「Microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方(175ページ目) - Weblio英語例文検索

While the surface of channels of a field effect transistor is being scanned by a probe, the surface potential of the channels and potentials by trap charge just beneath the probe at each point are measured through potential measurement using an atomic force microscope, and the local mobility is calculated from the measured potentials, and further the distribution of mobility is obtained based on the mobilities calculated at each point.例文帳に追加

探針で電界効果トランジスタのチャンネル表面を走査しながら、各点において探針直下のチャンネルの表面電位およびトラップ電荷による電位を、原子間力顕微鏡を用いた電位測定により測定し求めた電位から局所的な移動度を算出し、さらに各点で算出された移動度に基づいて移動度分布を求める。 - 特許庁

The microscope apparatus 1 is equipped with: a time counting means 8 configured to count a time; a plurality of different image acquisition means 4 and 16; and a storage means 9 configured, when the pieces of image information are obatained by the image acquisition means 4 and 16, to store the obtained image information and the timing information counted by the time counting means 8, in association with each other.例文帳に追加

時間を計数する計時手段８と、複数の異なる画像取得手段４，１６と、該画像取得手段４，１６により画像情報が取得されたときに、取得された画像情報と計時手段８により計数された時間情報とを対応づけて記憶する記憶手段９とを備える顕微鏡装置１を提供する。 - 特許庁

A deflection surface 25A of an optical deflecting element 25, on which a plurality of micromirrors are provided, of the confocal microscope 1 is disposed at a position conjugate to a prescribed observation surface of a sample S, and the optical deflecting element 25 controls the deflection directions of an observation light emitted from the sample S, focused with an objective lens 29 and made incident on the deflecting surface 25A by a micromirror.例文帳に追加

コンフォーカル顕微鏡１の光偏向素子２５は、複数の微小ミラーが設けられている偏向面２５Ａが試料Ｓの所定の観察面と共役な位置に配置され、対物レンズ２９により集光されて偏向面２５Ａに入射する試料Ｓからの観察光の偏光方向を微小ミラー毎に制御する。 - 特許庁

The refractory steel has a composition containing 0.005 to 0.050% C, 0.50 to 2.00% Mn, 0.50 to 2.00% Cr, 0.10 to 0.50% V and 0.005 to 0.030% Ti, and has an optical microscope structure in which, by area fraction, ≥80% is composed of a bainitic phase or a martensitic phase.例文帳に追加

Ｃ：０．００５％以上０．０５０％以下、Ｍｎ：０．５０％以上２．００％以下、Ｃｒ：０．５０％以上２．００％以下、Ｖ：０．１０％以上０．５０％以下、Ｔｉ：０．００５％以上０．０３０％以下であり、光学顕微鏡組織が、面積分率で８０％以上がベイナイト相またはマルテンサイト相である耐火鋼材。 - 特許庁

This emission microscope has an ultraviolet-ray irradiating device 11 for irradiating an ultraviolet ray on a sample 1 to emit electrons from the sample 1, a phosphor plate 8 for indicating an electron image formed by the electrons emitted from the sample 1 and an electron lens system (respective lenses 4, 5 and 6) for imaging the electron image on the phosphor plate 8.例文帳に追加

エミッション顕微鏡には、試料１に紫外線光を照射して試料１から電子を放出させる紫外線照射装置１１と、試料１から放出された電子によって形成される電子像を表示する蛍光板８と、その電子像を蛍光板８上に結像させる電子レンズ系（各レンズ４，５，６）とを有する。 - 特許庁

To approach unevenness of sample surface and measure surface state at high resolution by solving such problems as destruction, deformation of a base probe, destruction of a jointed part, caused by distortion and slipping of the CNT probe, which cause problems in observing the sample surface with a scanning probe microscope using a CNT cantilever.例文帳に追加

ＣＮＴカンチレバーを使用した走査型プローブ顕微鏡による試料表面の観察で問題となるＣＮＴの湾曲や滑りに起因するベース探針の破壊、変形および接合部の破壊の問題を解決し、試料表面の凹凸に確実にアプローチして高分解能で表面状態を測定することができるようにする。 - 特許庁

