「Microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方(166ページ目) - Weblio英語例文検索

A spherical part 38 disposed at one end of a support rod 36 is fitted into a receiving part 34 of a post-shaped part 32 screwed to an eyeball clip 22 attached to a support 6R on a side of the slit-lamp microscope 2, and a tweezers wiping cloth 20 is attached to the other end of the support rod 36.例文帳に追加

細隙燈顕微鏡２が側方に備える支柱６Ｒに取り付けた目玉クリップ２２にネジ止めした柱状部３２の受け部３４に、支持棒３６の一端に設けた球状部３８を嵌め、支持棒３６の他端にピンセット拭き取りようの布２０を取り付けてある。 - 特許庁

In a microscope including optical systems (4, 5, and 6) for microscopic observation in a column 2 erected on a base 11, the base 11 includes a leg piece 20 which is freely pulled out to both left and right sides of the base 11 and a storage box 30 which is freely pulled out to the front side of the base 11.例文帳に追加

基台１１に立設した支柱２に、顕微鏡観察する光学系（４，５，６）を設けた顕微鏡において、基台１１には、基台１１の左右側方に引き出し自在な脚片２０、基台１１の前方に引き出し自在な収納ボックス３０を設ける。 - 特許庁

A stand unit 11 of a module type microscope is provided with bolt holes 11b-1, 11b-2 which are coaxial with internal threaded portions 11e and receive a cylindrical portion 10b of a bolt 10, and a fitting hole 11c and an oval hole 11d to which the cylindrical portion 10b of the bolt 10 fits nearly closely.例文帳に追加

モジュール型顕微鏡のスタンド部１１に、めねじ部１１ｅと同軸であって、ボルト１０の円筒部１０ｂを受け容れるボルト穴１１ｂ−１，１１ｂ−２、ボルト１０の円筒部１０ｂがほぼ隙間なく嵌合する嵌合穴１１ｃ及び小判穴１１ｄを設ける。 - 特許庁

The degree of the influence of the image unsharpness by the heat of a lamp or a power source supplying electric power to the lamp is previously measured by experiment and a focusing section is so controlled as to negate the amount of the image unsharpness at all times by calculating the amount of the image unsharpness from this degree and the use conditions of the microscope.例文帳に追加

ランプやランプに電力を供給する電源などの熱による像ボケの影響度をあらかじめ実験により測定しておき、これと顕微鏡の使用条件から像ボケ量を算出し、像ボケ量を打ち消すように常にフォーカス部を制御する。 - 特許庁

This microscope is equipped with image-forming optical systems 4 and 11 forming a primary image O' of a sample, the projection optical system 15 projecting the primary image O' to the electronic imaging device 17, and a diaphragm 20 having a light-transmitting area where light is transmitted and a light-shielding area, where light is intercepted and controlling the irregular brightness.例文帳に追加

標本の一次像Ｏ’を形成する結像光学系４、１１と、一次像Ｏ’を電子撮像素子１７に投影する投影光学系１５と、光を透過する透過領域と光を遮光する遮光領域を有し明るさムラを制御する絞り２０とを備えた顕微鏡。 - 特許庁

A height measurement function using a laser beam is provided by using a part of components of an optical microscope equipped in the electron beam analyzer, and consequently, the unevenness image of the sample surface can be simultaneously measured in the same visual field as the EPMA analysis image and the SEM observation image.例文帳に追加

レーザーを用いた高さ測定機能を、電子線分析装置が備える光学顕微鏡の構成要素の一部を兼用することによって設け、これによって、試料面の凹凸像をＥＰＭＡ分析像やＳＥＭ観察像と同一視野で同時測定を可能とする。 - 特許庁

A higher harmonic wave generation device 5 modulating a laser light beam Q transmitted through optical fiber 3 to a laser light beam Qa whose wavelength is different from that of the light beam Q and transmitting it to a scanning type optical microscope main body 4 is integrally fitted to the main body 4.例文帳に追加

