「Microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方(166ページ目) - Weblio英語例文検索

In this inspection device 100 for the microscope, a sample P is held by a sample stage 232a, a cooling atmosphere is formed around the sample stage 232a by air flow F225a, and normal temperature-drying air flow is formed around the cooling atmosphere by the air flow F21 and air flow F245.例文帳に追加

顕微鏡用の検査装置１００においては、サンプルステージ２３２ａによりサンプルＰが保持され、気流Ｆ２２５ａによりサンプルステージ２３２ａの周囲に冷却雰囲気が形成され、気流Ｆ２１および気流Ｆ２４５により冷却雰囲気の周囲に常温乾燥気流が形成される。 - 特許庁

To provide an apparatus for detailed observation of defects detected by an optical defect inspection apparatus or by an optical visual inspection apparatus capable of placing a defect to be observed into the field of view of an electronic microscope or the like, without fail, and reducing the size of the apparatus.例文帳に追加

光学式欠陥検査装置または光学式外観検査装置で検出した欠陥を電子顕微鏡等で詳細に観察する装置において、観察対象の欠陥を確実に電子顕微鏡等の視野内に入れることができ、かつ装置規模を小さくできる装置を提供する。 - 特許庁

The microscope 1 also includes: a lens barrel part 30 supported by the turntable 20; a sample stage 40 supported by the turntable 20 under the lens barrel part 30; and a pattern illumination 50 supported by the turntable 20 via the sample stage 40 under the sample stage 40.例文帳に追加

また、顕微鏡１は、この回転台２０に支持された鏡筒部３０と、鏡筒部３０の下方で回転台２０に支持された試料台４０と、試料台４０の下方で試料台４０を介して回転台２０に支持された模様体照明５０とを備えている。 - 特許庁

To provide a computer-readable recording medium storing a novel and improved data structure configured to form digitally scanned images, store the digitally scanned images in a tiled format for viewing the images without using a microscope, and allow a remote observer to observe the images.例文帳に追加

デジタル走査されたイメージを構築し、デジタル走査されたイメージを顕微鏡なしでビューするのに好都合なタイル化フォーマットで記憶し、かつ遠隔の観察者が観察できるように改良された新規のデータ構造を記憶したコンピュータ読み取り可能な記録媒体を提供すること。 - 特許庁

To provide a device for attaining a new scanning method which is always not associated with the contact of a probe with a sample surface, such as that in a non-contact mode or a point contact mode, and a scanning method thereof, while maintaining the versatility of a contact mode, in physical property measurement of a scanning type probe microscope.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡の物性測定において、コンタクトモードの汎用性を維持しつつ、非接触モードやポイントコンタクトモードのように、常時探針と試料表面の接触を伴わない新たな走査方法を実現する装置及びその走査方法を提供する。 - 特許庁

An alignment microscope 10 can be switched, for example, between a magnification ratio of three and a magnification ratio of ten, and a work mark WAM and a search mark which is higher in contrast to be easy to be seen than the work mark WAM are formed, on the work W, in a position predeterminingly located relatively to the work mark WAM.例文帳に追加

アライメント顕微鏡１０は例えば３倍の倍率と１０倍の倍率に切り替えが可能であり、ワークＷ上には、ワークマークＷＡＭと、ワークマークＷＡＭよりコントラストが高く見えやすいワークマークＷＡＭに対して所定の相対位置にある探索マークが設けられている。 - 特許庁

The inverted type fluorescence microscope 1 has a sample cover 3 on the front of a main body case 2, and the sample cover 3 is displaced downward along a lower cover 4 under the sample cover 3, which substantially constitutes a part of the main body case 2, whereby the sample is made to get in/out.例文帳に追加

倒立型蛍光顕微鏡１は、本体ケース２の前面に標本カバー３を有し、この標本カバー３は、その下の本体ケース２の一部を実質的に構成する下部カバー４に沿って下方に変位することができ、これにより標本の出し入れを行うことができる。 - 特許庁

The microscope 1 is configured to take an upright position in which the lens barrel part 30 is positioned above the sample stage 40 and an inverted position in which the lens barrel part 30 is positioned under the sample stage 40 by rotating the turntable 20 with respect to the base 10.例文帳に追加

