

The method for manufacturing the concentrated composition containing the α-sulfofatty acid alkyl ester salt comprises concentrating the composition containing the α-sulfofatty acid alkyl ester salt to a water content of 13% or lower by a simple concentration operation so that the phase state of the composition has been converted, after concentrated, into a hexagonal phase state at 70°C as confirmed by observation by a polarization microscope.例文帳に追加

α−スルホ脂肪酸アルキルエステル塩を含有する組成物を簡易濃縮操作により水分量を１３％以下に濃縮するにあたり、濃縮後の組成物の相状態が偏光顕微鏡観察で確認した際に７０℃の温度でヘキサゴナル相状態となっていることを特徴とするα−スルホ脂肪酸アルキルエステル塩含有濃縮組成物の製造方法。 - 特許庁

The microscope apparatus is provided with the first scanning optical system A for obtaining the scanning image of a specimen and the second scanning optical system B for developing a specific phenomenon in the specific area of the specimen, means 30 for performing laser scanning independently with each of the first scanning optical system and the second scanning optical system and operation recording means 23 for recording the operation of the laser scanning.例文帳に追加

標本の走査画像を得るための第１の走査光学系Ａと、標本の特定の部位に特異現象を発現させるための第２の走査光学系Ｂと、前記第１の走査光学系と前記第２の走査光学系のそれぞれについて、独立してレーザ走査を行う手段３０と、前記レーザ走査の動作を記録する動作記録手段２３と、を備えた。 - 特許庁

It is preferable to set the irradiation spot of the pulse laser by setting a threshold for the thickness distribution data obtained with the microscope and setting the sample area on the sample base having the thickness over the threshold as the ionization area or by checking against a calibration curve which indicates the relation between the thickness of the sample and the mass spectrum of ions generated by laser irradiation.例文帳に追加

パルスレーザーの照射場所の設定は顕微鏡によって求められる厚さ分布データに対して閾値を設定し、当該閾値以上の厚さを有するサンプル台上の試料領域をイオン化領域として設定することにより行うか、或いは試料の厚さとレーザー照射で生じるイオンの質量スペクトルとの関係を示す検量線と照合することにより行うのが好ましい。 - 特許庁

In the probe 10 of the scanning tunneling microscope and its manufacturing method, the probe 10 is formed from metal such as tungsten, a tip surface 12 of the probe 10 has a buffer layer such as a carbonization coating film, and a carbon nanotube 13 is extended from the buffer layer such as the carbonization coating film of the tip surface 12 of the probe 10.例文帳に追加

走査型トンネル顕微鏡の探針１０において、探針１０はタングステン等の金属で形成され、探針１０の先端表面１２は炭化コーティング膜等のバッファー層を有し、探針１０の先端表面１２の炭化コーティング膜等のバッファー層からカーボンナノチューブ１３が延設されている走査型トンネル顕微鏡の探針１０とその製造方法である。 - 特許庁

The microscope for observing a specimen cultured in a culture vessel is provided with a focusing part to adjust the focus to at least two planes comprising the first plane containing the specimen in the culture vessel and the second plane different from the first plane based on a prescribed condition and an image taking part to take images on the first and the second planes to form images.例文帳に追加

培養容器で培養される試料を観察する顕微鏡であって、培養容器において試料が存在する第１の面と、所定の条件に基づいて、第１の面と異なる第２の面との少なくとも２つの面に対して焦点調節を行う焦点調節部と、第１の面と第２の面とにおいて、撮像して画像を生成する撮像部とを備える。 - 特許庁

In the imaging recipe generating apparatus for SEM observation of a semiconductor pattern using a scanning type electronic microscope, a CPU (CAD image generating unit) 1251 for generating a CAD image by conversion into the image on the basis of the CAD data is constituted with an image quantizing width determining processing unit 12511, a luminosity information assignment processing unit 12512, and a pattern shape conversion processing unit 12513.例文帳に追加

走査型電子顕微鏡を用いて半導体パターンをＳＥＭ観察するための撮像レシピ作成装置において、ＣＡＤデータを基に画像に変換してＣＡＤ画像を作成するＣＰＵ（ＣＡＤ画像作成部）１２５１を、画像量子化幅決定処理部１２５１１と明度情報付与処理部１２５１２とパターン形状変形処理部１２５１３とで構成する。 - 特許庁

To provide a scanning electron microscope that can concurrently perform SEM observation and sample processing in a single instrument, automatically return the specimen holder to its home position after the processing, and rapidly introduce it into the sample chamber.例文帳に追加

本発明は走査電子顕微鏡に関し、更に詳しくは試料加工室を持つ走査電子顕微鏡に関し、一つの装置でＳＥＭ観察と試料加工を同時進行で行なうことができ、かつ処理後の試料ホルダの位置を自動的にホームポジションに戻すことができ、試料室への導入を速やかに行なうことができる走査電子顕微鏡を提供することを目的としている。 - 特許庁