光ファイバー３を伝送してきたレーザ光Ｑを、このレーザ光Ｑの波長とは異なる波長のレーザ光Ｑａに変調して走査型光学顕微鏡本体４に送る高調波発生装置５を、走査型光学顕微鏡本体４に一体的に取り付けた。 - 特許庁

To provide a laser scanning microscope capable of efficiently detecting fluorescence generated by excitation with a laser beam from a first scanning optical system with preventing entry of a second laser beam into the first scanning optical system even when a plurality of scanning optical system are used.例文帳に追加

複数の走査光学系を使用した場合においても、第２のレーザ光が第１の走査光学系の光検出系に進入することを防ぎ、第１の走査光学系のレーザ光により励起された蛍光を効率良く検出することが可能な走査型レーザ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a method for efficiently cleaning a desired cleaning spot on the inner surface of a vacuum device without giving damage to the inner surface of a vacuum chamber nor heating resin components disposed outside the vacuum chamber more than required, with respect to the vacuum device represented by an electron microscope.例文帳に追加

電子顕微鏡などに代表される真空装置に対して、真空チャンバ内面にダメージを与えず、また真空装置外部に配置された樹脂部品を必要以上に加熱せず、真空装置内面のクリーニングしたい箇所を効率的にクリーニングする方法を提供する。 - 特許庁

To provide a quantitative analytical method capable of analyzing quantitatively a mass of a specified substance with high sensitivity, using a fluorescence microscope image, even when the specified substance such as a protein and a eucaryotic cell having a size exceeding several μm is contained in a sample.例文帳に追加

数μｍを超える大きさを有するたんぱく質や真核細胞などの特定物質が試料中に含まれる場合でも、蛍光顕微鏡画像を用いてその特定物質の質量を高感度で定量分析することができる定量分析方法を提供する。 - 特許庁

To provide an apparatus difference control apparatus capable of reducing a measured dimension difference among a plurality of apparatuses by simply estimating generation factors of the apparatus difference to calibrate a scanning electron microscope apparatus based on the estimation result, and allowing further accurate dimension control of a wiring pattern.例文帳に追加

機差の発生要因を簡便に推定し、この推定結果を元に走査電子顕微鏡装置を較正することで、複数台の装置間における計測寸法差を低減させ、より高精度な配線パターンの寸法管理を可能とする機差管理装置を提供することにある。 - 特許庁

To provide an objective lens which is made to so as to have high resolution when the resolution of a stereomicroscope is high when used in the stereomicroscope having magnification converters and whose resolution is larger than that of the well-known steromicroscope and moreover which can use the whole magnification area of the microscope without vignetting.例文帳に追加

倍率変換器を有する立体顕微鏡に使用する際に、倍率が高い場合には高い分解能を有するようにし、この分解能は公知の立体顕微鏡よりも大きく、さらに顕微鏡の倍率領域全体を、口径食なしで使用できる対物レンズを提供する。 - 特許庁

To provide a lighting system for a microscope that creates diffusion incident lighting, is readily applicable to different working distances, reduces the injury risk of a user and damage risk of the device, readily approaches a sample, and is readily operated.例文帳に追加

拡散入射照明を作り出し、異なる作動距離に対し容易に適用可能であって、使用者がケガをする危険性及び装置に対する損傷の危険性を減少させ、且つ試料に容易に接近可能であって操作が簡単である、顕微鏡用照明装置をもたらすことである。 - 特許庁

The microscope illuminator includes: a light source 11 including a solid-state light emitting element for emitting illuminating light; and an illuminating optical system including, in order from the light source 11, a collector lens 12 for condensing illuminating light and a condenser lens 14 for emitting illuminating light to a specimen 3.例文帳に追加

顕微鏡用照明装置は、照明光を射出する固体発光素子からなる光源１１と、光源１１側から順に、照明光を集光するコレクタレンズ１２と照明光を標本３へ照射するコンデンサレンズ１４とを含む照明光学系と、を含んで構成される。 - 特許庁

The method for detecting microorganisms in a sample which is dyed by fluorescent dyeing by the microscope having an autofocusing function, includes a fluorescent particle-adding step for adding fluorescent particles having a height nearly equal to the microorganisms to the sample.例文帳に追加