この顕微鏡１は、回転台２０を土台部１０に対し回転させることで、鏡筒部３０が試料台４０に対して上方に位置する正立位置と、鏡筒部３０が試料台４０に対して下方に位置する倒立位置とに配置することができるように構成されている。 - 特許庁

To provide a low vacuum scanning electron microscope including an evacuation system in which an orifice diameter can be made larger than the conventional one so that a throughput until observation from sample exchange can be improved, and a required amount of a probe current can be obtained when irradiating an electron beam.例文帳に追加

本発明の目的は、試料交換から観察までのスループット向上を図ると共に、電子ビーム照射時には、必要なプローブ電流量が得られるようオリフィス径を従来より拡大することができる排気システムを備えた低真空電子顕微鏡を提供することにある。 - 特許庁

To provide a method for inspection of a mounting state of an electronic component or the like capable of inspecting automatically without depending on the individual difference of an inspecting person and the material of an electrode pad, and performing image processing corresponding to a change of the background brightness observed by a differential interference microscope.例文帳に追加

この発明は、検査人の個人差または電極パッドの材質に依存すること無く自動的に検査することができ、また、微分干渉顕微鏡で観察された背景の明るさの変化に応じた画像処理が可能な電子部品実装状態検査方法等を提供する。 - 特許庁

The slit light 10 for exactly performing focusing to the microscope of the configuration consisting of only the coaxial illumination of the conventional type in Fig. 7 is composited and thereby the video obtained by striking the light composited with the coaxial illumination and the slit light to an object is projected by a CCD camera.例文帳に追加

本発明は、図７の従来型の同軸照明６のみの構成の顕微鏡にピント合わせを正確に行うためのスリット光１０を合成する事により、被写体に同軸照明とスリット光が合成された光が当たった映像をＣＣＤカメラで映し出す。 - 特許庁

To provide a confocal microscope device capable of changing independently depth-directional excitation light intensity distributions, on a sample face, of a laser beam for stimulating a sample, and a light for acquiring an image; and to provide an observation method using the same.例文帳に追加

標本に刺激を加えるレーザ光と画像取得のための光との標本面上での深さ方向の励起光強度分布をそれぞれ独立に変化させることができる共焦点顕微鏡装置及び共焦点顕微鏡装置を用いた観察方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a reembedding method of a slice for microscopic observation capable of improving efficiency and allowing an organism cell to be observed quickly in a method for embedding a thick slice in resin again and then slicing it again to obtain a thin slice and observing it by an electron microscope.例文帳に追加

厚切り切片を再び樹脂に包埋してから再びスライスして薄切切片とし、これを電子顕微鏡によって観察する方法で、効率の向上を図り、短時間で生物の細胞の観察ができる顕微鏡観察用切片の再包埋方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method for measuring ice crystal structure inside of sample, with which the three-dimensional structure or the size distribution of an ice crystal can be measured by dying a sample with a fluorescent reagent so as to selectively react with a main component comprising the sample and observing the sample, while using fluorescent microscope functions.例文帳に追加

試料を構成する主成分と選択的に反応する蛍光試薬により染色し、蛍光顕微鏡機能を用いて観測することにより、氷結晶の三次元構造やサイズ分布を計測することができる試料内の氷結晶構造の計測方法を提供する。 - 特許庁

Because an excitation light irradiation part 18 of a semiconductor laser irradiation device is disposed on the attachment 16 detachably set on an observation light intake 15 of a surgical microscope 1, the excitation light irradiation part 18 can be conveniently removed when it is not in use and maintenance (such as replacement and adjustment) becomes easier.例文帳に追加

半導体レーザー照射装置の励起光照射部１８が手術顕微鏡１の観察光の取入口１５に着脱自在なアタッチメント１６に備えられているため、不使用時には外しておくことができ便利であると共に、メンテナンス（交換調整等）も容易である。 - 特許庁

In the scanning charged-particle microscope, a passage opening for limiting the passage of charged-particle beams is arranged between a charged particle beam source and a scanning deflector, and the passage opening has a member for limiting the passage of charged-particle beams at the center of the opening.例文帳に追加