Upon using a scanning electron microscope which is loaded with a spin-polarized electron source having a laser 201 and a semiconductor 202, a chirality structure and magnetized vector of polymer inside a testpiece 208 can be visualized by measuring intensity and the degree of spin-polarization of reflected electrons 209 from the testpiece 208 which is irradiated by a spin-polarized electron beam 203 by using a reflected electron detector 210.例文帳に追加

レーザー201と半導体202を備えたスピン偏極電子源等を搭載した走査電子顕微鏡を用いて、スピン偏極電子線203を照射した試料208からの反射電子209の強度やスピン偏極度を反射電子検出器210などを用いて測定することにより、試料208内部の高分子のカイラリティ構造や磁化ベクトルを可視化することができる。 - 特許庁

Concerning a plurality of grouping areas whose peripehral parts overlap each other in a photographing object area of a microscope image, the data of a plurality of screening and zooming static images photographed at the highest magnification and the data of a plurality of focusing static images photographed with variable focal points in the respective grouping areas are created.例文帳に追加

顕微鏡像のうちの撮影対象領域を、互いに周辺部の一部が重なり合う複数の区分け領域について、最高倍率で撮影された複数のスクリーニング・ズーミング用静止画像のデータと、前記各区分け領域においてそれぞれ焦点を変えて撮影された複数のフォーカシング用静止画像のデータを作成する。 - 特許庁

The resin structure is constituted by a resin composition substantially comprising (a) a polyester resin and (b) a polyphenylene sulfide resin(PPS resin) at a specific ratio and, simultaneously, the PPS resin layer being allowed to have a special structure such as a continuous phase and a belt-shaped dispersion phase as the resin phase separation structure to be observed in the resin composition by an electron microscope.例文帳に追加

特定比の実質的に（ａ）ポリエステル樹脂及び（ｂ）ポリフェニレンスルフィド樹脂（ＰＰＳ樹脂）からなる樹脂組成物で構成され、かつ、該樹脂組成物中に電子顕微鏡で観察される樹脂相分離構造としてＰＰＳ樹脂層が連続相や帯状分散相等の特殊な構造を持った樹脂構造体とする。 - 特許庁

To prevent reattachment of chips produced during modification by removal to a substrate in a step of removing defective portions remaining so as to be different from a state expected by design against a design in a light shielding film Cr, an absorbing film TaN, a phase film MoSi left without being removed in the process and the substrate Qz by using a probe of an atomic force microscope.例文帳に追加

プロセス工程で除去されず残ってしまった遮光膜Ｃｒ、吸収膜ＴａＮ、位相膜ＭｏＳｉ、や基板Ｑｚの設計とは異なり残留した欠陥部分を原子間力顕微鏡の探針を用いて除去する工程において、除去修正時に発生する削り屑の基板への再付着を防止する。 - 特許庁

To provide an azo pigment which gives good stability to pigment-containing dispersion and ink liquid, and includes an excellent tint and optical density, and preferably a longitudinal length of which is 0.01-30 μm, when measured using a transmission microscope.例文帳に追加

本発明は顔料分散物安定性及びインク液安定性が極めて良好であり、優れた色相及び着色力を有するアゾ顔料を提供することを目的とするものであり、好ましくは透過型顕微鏡で観察した際の長軸方向の長さが０．０１μｍ〜３０μｍであるアゾ顔料を提供することを目的とするものである。 - 特許庁

To provide a microscope in which at least one or more electric drive parts are used, which displays current position information, statuses and error states of the electric drive parts and has the necessary minimum number of inexpensive display parts, operation switches in order to decrease an operation burden to a worker without using expensive liquid crystals, etc.例文帳に追加

少なくとも１つ以上の電動駆動部を用いた顕微鏡において、上記顕微鏡電動駆動部の現在位置情報・ステータス・エラー状態を表示し、高価な液晶などの高価な表示部を用いない安価な表示部と、作業者への操作負担を軽減させるため、必要最小限数の表示部、操作スイッチを備えた顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

This invention relates to the microscope 10 including: the main objective lens 20 having a lens configuration group 22 slidable to change the focal distance in the direction of an optical axis 23 of the main objective lens 20; and an illumination unit for forming an illumination beam path directed to an object surface 100 and having illumination deflecting means 43, 45 for deflecting the illumination beam path.例文帳に追加