微生物検出方法が、試料中の蛍光染色された微生物をオートフォーカス機能を有する顕微鏡によって検出する微生物検出方法であって、微生物と同等の高さを有する蛍光粒子を試料中に添加する蛍光粒子添加工程を具備する。 - 特許庁

The electron microscope includes a signal processing part which calculates a deterioration function of images based on the detection signal obtained by scanning charged particle beams with two kinds of scanning speeds of a scanning speed in the band width of a detector and its amplifying circuit and a scanning speed exceeding the upper limit of the band width.例文帳に追加

検出器およびその増幅回路の帯域幅内の走査速度と、上記帯域幅の上限を超える走査速度の２種の走査速度で荷電粒子線を走査して得られる検出信号に基づき、画像の劣化関数を算出する信号処理部を設ける。 - 特許庁

A device 140 for adjusting classification classifies defects into a first class group according to the feature amount of the defects that are obtained from image data obtained from an electron microscope 110, and also classifies the defects into a second class group according to the feature amount of the defects classified into the first class group.例文帳に追加

分類調整装置１４０は、電子顕微鏡１１０から得られた画像データよりより得られる欠陥の特徴量より、当該欠陥を第一のクラス群に分類し、当該第一のクラス群に分類された前記欠陥の前記特徴量より、前記欠陥を第二のクラス群に分類する。 - 特許庁

In the separator material for fuel cell, the Au plating layer 2-20 nm in thickness and 0.5-1.5 nm in arithmetic surface roughness (Ra) measured in a crystal grain of a metal substrate by an atomic force microscope is formed on a surface of the metal substrate.例文帳に追加

金属基材の表面に、厚み２〜２０ｎｍで、かつ前記金属基材の結晶粒内において原子間力顕微鏡により測定した算術表面粗さ（Ｒａ）が０．５〜１．５ｎｍであるＡｕめっき層が形成されている燃料電池用セパレータ材料である。 - 特許庁

To provide an optical microscope capable of performing observation by proper focal illumination by relatively rotating a sample and focal illumination with respect to the vertical axis of the sample, while being made to correspond to the shape of the sample, thereby performing irradiation, without intercepting the focal illumination by the sample.例文帳に追加

標本の形状に対応させて、標本と偏斜照明を標本の垂直軸に対して相対的に回転させることにより、標本によって偏斜照明が遮断されることなく照射され、適切な偏斜照明により観察することができる光学顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

In this detector suitable for a scanning electron microscope or the like, which is a PIN photodiode having a thin layer of pure boron connected to the p^+-diffusion layer, the boron layer is connected to an electrode having an aluminum grid to form a path of low electrical resistance on each position between the boron layer and the electrode.例文帳に追加

走査型電子顕微鏡等に適した検出器は、p^＋‐拡散層に接続された純ホウ素の薄い層をもつPINフォトダイオードで、そのホウ素層は、アルミニウム・グリッドをもつ電極に接続され、そのホウ素層と電極との間の各々の位置において低い電気抵抗の経路を形成する。 - 特許庁

The reference dimensions of the plurality of patterns may be obtained by measuring the plurality of patterns by an Atomic Force Microscope: AFM, or alternatively, may be obtained on the basis of sectional shapes or the like of the patterns obtained by applying simulation to semiconductor pattern design data.例文帳に追加

複数パターンの基準寸法は、原子間力顕微鏡（Atomic Force Microscope：ＡＦＭ）によって、上記複数のパターンを測定することによって得るようにしても良いし、半導体パターンの設計データにシミュレーションを施すことによって得られるパターンの断面形状等に基づいて求めるようにしても良い。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope for certainly sticking a sample to a substrate, more concretely, without using a metal ion source as a solution, and without requiring an expensive coat on the rear surface of a cantilever.例文帳に追加

本発明は走査型プローブ顕微鏡に関し、更に詳しくは溶液として金属イオン源を用いることなく、またカンチレバー背面に高価なコートをする必要がなく、かつ試料を確実に基板に付着させることができる走査型プローブ顕微鏡を提供することを目的としている。 - 特許庁