荷電粒子線の通過を制限する通過開口を、荷電粒子源と走査偏向器の間に配置し、当該通過開口は、その開口中心に荷電粒子線の通過を制限する部材を備えてなることを特徴とする走査形荷電粒子顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To determine steps or unevenness formed on a sample by a simple technique or obtain three-dimensional information by using a charge particle beam device such as a scanning electron microscope, and particularly to provide a determination method or its device suitable for unevenness determination of a line and space pattern formed on a sample.例文帳に追加

走査電子顕微鏡等の荷電粒子線装置で、簡単な手法で試料上に形成された段差及び凹凸の判定、或いは３次元情報を得ることにあり、特に試料上に形成されたライン＆スペースパターンの凹凸判定に好適な判定方法、及び装置を提供する。 - 特許庁

To provide a three-dimensional membrane structure measuring method of a scanning probe microscope capable of measuring the surface shapes of respective layers at every manufacturing process in a manufacturing process of a semiconductor device having a multilayered structure to synthesize the measurement results and capable of analyzing and evaluating those measuring results using the data of a multilayer.例文帳に追加

多層構造を有する半導体デバイスの製造プロセスで、各層の表面形状を製造工程毎に計測し、それらの計測結果を合成し、多層のデータを用いて解析・評価することができる走査型プローブ顕微鏡の立体膜構造測定方法等を提供する。 - 特許庁

(2) The modified cross-sectional regenerated cellulose fiber characterized by having a degree of modification of 1.1 to 10 and a fiber surface roughness parameter Ra of 10 to 50 nm measured with an interatomic force microscope and containing fine powder having a 50% average particle diameter of 0.05 to 10 μm in an amount of 0.2 to 5 wt.%.例文帳に追加

(2) 繊維の異型度が１．１〜１０で、原子間力顕微鏡で測定した繊維表面粗度パラメータＲａが１０〜５０ｎｍであり、かつ５０％平均粒径が０．０５〜１０μｍである微粉末を０．２〜５重量％含有する異型断面再生セルロース繊維。 - 特許庁

This magnetic field applying device of the transmission electron microscope comprises a plurality of deflectors to swingingly return the optical axis deflection of an irradiated electron beam generated simultaneously with application of the magnetic field onto the optical axis, and is formed so that the deflection main surface of one deflector is disposed at a position extremely close to the surface of the sample 6.例文帳に追加

透過電子顕微鏡の磁場印加装置において、磁場印加と同時に発生する照射電子線の光軸偏向を軸上に振り戻す複数の偏向器からなり、１つの偏向器の偏向主面が試料６表面に極めて近い位置に配置されように構成される。 - 特許庁

To provide an immersion microscope apparatus capable of obtaining an observing state without using movement of a substrate and capable of preventing spread of a liquid toward an unnecessary area (i.e., an area where a liquid cannot be recovered afterward) around an observation point regardless of the condition (hydrophilic/repellent property) of the surface of a substrate.例文帳に追加

基板の移動を利用せずに観察状態を実現することができ、基板の表面の状態（親水性／撥水性）に拘わらず、観察点の周囲の不要な箇所（後から回収できない箇所）への液体の広がりを防止できる液浸顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁

The obtained hollow particle is comprised of a dense silica shell which has a diameter of a primary particle of 30-300 nm as measured by the transmission electron microscope method, and a particle size of 30-800 nm by the dynamic light scattering method, and which can not detect pores of 2-20 nm in a pore distribution measured by the mercury porosimetry.例文帳に追加

得られた中空粒子は透過型電子顕微鏡法による一次粒子径が３０〜３００ｎｍ、動的光散乱法による粒子径が３０〜８００ｎｍ、水銀圧入法により測定される細孔分布において２〜２０ｎｍの細孔が検出されない緻密なシリカ殻からなる。 - 特許庁