本発明は、主対物レンズ（２０）の光軸（２３）方向に焦点距離の変化のためにスライド可能なレンズ構成群（２２）を備える主対物レンズ（２０）と、対象物面（１００）に向けられた照明ビーム路を形成し、該照明ビーム路を偏向するための照明偏向手段（４３，４５）を備える照明ユニットとを有する顕微鏡（１０）に関する。 - 特許庁

The confocal microscope is equipped with a light source array 30 comprising a plurality of light sources 40 and positioned on a plane conjugate to the focal plane of an objective 3, and a pinhole array 22 positioned on the plane conjugate to the focal plane of the objective 3 and having apertures 23 at respective positions corresponding to the respective light sources 40 of the light source array 30.例文帳に追加

共焦点顕微鏡を、対物レンズ３の焦点面に共役な面に位置する複数の光源４０からなる光源アレイ３０と、対物レンズ３の焦点面に共役な面に位置し光源アレイ３０の各光源４０に対応する各位置にそれぞれ開口２３を有するピンホールアレイ２２と、を備えて構成する。 - 特許庁

This microscope includes the objective lens, the field stop disposed in a conjugate position to a focal plane of the objective lens to vary a stop diameter, and a magnification change device disposed on an observation optical path of the objective lens, wherein the field stop is controlled to always keep a large stop diameter to the visual field diameter changed in a variable power.例文帳に追加

対物レンズと、前記対物レンズの焦点面と共役な位置に配置されて絞り径が可変な視野絞りと、前記対物レンズの観察光路上に配置された倍率変倍装置とを備えた顕微鏡において、変倍時に変化する視野径に対して常に視野絞りの径が大きい状態を保つように制御することによって解決される。 - 特許庁

As a result, the observation object can be observed from many aspects using a microscope.例文帳に追加

試料液供給手段１６から管部材６を通して試料液回収手段１８に観察試料液を流すと、管部材６を流れる際に観察試料液に含まれる観察体が多数の微小突部１２に衝突し、かかる衝突によって観察体が観察試料液の所定方向の流れを利用して回動し、その結果、顕微鏡を用いて観察体を多面的に観察することができる。 - 特許庁

A wafer chuck rotatable 360° and an X-Y stage with a movable distance which is a half of the diameter of a semiconductor wafer are provided, and the regions provided by dividing a semiconductor wafer 1 into four is rotated with a wafer chuck, according to wafer's defect position coordinate and the four regions are observed sequentially with a fixed microscope 2, for defect review on the entire wafer surface.例文帳に追加

３６０度回転可能なウェハチャックと半導体ウェハ直径の半分の可動距離をもつＸ−Ｙステージとを有し、半導体ウェハ１を４分割した領域をウェハの欠陥位置座標に応じてウェハチャックを回転して、この４つの領域を順次固定された顕微鏡２により観察して、ウェハ全面の欠陥レビューを行うようにしている。 - 特許庁

The filter slider 101 for the microscope adhered and fixed with a first optical element 103 and with a second optical element 102 at a mounting member 104, so as to face each other is provided with a vent hole 106 for making the space between the first optical element 103 and the second optical element 102 at the mounting member 104 described above, communicate with the outside.例文帳に追加

第１の光学素子１０３と第２の光学素子１０２とを対向させて、取付け部材１０４に接着固定した顕微鏡用フィルタースライダ１０１において、前記第１の光学素子１０３と前記第２の光学素子１０２との空間部を外部に連通させる通気孔１０６を前記取付け部材１０４に設ける。 - 特許庁

The negative electrode for lithium secondary battery is comprises coating and integrating, on a current collector, a graphite paste which is made by adding and mixing an organic binder and solvent to graphite particles which are made by assembling and binding a plurality of flat-shape particles so that the orientation surface is unparallel having pores, when the cross-section of the particles is observed by a scanning type microscope photograph.例文帳に追加

扁平状の粒子を複数、配向面が非平行となるように集合又は結合させてなり、粒子の断面を走査型顕微鏡写真で観察したときに細孔を有する黒鉛粒子に、有機系結着剤及び溶剤を添加し、混合してなる黒鉛ペーストを集電体に塗布、一体化してなるリチウム二次電池用負極。 - 特許庁