To provide a size analysis program accurately determining parameters such as a correlation distance and variance required to evaluate the roughness of a pattern of a semiconductor device by using a size measurement apparatus such as a scanning electron microscope or the like, and a size measurement apparatus.例文帳に追加

本発明は、走査電子顕微鏡等の寸法測定装置を用いて、半導体デバイスのパターンのラフネスを評価する際に要する相関距離や分散といったようなパラメータを、正確に決定することが可能な寸法解析プログラム、寸法計測装置の提供を目的とする。 - 特許庁

To provide an inspection system for improving working efficiency by reducing a confirmation work load using a microscope by discriminating types of defects and deciding whether the types are appropriate, by processing the defective images with a plurality of thresholds for all the defects within a substrate.例文帳に追加

基板内の全ての欠陥に対して複数の閾値によって欠陥画像を処理して欠陥の種類の判別と良否判定を行う事により、顕微鏡による確認作業負荷を削減する事を可能とし、作業効率を向上させる検査システムを提供する。 - 特許庁

In the technique of discriminating the skin internal structure, with the skin surface information of the texture and/or the skin color or the like as an index, a parameter measured using a confocal laser microscope as the skin internal structure is estimated utilizing estimation formula obtained by multivariable analysis.例文帳に追加

キメ及び／又は肌色等の皮膚表面情報を指標に、皮膚内部構造として共焦点レーザー顕微鏡を用いて計測されたパラメータを、多変量解析によって得られた推定式を利用して推定することを特徴とする、皮膚内部構造を鑑別する技術に関する。 - 特許庁

The ruthenium tetroxide reducing material according to this invention effectively reduces the ruthenium tetroxide having high degree of risk, occurring from atomic power plants, in utilization of radioactive rays or from the catalysts for organic synthetic reactions and in dyed samples for electron microscope or the like to ruthenium dioxide that is made insoluble with the risk reduced.例文帳に追加

本発明の四酸化ルテニウム還元材は、原子力、放射線利用、有機合成反応に用いる触媒、電子顕微鏡用の染色等で発生する、危険度の高い四酸化ルテニウムを危険度の低い二酸化ルテニウムに還元し、不溶化するのに有効である。 - 特許庁

To provide an electron microscope with a magnetic image forming energy filter suitable for forming an energy-filtered object image or a diffraction image in a detector plane and suitable for forming a dispersion plane image in the detector plane for the parallel registration positioning of the energy spectrum.例文帳に追加

エネルギフィルタリングされた対象物像又は回析像を検出器平面内に結像するのに適しているのみならず、エネルギスペクトルのパラレルレジストレーション位置合せのため検出器平面内へ分散平面を結像するのにも適する磁気形結像エネルギフィルタを有する電子顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

To provide a defect analysis method and its system for analyzing defect, based on an emission image that is detected by an emission microscope corresponding to a circuit block in an LSI chip for a semiconductor device where LSI chips such as system LSIs are arranged.例文帳に追加

システムＬＳＩなどのようなＬＳＩチップが配列された半導体装置に対してＬＳＩチップ内部における回路ブロックに対応付けしてエミッション顕微鏡によって検出される発光像に基いて不良解析をできるようにした不良解析方法およびそのシステムである。 - 特許庁

To provide an image forming method and an electron microscope capable of accurately or effectively acquiring information required for comparison regarding an image forming method accompanying with comparison among images such as three-dimensional image construction and a device for forming such images.例文帳に追加

本発明の目的は、３次元像構築等の画像間の比較を伴う画像形成方法、及び当該画像を形成する装置について、比較に要する情報を、高精度、或いは効率よく取得することが可能な画像形成方法、及び電子顕微鏡の提供にある。 - 特許庁

The problem is solved by providing the infrared microscope equipped with: the up-conversion phosphor disposed at the imaging position of an imaging lens that converts infrared light to visible light; and an imaging element that detects the visible light converted by the up-conversion phosphor.例文帳に追加