The scanning probe microscope 1 has a constitution with the lever excitation mechanism 1a, a moving means 5 for moving relatively a probe 3a and a sample S, a measuring means 6 for measuring displacement in the vibration state of the lever 3c, and a control means 8 for collecting observation data.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡１を、レバー加振機構１ａと、探針３ａと試料Ｓとを相対的に移動させる移動手段５と、レバー３ｃの振動状態の変位を測定する測定手段６と、観測データを採取する制御手段８とを備えて構成した。 - 特許庁

When pictures are taken of element distribution of a sample and spectrum using the transmission type electron microscope of a energy filtering type, photography time of spectrum data concerning the element distribution or the spectrum pictured through a spectrometer, is time-shared so that it can respond to a drift of the sample.例文帳に追加

エネルギーフィルタ方式の透過型電子顕微鏡を用いて、試料の元素分布或いはスペクトルを撮影する場合に、分光計を通して撮影される元素分布或いはスペクトルに関する分光データの撮影時間を試料のドリフトに対応し得るように時分割する。 - 特許庁

The microscope uses the plurality of scanning optical system, and the problem is solved by controlling the 2nd scanning optical system so as to stop the irradiation with the laser light in the area, where scanning by the 1st scanning optical system and scanning by the 2nd scanning optical system overlap each other.例文帳に追加

複数の走査光学系と、この複数の走査光学系のうち第１の走査光学系の走査と第２の走査光学系の走査とが重なる領域で、第２の走査光学系のレーザ光の照射を停止する制御を行うことにより、上記課題の解決を図る。 - 特許庁

To provide a method for manufacturing a plate made of a resin that is suitable, when measuring the fluorescence intensity of each spot, using a microarray scanner in high-throughput screening applications in the movement of a biopolymer by a fluorescent microscope, the observation of the reaction of living organisms, gene relation, or drug design development.例文帳に追加

蛍光顕微鏡による生体高分子の動き、生物反応の観察、遺伝子関連、又は創薬開発におけるハイスループットスクリーニング用途におけるマイクロアレイスキャナーを用いた、スポット別の蛍光強度を測定する場合において好適な樹脂製プレートと製造方法を提供する。 - 特許庁

The scanning charged particle microscope device is capable of taking a high-resolution image in various conditions by calculating a beam intensity waveform based on imaging conditions and sample information, and by carrying out image restoration by using a resolution deterioration factor as a subject of a deterioration model in addition to the beam intensity waveform.例文帳に追加

撮像条件や試料情報に基づいてビーム強度波形を計算し、また、ビーム強度波形以外による分解能劣化要因も劣化モデルの対象として画像復元を行うことにより、様々な条件において高分解能な画像を取得することを可能とした。 - 特許庁

To provide an optical detecting circuit capable of expanding an optical detection dynamic range without making the SN of an optical detection signal and height data of a sample dark part worse and acquiring image data of good quality even if a sample has a large luminance difference, and a laser microscope equipped with the optical detecting circuit.例文帳に追加

試料暗部の光検出信号および高さデータのＳ／Ｎを劣化させずに光検出ダイナミックレンジを拡大し、輝度差が大きい試料であっても良質の画像データを取得することが可能な光検出回路および該光検出回路を備えたレーザー顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a method of measuring a three-dimensional shape of a sample including a sharp tip part, in particular, a portion with two faces constituting a ridge line where the angle formed by the faces is 120° or less, or a sample having a conical part or a pyramid part with 120° or less of apex angle, using a confocal microscope.例文帳に追加

鋭利な先端部、特に稜線を構成する２面のなす角度が１２０度以下の部分を含む試料もしくは頂点の角度が１２０度以下の円錐部や角錐部を有する試料の三次元形状を、コンフォーカル顕微鏡を用いて計測する方法を提供すること。 - 特許庁

The high-frequency oscillation probe for a high-speed scanning probe microscope comprises a high-frequency crystal resonator 20 of a natural frequency range of 1 MHz to 100 MHz and a thickness of 0.01 mm to 2.0 mm, an electrode 21 mounted on the crystal resonator, and the high-frequency oscillation probe 22 mounted on the crystal resonator 20.例文帳に追加

固有振動数範囲が１ＭＨｚ〜１００ＭＨｚ、厚さが０．０１ｍｍ〜２．０ｍｍである高周波水晶共振子２０と、前記水晶共振子に装着された電極２１と、前記水晶共振子２０に装着された高周波振動探針２２と、を備えて構成される。 - 特許庁