This electron microscope is provided with the visible light imaging part for imaging a visible light observation image which is attached to the sample table 33 movable at least on the XY plane, and the visible light imaging part is adjusted in a position and an angle in which the visible light observation image of the sample mounted on the sample table 33 is imaged in a state being attached to the sample table 33.例文帳に追加

この電子顕微鏡は、少なくともＸＹ平面上を移動可能な前記試料台３３上に装着される、可視光観察像撮像用の可視光撮像部を備え、可視光撮像部は試料台３３に装着された状態で、試料台３３上に裁置される試料の可視光観察像を撮像可能な位置及び角度に調整されている。 - 特許庁

The lighting device for lighting an object to be observed with a microscope is provided with: a plurality of single wavelength light sources different from one another in wavelength; a contrast detecting part which detects a level of contrast of the observation image made by observing the lighted object; and an intensity ratio setting part which sets an intensity ratio of the plurality of single wavelength light sources depending on the contrast detected by the contrast detecting part.例文帳に追加

顕微鏡で観察する被観察物を照明する照明装置であって、互いに波長の異なる複数の単波長光源と、照明された被観察物を観察した観察像のコントラストの大きさを検出するコントラスト検出部と、コントラスト検出部により検出されたコントラストに応じて、複数の単波長光源の強度比を設定する強度比設定部とを備える。 - 特許庁

In a confocal laser microscope 100, an information recording part 10 is configured to record luminance information detected by an optical detector 6 and position information acquired by a position detection part 8 in association with each other by a specific moving method for changing a sample 5 and/or an objective lens 4 to either the increasing direction or reducing direction of their mutual relative distance by a driving mechanism 7.例文帳に追加

共焦点レーザ顕微鏡１００において、情報記録部１０は、駆動機構７で試料５および／または対物レンズ４を、互いの相対距離の増大方向または縮小方向のいずれかの方向へ変化させる特定移動方法により、光検出器６が検出した輝度情報と位置検出部８が取得した位置情報とを相互に関連付けて記録する。 - 特許庁

In this analysis method using the electron microscope for analyzing the material distribution condition of the material inside the capsule of the observation sample including the capsule, the observation sample including the capsule is prepared by irradiating the capsule storing a compound having a polymerizing group with ultrasonic waves.例文帳に追加

カプセルを含む観察用試料のカプセル内の材料の分布状態を電子顕微鏡により解析する方法であって、前記カプセルを含む観察用試料として、重合性基を有する化合物が内包されたカプセルに超音波を照射した観察用試料を用いることを特徴とするカプセル内の材料の分布状態を電子顕微鏡により解析する方法。 - 特許庁

To provide a laser scanning microscope in which an optical filter and a mechanical driving part requiring high position reproducing accuracy are not necessitated and the change of a device constitution is not necessitated for the various kinds of the combinations of exciting wavelength and a fluorescent pigment, by which the multiexcited fluorescent image of a sample multi-colored can be obtained by one photodetector by having a high S/N and whose constitution is simple.例文帳に追加

光学フィルタや高度な位置再現精度を要する機械駆動部を必要とせず、励起波長や蛍光色素の各種組み合わせに対しても装置構成の変更を必要としない、多重染色された標本の多重励起蛍光像を一つの光検出装置でも高いＳ／Ｎをもって得ることの出来る、簡易な構成のレーザ走査型顕微鏡を提供する。 - 特許庁

This autocollimetor for irradiating an object to be measured with parallel light, and for measuring the inclination of the object to be measured by confirming reflected light thereof has a collimator lens for collimating the light to irradiate the object to be measured into the parallel light, and a microscope lens provided to be put in and out freely between the collimator lens and the object to be measured to converge the parallel light by the collimator lens.例文帳に追加

被測定物に対して平行光を照射し、その反射光を確認することにより被測定物の傾きを測定するオートコリメータであって、前記被測定物への照射光を平行光とするためのコリメートレンズと、前記コリメートレンズと前記被測定物との間に出し入れ自在に設けられ、前記コリメートレンズによる平行光を集光する顕微鏡レンズとを有する。 - 特許庁

An illumination means 10 which is attached to the slit lamp microscope and can irradiate the eye of the patient with light, a control box 11 which allows the illumination means 10 to emit light by synchronizing with timing that the video capture means 5 fetches a photographing picture from the imaging device 4, and a cable 12 for providing electric power from the control box 11 to each illumination means 10 are included.例文帳に追加

細隙灯顕微鏡に取り付けられて患者の眼に光を照射し得る照明手段１０と、ビデオキャプチャー手段５が撮像装置４から撮影画像を取り込むタイミングに同期して、照明手段１０から光を照射させるコントロール・ボックス１１と、コントロール・ボックス１１から各照明手段１０に電力を供給するケーブル１２を備える。 - 特許庁

In the fault analyzing method of the semiconductor device, the shape defect (existence of disconnection part 13, for example) in the contact part between gate wiring 4A and wiring 8B is detected by irradiating the contact part with light and observing the direction component of reflected light by a polarizing method using a polarized microscope 20.例文帳に追加