本発明の上記課題は、赤外光を可視光に変換する結像レンズの結像位置に配置されたアップコンバージョン蛍光体と、アップコンバージョン蛍光体で変換された可視光を検出する撮像素子とを備えた赤外線顕微鏡を提供することで解決される。 - 特許庁

To quantitatively and accurately measure the carrier concentration of a measured sample such as a semiconductor substrate by a semiconductor measuring device using a scanning capacitance microscope, and to provide a method for measuring the carrier concentration inexpensively without increasing the scale nor cost of a measurement system.例文帳に追加

走査型容量顕微鏡を用いた半導体測定装置において、半導体基板などの測定サンプルのキャリア濃度を定量的に正確に測定することができ、しかもこのようなキャリア濃度の測定を、測定システムの規模の増大やコストアップを招くことなく低コストで行う方法の提供。 - 特許庁

To perform the measurement of mm-class wide scanning with high reproducibility and measuring accuracy without causing such problems as probe wear excluding undesirable force to the sample surface being applied to the probe with a scanning probe microscope for observing a μm-class fine target.例文帳に追加

μｍ級の微小対象物の観察を行える走査型プローブ顕微鏡で、探針に加わる好ましくない試料表面に平行な力を除き、ｍｍ級の広域走査の測定を探針摩耗等の問題を起こすことなく高い再現性、測定精度で行えるようにする。 - 特許庁

In the endscope 2 used together with a microscopic operation 1, the shortest linear length 1 of an insertion section 7 of the endoscope and a holding section 8 combined together is shorter than the focal distance L of the objective lens 6 of the microscope for operation 1.例文帳に追加

本発明は、手術用顕微鏡１と併用する内視鏡２において、手術用顕微鏡１の対物レンズ６の焦点距離Ｌよりも内視鏡２の挿入部７と把持部８を合わせた最短直線長さいｌのほうが短くなるように構成したものである。 - 特許庁

This emission microscope is provided with an ultraviolet ray irradiating device 12 for irradiating with an ultraviolet ray a sample 8 stored inside a vacuum container 15, an electrode current introducing terminal 9 for impressing pulse voltage to the sample 8, and a pulse generator 10.例文帳に追加

エミッション顕微鏡には、真空容器１５の内部に収容された試料８に紫外線光を照射する紫外線照射装置１２と、試料８にパルス電圧を印加するための電極（不図示）、電流導入端子９およびパルス発生器１０とが備えられている。 - 特許庁

To provide a scanning transmission electron microscope capable of independently setting capturing angle ranges of a scattered electron beam detector and an energy spectrometer, and not requiring to change a condition of the energy spectrometer for the change of the capturing angle range of the scattered electron beam detector.例文帳に追加

散乱電子線検出器の取り込み角度範囲の設定と独立にエネルギー分光器の取りこみ角度範囲が設定でき、散乱電子線検出器の取り込み角度範囲の変化に対してエネルギー分光器の条件を変更する必要がない走査透過電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a microscope capable of optionally changing a filter transmission wavelength band without preparing an optical filter for every fluorescent wavelength even in the case of changing the fluorescent wavelength, filtering only the wavelength of an exciting laser beam and yielding a distinct fluorescent image without being influenced in terms of manufacture and environment.例文帳に追加

蛍光波長を変更する場合でも光学フィルタを各蛍光波長毎に用意することなくフィルタ透過波長帯域を任意に変更可能で、励起レーザビームの波長のみをフィルタリングでき、製造上及び環境上の影響を受けずに鮮明な蛍光画像を得ること。 - 特許庁

The scalpel for fabricating slices of various samples and/or for creating a surface of the highest quality, particularly the scalpel for fabricating laminas or sub-laminas using a microtome or ultramicrotome with a blade and a blade holder, preferably for electron microscope inspection, has its blade fabricated from synthetic diamond.例文帳に追加

種々の試料の切片製造用及び／又は最高品質の表面生成用メス、とりわけ、好ましくは電子顕微鏡検査のための、刃及び刃ホルダを有するミクロトーム又はウルトラミクロトームによる薄片ないし亜薄片製造用メスは、刃が、合成ダイヤモンドから製造されている。 - 特許庁