In the comparison step, a tool microscope 31 is used to observe the mark from the convex lens surface of the reference lens through the hole of the lens holder, and the actual fitting position of the lens holder is compared with the reference position of the reference lens to confirm the fitting accuracy of the lens holder.例文帳に追加

上記比較ステップは、工具顕微鏡３１を用いて、基準レンズの凸側レンズ面の側からレンズホルダの中空状孔を通して上記印を観察し、レンズホルダの実際の取付位置と基準レンズの基準位置とを比較して、レンズホルダの取付精度を確認する。 - 特許庁

The subject is solved by the active carbon obtained by activating the oil raw coke whose rate of optical anisotropic organization under polarization microscope observation is 90% or more and rate of an anisotropic organization classified as a sphere in the optical anisotropic organization is 50% or more.例文帳に追加

偏光顕微鏡観察下での光学的異方性組織の割合が９０％以上であり、かつ、光学的異方性組織における球状と分類される異方性組織の割合が５０％以上である石油生コークスを賦活して得られる活性炭により上記課題が達成される。 - 特許庁

The iris device to be used for an electron microscope has a structure obtained by laminating a silicon oxide film and an independent thin film on a silicon substrate successively from the silicon substrate side, and the independent thin film has a Young's modulus larger than that of the silicon oxide film and tensile stress.例文帳に追加

シリコン基板上に、前記シリコン基板側から順にシリコン酸化膜、自立薄膜が積層された構造であり、前記自立薄膜は前記シリコン酸化膜よりもヤング率が大きく、かつ引張応力を有することを特徴とする電子顕微鏡に用いる絞り装置。 - 特許庁

There is provided the CVD coated cutting tool insert including: a TiCxNy layer having a low tensile stress level of 50-390 Mpa; and Al_2O_3 having surface smoothness having a high average Ra of 0.12 μm or lower measured by an interatomic force microscope (AFM) technology.例文帳に追加

本発明は、５０〜３９０Ｍｐａの低引張応力レベルを有するＴｉＣ_ＸＮ_Ｙ層と、原子間力顕微鏡（ＡＦＭ）技術によって測定される平均Ｒａが０．１２μｍ以下の高い表面平滑度を有するＡｌ_２Ｏ_３と備えるＣＶＤ被覆切削工具インサートに関する。 - 特許庁

To obtain a lens barrel for a joint observer made monoscopic or conditionally stereoscopic, which is installed at the different spot of a microscope, especially on an opposite side, without requiring troublesome assembling operation to take much time or a supplementary adjusting method, and having no fault in a well-known similar solution.例文帳に追加

時間のかかる煩瑣の組込操作または補足の調節方策を要することなく、顕微鏡の異なる箇所に−特に、反対側に−設置でき、公知の類似の解決法の欠点がないモノスコピックのまたは条件付きでステレオスコピックの共同観察用鏡筒を創成する。 - 特許庁

Filtration is made by using a polyvinylidene resin membrane formed by the integration of lamellas of ≥5 nm in the width of the membrane surface structure at a magnification 50000 times when either of the inside/outside surfaces of the membrane and the membrane section is observed by a scanning electron microscope and ≥2 in aspect ratio.例文帳に追加

走査型電子顕微鏡で膜の内／外表面および膜断面のいずれかを観察した時の、倍率５万倍での膜面構造が幅が５ｎｍ以上でアスペクト比が２以上であるラメラの集積により形成されている、ポリフッ化ビニリデン系樹脂膜を用いてろ過を行う。 - 特許庁

To provide an objective lens for a microscope constituted only of a single lens not using a doublet, excellent in the performance of aberration correction and effectiveness to eccentric tolerance, having high magnification (≥ about 40) and such numerical aperture as about 0.9 and used in a deep ultraviolet wavelength region.例文帳に追加

接合レンズを用いない単レンズのみの構成で、収差補正の性能と偏心公差への効きが良好な、高倍率（４０倍程度以上）で開口数が０．９程度の、深紫外波長領域で使用することを目的とした顕微鏡用対物レンズを提供する。 - 特許庁

