「Microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方(175ページ目) - Weblio英語例文検索

To improve an SN ratio of an image signal of a defect spot by adjusting an incident azimuth of each illumination light at a suitable angle for a pattern on a sample, when performing visual inspection of the sample by illuminating the sample with illumination light entering the sample obliquely with respect to the optical axis of an objective lens of a microscope, and by acquiring a sample image.例文帳に追加

顕微鏡の対物レンズの光軸に対して斜めに試料に入射する照明光により試料を照明して試料の画像を取得し試料の外観検査を行う際に、各照明光の入射方位を試料上のパターンに好適な角度に調整して、欠陥箇所の画像信号のＳＮ比を向上する。 - 特許庁

This sample-drawing holder 1 for drawing the sample 10 installed on the scanning probe microscope is equipped with the pair of grippers 9 for gripping both ends of the sample, a support member 4 for supporting movably the pair of grippers 9, and a moving mechanism 7 for moving the pair of grippers 9 on the facing positions in the mutually separating directions.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡に設置された試料１０を延伸させる試料延伸ホルダー１であって、試料１０の両端部を把持する一対の把持具９と、一対の把持具９を移動可能に支持する支持部材４と、対向位置にある一対の把持具９を互いに離間する方向に移動させる移動機構７とを備えた。 - 特許庁

A main pattern of a photomask having a focus monitor mark capable of controlling a focus position can be subjected to a transfer simulation giving a just-focus and accurate contrast of transmitted light intensity, only by setting a focus controlling system 80 on a measurement stage of a lithographic simulation microscope, the system capable of giving a just-focus and accurate contrast of transmitted light intensity.例文帳に追加

リソグラフィシュミレーション顕微鏡の測定ステージに、ジャストフォーカスで正確な透過光強度のコントラストが得られるフォーカス制御システム８０をセットするだけで、フォーカス位置が制御可能なフォーカスモニターマークが配置されたフォトマスクのメインパターンをジャストフォーカスで正確な透過光強度のコントラストが得られる転写シュミレーションを行うことができる。 - 特許庁

To provide a small-sized, lightweight scanning type optical microscope which can minimize the loss of fluorescent light from a sample, has flexible selectivity to various fluorescent spectra, and can guide the fluorescent light from the sample to respective detection optical paths with high spectral precision for a multiple dye sample and a sample having developed multiple fluorescent proteins.例文帳に追加

標本からの蛍光の損失を最小限に押さえることのでき，さまざまな蛍光スペクトルに対して柔軟な選択性を有し、かつ多重染色標本や複数の蛍光蛋白を発現させた標本に対して、高い分光精度で各検出光路に標本からの蛍光を導くことのできる、小型軽量な走査型光学顕微鏡を提供する。 - 特許庁

The microscope which has at least one magazine (30, 40) having a plurality of reception areas (42) receiving a plurality of constituent elements (44) is equipped with a read unit which has transponders (48) arranged at the plurality of constituent elements (44) received in the plurality of reception areas (42) and reads data stored in the transponders 48.例文帳に追加

複数の構成要素（４４）をそれぞれ受容する複数の受容領域（４２）を有する少なくとも１つのマガジン（３０、４０）を有する顕微鏡において、前記複数の受容領域（４２）に受容される複数の構成要素（４４）に、トランスポンダ（４８）が配属され、及び該トランスポンダ（４８）に記憶されたデータを読み取る読取ユニットを備える。 - 特許庁

In the evaluation method of the co-flocculation capacity of bacteria, external force is applied to a capsule 11 for submerged observation containing at least two kinds of bacteria becoming an evaluation target, the co-flocculation states of bacteria before and after external force is applied is observed by a scanning electron microscope and the co-flocculation capacity of bacteria is evaluated on the basis of the observation result.例文帳に追加

本発明の細菌の共凝集能の評価方法は、評価対象となる二種以上の細菌を含む液中観察用カプセル１１に外力を加え、外力を加える前と加えた後の前記細菌の共凝集状態を走査型電子顕微鏡により観察し、その観察結果に基づいて前記細菌の共凝集能を評価する。 - 特許庁

To improve an observation tube for an optical instrument, especially, a microscope so that various functions can be realized time-continuously without unnecessarily attenuating light passing through the observation tube and without unnecessarily increasing structural height, thereby the reflection of the light to different units and (or) the reflection of the light into respective optical paths can be realized.例文帳に追加