Besides, by using an optical observation apparatus utilizing the interference and refraction of light, without shrinking the resist pattern like the conventional case of recognizing the resist pattern by using an electron microscope, the line width can be precisely measured in a nondestructive manner.例文帳に追加

また、光の干渉、回折を利用した光学観察装置を用いることにより、従来において電子顕微鏡を用いてレジストパターンの認識を行った場合のようにレジストパターンの収縮を発生させることはなく、非破壊で精密に線幅を測定することができる。 - 特許庁

To provide a confocal microscope which can easily obtain a confocal color image of a necessary area or focus measurement data by making pixels or pixel groups of a confocal image and a CCD color image correspond to each other even when both the images are different resolution.例文帳に追加

共焦点画像とＣＣＤカラー画像の解像度が異なる場合であっても、両画像の画素又は画素群を対応付けることにより、必要な領域の共焦点カラー画像又は共焦点測定データが容易に得られる共焦点顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To enhance processing speed in an analysis method of an energy loss spectroscopic device and a transmission electron microscope, equipped with the energy loss spectroscopic device.例文帳に追加

本発明はエネルギー損失分光装置の分析方法及びエネルギー損失分光装置を備えた透過電子顕微鏡に関し、処理速度を向上させることができるエネルギー損失分光装置の分析方法及びエネルギー損失分光装置を備えた透過電子顕微鏡を提供することを目的としている。 - 特許庁

To provide an electron emitting cathode, capable of attaining a high luminance due to low electron affinity while sufficiently ensuring heat radiation performance, and reducing the energy width by reducing heating temperature, to provide an electron microscope, and to provide an electron beam exposing machine provided with the electron emitting cathode.例文帳に追加

放熱性を十分に確保しつつ、電子親和力が低いことにより、高輝度を達成するとともに加熱温度を抑えてエネルギー幅を抑制することが可能な電子放射陰極、当該電子放射陰極を備えた電子顕微鏡および電子ビーム露光機を提供する。 - 特許庁

To easily carry out incident axis adjusting method of a scattered electron beam against an annular dark field scanning image detector regarding an incident axis adjusting method of a scattered electron beam against an annular dark field scanning image detector and a scanning transmission electron microscope.例文帳に追加

本発明は環状暗視野走査像検出器に対する散乱電子ビームの入射軸調整方法及び走査透過電子顕微鏡に関し、環状暗視野走査像検出器に対する散乱電子ビームの入射軸合わせ容易に行うようにすることを目的としている。 - 特許庁

In an MR guided surgical system which is carried out in the bore of an MR magnet, there is provided a microscope system for viewing a required part of a patient which includes stereoscopic viewing components arranged for use in generating 2D and 3D images displayed to a surgeon.例文帳に追加

磁石のボア内で行われるＭＲガイド手術システムにおいて、外科医に表示される２Ｄと３Ｄ画像を生成する際に使用するために配置された立体視部品を含む、患者の必要とされる部分を表示するための顕微鏡システムが提供される。 - 特許庁

The magnification of the microscope is varied to make an image of an object reference scale 10 and an ocular lens reference scale 6a optically match each other one over the other to determine a zoom position corresponding to the optical superposition match of a zoom system 4 in use.例文帳に追加

使用されるズームシステム４の当該光学的重畳一致に対応するズーム位置を決定するために、物体参照尺度１０の像と接眼レンズ参照尺度６ａとを中間像面７において光学的に重畳一致させるように、顕微鏡の倍率を変更する。 - 特許庁

Also, the scanning type probe microscope is equipped with a cantilever, having an elastomer for supporting the probe, an exciting means for exciting the cantilever and an exciting signal changeover means, for changing over at least two exciting signals inputted to the exciting means.例文帳に追加

また、探針と試料を相対的に走査する走査形プローブ顕微鏡において、探針を支持する弾性体を有するカンチレバーと、カンチレバーを加振する加振手段と、加振手段に入力する少なくとも２つの加振信号を切り換える加振信号切換手段と、を備えることである。 - 特許庁