The conductive electroless plating powder in which a nickel film is formed by an electroless plating method on the surface of the core member powder is characterized in that grain boundaries are not admitted at the section in the thickness direction of the nickel film when the section is observed by a scanning electron microscope at magnifying power up to 100,000 times.例文帳に追加

本発明の芯材粉体の表面に無電解めっき法によってニッケル皮膜を形成した導電性無電解めっき粉体は、前記ニッケル皮膜の厚さ方向断面を、走査型電子顕微鏡によって１０００００倍迄の拡大倍率で観察したときに、該断面に結晶粒界が認められないことを特徴とする。 - 特許庁

This microscope where observation data are acquired by irradiating an observation object with the deep ultraviolet light has a control part measuring the line width of a pattern provided at the prescribed position of the observation object and stopping the irradiation of the observation object with the deep ultraviolet light when the line width of the pattern attains a prescribed limiting value.例文帳に追加

観察対象に深紫外光を照射して観察データを取得する顕微鏡において、該観察対象の所定の位置に設けられたパターンの線幅を測定し、該パターンの線幅が所定の制限値に達した場合に、該観察対象への深紫外光の照射を停止する制御部を有することを特徴とする。 - 特許庁

To provide a semiconductor device, where stable contact resistance can be obtained when a probe is brought into contact with an electrode pad to check its properties, and the probe is kept in contact with the electrode pad can be visually confirmed with ease by a microscope, the electrode is superior in solder wettability, and a solder bump can be suitably formed on the electrode pad.例文帳に追加

探針プローブを電極パッドに接触させて特性検査を行う際、安定な抵抗が得られ、探針プローブを接触させたことが顕微鏡観察等により容易に視認することができるようにし、さらに、ハンダに対する濡れ性が良好で、電極パッド上にハンダバンプを好適に形成することができる、半導体装置を提供する。 - 特許庁

In this probe microscope having a probe, an electrode arranged through a sample and a measuring instrument which applies voltage across the probe and the electrode to detect the current flowing to the sample between the probe and the electrode, voltage is applied across two desired points in the sample to detect the produced migration to thereby determine the insulating failure.例文帳に追加

探針と試料を介して配置される電極と、探針と電極間に電圧を印加して探針と電極間の試料に流れる電流を検出する測定装置を有するプローブ顕微鏡において、試料内における所望の二点間に電圧を印加することにより、発生するマイグレーションを検知して絶縁不良を判定するプローブ顕微鏡にある。 - 特許庁

The scanning electron microscope for two-dimensionally scanning an electron beam on a sample to form an image with signals obtained from the sample and sent to display means comprises a means for controlling pressure in a sample cell and a means for sending signals obtained from the sample to the display means by controlling in accordance with the pressure in the sample cell.例文帳に追加

試料上で電子線を２次元的に走査し試料から得られる信号を表示手段に送って像を形成する走査電子顕微鏡において、試料室の圧力を制御する手段と、前記試料から得られる信号を前記試料室の圧力に応じて制御して表示手段に送る手段とを備えたことを特徴とする。 - 特許庁

To provide a signal detection apparatus enabling simplification of a mechanism for detecting the displacement of a probe and simplification of the arrangement of a detection system even if a plurality of probes are in use, thus enabling a space saving, a scanning atomic force microscope constructed of the detection apparatus, and a signal detection method.例文帳に追加

プローブ変位検出のための機構を簡単化することができ、また複数のプローブを用いる場合においても検出系の構成を簡便化することができ、省スペース化を図ることが可能な信号検出装置、該信号検出装置によって構成した走査型原子間力顕微鏡、および信号検出方法を提供する。 - 特許庁

OPTICAL MICROSCOPE OBSERVATION METHOD FOR COUPLING CONDITION AND AGGREGATION CONDITION OF SUSPENDED MATTER IN AQUEOUS SOLUTION, PHOTOGRAPHIC METHOD FOR SUSPENDED MATTER USING THE OBSERVATION METHOD, EVALUATION METHOD FOR AQUEOUS SOLUTION USING THE OBSERVATION METHOD OR THE PHOTOGRAPHIC METHOD, AND DATA BY STATIC PICTURES OR ANIMATION OF COUPLING CONDITION OF SUSPENDED MATTER AND AGGREGATION CONDITION PHOTOGRAPHED BY THE PHOTOGRAPHIC METHOD例文帳に追加