To provide an NC-AFM capable of stably performing approach and the surface observation of a sample with proper resolving power even with respect to any sample in a non-contact atomic force microscope and the operation program thereof.例文帳に追加

本発明は非接触原子間力顕微鏡及び非接触原子間力顕微鏡の動作プログラム関し、どのような試料においても、適した分解能で安定にアプローチ及び試料表面観察をすることができるＮＣ−ＡＦＭを提供することを目的としている。 - 特許庁

To provide a microscope sample preparing technique, wherein by solving the problem of ions injected by ion irradiation and remaining in the vicinity of the surface of a sample when of preparing a sample to be observed through the use of FIB, the sample is properly observed without being affected by the ions.例文帳に追加

ＦＩＢを用いて観察試料を作製する場合に、イオン照射によって注入され、試料表面近傍に残留するイオンの問題を解決し、その影響を受けることなく本来の試料観察ができる顕微鏡試料作製手法を提示することにある。 - 特許庁

Also, the scanning type probe microscope is equipped with a cantilever, having an elastomer for supporting the probe, an exciting means for exciting the cantilever and an exciting signal changeover means, for changing over at least two exciting signals inputted to the exciting means.例文帳に追加

また、探針と試料を相対的に走査する走査形プローブ顕微鏡において、探針を支持する弾性体を有するカンチレバーと、カンチレバーを加振する加振手段と、加振手段に入力する少なくとも２つの加振信号を切り換える加振信号切換手段と、を備えることである。 - 特許庁

To provide a sample stage for a focused ion beam processing device, using an easy method for inexpensively making a plane-observed semiconductor thin sample, and to provide a method using the same for making the transmission type electron microscope plane-observed semiconductor thin sample.例文帳に追加

簡易な方法で安価に平面観察用半導体薄片試料を作製することを可能にする集束イオンビーム加工装置の試料ステージおよびこの試料ステージを用いた透過型電子顕微鏡平面観察用半導体薄片試料の作製方法の提供。 - 特許庁

To realize the reciprocation without the tilt of components to be positioned with simple means in a device for precisely positioning, in particular, the objective lens or the objective lens revolver of a microscope in a vertical direction.例文帳に追加

構成部品を精密位置決めするための装置、特に顕微鏡の対物レンズまたは対物レンズレボルバーを鉛直方向に精密位置決めするための装置において、位置決めされる構成部品の傾動のない往復運動が簡単な手段により可能であるように構成し、改良する。 - 特許庁

To provide a semiconductor process simulation device which adopts an impurity diffusion model under the consideration of a dislocation loop for reducing a time and labor required for extracting the physical quantity of the dislocation loop from a transmission electron microscope picture.例文帳に追加

転位の輪を考慮に入れた不純物拡散モデルを取り入れた半導体プロセスシミュレーション装置において、転位の輪の物理量を透過電子顕微鏡写真から抽出する時間と労力を低減した半導体プロセスシミュレーション装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

This method for inspecting the carbon aggregate in the epoxy resin composition including carbon black is characterized by observing the molding surface comprising the composition by an infrared microscope having imaging element spectral sensitivity of 400 to 1,200 nm.例文帳に追加

カーボンブラックを含むエポキシ樹脂組成物中のカーボン凝集物を検査する方法において、該組成物からなる成形品表面を、撮像素子分光感度が４００ｎｍ〜１２００ｎｍの赤外線顕微鏡で観察することを特徴とするエポキシ樹脂組成物中のカーボン凝集物検査方法。 - 特許庁

A horny layer cell discrimination method includes dying the horny layer cell taken from skin with a stain solution that contains 30-50% by mass of ethanol including Sudan Black B from a direction of a region contacting its surrounding and discriminating its hydrophobicity/hydrophilicity under the optical microscope.例文帳に追加

皮膚より採取した角層細胞をズダンブラックＢの色素を含む、エタノールを３０〜５０質量％を含有する染色液で外界接触部分方向から染色し、光学顕微鏡下において、角層細胞の疎水性−親水性を鑑別することを特徴とする、角層細胞の鑑別法。 - 特許庁