光学器械、特に顕微鏡の視検筒において、視検筒を通過する光が不必要に減衰することなく、また構造的な高さを不必要に増大させることなく、時間的に連続して種々の機能を実現でき、たとえば異なるユニットへの光の反射および（または）それぞれの光路内への光の反射を実現できるように改良する。 - 特許庁

In a method that an image is formed by utilizing a secondary electron amplification by residual gas around a sample in a low vacuum scanning electron microscope(SEM) and an absorption current, the observation with high resolution and good image quality is enabled by an electric field in which an electrode acts with the comparatively reduced number of parts and a design taking scattering of a first electron beam into consideration.例文帳に追加

低真空SEMにおける試料周辺の残留ガス分子による二次電子増幅法と吸収電流を利用して画像を形成する方式に於いて、比較的少ない部品数で電極が作用する電界や１次電子ビームの散乱を考慮した設計によって、低真空における高分解能・良好な像質での観察を可能とする。 - 特許庁

A slit plate which is mounted on an optical irradiation device of an optical microscope and is used for irradiation with reverse slit light is constituted of an outer peripheral section having an opened central part and a light shielding section which is fixed to or is suspended from the outer peripheral section through a center or a vicinity of an opened part located inside the outer peripheral section.例文帳に追加

スリット板が、光学顕微鏡の光照射デバイス上に載置して逆スリット光を照射するためのスリット板であって、中央部が開口された外周縁部分と、該外周縁部分の内側にある開口部の中心またはその近傍を通って前記外周縁部分に固定または懸架された遮光部分とから構成されている。 - 特許庁

A mask of a several micron-several hundred micron unit is applied to the edge part of the mask for prescribing an ion irradiation region and an ion non-irradiation region and the positional relation of the mask, and the sample is confirmed, on the basis of the mark to facilitate the observation due to an optical microscope to manufacture a cross-sectional sample high in positional precision of about several microns.例文帳に追加

イオン照射領域とイオン非照射領域を規定するマスクのエッジ部に数ミクロンから数百ミクロン単位のマークを付けることにより、このマークに注目してマスクと試料の位置関係を確認して光学顕微鏡での観察を容易にし、数ミクロン程度の位置精度の高い断面試料を作製することを特徴としている。 - 特許庁

The microscope and/or the stand have/has at least one supporting member and vibration compensation device, in which at least one ARES component (71) is arranged for vibration compensation inside or on the surface of one of the supporting members (2 or 7) or in place of one of the supporting members (2 or 7).例文帳に追加

顕微鏡及び／又は架台が少なくとも１つの支持部材と振動補償装置とを有する形式の架台を有する顕微鏡において、少なくとも１つのＡＲＥＳ構造要素（７１）が、振動補償装置として、少なくとも１つの前記支持部材（２又は７）の内部又は表面に、又は前記支持部材（２又は７）の１つの代わりに配設される。 - 特許庁

To provide a microobservation apparatus capable of displaying an image of an observation sample of which the change accompanying the lapse of time is detected, together with the effect that the change is detected when the image of the sample gained by a microscope is observed, and to provide a microobservation method and a microobservation program which are executed in the microobservation apparatus.例文帳に追加

顕微鏡によって取得した観察試料の画像を観察する際、時間経過に伴う変化が検出された観察試料の画像を、変化が検出された旨とともに表示することが可能な顕微観察装置、該顕微観察装置において実行される顕微観察方法および顕微観察プログラムを提供すること。 - 特許庁

A coal ash evaluation method: calculates a specific surface area of a particle of a specific type contained in coal ash to be used through a particle analysis using an electronic microscope; and evaluates a suppression effect of the coal ash to be used on an alkali-silica reaction by comparing data on expansion coefficients obtained through alkali-silica reaction tests using mortar mixed with preliminarily collected coal ash from different production areas.例文帳に追加

電子顕微鏡を用いた粒子解析により、使用する石炭灰中に含まれる特定の種類の粒子の比表面積を算出し、予め収集した産地の異なる石炭灰を混合したモルタルによるアルカリシリカ反応性試験の膨張率のデータとを比較し、使用する石炭灰のアルカリシリカ反応の抑制効果を評価する。 - 特許庁