水溶液中の懸濁物質の結合状態、集合状態の光学顕微鏡観察方法と、その観察方法を利用した懸濁物質の撮影方法と、その観察方法又は撮影方法を利用した水溶液の評価方法と、その撮影方法で撮影された懸濁物質の結合状態、集合状態の静止画又は動画による資料 - 特許庁

To provide an optical radiation pressure measuring device capable of easily and accurately measuring an optical radiation pressure, a resonance frequency regulating method capable of easily adjusting a resonance frequency of a resonance body, an aperture diameter inspection device evaluating a minute aperture of the resonance body, and a near field microscope provided with the aperture diameter inspection device.例文帳に追加

本発明の目的は光放射圧を簡便かつ正確に測定可能な光放射圧測定装置、共振体の共振周波数を容易に調整可能な共振周波数調整方法、共振体の微小開口を評価する開口径検査装置及びそれを備えた近接場光学顕微鏡を提供することにある。 - 特許庁

The steel material satisfies a prescribed chemical component composition, and in the steel material, when the size of each inclusion is defined as the length of the widest portion in the direction perpendicular to the maximum length of the projection of the inclusion as observed with a microscope, inclusions each characterized in that the size is ≥2 μm are dispersed.例文帳に追加

鋼材は、所定の化学成分組成を満足し、且つ顕微鏡観察したときの介在物の最大投影長さに垂直な方向で最も幅の大きい長さを介在物の大きさとしたときに、その大きさが２μｍ以上である介在物が分散したものであると共に、該介在物は下記（１）式および（２）式の関係を満足するものである。 - 特許庁

To improve an SN ratio of an image signal of a defect spot by adjusting an incident azimuth of each illumination light at a suitable angle for a pattern on a sample, when performing visual inspection of the sample by illuminating the sample with illumination light entering the sample obliquely with respect to the optical axis of an objective lens of a microscope, and by acquiring a sample image.例文帳に追加

顕微鏡の対物レンズの光軸に対して斜めに試料に入射する照明光により試料を照明して試料の画像を取得し試料の外観検査を行う際に、各照明光の入射方位を試料上のパターンに好適な角度に調整して、欠陥箇所の画像信号のＳＮ比を向上する。 - 特許庁

This sample-drawing holder 1 for drawing the sample 10 installed on the scanning probe microscope is equipped with the pair of grippers 9 for gripping both ends of the sample, a support member 4 for supporting movably the pair of grippers 9, and a moving mechanism 7 for moving the pair of grippers 9 on the facing positions in the mutually separating directions.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡に設置された試料１０を延伸させる試料延伸ホルダー１であって、試料１０の両端部を把持する一対の把持具９と、一対の把持具９を移動可能に支持する支持部材４と、対向位置にある一対の把持具９を互いに離間する方向に移動させる移動機構７とを備えた。 - 特許庁

To provide a small-sized, lightweight scanning type optical microscope which can minimize the loss of fluorescent light from a sample, has flexible selectivity to various fluorescent spectra, and can guide the fluorescent light from the sample to respective detection optical paths with high spectral precision for a multiple dye sample and a sample having developed multiple fluorescent proteins.例文帳に追加

標本からの蛍光の損失を最小限に押さえることのでき，さまざまな蛍光スペクトルに対して柔軟な選択性を有し、かつ多重染色標本や複数の蛍光蛋白を発現させた標本に対して、高い分光精度で各検出光路に標本からの蛍光を導くことのできる、小型軽量な走査型光学顕微鏡を提供する。 - 特許庁

The scanning probe microscope comprises: the cantilever 14 provided with prove 13; the moving mechanisms 11 and 17 for relatively moving the position of the probe to the sample 10; the detection means for detecting the specific physical amount; the measurement means for measuring the surface of the sample; and the measurement control means 60 for controlling the operation of the moving mechanisms and the measurement means.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡は、探針１３を有するカンチレバー１４と、試料１０に対する探針の位置を相対的に変化させる移動機構１１，１７と、所定物理量を検出する検出手段と、試料表面を測定する測定手段と、移動機構と測定手段の動作を制御する測定制御手段６０を備える。 - 特許庁