本発明の半導体装置の故障解析方法は、偏光顕微鏡２０を用いた偏光法により、ゲート配線４Ａと配線８Ｂ間のコンタクト部における形状不良（例えば、断線箇所１３の存在）を当該コンタクト部に光を照射し、その反射光の方向成分を観察することで、上記コンタクト部における形状不良（例えば、断線箇所１３の存在）を検出することを特徴とする。 - 特許庁

The toner for electrostatic image development includes at least a binder resin, a colorant and a charge control agent, wherein the surface potential of an arbitrary surface of the toner particles for electrostatic image development after contact charging measured by a surface potential measuring mode of a scanning probe microscope varies from the surface potential before the contact charging by ≥±1,000 mV.例文帳に追加

少なくともバインダー樹脂、着色剤、荷電制御樹脂を含む静電荷像現像用トナーであって、走査型プローブ顕微鏡の表面電位測定モードで測定した接触帯電処理後の該静電荷像現像用トナー粒子の任意の表面の表面電位が、該接触帯電処理前の表面電位に対し正又は負に１，０００ｍＶ以上変化することを特徴とする静電荷像現像用トナー。 - 特許庁

The evaluation method of the formation of the serum protein composite to the biometal includes a process <1> for incubating the biometal in serum, a process <2> for washing the biometal with a buffer solution, a process <3> for washing the biometal with refined water and a process <4> for observing the presence of the formation of the serum protein composite to the biometal by a scanning electron microscope.例文帳に追加

生体用金属に対する血清タンパク質複合体形成の評価方法であって、少なくとも、＜１＞生体用金属を血清中でインキュベーションする工程、＜２＞緩衝液で洗浄する工程、＜３＞精製水で洗浄する工程、および、＜４＞生体用金属に対しての血清タンパク質複合体形成の有無を走査型電子顕微鏡で観察する工程を含むことを特徴とする。 - 特許庁

This system comprises a camera 9 for photographing a medium under cell culture via a microscope, multivaluating means 3 and 5 for multivaluating two-dimensional image data photographed by the camera 9, and run length measuring means 3 and 5 for determining the run length of an image data portion corresponding or not corresponding to cells in a straight measurement line crossing the two-dimensional image data multivaluated by the means 3 and 5.例文帳に追加

顕微鏡を介して細胞培養している培地を撮影するカメラ９と、カメラ９で撮影した２次元画像データを多値化する多値化手段３、５と、多値化手段３、５で多値化した２次元画像データを横切る直線状の計測ラインにおける細胞に対応する画像データ部分のランレングス、または、細胞に対応していない画像データ部分のランレングスを求めるランレングス計測手段３、５とを備えた構成とする。 - 特許庁

An inverted microscope 1 includes a reflection member 15 for reflecting at least part of an infinite luminous flux condensed by an objective optical system 3, an imaging optical system 16 for condensing the infinite luminous flux reflected by the reflection member 15 to form an image of a subject A, and an eyepiece optical system 20 for enlarging the image of the subject A formed by the imaging optical system 16.例文帳に追加

対物光学系３により集光された無限遠光束の少なくとも一部を反射する反射部材１５と、該反射部材１５により反射された無限遠光束を集光して被写体Ａの像を結像させる結像光学系１６と、該結像光学系１６により結像される被写体Ａの像を拡大する接眼光学系２０とを備える倒立顕微鏡１を提供する。 - 特許庁

Quantitative, dynamic, and configurational abnormal situations of a micro-vibrating matter contained in water by extracting from, or aqueous solution containing components of, base materials, materials of things, raw materials of things, the very products, the very merchandise, the very substance, which constitute sites and environments that are related to techniques and business in which how the natural providence is disturbed are verified using a phase-contrast microscope.例文帳に追加

自然摂理の阻害状況を確認したい、技術や事業に関する場所や環境を構成する素材、ものの材料、ものの原料、製品そのもの、商品そのもの、物質そのものの、それぞれの持つ水分を取り出すか、もしくは成分を水溶液状にし、その水分中に含まれる微振動する物体の、量的・動的・形状に関しての異常状況を位相差顕微鏡で確認する。 - 特許庁

The confocal scanning microscope 1 produces a confocal effect by a line slit member 5a arranged in a position optically conjugate to the focal position on the side of the sample 12 of the objective optical system 6, between the light source part 2 and the objective optical system 6 and intercepts the self-fluorescence by a line slit member 15a arranged in a position optically conjugate to the line slit member 5a in the imaging optical system 13.例文帳に追加

共焦点走査型顕微鏡１は、光源部２と対物光学系６の間で、且つ、対物光学系６の試料１２側の焦点位置と光学的に共役な位置に配置されたラインスリット部材５ａにより共焦点効果を生じさせ、撮像光学系１３内でラインスリット部材５ａと光学的に共役な位置に配置されたラインスリット部材１５ａにより自家蛍光を遮断する。 - 特許庁