This sample holder provided with a cartridge supporting body 51 arranged at the tip and constructed for allowing attachment/detachment of the sample supporting cartridge 51 to it is constructed of a holder main body 50 attached removably to a mirror body in an electronic microscope or a processing chamber in a focused ion beam device by means of a holder driving mechanism 52 and the holder driving mechanism 52.例文帳に追加

試料ホルダーは、先端部に、試料支持用カートリッジ５７が着脱可能に構成されたカートリッジ支持体５１を有し、ホルダー駆動機構５２によって、電子顕微鏡の鏡体及び集束イオンビーム装置の加工室に取り付けたり、該鏡体及び加工室から外したり出来るようになっているホルダー本体５０と、ホルダー駆動機構５２から成る。 - 特許庁

From the image of a microscope micronucleus are detected, the chromosomes originating from the micronucleus are determined in dependence upon the hue of the micronucleus, a statistical processing on the distribution of the micronucleus in the sample is carried out by serially carrying out the classification on plural micronucleus and assigning with the main nucleus detected with the micronucleus.例文帳に追加

次に、顕微鏡にて画像化した画像情報に基づいて、小核を検出し、この小核の色調に基づいて小核の由来となる染色体を決定し、複数の小核について順次分類するとともに、小核とともに検出した主核と対応付けて、標本内の小核の分布に関する統計処理を行う。 - 特許庁

A program includes a command for determining an electrically-driven unit to be initialized with priority among electrically-driven units, which are not yet initialized, based on preliminarily recorded power consumption information and initialization time of each electrically-driven unit and sequentially executing initialization when a plurality of electrically-driven units mounted on a microscope body 3 are initialized.例文帳に追加

顕微鏡本体３に装着された複数の電動ユニットを初期化する際、予め記録された各電動ユニットの消費電力情報と初期化時間に基づき、まだ初期化を実行していない電動ユニットの中から優先して初期化を実行する電動ユニットを決定し、順次初期化を実行する指令を含むプログラム。 - 特許庁

In the evaluation method for the optical characteristics of the optical compensation element using a liquid crystal molecular material, the surface of an optical compensation layer is observed by a polarization microscope, the dimension of each granular domain formed by differences between the axial orientations of liquid crystal molecules are evaluated, and the dimension of the domains has a diameter of 5 μm or less.例文帳に追加

液晶性分子材料を用いた光学補償素子の光学特性の評価方法において、偏光顕微鏡により光学補償層の表面を観察し、液晶性分子の軸方位の違いにより形成された粒状のドメインの大きさを評価し、該ドメインの大きさが直径５μｍ以下であることを特徴とする。 - 特許庁

This cantilever for a scanning type probe microscope is provided with: a flexible beam 120 with one end 121 fixed to a base part 110; a probe 130 formed on the side of the other end 122 of the flexible beam 120; and a through-hole 140 formed in a region including the prove 130 and the side of the other end 122 of the flexible beam 120.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡用カンチレバーは、一端１２１が基部１１０に固定されている可撓性の可撓梁１２０と、可撓梁１２０の他端１２２の側に設けられている探針１３０と、探針１３０と可撓梁１２０の他端１２２の側とを含む領域に形成されている貫通孔１４０とを備えている。 - 特許庁

The microscope condenser lens LCon includes, in order from the light source side to the specimen side: a first lens group G1 having a cemented negative meniscus lens L1 whose concave face is oriented on the light source side; a second lens group G2 having a single positive lens L2; and a third lens group G3 having a positive lens L31 and a negative lens L32.例文帳に追加

本発明の顕微鏡用コンデンサレンズＬＣｏｎは、光源側から標本側に向かって順に並んだ、光源側に凹面を向けた接合負メニスカスレンズＬ１を有する第１レンズ群Ｇ１と、単体正レンズＬ２を有する第２レンズ群Ｇ２と、正レンズＬ３１と負レンズＬ３２とを有する第３レンズ群Ｇ３とから構成される。 - 特許庁

Micromanipulators 13, 14 driven along three axes X, Y and Z disposed on a microscope 12 are controlled to be driven in the respective directions of X, Y and Z axes by the operation of a mouse 24, whereby a user is enabled to operate the micromanipulators 13, 14 by one hand, and carry out the micro-operation more simply than the operation of the mouse 24.例文帳に追加