To obtain a stereomicroscope enabling an observer to observe an image obtained by superimposing a microscopic image and image information displayed on a monitor with both eyes and pick up the image, preventing the brightness of the microscopic image from lowering, a microscope from getting larger and heavier and a distance from an object to the eye point of the observer from being increased and making operability excellent.例文帳に追加

観察者が両眼で顕微鏡画像とモニターに表示される画像情報とを重ね合わせた像を観察および撮像することができ、且つ、顕微鏡画像の明るさの低下や、顕微鏡鏡体部の大型重量化，被観察物体から観察者のアイポイントまでの距離の増加等のない、作業性の優れた実体顕微鏡を提供する。 - 特許庁

A main pattern of a photomask having a focus monitor mark capable of controlling a focus position can be subjected to a transfer simulation giving a just-focus and accurate contrast of transmitted light intensity, only by setting a focus controlling system 80 on a measurement stage of a lithographic simulation microscope, the system capable of giving a just-focus and accurate contrast of transmitted light intensity.例文帳に追加

リソグラフィシュミレーション顕微鏡の測定ステージに、ジャストフォーカスで正確な透過光強度のコントラストが得られるフォーカス制御システム８０をセットするだけで、フォーカス位置が制御可能なフォーカスモニターマークが配置されたフォトマスクのメインパターンをジャストフォーカスで正確な透過光強度のコントラストが得られる転写シュミレーションを行うことができる。 - 特許庁

The microscope which has at least one magazine (30, 40) having a plurality of reception areas (42) receiving a plurality of constituent elements (44) is equipped with a read unit which has transponders (48) arranged at the plurality of constituent elements (44) received in the plurality of reception areas (42) and reads data stored in the transponders 48.例文帳に追加

複数の構成要素（４４）をそれぞれ受容する複数の受容領域（４２）を有する少なくとも１つのマガジン（３０、４０）を有する顕微鏡において、前記複数の受容領域（４２）に受容される複数の構成要素（４４）に、トランスポンダ（４８）が配属され、及び該トランスポンダ（４８）に記憶されたデータを読み取る読取ユニットを備える。 - 特許庁

In the evaluation method of the co-flocculation capacity of bacteria, external force is applied to a capsule 11 for submerged observation containing at least two kinds of bacteria becoming an evaluation target, the co-flocculation states of bacteria before and after external force is applied is observed by a scanning electron microscope and the co-flocculation capacity of bacteria is evaluated on the basis of the observation result.例文帳に追加

本発明の細菌の共凝集能の評価方法は、評価対象となる二種以上の細菌を含む液中観察用カプセル１１に外力を加え、外力を加える前と加えた後の前記細菌の共凝集状態を走査型電子顕微鏡により観察し、その観察結果に基づいて前記細菌の共凝集能を評価する。 - 特許庁

To improve an observation tube for an optical instrument, especially, a microscope so that various functions can be realized time-continuously without unnecessarily attenuating light passing through the observation tube and without unnecessarily increasing structural height, thereby the reflection of the light to different units and (or) the reflection of the light into respective optical paths can be realized.例文帳に追加

光学器械、特に顕微鏡の視検筒において、視検筒を通過する光が不必要に減衰することなく、また構造的な高さを不必要に増大させることなく、時間的に連続して種々の機能を実現でき、たとえば異なるユニットへの光の反射および（または）それぞれの光路内への光の反射を実現できるように改良する。 - 特許庁

In a method that an image is formed by utilizing a secondary electron amplification by residual gas around a sample in a low vacuum scanning electron microscope(SEM) and an absorption current, the observation with high resolution and good image quality is enabled by an electric field in which an electrode acts with the comparatively reduced number of parts and a design taking scattering of a first electron beam into consideration.例文帳に追加

低真空SEMにおける試料周辺の残留ガス分子による二次電子増幅法と吸収電流を利用して画像を形成する方式に於いて、比較的少ない部品数で電極が作用する電界や１次電子ビームの散乱を考慮した設計によって、低真空における高分解能・良好な像質での観察を可能とする。 - 特許庁

A slit plate which is mounted on an optical irradiation device of an optical microscope and is used for irradiation with reverse slit light is constituted of an outer peripheral section having an opened central part and a light shielding section which is fixed to or is suspended from the outer peripheral section through a center or a vicinity of an opened part located inside the outer peripheral section.例文帳に追加