顕微鏡１２に配設されたＸＹＺの三軸に駆動可能なマイクロマニピュレータ１３，１４をマウス２４の操作によって各ＸＹＺ軸方向に駆動制御することによって、利用者は片手でマイクロマニピュレータ１３，１４の操作を行うことができるとともに、マウス２４の操作性より簡易に微小操作を実施することが可能になる。 - 特許庁

As a result of an intensive study, an image is acquired by a combination apparatus of a microscope and the image analyzer and, by classifying the granular structure on the basis of the size thereof to analyze the same, the forming state of the granular structure is quantitatively measured more accurately.例文帳に追加

上記課題を解決すべく鋭意研究の結果、顕微鏡と画像解析装置を組み合わせた装置によって取得した画像を、顆粒状構造物をその大きさによって分類して解析することにより、顆粒状構造物の生成状況をより正確に、かつ定量的に測定できることを見出し、本発明を完成するに至った。 - 特許庁

To provide a method of correcting the defects of a photomask which is capable of precisely removing the residual defects below 500 nm without the damage on a quartz substrate and segments exclusive of the defects after the correction of the remaining defects formed on a mask and is capable of easily detecting even the end point of the correction and a scanning probe microscope used for the same.例文帳に追加

マスクに形成された残留欠陥修正後の石英基板や欠陥以外の部分へのダメージが無く、５００ｎｍ以下の残留欠陥を精度良く除去することが可能で、修正のエンドポイントも容易に検出できるフォトマスクの欠陥修正方法及びそれに用いる走査プローブ顕微鏡を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide an imaging device (a device according to an aberration correction device) for a charge particle beam device as an electron microscope or the like used for the inspection and measurement of a semiconductor, in which a small deviation beam with a high probe current is formed to improve the resolution and throughput in EDX analysis, WDX analysis, or defect inspection.例文帳に追加

半導体の検査および計測に使用される電子顕微鏡等の荷電粒子ビーム装置用の「撮像装置」（収差補正装置に準ずる装置）であって、ＥＤＸ分析、ＷＤＸ分析、欠陥検査等の分解能およびスループットを向上させるために高プローブ電流で分散の小さいビームを形成できるようにする。 - 特許庁

In a method for manufacturing the electrophotographic photoreceptor obtained by sequentially stacking at least an intermediate layer, a charge generating layer and a charge transport layer on a conductive support, the intermediate layer contains a thermoplastic resin and a microscopic ten-point average roughness obtained by shape observation through an atomic force microscope is ≤3.2 μm.例文帳に追加

導電性支持体上に、少なくとも中間層、電荷発生層、電荷輸送層が順次積層されて成る電子写真用感光体の製造方法において、前記中間層が熱可塑性樹脂を含有し、且つ、原子間力顕微鏡による形態観察をして得られた微視的な十点平均粗さが３．２ｎｍ以下であることを特徴とする。 - 特許庁

An electron microscope can display the observed image on a display unit 28 by applying an acceleration voltage to an electron gun to irradiate a sample with an electron beam based on predetermined image observation conditions, scanning the desired area of the surface of the sample while secondary electrons or reflected electrons emitted from the sample are detected by one or more detectors, thereby focusing the image.例文帳に追加

電子顕微鏡は、所定の像観察条件に基づいて、電子銃に加速電圧を印加して電子線を試料に照射し、試料から放出される二次電子または反射電子を１以上の検出器で検出しながら試料表面の所望の領域を走査することで、観察像を結像し表示部２８にて表示可能である。 - 特許庁

The cell analysis system is equipped with a cell observing device, which has a flow channel for allowing a cell-containing solution to flow provided therein, has a transparent surface for observing the cells in the flow channel and is characterized in that the upper and under surfaces of the flow channel are parallel, and a microscope for observing the cells in the flow channel.例文帳に追加

細胞含有溶液を流動させるための流路を内部に備え、前記流路内の細胞を観察するための透明な面を備えた細胞観察用デバイスであって、前記流路の上面と下面が平行である細胞観察用デバイスと、前記流路内の細胞を観察するための顕微鏡とを備えた細胞解析システム。 - 特許庁

When a power source switch provided on an operating part 30 is operated, and power supply to a digital camera for a microscope is started, the CPU 201 gives an instruction to a reading attribute setting part 74, and the reading attribute setting part 74 sets read-only attributes in a data file already recorded in the removable media 35 when the power supply is started.例文帳に追加

操作部３０に備えられている電源スイッチが操作されてこの顕微鏡用デジタルカメラへの電力の供給が開始されたときに、ＣＰＵ２０１は読み出し属性設定部７４へ指示を与え、当該開始時点においてリムーバブルメディア３５に既に記録されていたデータファイルに対して読み出し専用の属性を設定する。 - 特許庁

The laser scanning microscope has: lasers 1, 2 and 3 emitting the laser beams having the different wavelength; a scanning means 30 two-dimensionally scanning a sample 9 with the laser beam; and a wavelength selection means 5 selecting the wavelength of the laser beam on a go-path and the laser beam on a return-path when scanning nearly the same scanning line position on the sample back and forth.例文帳に追加

異なる波長のレーザ光を射出するレーザ１，２，３と、前記レーザ光を標本９上で二次元に走査する走査手段３０と、前記標本上のほぼ同一の走査線位置上を往復走査するとき、往路のレーザ光と復路のレーザ光の波長を選択する波長選択手段５を有するレーザ走査顕微鏡。 - 特許庁

In order to solve the subject matter, the scanning electron microscope is provided to measure the sample height and the sample potential using measured results obtained at the applied state of a voltage to a sample, so as not to get the charged-particle radiation of an electronic beam to the sample when it is radiated to the sample.例文帳に追加

上記課題を解決するために、試料に向かって電子線等の荷電粒子線等を照射する際に、当該荷電粒子線が試料に到達しないように、試料に電圧を印加した状態で得られる電子等の荷電粒子の検出結果を用いて、試料高さや試料電位を測定する走査電子顕微鏡を提案する。 - 特許庁

An electron source, in which, after the carbon nanotube is fitted to the central part of the tip of the conductive substrate through a conductive bonding material or an organic material, the carbon nanotube is jointed by ohmic contact by carrying out carbonization treatment of the organic material by heat treatment or diffusion bonding, is applied to the electron microscope and the electron beam lithography device.例文帳に追加

導電性基材の先端中央部に、導電性接合材料を介するか、あるいは有機材料を介してカーボンナノチューブを取付けた後、熱処理により該有機材料を炭化処理するか、または拡散接合によりカーボンナノチューブをオーミックコンタクト接合した電子源を電子顕微鏡，電子線描画装置に適用する。 - 特許庁

To provide a new cantilever for processing, wherein a great number of fine grooves are simultaneously processed with high accuracy by probes as a great number of cutting blades, in order to drastically shorten a process time for forming fine shapes by using functions of an atomic force microscope on a three-dimensional surface including a curved face.例文帳に追加

曲面を含んだ３次元形状の表面に原子間力顕微鏡（ＡＦＭ）の機能を利用して微細形状を形成するときの加工時間を大幅に短縮することを目的とし、そのために多数の切れ刃となるプローブ（探針）によって多数の微細溝を同時に高精度で加工できる新規な加工用カンチレバーを工夫すること。 - 特許庁

A focus evaluation value for a sample 2 in a microscope body 1 is obtained by a focus evaluation circuit 25 based on the frame image data of every frame obtained from the image signal outputted from the imaging device 16 of an electronic camera 14, and a focusing handle 4 is rotated to obtain a focusing point by an AF device 20 based on the focus evaluation value.例文帳に追加

電子カメラ１４の撮像素子１６から出力される画像信号から得られる１フレーム毎のフレーム画像データに基づいてフォーカス評価回路２５により顕微鏡本体１における試料２に対するフォーカス評価値を求め、このフォーカス評価値に基づいてＡＦ装置２０によって焦準ハンドル４を回転させて合焦点を得る。 - 特許庁

After the sample 10a to measure the resistance characteristics is irradiated with cation beams and charged, the sample 10a is observed with a scanning ion microscope, and the part (low resistance part) 6 where the electric resistance is different from the other area is detected from the contrast of electronic images (secondary electronic images) by a secondary electron from the sample 10a to be tested.例文帳に追加