スリット板が、光学顕微鏡の光照射デバイス上に載置して逆スリット光を照射するためのスリット板であって、中央部が開口された外周縁部分と、該外周縁部分の内側にある開口部の中心またはその近傍を通って前記外周縁部分に固定または懸架された遮光部分とから構成されている。 - 特許庁

A mask of a several micron-several hundred micron unit is applied to the edge part of the mask for prescribing an ion irradiation region and an ion non-irradiation region and the positional relation of the mask, and the sample is confirmed, on the basis of the mark to facilitate the observation due to an optical microscope to manufacture a cross-sectional sample high in positional precision of about several microns.例文帳に追加

イオン照射領域とイオン非照射領域を規定するマスクのエッジ部に数ミクロンから数百ミクロン単位のマークを付けることにより、このマークに注目してマスクと試料の位置関係を確認して光学顕微鏡での観察を容易にし、数ミクロン程度の位置精度の高い断面試料を作製することを特徴としている。 - 特許庁

The microscope and/or the stand have/has at least one supporting member and vibration compensation device, in which at least one ARES component (71) is arranged for vibration compensation inside or on the surface of one of the supporting members (2 or 7) or in place of one of the supporting members (2 or 7).例文帳に追加

顕微鏡及び／又は架台が少なくとも１つの支持部材と振動補償装置とを有する形式の架台を有する顕微鏡において、少なくとも１つのＡＲＥＳ構造要素（７１）が、振動補償装置として、少なくとも１つの前記支持部材（２又は７）の内部又は表面に、又は前記支持部材（２又は７）の１つの代わりに配設される。 - 特許庁

To provide a microobservation apparatus capable of displaying an image of an observation sample of which the change accompanying the lapse of time is detected, together with the effect that the change is detected when the image of the sample gained by a microscope is observed, and to provide a microobservation method and a microobservation program which are executed in the microobservation apparatus.例文帳に追加

顕微鏡によって取得した観察試料の画像を観察する際、時間経過に伴う変化が検出された観察試料の画像を、変化が検出された旨とともに表示することが可能な顕微観察装置、該顕微観察装置において実行される顕微観察方法および顕微観察プログラムを提供すること。 - 特許庁

A program includes a command for determining an electrically-driven unit to be initialized with priority among electrically-driven units, which are not yet initialized, based on preliminarily recorded power consumption information and initialization time of each electrically-driven unit and sequentially executing initialization when a plurality of electrically-driven units mounted on a microscope body 3 are initialized.例文帳に追加

顕微鏡本体３に装着された複数の電動ユニットを初期化する際、予め記録された各電動ユニットの消費電力情報と初期化時間に基づき、まだ初期化を実行していない電動ユニットの中から優先して初期化を実行する電動ユニットを決定し、順次初期化を実行する指令を含むプログラム。 - 特許庁

In the evaluation method for the optical characteristics of the optical compensation element using a liquid crystal molecular material, the surface of an optical compensation layer is observed by a polarization microscope, the dimension of each granular domain formed by differences between the axial orientations of liquid crystal molecules are evaluated, and the dimension of the domains has a diameter of 5 μm or less.例文帳に追加

液晶性分子材料を用いた光学補償素子の光学特性の評価方法において、偏光顕微鏡により光学補償層の表面を観察し、液晶性分子の軸方位の違いにより形成された粒状のドメインの大きさを評価し、該ドメインの大きさが直径５μｍ以下であることを特徴とする。 - 特許庁

A coal ash evaluation method: calculates a specific surface area of a particle of a specific type contained in coal ash to be used through a particle analysis using an electronic microscope; and evaluates a suppression effect of the coal ash to be used on an alkali-silica reaction by comparing data on expansion coefficients obtained through alkali-silica reaction tests using mortar mixed with preliminarily collected coal ash from different production areas.例文帳に追加

電子顕微鏡を用いた粒子解析により、使用する石炭灰中に含まれる特定の種類の粒子の比表面積を算出し、予め収集した産地の異なる石炭灰を混合したモルタルによるアルカリシリカ反応性試験の膨張率のデータとを比較し、使用する石炭灰のアルカリシリカ反応の抑制効果を評価する。 - 特許庁