抵抗特性を測定すべき被検試料１０ａに陽イオンビームを照射して帯電させた後、被検試料１０ａを走査イオン顕微鏡にて観察し、被検試料１０ａから生じる二次電子による電子像（二次電子像）のコントラストから、電気抵抗値がその他の領域とは異なる箇所（低抵抗箇所）６を検出する。 - 特許庁

In an image processing device 70, a visible light image acquisition control part 771 controls operation of a microscope 10 and acquires a visible light image by imaging visible light observation image of a sample to which HE dyeing has been applied and dyeing (fluorescent label) has been applied with fluorescent dye binding specifically to a cell nucleus.例文帳に追加

本発明のある実施の形態の画像処理装置７０において、可視光画像取得制御部７７１は、顕微鏡１０の動作を制御し、ＨＥ染色が施され、細胞核と特異的に結合する蛍光色素によって染色（蛍光標識）が施された標本の可視光観察像を撮像して可視光画像を取得する。 - 特許庁

The atomic force microscope (AFM) 102 includes also an electric power source 130 for impressing a potential between the first tip 302 and the second tip 304, at least one mechanism 108 for generating relative motion between a probe and the surface 131, and at least one sensor 132 for detecting a current flowing between the first tip 302 and the second tip 304.例文帳に追加

該原子間力顕微鏡(102)は更に、第１の先端部(302)と第２の先端部(304)との間に電位を印加する電圧源(130)と、表面(131)とプローブ(106)との間の相対的な運動を生じさせる少なくとも１つの機構(108)と、第１の先端部(302)と前記第２の先端部(304)との間に流れる電流を検出する少なくとも１つのセンサ(132)とを含む。 - 特許庁

The scanning type laser microscope 1 includes scanning means 21, 21' which two-dimensionally scan a laser beam from a laser light source 2, and a light-shielding member 4 covering the scanning means 21, 21', and further, has heat radiating means 25, 25' radiating the heat generated by the scanning means 21, 21' into a space outside the light-shielding member.例文帳に追加

レーザ光源２からのレーザ光を二次元に走査する走査手段２１、２１’と、前記走査手段２１、２１’を覆う遮光部材４とを有する走査型レーザ顕微鏡１であって、前記走査手段２１、２１’が発生する熱を前記遮光部材の外側の空間に放熱する放熱手段２５、２５’を有する走査型レーザ顕微鏡１。 - 特許庁

The constituent materials of the toner are so selected that a charge control resin has hardness which is the same as the hardness of a binder resin or the charge control resin is harder than the binder resin, as measured with a scanning probe microscope in a viscoelasticity evaluation mode, with respect to the binder resin and the charge control resin, which are present in the particle interiors or particle surfaces of the toner.例文帳に追加

トナーの内部あるいは表面にある該バインダー樹脂と該荷電制御樹脂に対して、走査型プローブ顕微鏡による粘弾性評価モードによる測定を行った場合に、該荷電制御樹脂の硬さが、該バインダー樹脂の硬さと同じか、または、該荷電制御樹脂が、該バインダー樹脂よりも硬くなるようにトナーの構成材料を選択する。 - 特許庁

The crossover 11 of a charged article beam 2 is provided between a charged article gun 1 and an objective lens 6, and an astigmatism correcting apparatus 15 is adjusted so that the locus of a microscope image moves while describing a perfect circle when the charged particle beam 2 is deflected to circle a conical surface along the generating line of a cone having the crossover as its vertex.例文帳に追加

荷電粒子銃１と対物レンズ６との間に荷電粒子ビーム２のクロスオーバー１１を設け、荷電粒子ビーム２をクロスオーバー１１を頂点とする円錐の母線に沿って錐面を周回するように偏向したときの顕微鏡像の軌跡が真円状に位置移動するように非点収差補正器１５を調節する。 - 特許庁

The scanning probe microscope is constituted so as to detect the physical quantity acting across a probe and a sample, and includes a scanner for relatively scanning the probe and the sample, at least two scanner drive circuits corresponding to the scanning region of the scanner, and a switching means for switching at least two scanner drive circuits.例文帳に追加

探針と試料との間に作用する物理量を検出する走査形プローブ顕微鏡において、探針と試料を相対的に走査するスキャナと、前記スキャナの走査領域に対応した少なくとも２個のスキャナ駆動回路と、前記少なくとも２個のスキャナ駆動回路を切り替える切替手段と、を備えた走査形プローブ顕微鏡。 - 特許庁

This semiconductor device inspection apparatus 1 is equipped with a stage 141 disposed in a vacuum chamber 11 for setting the semiconductor device (sample S), a femto-second laser device 12 for generating a femto-second laser beam FSLB for cutting the semiconductor device, and a scanning electron microscope (SEM 17) for observing the cut face W of the semiconductor device cut by the laser beam.例文帳に追加

半導体デバイス検査装置１は、半導体デバイス（試料Ｓ）をセットする真空チャンバー１１内に配設されたステージ１４１と、半導体デバイスを切削するフェムト秒レーザビームＦＳＬＢを生成するフェムト秒レーザ装置１２と、当該レーザビームにより切削した半導体デバイスの切削面Ｗを観察する電子顕微鏡（ＳＥＭ１７）とを備えている。 - 特許庁

The Kerr effect microscope is equipped with a light source 1, the objective 14, a Berek prism 13 making light from the light source 1 incident on a sample through the objective 14, and a holding mechanism holding the objective 14 and the Berek prism 13 so that a position where the light emitted from the Berek prism 13 is made incident on the objective 14 can be adjusted.例文帳に追加

本発明によるカー効果顕微鏡は，光源１と，対物レンズ１４と，光源１からの光を対物レンズ１４を介して試料に入射するベレークプリズム１３と，ベレークプリズム１３から出射された光が対物レンズ１４に入射される位置が調節可能であるように，対物レンズ１４とベレークプリズム１３とを保持する保持機構とを備えている。 - 特許庁

In the discharge electron detection value estimation method, an electromagnetic field distribution EM of the electronic optical system 4 in an electron microscope body 1 is calculated, while detection values of first emitted electrons 50 from a sample 5 in the electromagnetic field distribution EM and second emitted electrons 52 emitted from the electronic optical system by collision with the first emitted electrons are calculated by a Monte Carlo method.例文帳に追加

電子顕微鏡本体１内の電子光学系４の電磁場分布ＥＭを算出し、当該電磁場分布ＥＭにおける試料５からの第１放出電子５０及び第１放出電子の衝突によって電子光学系から放出される第２放出電子５２の検出値をモンテカルロ法によって算出する。 - 特許庁

To separately measure a tunneling current derived from the uneven surface state of a sample and a tunneling current derived from a magnetized state at every magnetic domain of the sample in a spin polarization scanning tunneling microscope and to observe the surface uneven state of the sample and the magnetized state of each magnetic domain of the sample with high accuracy.例文帳に追加

スピン偏極走査型トンネル顕微鏡に関し、試料の各磁区ごとに試料表面の凹凸状態に起因するトンネル電流と磁化状態に起因するトンネル電流とを別々に測定できるようにし、試料表面の凹凸状態と試料の各磁区の磁化状態とを高精度に観測することができるようにする。 - 特許庁

The method comprises: condensing and irradiating pulse laser beams from beneath of a solution with an objective lens 5 of a microscope, thereby generating plasma emission at the upper portion of the solution surface; and condensing the emission spectrum with an objective lens 9 at the upper portion of the solution and measuring it with a spectrometer 12, thereby analyzing a metallic element contained in the solution.例文帳に追加

顕微鏡を使用して溶液の下からパルスレーザー光線を対物レンズ５で集光して照射ことより、溶液表面上部でプラズマ発光が発生する、その発光スペクトルを溶液上部の対物レンズ９で集光して分光装置１２で測定して、溶液に含まれる金属元素を分析することを特徴とする。 - 特許庁

To provide a magnetic domain observation method, a magnetic domain observation device and a magnetic domain observation program capable of acquiring a clear magnetization image by reducing deterioration of a magnetic domain contrast by image processing in detail, concerning magnetic domain observation using a microscope by utilizing a magnetic Kerr effect for observing the magnetic domain of a magnetic body such as a magnetic head.例文帳に追加

本発明は、磁気ヘッド等の磁性体の磁区を観察する磁気カー効果を利用した顕微鏡を用いた磁区観察に関し、より詳細には磁区コントラストの劣化を画像処理によって低減して明瞭な磁化画像を得ることができる磁区観察方法、磁区観察装置および磁区観察プログラムに関するものである。 - 特許庁